CN211603364U - 一种波形测试机 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种波形测试机，包括上料装置、输料装置、底座、测试盘装置以及探针装置；所述输送装置位于上料装置的下方；所述测试盘装置包括均设置在底座上的转动盘和筛选平台，所述转动盘的边缘处沿圆周开设有多个料槽，所述筛选平台嵌设在底座上，所述筛选平台上开设有连通外部气源的吹气孔，所述吹气孔连通设置在料槽的内侧；所述探针装置包括设置在底座上的绝缘测试平台和能够升降的探针，所述绝缘测试平台的顶面和转动盘的底面的高度一致，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，所述探针位于测试孔内，且位于料槽的下方。其能够自动完成元器件的上料、测试和筛选，且能够无缝对接前后工序，自动化程度和效率高，结构简单，生产品质优良。

Description

一种波形测试机

技术领域

本实用新型涉及测试机，具体涉及一种波形测试机。

背景技术

元器件在生产过程中或者生产完成后，通常需要对其进行电性波形测试。波形测试是做作为一个单独的工序使用单独的设备进行的。在对其进行测试时，通常是将元器件排布在平台上，而后将探针依次移过每颗元器件，并对每颗元器件进行测试。这一过程需要快速的移动探针及其附带的大量机构，制约了测试速度，效率较低。另外，这种设备的结构复杂，运动过程多，且无法无缝对接前后工序。而元器件的个头一般较小，每天生产的数量巨大，这些额外增加的步骤，进一步降低了生产效率。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种波形测试机，其能够自动完成元器件的上料、测试和筛选，且能够无缝对接前后工序，自动化程度和效率高，结构简单，生产品质优良。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种波形测试机，包括用于批量上元器件的上料装置、能够使元器件底面朝向统一的输料装置、底座、用于输送和定位元器件的测试盘装置以及用于波形测试的探针装置；所述输料装置位于上料装置的下方；所述测试盘装置包括均设置在底座上的转动盘和筛选平台，所述转动盘的边缘处沿圆周开设有多个能够对接在输料装置的出料口处的料槽，所述筛选平台嵌设在底座上，且其顶面和转动盘的底面位于同一高度上，所述筛选平台上开设有连通外部气源的吹气孔，所述吹气孔连通设置在料槽的内侧；所述探针装置包括设置在底座上的绝缘测试平台和能够升降的探针，所述绝缘测试平台的顶面和转动盘的底面的高度一致，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，所述探针位于测试孔内，且位于料槽的下方。

作为优选的，所述筛选平台上开设有排料导向槽，所述排料导向槽位于料槽的开口侧。

作为优选的，所述筛选平台上设置有排料管，所述排料管和吹气孔分别位于排料导向槽的两侧。

作为优选的，所述筛选平台和底座上分别设置有对射传感器，两个对射传感器的光路相互交接。

作为优选的，所述上料装置包括上料支架、漏斗、振动器和倾斜的导料槽，所述漏斗和振动器均设置在上料支架上，所述导料槽设置在振动器上，所述导料槽处于高位的端部位于漏斗下方，处于低位的端部位于输料装置的上方。

作为优选的，所述导料槽的底壁上设置有网筛，所述网筛位于导料槽处于低位的端部。

作为优选的，所述导料槽的底部设置有托条，所述托条内滑动卡设有收集盒，所述收集盒位于网筛的下方。

作为优选的，所述导料槽的出料口处铰接有摇动头。

作为优选的，所述测试盘装置包括测试盘；所述测试盘包括均设置在底座上的限位盘、遮盖盘和能够自转的转动盘；所述转动盘的边缘紧邻输料装置的出料口，所述转动盘沿其圆周方向自边缘向内开设多个料槽，所述转动盘的底部开设有多个气槽，每个气槽均与一个料槽连通，且连通口位于料槽靠近转动盘圆心侧的侧壁上；所述限位盘和遮盖盘均呈圆环状，所述限位盘紧密的包围在转动盘的周圈，所述限位盘上开设有能够与料槽拼接连通的排料口，所述遮盖盘遮盖在料槽的上方，所述限位盘和遮盖盘在输料槽所在处均开设豁口。

作为优选的，所述探针装置包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述探针设置在绝缘板的顶端；所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述绝缘测试平台设置在平台支架上，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，两根所述探针分别插入一个测试孔内。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型通过设置测试盘装置，能够环形输送元器件，且在输送过程中即具有良好的定位效果，极大的方便了波形测试，节省了作业步骤，占用空间小。

2、本实用新型通过设置筛选平台，能够自动筛选排出不同品质的元器件，使进入后续工序的元器件均具有优良的品质，保证了产品质量。

3、本实用新型通过在测试盘装置的底部设置探针装置，能够在元器件经过时，即完成元器件的波形测试，测试过程中仅需要探针升降，而不用移动复杂的装置，极大的提高了测试效率，降低了设备复杂度，节省了成本。

4、本实用新型能够自动完成元器件的上料、测试和筛选，自动化程度和效率高，能够与前后工序实现无缝对接，大大的提高了生产效率。

附图说明

为了更清楚的说明本实用新型实施例技术中的技术方案，下面将对实施例技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还能够根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为测试盘装置的结构示意图；

图3为测试盘的爆炸示意图；

图4为测试盘的仰视示意图；

图5为下压导正单元的仰视结构示意图；

图6为筛选单元的结构示意图；

图7为探针装置的结构示意图一；

图8为A部的放大示意图；

图9为探针装置的结构示意图二；

图10为探针装置的剖视示意图。

其中，100-底座，101-输料槽，102-振动筛选输料盘；

2-测试盘装置，200-旋转驱动源，210-转动盘，211-料槽，212-气槽，213- 导向面，220-限位盘，221-排料口，230-遮盖盘，231-侦测孔，240-重轴，241- 压杆，242-压头，243-导正槽，244-传感器支架，245-感应片，246-停止传感器， 250-筛选平台，251-吹气孔，252-气管，253-排料导向槽，254-排料管，255-对射传感器；

3-探针装置，300-支架，310-驱动源支架，311-承托板，312-测试驱动源， 313-光杆，314-升降块，315-计数传感器，320-微调滑动腔，321-转轴，322-偏心轮，323-微调滑块，324-偏心槽，325-微调头，330-粗调滑动腔，331-粗调固定块，332-粗调螺栓，340-测试支架，341-立板，342-测试滑轨，343-绝缘板， 344-测试板，345-探针，346-弹性件，350-限位槽，351-限位钩，360-平台支架， 361-绝缘测试平台，362-测试孔；

400-上料支架，401-振动器，402-导料槽，403-网筛，404-托条，405-收集盒，406-摇动头，407-漏斗。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

实施例

参照图1所示，本实用新型公开了一种波形测试机，包括上料装置、输料装置、底座100、测试盘装置2和探针装置3。

上述上料装置包括上料支架400、振动器401、导料槽402、网筛403、托条404、收集盒405和摇动头406。

上述振动器401和漏斗407均设置在支架400上。振动器401上设置有倾斜的导料槽402。导料槽402处于高位的端部位于漏斗407下方。导料槽402 能够将漏斗407内的元器件按特定方向输导。

上述网筛403设置在导料槽402的底壁上，且位于导料槽402处于低位的端部。网筛403能够在元器件通过时，筛选掉尘屑和碎料。

上述托条404设置在导料槽402的底部，且垂直于导料槽402的输送方向。收集盒405滑动卡设在托条404内。收集盒405位于网筛403的下方。收集盒 405能够收集从网筛403掉落的尘屑和碎料，收集满时可以直接从托条404中抽出，方便更换。

上述摇动头406铰接在导料槽402的出料口处。摇动头406能够旋转，以调整出料位置。

上述输料装置包括输料槽101和振动筛选输料盘102。振动筛选输料盘102 设置在摇动头406的下方。输料槽101的两端分别搭设在振动筛选输料盘102 和底座100上。振动筛选输料盘102能够将元器件统一底面朝下的输送到输料槽101上。输料槽101能够输送元器件。

参照图2～图6所示，上述测试盘装置2包括旋转驱动源200、测试盘、下压导正单元和筛选单元。

上述旋转驱动源200设置在底座100上。

上述测试盘包括转动盘210、限位盘220和遮盖盘230。

上述转动盘210水平的设置在旋转驱动源200的自由端。转动盘210的边缘紧邻输料槽101的出料口。转动盘210的边缘处开设有豁口状的料槽211。料槽211从转动盘210的周面开始向内延伸。多个料槽211等距的分布在转动盘210的边缘。旋转驱动源200能够驱动转动盘210旋转，当某个料槽211到达输料槽101的出料口时，元器件即进入料槽211中，并随着转动盘210转动，实现输料；元器件在进入料槽211后，即逐颗分离，位置可控，便于后续的测试，工作效率高。

上述转动盘210的底部开设有多个气槽212。每个气槽212均与一个料槽 211连通，且连通口位于料槽211靠近转动盘210圆心侧的侧壁上。气槽212 与外部气源连通。气槽212能够对与其连通的料槽211喷气，使该料槽211内的元器件由内而外的被喷出，实现瑕疵料筛选。

作为本实用新型的进一步改进，上述料槽211与转动盘210周面的交接处设置有向外扩散的导向面213。导向面213能够提高元器件进入料槽211的成功率。

上述限位盘220设置在底座100上。限位盘220呈圆环状。限位盘220紧密的包围在转动盘210的周圈，且在输料槽101所在处开设豁口。限位盘220 能够限制料槽211内元器件的水平位置，避免转动盘210在转动时料槽211内的元器件在离心力的作用下从料槽211内脱出。限位盘200上开设有能够与料槽211拼接连通的排料口221。排料口221能够导出排出的将要进入下一工序的元器件或瑕疵料。

上述遮盖盘230设置在底座100上。遮盖盘230呈圆环状。遮盖盘230遮盖在料槽211的上方，且在输料槽101所在处开设豁口。瓶盖盘230能够限制料槽211内元器件的竖直位置，避免元器件向上崩出料槽211，确保作业的连续性、稳定性和可靠性。遮盖盘230上开设有侦测孔231。侦测孔231用于侦测料槽211内是否存在物料或对物料进行外观测试。

上述下压导正单元包括重轴240、压杆241和压头242。上述重轴240转动设置在底座100上，且其中心轴线水平。压杆241设置在重轴240的端部。压头242设置在压杆241的自由端。压头242的底部开设有导正槽243。导正槽 243位于输料槽101的出料口和料槽211的上方。导正槽243能够压制在元器件上方，使在水平和竖直方向均能够准确的进入料槽211，保证进入成功率；同时，在导正槽243下方卡料时，只需抬起压头242即可进行清理，操作方便；重轴240具有较大的惯性，减少压头242的波动性。

作为本实用新型的进一步改进，上述压头242上设置有传感器支架244。传感器支架244用于安装传感器，以侦测导正槽243下方的料槽211是否进入元器件。

作用本实用新型的进一步改进，上述重轴240与压杆241所在端相对的另外一端上设置有感应片245。底座100上设置有与感应片245配合的停止传感器246。当导正槽243下方卡料时，可以抬起压头242进行清理，同时停止传感器246能够发出信号，进而使装置停止运行。

上述筛选单元包括筛选平台250、吹气孔251、气管252、排料导向槽253、排料管254和对射传感器255。

上述筛选平台250嵌设在底座100上。筛选平台250的顶面和转动盘210 的底面位于同一高度上。筛选平台250能够承托在料槽211下方。

上述吹气孔251开设在筛选平台250上表面上，且位于气槽212的下方。气管252穿设在筛选平台250内。气管252和吹气孔251连通。气管252和外部气源连通。吹气孔251能够吹气，气流经气槽212从料槽211内喷出，实现元器件的筛除。

上述排料导向槽253开设在筛选平台250上。排料导向槽253位于排料口 221的下方。排料导向槽253将排出的元器件导向，方便收集。

上述排料管254设置在筛选平台250上，且其和吹气孔251分别位于排料导向槽253的两侧。排料管254能够收集排出的元器件。

上述对射传感器255分别设置在筛选平台250和遮盖盘230上。对射传感器255的光路经侦测孔231交接。对射传感器255能够侦测料槽211内是否有料。

参照图7～图10所示，上述探针装置3包括支架300、驱动单元、微调单元、粗调单元、测试单元、限位单元和平台单元。支架300设置在底座100的底部。

上述驱动单元包括驱动源支架310、承托板311、测试驱动源312、光杆313 和升降块314。

上述驱动源支架310设置在支架300上。承托板311设置在驱动源支架310 的底部。测试驱动源312固定在承托板311上。光杆313设置在驱动源支架310 上。升降块314滑动设置在光杆313上。升降块314连接在测试驱动源312的自由端。测试驱动源312能够驱动升降块314升降，以使探针345实现升降测试。

作为本实用新型的进一步改进，上述驱动源支架310上设置有计数传感器 315，其邻近升降块314。计数传感器315能够侦测升降块314的升降次数。

上述粗调单元包括粗调滑动腔330、粗调固定块331和粗调螺栓332。

上述粗调滑动腔330开设在支架300的底部。承托板311滑动设置在粗调滑动腔330内。粗调固定块331固定在支架300上。粗调螺栓332穿设在承托板311和粗调固定块331内。通过旋拧粗调螺栓332，能够调整承托板311的高度，进而对探针345的初始高度进行粗调。

上述微调单元包括微调滑动腔320、转轴321、偏心轮322、微调滑块323 和偏心槽324。

上述微调滑动腔320开设在升降块314内。转轴321转动设置在升降块314 上，且穿过微调滑动腔320。偏心轮322设置在转轴321上。偏心轮322和转轴321的中心轴线平行但不重合。微调滑块323滑动设置在微调滑动腔320内，且其连接在测试驱动源312的自由端。偏心槽324开设在微调滑块323上。偏心轮322位于偏心槽324内。通过转动转轴321，即可对升降块314的初始位置进行微调，以实现探针345的微调。

作为本实用新型的进一步改进，上述转轴321的端部设置有内六角状的微调头325。微调头325能够方便工具的插入与微调。

上述测试单元包括测试支架340、立板341、测试滑轨342、绝缘板343、测试板344、探针345和弹性件346。

上述测试支架340设置在升降块314上。立板341设置在测试支架340上。两条测试滑轨342沿光杆313的方向并排设置在立板341上。两块绝缘板343 分别设置在一条测试滑轨342上。弹性件346设置在绝缘板343和测试支架340。测试板344设置在绝缘板343的顶端。探针345设置在测试板344的顶端。探针345能够在升降块314的带动下快速升降，实现测试；弹性件346能够保证探针345在接触元器件时具有缓冲，以控制针压，保证测试精确性。

上述限位单元包括限位槽350和限位钩351。

上述限位槽350开设在绝缘板343上。限位钩351设置在测试支架上。限位钩351钩设在限位槽350内。限位槽350的宽度大于限位钩351的宽度。其能够确定绝缘板343的初始位置与最大移动位置，使绝缘板343在运动时更为可控，进一步提高了测试的精确性。

上述平台单元包括平台支架360、绝缘测试平台361和测试孔362。

上述平台支架360设置在支架300上。绝缘测试平台361卡设在平台支架 360上。绝缘测试平台361的顶面和转动盘210的底面的高度一致。绝缘测试平台361位于料槽211的下方。测试孔362具有两个，其开设在绝缘测试平台 361上。两根探针345分别位于一个测试孔362内。当元器件在绝缘测试平台 361上短暂停留时，探针345则能够快速接触元器件的极片，完成测试。绝缘测试平台361能够避免通电时，探针345和元器件与本装置导通，避免损坏。

作为本实用新型的进一步改进，上述绝缘测试平台361和绝缘板343均为陶瓷板。

工作原理：

将元器件倒入漏斗407内，漏斗407内的元器件漏到导料槽402上；振动器401振动，使元器件快速下滑，最终掉落到振动筛选输料盘102上，经过网筛403时能够对元器件进行筛选。

振动筛选输料盘102将元器件底面统一朝下的输送到输料槽101内。

输料槽101持续输料；旋转驱动源200驱动转动盘210旋转，当料槽211 与输料槽101拼合时，元器件即进入料槽211内；而后，该料槽211带动元器件进行输送，到达测试位时，探针从底座100底部穿过底座100扎到元器件上进行测试；同时，下一个料槽211旋转到输料槽101的位置处；以此循环。

测试驱动源312驱动升降块314往复升降；探针345上升时，露出测试孔 362，并与停留在其上方的料槽211内的元器件接触，完成测试；探针345下降时，收入测试孔362中，此时更换绝缘测试平台361上的元器件；根据以上循环。

测试完成的元器件，经则由筛选单元分离。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本实用新型。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理能够在不脱离本实用新型的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本实用新型将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种波形测试机，其特征在于，包括用于批量上元器件的上料装置、能够使元器件底面朝向统一的输料装置、底座、用于输送和定位元器件的测试盘装置以及用于波形测试的探针装置；

所述输料装置位于上料装置的下方；

所述测试盘装置包括均设置在底座上的转动盘和筛选平台，所述转动盘的边缘处沿圆周开设有多个能够对接在输料装置的出料口处的料槽，所述筛选平台嵌设在底座上，且其顶面和转动盘的底面位于同一高度上，所述筛选平台上开设有连通外部气源的吹气孔，所述吹气孔连通设置在料槽的内侧；

所述探针装置包括设置在底座上的绝缘测试平台和能够升降的探针，所述绝缘测试平台的顶面和转动盘的底面的高度一致，所述绝缘测试平台上开设有测试孔，所述探针位于测试孔内，且位于料槽的下方。

2.如权利要求1所述的波形测试机，其特征在于，所述筛选平台上开设有排料导向槽，所述排料导向槽位于料槽的开口侧。

3.如权利要求2所述的波形测试机，其特征在于，所述筛选平台上设置有排料管，所述排料管和吹气孔分别位于排料导向槽的两侧。

4.如权利要求1所述的波形测试机，其特征在于，所述筛选平台和底座上分别设置有对射传感器，两个对射传感器的光路相互交接。

5.如权利要求1所述的波形测试机，其特征在于，所述上料装置包括上料支架、漏斗、振动器和倾斜的导料槽，所述漏斗和振动器均设置在上料支架上，所述导料槽设置在振动器上，所述导料槽处于高位的端部位于漏斗下方，处于低位的端部位于输料装置的上方。

6.如权利要求5所述的波形测试机，其特征在于，所述导料槽的底壁上设置有网筛，所述网筛位于导料槽处于低位的端部。

7.如权利要求6所述的波形测试机，其特征在于，所述导料槽的底部设置有托条，所述托条内滑动卡设有收集盒，所述收集盒位于网筛的下方。

8.如权利要求5所述的波形测试机，其特征在于，所述导料槽的出料口处铰接有摇动头。

9.如权利要求1所述的波形测试机，其特征在于，所述测试盘装置包括测试盘；所述测试盘包括均设置在底座上的限位盘、遮盖盘和能够自转的转动盘；所述转动盘的边缘紧邻输料装置的出料口，所述转动盘沿其圆周方向自边缘向内开设多个料槽，所述转动盘的底部开设有多个气槽，每个气槽均与一个料槽连通，且连通口位于料槽靠近转动盘圆心侧的侧壁上；所述限位盘和遮盖盘均呈圆环状，所述限位盘紧密的包围在转动盘的周圈，所述限位盘上开设有能够与料槽拼接连通的排料口，所述遮盖盘遮盖在料槽的上方，所述限位盘和遮盖盘在输料槽所在处均开设豁口。

10.如权利要求1所述的波形测试机，其特征在于，所述探针装置包括支架、驱动单元、测试单元和平台单元；所述驱动单元包括设置在支架上的测试驱动源和升降块，所述升降块与测试驱动源的自由端连接；所述测试单元包括设置在升降块上的测试支架，所述测试支架上设置有立板，所述立板上滑动设置有两块绝缘板，且其并排，所述绝缘板和测试支架之间设置有弹性件，所述探针设置在绝缘板的顶端；所述平台单元包括设置在支架上的平台支架，所述绝缘测试平台设置在平台支架上，两根所述探针分别插入一个测试孔内。

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