CN110489006B - 一种应用于idc芯片的tp扫描方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提出的一种应用于IDC芯片的TP扫描方法，在IDC芯片中，在DP帧区域进行TP扫描；在DP帧区域进行TP扫描时，当一条H_line开始且Source Driver打开，在Mux的高电平到来时，开始进行TP扫描；一次TP扫描完成以后，等待Mux的高电平的到来，在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。本发明在克服了Mux方波噪声的前提下，将TP扫描应用于DP帧区域，提高了TP的SNR，且提供更大的扫描频率可配范围以应对白噪声等干扰。本发明开拓出了全新的扫描方式，并且取得了意想不到的有益效果。

Description

一种应用于IDC芯片的TP扫描方法
技术领域
本发明涉及扫描技术领域，尤其涉及一种应用于IDC芯片的TP扫描方法。
背景技术
自容式TP(touch panel，触控面板)的面板上覆盖着众多的CB(base capacitor，基极电容器)电容，当有手指触摸到面板上时，会改变面板上触摸点的CB电容。此时，AFE(analog front end,模拟前端)结合模拟端的时序，控制CA(charge amplifier，电荷放大器)对TP面板上的触摸点进行模拟量采集。采样完毕后，再通过ADC(analog digitalconverter，模拟数字转换器)将CA采集的模拟量转换成数字数据，并传输到数字部分供CPU(Central Processing Unit，中央处理器)运算、处理。
在IDC(integrated driver controller，集成驱动控制器)芯片中，DP与TP集成在一起，DP的每一行显示称为一条H_line(hsync line，行同步信号)。在一条H_line的时间区域中分为DP显示区域与非DP显示区域。在DP显示区域中，会周期性的产生的Mux(多路复用器)信号，传统的IDC扫描模式中，认为这些Mux方波会周期性的产生噪声源，对CA工作产生干扰。因此在传统的IDC扫描模式下，在DP的显示区域一般不做TP扫描。而在DP的显示完成之后，会进入非DP显示区域，在此部分区域中DP一般不做扫描，故认为这部分区域的噪声较少，适合TP进行扫描。
传统的扫描方式有两个明显缺陷，对IC(Integrated Circuit集成电路)的性能产生较大的影响。首先，供给TP的扫描时间过短。在传统扫描方式下，TP不在DP帧区域做扫描，而一般一条H_line的大部分时间都提供给DP显示，提供给TP扫描的时间相对偏短，只能完成很少次数的TP扫描，限制了TP扫描次数。TP的扫描次数受限，则直接会影响到整体SNR。其次，TP扫描集中在TP帧区域，即一条H_line的后部分区域。这部分区域在一条H_line的位置是固定的，如果系统遭受到白噪声的干扰，TP无法通过调频的方式避过，会导致整个系统的噪声较大。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种应用于IDC芯片的TP扫描方法。
本发明提出的一种应用于IDC芯片的TP扫描方法，在IDC芯片中，在DP帧区域进行TP扫描；
在DP帧区域进行TP扫描时，当一条H_line开始且Source Driver打开，在Mux的高电平到来时，开始进行TP扫描；一次TP扫描完成以后，等待Mux的高电平的到来，在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。
优选的，在DP帧区域进行TP扫描时，在Mux的上升沿到来时，结束上一次TP扫描，并开始新的TP扫描。
优选的，在开始新的TP扫描时，同时通过ADC处理上一次TP扫描所采集到的模拟信息。
本发明提出的一种应用于IDC芯片的TP扫描方法，TP可在DP帧区域进行扫描，且通过TP扫描时序加以约束，限制一次TP扫描的起始和结束均落在Mux的高电平，避过DP帧区域内Mux切换产生的噪声。
如此，本发明在克服了Mux方波噪声的前提下，将TP扫描应用于DP帧区域，提高了TP的SNR，且提供更大的扫描频率可配范围以应对白噪声等干扰。本发明开拓出了全新的扫描方式，并且取得了意想不到的有益效果。
附图说明
图1为本发明提出的一种应用于IDC芯片的TP扫描方法流程图；
图2为传统的IDC芯片在自容式TP采样时序图；
图3为采用图1所述扫描方法的IDC芯片在自容式TP采样时序图。
具体实施方式
在IDC芯片中，将DP中的n路Mux信号整合成一路信号，通过DP发送给TP，同时DP还会发送一路信号TE给TP，TE为高电平时，代表DP处于显示状态；TE为低电平时，代表DP在一条H_line的显示已经完成。
传统的扫描模式如图2所示，TE拉高时，由于处于DP帧区域，故不进行TP扫描。当采集到TE的下降沿时，表示DP的显示已经完成，Mux不会再做切换，此时的噪声相对较少，则开始进入到TP的扫描时间。在下一条H_line到来前，TP在TP帧区域内完成扫描，并将用CA采集到的模拟信号传送至ADC，ADC完成译码并将数字信号传给CPU进行运算及处理。由图2可以得知，在TP帧区域内的扫描时间十分有限，因而CA的采样次数和扫描频率受限很大，故会影响SNR，同时无法进行调频操作。
参照图1、图3，本发明提出的一种应用于IDC芯片的TP扫描方法，在IDC芯片中，在DP帧区域进行TP扫描。
具体的，在DP帧区域进行TP扫描时，当一条H_line开始且Source Driver打开，在Mux的高电平到来时，开始进行TP扫描；一次TP扫描完成以后，等待Mux的高电平的到来，在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。
具体的，当系统采集到Mux的上升沿到来时，则进入到DP的显示区域，此时开始一次TP扫描，扫描完成后，再次等待Mux的上升沿。Mux的上升沿到来之时，结束第一次TP扫描，并开始第二次的TP扫描，同时ADC去处理第一次TP扫描所采集到的模拟信息。当TE下降沿到来时，代表DP帧区域已经结束，不再会有Mux的方波，故此时可以自由的继续扫描，不用再受Mux时序限制。但是TP扫描及ADC的数据处理皆不可跨过一条H_line。
如此，本实施方式中，TP可在DP帧区域进行扫描，且通过TP的扫描时序加以约束，限制一次TP扫描的起始和结束均落在Mux的高电平，避过DP帧区域内Mux切换产生的噪声。
以上所述，仅为本发明涉及的较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种应用于IDC芯片的TP扫描方法，其特征在于，在IDC芯片中，在DP帧区域进行TP扫描；
在DP帧区域进行TP扫描时，当一条H_line开始且Source Driver打开，在Mux的高电平到来时，开始进行TP扫描；一次TP扫描完成以后，等待Mux的高电平的到来，在Mux的高电平区域内结束本次TP扫描并进行新的TP扫描。
2.如权利要求1所述的应用于IDC芯片的TP扫描方法，其特征在于，在DP帧区域进行TP扫描时，在Mux的上升沿到来时，结束上一次TP扫描，并开始新的TP扫描。
3.如权利要求2所述的应用于IDC芯片的TP扫描方法，其特征在于，在开始新的TP扫描时，同时通过ADC处理上一次TP扫描所采集到的模拟信息。
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