CN110411306A - 一种齿圈的齿倒角检具 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及齿圈技术领域,特别涉及一种齿圈的齿倒角检具,包括设置在基座上的立柱;所述基座通过支脚支撑,所述基座上设置有用于安放齿圈的通孔,所述基座上设置有至少三组球形支撑装置,每一组所述球形支撑装置支撑所述齿圈中同一齿的倒角的两侧面;还包括定位芯轴,所述定位芯轴一端设置有与齿圈内环相匹配的定位圆柱,所述定位芯轴和所述定位圆柱上下滑动设置在所述立柱上,本检具节省了齿倒角检测的时间,提高了检测效率,降低了成本。
Description
技术领域
本发明涉及齿圈技术领域,特别涉及一种齿圈的齿倒角检具。
背景技术
汽车变速箱中的齿圈属于一种结构要素多、形状及尺寸精度要求高的传动件,齿圈用于安装在传动轴上,与同步环相结合实现换挡操作。
现有技术中,为了提高了变速箱工作的可靠性,防止脱档,提高变速箱总成质量,齿圈中的齿大都设置为倒锥齿结构,倒锥齿为渐开线齿形,同时为了使同步器中齿套不受阻碍地与齿圈结接合,在齿圈的倒锥齿的端部设置有尖角,由于齿轮为高速转动,在没有尖角的情况下,同步器齿套不能顺利挂入齿圈,若强制将同步器齿套挂入齿圈中会严重损坏齿圈或齿轮等。
齿圈在实际应用中,齿圈的尺寸精度需要保证,齿圈中倒锥齿与同步器的尺寸不匹配时,容易出现同步器中齿套退出齿圈的现象,也即是脱档现象,齿圈的倒锥齿端部的尖角尺寸同样需要保证,在尖角尺寸与同步器的尺寸不匹配时,同步器的齿套进入齿圈比较困难,使得尖角起不到方便齿套与齿圈配合的作用;在齿圈的倒锥齿和倒角检测过程中,通常先检测倒锥齿的倒锥角,倒锥角用齿轮仪计量,还需测量倒锥齿的长度,后测量倒角,在进行测量倒角至齿圈端面的距离时,通常采用的是三坐标检测的方式,由于三坐标检测条件要求高、耗时长、成本大,造成了倒角尺寸检测的效率低。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中齿圈中齿倒角至齿圈端面距离检测时间长,造成齿圈的倒角检测效率低的问题,提供一种齿圈的齿倒角检具。
为了实现上述发明目的,本发明提供了以下技术方案:
一种齿圈的齿倒角检具,包括设置在基座上的立柱;所述基座通过支脚支撑,所述基座上设置有用于安放齿圈的通孔,所述基座上设置有至少三个球形支撑装置,每一个所述球形支撑装置支撑所述齿圈中同一齿的倒角的两侧面;还包括定位芯轴,所述定位芯轴一端设置有与齿圈内环相匹配的定位圆柱,所述定位芯轴和所述定位圆柱固定连接,所述定位芯轴上下滑动设置在所述立柱上。
作为本发明的优选方案,所述球形支撑装置设置在所述齿圈的齿的外径和内径之间,球形支撑装置的安装位置能够刚好满足支撑齿倒角的条件,方便支撑齿圈。
作为本发明的优选方案,所述球形支撑装置包括两个球形支撑块,两个所述球形支撑块分别支撑齿圈中同一齿的倒角的两侧面,所述球形支撑块与倒角相切,两个所述球形支撑块之间的距离设置为一定值,便可计算出所需球形支撑块的高度,方便球形支撑块的选择并能够很好的支撑齿圈,方便进行后续齿倒角至齿圈端面距离的测量。
作为本发明的优选方案,所述定位芯轴上还设置有压紧套,所述压紧套上下移动的设置在所述定位芯轴上,所述压紧套具有能够包裹所述定位圆柱的外环,所述外环与齿圈的端面相配合以压紧齿圈,定位圆柱与通孔同心设置,在齿圈安装在球形支撑装置上后,压紧套凭借自身重力向下滑动,压紧套的外环压紧齿圈,使得齿圈不偏转,增加了测量的精度。
作为本发明的优选方案,所述立柱上设置有导向块,所述定位芯轴在所述导向块上上下滑动的设置。
作为本发明的优选方案,所述定位芯轴上还设置有弹簧,所述弹簧设置在所述导向块和所述压紧套之间,所述弹簧有将所述压紧套向所述定位圆柱方向压紧的趋势,弹簧增加了压紧套对齿圈的压持力,保证了齿圈安装在检具上的重复性和稳定性。
作为本发明的优选方案,所述立柱上端还设置有快夹装置,所述快夹装置与所述定位芯轴连接,所述快夹装置驱动所述定位芯轴上下滑动,快夹装置驱动定位芯轴上下移动,方便检具测量完成后能够快速的更换齿圈,增加检具的测量效率。
与现有技术相比,本发明的有益效果:将齿圈上的齿倒角与球形支撑装置相配合,使得齿圈得以支撑,并且通过定位圆柱与齿圈内环相配合进行定位,保证齿圈不相对球形支撑装置偏转,通过卡规测量齿圈端面至基座底面的距离,通过测得的距离减去基座底面与球形支撑装置预设的高度,即得到齿圈上齿倒角至端面的距离,即可确定倒角尺寸是否合格,本检具节省了齿倒角检测的时间,提高了检测效率,降低了成本。
附图说明
图1为本发明的结构示意图;
图2为图1中B向的投影图;
图3图2中A-A的剖视图;
图4为图1中C处的放大图;
图5为图3中D处的放大图;
图6为齿圈的齿的结构示意图;
图中标记:1-基座,2-立柱,3-支脚,4-齿圈,5-通孔,6-球形支撑装置,61-球形支撑块,7-定位芯轴,8-定位圆柱,9-压紧套,91-外环,10-导向块,11-弹簧,12-快夹装置,13-卡规,14-倒角。
具体实施方式
下面结合试验例及具体实施方式对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例,凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。
实施例1
如图1~图6所示,一种齿圈的齿倒棱角检具,包括设置在基座1上的立柱2;所述基座1通过支脚3支撑,所述基座1上设置有用于安放齿圈4的通孔5,所述基座1上设置有至少三个球形支撑装置6,每一个所述球形支撑装置6支撑所述齿圈4中同一齿的倒角的两侧面;还包括定位芯轴7,所述定位芯轴7一端设置有与齿圈4内环相匹配的定位圆柱8,所述定位芯轴7和所述定位圆柱8固定连接,所述定位芯轴7上下滑动设置在所述立柱2上,本实施例中,所述定位芯轴7与所述定位圆柱8焊接或螺栓固定连接。
如图4所示,本实施例中,所述球形支撑装置6设置在所述齿圈4的齿的外径和内径之间,所述球形支撑装置6包括两个球形支撑块61,两个所述球形支撑块61分别支撑齿圈4中同一齿的倒角的两侧面,所述球形支撑块61与倒角相切。
如图3所示,本实施例中,所述定位芯轴7上还设置有压紧套9,所述压紧套9上下移动的设置在所述定位芯轴7上,所述压紧套9具有能够包裹所述定位圆柱8的外环91,所述外环91与齿圈4的端面相配合以压紧齿圈4,所述立柱2上设置有导向块10,所述定位芯轴7在所述导向块10上上下滑动的设置,所述定位芯轴7上还设置有弹簧11,所述弹簧11设置在所述导向块10和所述压紧套9之间,所述弹簧11有将所述压紧套9向所述定位圆柱方向压紧的趋势。
如图3所示,本实施例中,所述立柱2上端还设置有快夹装置12,所述快夹装置12与所述定位芯轴7连接,所述快夹装置12驱动所述定位芯轴7上下滑动,所述快夹装置12采用推拉式夹钳。
如图6所示,H3为齿的倒角14至齿圈4端面的距离的示意图,本申请中在齿的倒锥的结构长度角度等测量完毕后进行齿的倒角14至端面距离的测量,球形支撑装置6在经过一系列的设计后安装在基座1上,球形支撑装置6与齿圈的齿的倒角14相接触以支撑齿圈4,球形支撑装置6的支撑点为预设点。
本申请的具体工作流程:将齿圈4放置在球形支撑装置6上,使得齿圈4上的倒角与球形支撑块61接触,通过快夹装置12驱动定位芯轴7向下移动,定位圆柱8与齿圈4的内环相匹配进行齿圈4的定位,定位圆柱8处于通孔5中,压紧套9在弹簧11的驱动下,压紧套9的外环91压持齿圈4的端面,使得齿圈4能够固定在检具上,如图5所示,通过卡规13测量齿圈上端面至基座1底面的距离H1,通过卡规13测得的距离H1减去原始预设的基座1底面至球形支撑装置6的支撑点的距离H2即得到齿圈的倒角至端面的距离H3,即可判断倒角是否合格,节省了齿倒角检测的时间,提高了检测效率,降低了成本。
Claims (7)
1.一种齿圈的齿倒角检具,其特征在于,包括设置在基座(1)上的立柱(2);所述基座(1)通过支脚(3)支撑,所述基座(1)上设置有用于安放齿圈(4)的通孔(5),所述基座(1)上设置有至少三个球形支撑装置(6),每一个所述球形支撑装置(6)支撑所述齿圈(4)中同一齿的倒角的两侧面;还包括定位芯轴(7),所述定位芯轴(7)一端设置有与齿圈(4)内环相匹配的定位圆柱(8),所述定位芯轴(7)和所述定位圆柱(8)固定连接,所述定位芯轴(7)上下滑动设置在所述立柱(2)上。
2.根据权利要求1所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述球形支撑装置(6)设置在所述齿圈(4)的齿的外径和内径之间。
3.根据权利要求2所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述球形支撑装置(6)包括两个球形支撑块(61),两个所述球形支撑块(61)分别支撑齿圈(4)中同一齿的倒角的两侧面,所述球形支撑块(61)与齿圈(4)的倒角相切。
4.根据权利要求1所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述定位芯轴(7)上还设置有压紧套(9),所述压紧套(9)上下移动的设置在所述定位芯轴(7)上,所述压紧套(9)具有能够包裹所述定位圆柱(8)的外环(91),所述外环(91)与齿圈(4)的端面相配合以压紧齿圈(4)。
5.根据权利要求4所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述立柱(2)上设置有导向块(10),所述定位芯轴(7)在所述导向块(10)上上下滑动的设置。
6.根据权利要求5所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述定位芯轴(7)上设置有弹簧(11),所述弹簧(11)设置在所述导向块(10)和所述压紧套(9)之间,所述弹簧(11)有将所述压紧套(9)向所述定位圆柱(8)方向压紧的趋势。
7.根据权利要求1所述的齿圈的齿倒角检具,其特征在于,所述立柱上端还设置有快夹装置(12),所述快夹装置(12)与所述定位芯轴(7)连接,所述快夹装置(12)驱动所述定位芯轴(7)上下滑动。
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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CB02 | Change of applicant information | ||
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Address after: 402760 No.100, Jianshan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant after: Landai Technology Group Co.,Ltd. Address before: 402760 No.100, Jianshan Road, Biquan street, Bishan District, Chongqing Applicant before: CHONGQING LANDAI POWERTRAIN Corp.,Ltd. |
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GR01 | Patent grant | ||
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