CN110388663A - 电磁烹饪器具及其检测方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开一种电磁烹饪器具及其检测方法，其中，电磁烹饪器具包括绝缘栅双极型晶体管，所述绝缘栅双极型晶体管用于驱动所述电磁烹饪器具加热，所述电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度和电流检测值；根据所述开通宽度，获取所述绝缘栅双极型晶体管的第一电流阈值；比对所述电流检测值和所述第一电流阈值；当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。本发明技术方案提高了电磁烹饪器具的安全性。

Description

电磁烹饪器具及其检测方法
技术领域
本发明涉及烹饪技术领域，特别涉及一种电磁烹饪器具及其检测方法。
背景技术
现有电磁烹饪器具的锅座大多是由丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物或者聚丙烯加玻纤材料制成，锅座的耐温最高通常为200℃左右。当电磁烹饪器具出现异常干烧等现象时，被加热锅具的底部温度将急剧升高，很可能超过锅座所能承受的最高温度。或者，当对底部面积较小的锅具进行加热时，也可能由于锅具底面面积小、散热慢而导致温度急剧上升。在现有的电磁烹饪器具中，通过温度传感器检测被加热锅具的温度，然而，由于温度传感器的时间响应较慢，对温度的测量具有一定的滞后性，导致在出现异常加热情况时，电磁烹饪器具不能及时调节运行参数，造成了安全隐患。
发明内容
本发明的主要目的是提出一种电磁烹饪器具检测方法，旨在解决上述温度传感器检测温度滞后的问题，提高电磁烹饪器具的安全性。
为实现上述目的，本发明提出的电磁烹饪器具检测方法，所述电磁烹饪器具包括绝缘栅双极型晶体管，所述绝缘栅双极型晶体管用于驱动所述电磁烹饪器具加热，所述电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：
获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度和电流检测值；
根据所述开通宽度，获取所述绝缘栅双极型晶体管的第一电流阈值；
比对所述电流检测值和所述第一电流阈值；
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。
优选地，在比对所述电流检测值和所述第一电流阈值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
当所述电流检测值大于所述第一电流阈值时，比对所述电流检测值和第二电流阈值；
当所述电流检测值大于所述第一电流阈值，且小于或等于所述第二电流阈值时，控制所述电磁烹饪器具以当前的加热功率运行；
当所述电流检测值大于所述第二电流阈值时，升高所述电磁烹饪器具的加热功率；
其中，所述第二电流阈值大于所述第一电流阈值。
优选地，获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度的步骤包括：
累计所述电磁烹饪器具以当前的加热功率连续运行的第一累积时长；
比对所述第一累积时长和第一预设时长；
当所述第一累积时长大于或等于所述第一预设时长时，获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度。
优选地，当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常的步骤包括：
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，累计所述电流检测值连续小于或等于所述第一电流阈值的第二累积时长；
比对所述第二累积时长和第二预设时长；
当所述第二累积时长大于或等于所述第二预设时长时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。
优选地，当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常的步骤包括：
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，比对所述电流检测值和第三电流阈值；
当所述电流检测值小于或等于所述第三电流阈值时，控制所述电磁烹饪器具停止加热，并生成第一提示信号以提示加热终止；
其中，所述第三电流阈值小于所述第一电流阈值。
优选地，在比对所述电流检测值和第三电流阈值的步骤之后，还包括以下步骤：
当所述电流检测值大于所述第三电流阈值时，比对所述电流检测值和第四电流阈值；
当所述电流检测值大于所述第四电流阈值时，生成第二提示信号以提示加热异常；
当所述电流检测值大于所述第三电流阈值，且小于或等于所述第四电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率；
其中，所述第四电流阈值大于所述第三电流阈值，且所述第四电流阈值小于所述第一电流阈值。
优选地，所述电磁烹饪器具还包括温度传感器，所述温度传感器用于检测被加热锅具的温度；
所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
获取所述温度传感器的温度检测值；
比对所述温度检测值和第一温度阈值；
当所述温度检测值大于或等于所述第一温度阈值时，控制所述电磁烹饪器具停止加热。
优选地，在获取所述温度传感器的温度检测值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
比对所述温度检测值和第二温度阈值；
当所述温度检测值大于或等于所述第二温度阈值时，生成第三提示信号以提示所述绝缘栅双极型晶体管存在异常；
其中，所述第二温度阈值大于或等于所述绝缘栅双极型晶体管以第一电流阈值正常运行时被加热锅具的温度，且所述第二温度阈值小于所述第一温度阈值。
优选地，在获取所述温度传感器的温度检测值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
比对所述温度检测值和第三温度阈值；
当所述温度检测值小于第三温度阈值时，生成第四提示信号以提示所述温度传感器存在异常；
其中，所述第三温度阈值小于或等于所述绝缘栅双极型晶体管以当前的开通电流正常运行时被加热锅具的温度，且所述第三温度阈值小于所述第一温度阈值。
本发明还提出一种电磁烹饪器具，所述电磁烹饪器具包括绝缘栅双极型晶体管、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电磁烹饪器具检测程序，其中：所述绝缘栅双极型晶体管用于驱动所述电磁烹饪器具加热；所述电磁烹饪器具检测程序被所述处理器执行时实现电磁烹饪器具检测方法的步骤，所述电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度和电流检测值；根据所述开通宽度，获取所述绝缘栅双极型晶体管的第一电流阈值；比对所述电流检测值和所述第一电流阈值；当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。
本发明技术方案中，电磁烹饪器具包括IGBT，IGBT用于驱动电磁烹饪器具加热，电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：获取IGBT的开通宽度和电流检测值；根据开通宽度，获取IGBT的第一电流阈值；比对电流检测值和第一电流阈值；当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。相比与温度传感器所检测的温度，IGBT的电流变化是实时的，其时间响应性能较快，因此当加热出现异常时，根据IGBT的电流能够及时得出异常信息，从而调节电磁烹饪器具的运行，避免了过度延时，故本实施例方案很好地保障了电磁烹饪器具的安全性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1为本发明电磁烹饪器具检测方法第一实施例的流程示意图；
图2为图1中不同材料和尺寸的标准锅具被加热时，IGBT的开通宽度和第一电流阈值之间的关系图；
图3为本发明电磁烹饪器具检测方法第二实施例的流程示意图；
图4为本发明电磁烹饪器具检测方法第三实施例中获取IGBT当前的开通宽度的细化流程示意图；
图5为本发明电磁烹饪器具检测方法第四实施例中步骤S400的细化流程示意图；
图6为本发明电磁烹饪器具检测方法第五实施例中步骤S400的细化流程示意图；
图7为本发明电磁烹饪器具检测方法第六实施例中步骤S400的细化流程示意图；
图8为本发明电磁烹饪器具一实施例的结构示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。
本发明提出一种电磁烹饪器具检测方法，根据其中绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的开通电流，判断当前的加热情况，从而当温度急剧上升时能够及时调节电磁烹饪器具的运行参数，避免损坏锅座，提高电磁烹饪器具的安全性。
在本发明的第一实施例中，电磁烹饪器具包括IGBT，IGBT是由双极型三极管(BJT)和绝缘栅型场效应管(MOSFET)组成的复合全控型电压驱动式功率半导体器件,兼有MOSFET的高输入阻抗和BJT的低导通压降两方面的优点，用于驱动电磁烹饪器具加热，如图1所示，电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：
步骤S100、获取IGBT当前的开通宽度to和电流检测值It；
在IGBT的驱动作用下，电磁烹饪器具的线圈盘组件生成高频交变电磁场，高频交变电磁场在被加热的锅具中产生涡流，从而实现加热。IGBT中的电信号通常为方波信号，开通宽度to是在上述方波信号的每一周期内，IGBT处于导通状态下的时长。电流检测值It可以是IGBT处于导通状态下的开通电流，或者是IGBT在一个周期内的有效电流，通常，测量IGBT的有效电流较为方波，在后续的比对步骤中，只要注意将可能存在的不同电流进行换算，以比较同一种类的电流，从而使比对结果具有参考意义。
步骤S200、根据开通宽度to，获取IGBT的第一电流阈值I1；
在电磁烹饪器具的运行过程中，IGBT的电流检测值与被加热锅具的大小和材料等参数相关，因此，对于每一种特定的被加热锅具而言，可根据实验确定当前开通宽度下的电流检测值，作为第一电流阈值，从而与当前的电流检测值进行比对，如下表所示为几种不同材料和尺寸的标准锅具被加热时，IGBT的开通宽度to和第一电流阈值I1之间的关系。其中，第一列为开通宽度to，单位为0.042μs；第二列为430材质的锅具的第一电流阈值；第三列为304材质的锅具的第一电流阈值；第四列为标准材质的锅具的第一电流阈值；第五列为直径120mm的锅具的第一电流阈值；第六列为直径200mm的锅具的第一电流阈值，表中第一电流阈值是将模拟信号转换为数字信号后的AD值。如图2所示，开通宽度to和第一电流阈值I1之间基本呈线性关系。在实验过程中，可以以预设的开通宽度间隔测量各标准锅具的第一电流阈值，并通过线性拟合得到开通宽度和第一电流阈值之间的函数关系，并在后续的检测过程中，根据开通宽度和得到的函数关系，得到对应的第一电流阈值。例如，对于430材质的锅具，拟合得到I1＝0.470to-44.30；对于304材质的锅具，拟合得到I1＝0.383to-37.00；对于标准材质的锅具，拟合得到I1＝0.329to-40.49；对于120mm直径的锅具，拟合得到I1＝0.278to-41.41；对于200mm直径的锅具，拟合得到I1＝0.190to-32.94。需要注意的是，上述拟合系数是根据表格中测得的数据得到的，对于不同的标准锅具，应根据实验结果采用上述方式重新确定拟合系数。
步骤S300、比对电流检测值It和第一电流阈值I1；
通过比对电流检测值It和第一电流阈值I1，获取当前的被加热锅具是否满足电磁烹饪器具对锅具的要求，以待后续步骤的操作。
步骤S400、当电流检测值It小于或等于第一电流阈值I1时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。
当电流检测值小于或等于第一电流阈值，即It≤I1时，IGBT的电流偏小。通常，IGBT电流偏小是由于被加热锅具偏小导致的。当被加热锅具较小时，锅底面积小，散热较为困难，温度很容易急剧上升。通过降低电磁烹饪器具的加热功率，或者生成提示信号提示用户调节电磁烹饪器具的运行参数，或者在降低加热功率的同时生成提示信号，以有效避免温度持续上升而超出电磁烹饪器具的锅座的耐受温度，从而改善了电磁烹饪器具的安全性。降低电磁烹饪器具的加热功率包括断电以控制电磁烹饪器具停止加热，也就是使加热功率降低至零，也可以通过减小IGBT的开通时间等，适当降低加热功率，以与当前的被加热锅具的尺寸等相匹配。
在本实施例中，电磁烹饪器具包括IGBT，IGBT用于驱动电磁烹饪器具加热，电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：获取IGBT的开通宽度和电流检测值；根据开通宽度，获取IGBT的第一电流阈值；比对电流检测值和第一电流阈值；当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。相比与温度传感器所检测的温度，IGBT的电流变化是实时的，其时间响应性能较快，因此当加热出现异常时，根据IGBT的电流能够及时得出异常信息，从而调节电磁烹饪器具的运行，避免了过度延时，故本实施例方案很好地保障了电磁烹饪器具的安全性。
在本发明的第二实施例中，如图3所示，在步骤S300之后，电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
步骤S500、当电流检测值It大于第一电流阈值I1时，比对电流检测值It和第二电流阈值I2；
步骤S610、当电流检测值It大于第一电流阈值I1，且小于或等于第二电流阈值I2，即I1<It≤I2时，控制电磁烹饪器具以当前的加热功率运行；
步骤S620、当电流检测值It大于第二电流阈值I2，即It>I2时，升高电磁烹饪器具的加热功率。
其中，第二电流阈值I2大于第一电流阈值I1。当电流检测值It大于第一电流阈值I1时，表明当前的被加热锅具尺寸足够，不会出现过度加热导致温度急剧上升的问题。通常情况下，可保持电磁烹饪器具以当前的加热功率继续运行。进一步的，在本实施例中，比对电流检测值It和第二电流阈值I2，当电流检测值It大于第二电流阈值I2时，表明当前被加热锅具的尺寸较大，为了保障加热效果，适当升高电磁烹饪器具的加热功率，以使电磁烹饪器具的加热控制更加智能化，满足用户的烹饪需求。
在本发明的第三实施例中，如图4所示，获取IGBT当前的开通宽度的步骤包括：
步骤S110、累计电磁烹饪器具以当前的加热功率连续运行的第一累积时长；
步骤S120、比对第一累积时长和第一预设时长；
步骤S130、当第一累积时长大于或等于第一预设时长时，获取IGBT当前的开通宽度。
在电磁烹饪器具的初始加热阶段，或加热功率刚刚发生变化的阶段，IGBT的开通宽度可能存在一定的波动，导致据此得出的第一电流阈值存在偏差。因此，在本实施例中，通过累计电磁烹饪器具以当前的加热功率连续运行的第一累积时长，在第一累积时长大于或等于第一预设时长时，也就是当电磁烹饪器具已经处于稳定运行状态时，再获取IGBT当前的开通宽度，从而提高了检测的准确性，避免出现误操作。其中，第一预设时长可设为1～3分钟。
在本发明的第四实施例中，如图5所示，步骤S400包括：
步骤S410、当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，累计电流检测值连续小于或等于第一电流阈值的第二累积时长；
步骤S420、比对第二累积时长和第二预设时长；
步骤S430、当第二累积时长大于或等于第二预设时长时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。
考虑到在烹饪过程中，IGBT中的电信号可能存在波动，或者，用户可能将被加热锅具短暂地离开电磁烹饪器具，又或者由于被加热锅具中部分食材短时间的温度不均匀等，都可能导致电流检测值小于或等于第一电流阈值。而在上述临时出现的电流检测值偏小的情况下，并不必须立即调节电磁烹饪器具的加热功率或生成提示信号，并且，这种情况下对加热功率进行调节反而有可能导致电磁烹饪器具的加热功率不稳定，影响了烹饪效果，或者生成的提示信号也给用户带来干扰。因此，在本实施例中，对电流检测值小于或等于第一电流阈值的时长进行累计，当累计到的第二累积时长大于或等于第二预设时长时，表明此时电磁烹饪器具的确存在加热异常的情况，需要进行处理，再降低电磁烹饪器具的加热功率和/或生成提示信号，从而在保障安全性的同时，改善电磁烹饪器具运行的稳定性，以改善烹饪效果。其中，第二预设时长可设为小于或等于三分钟的时长。
在本发明的第五实施例中，如图6所示，步骤S400包括：
步骤S440、当电流检测值It小于或等于第一电流阈值I1时，比对电流检测值It和第三电流阈值I3；
步骤S450、当电流检测值It小于或等于第三电流阈值I3时，控制电磁烹饪器具停止加热，并生成第一提示信号以提示加热终止；
其中，第三电流阈值I3小于第一电流阈值I1。首先比对电流检测值It和第三电流阈值I3，当电流检测值It小于或等于第三电流阈值I3时，表明被加热锅具的尺寸过小，温度很容易在较短时间内急剧上升，控制电磁烹饪器具停止加热，以及时排除安全隐患，同时，生成第一提示信号提示加热终止，以待用户进行处理。
在本发明的第六实施例中，如图7所示，在比对电流检测值和第三电流阈值的步骤之后，还包括以下步骤：
步骤S460、当电流检测值It大于第三电流阈值I3时，比对电流检测值It和第四电流阈值I4；
步骤S470、当电流检测值It大于第四电流阈值I4时，生成第二提示信号以提示加热异常；
步骤S480、当电流检测值It大于所述第三电流阈值I3，且小于或等于第四电流阈值I4，即I3<It≤I4时，降低电磁烹饪器具的加热功率。
其中，第四电流阈值I4大于第三电流阈值I3，且第四电流阈值I4小于第一电流阈值I1。当电流检测值It大于第四电流阈值I4时，表明被加热锅具尺寸只是略小于要求的尺寸，生成第二提示信号提示加热异常，只要用户能够及时关注电磁烹饪器具的加热情况即可，无需作出较大的调整，而当电流检测值It大于所述第三电流阈值I3，且小于或等于第四电流阈值I4时，在保障电磁烹饪器具继续加热的情况下，适当降低电磁烹饪器具的加热功率，以避免安全隐患的产生，同时维持了烹饪的继续进行。
在本发明的第七实施例中，电磁烹饪器具还包括温度传感器，温度传感器用于检测被加热锅具的温度；
电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
步骤S600、获取温度传感器的温度检测值；
步骤S710、比对温度检测值和第一温度阈值；
步骤S810、当温度检测值大于或等于第一温度阈值时，控制电磁烹饪器具停止加热。
在本实施例中，通过温度传感器和IGBT共同监测电磁烹饪器具的温度变化情况，当温度传感器检测到温度升高至第一温度阈值时，温度继续升高有可能导致锅座发生变化，因此及时控制电磁烹饪器具停止加热，保障安全性。考虑到温度传感器检测的温度相对应IGBT的电流变化有一定的滞后性，因此，第一温度阈值应设为低于导致锅座发生变化的温度，以提供一定的容余量。
进一步的，在步骤S600之后，电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
步骤S720、比对温度检测值和第二温度阈值；
步骤S820、当温度检测值大于或等于第二温度阈值时，生成第三提示信号以提示IGBT存在异常；
其中，第二温度阈值大于或等于IGBT以第一电流阈值正常运行时被加热锅具的温度，且第二温度阈值小于第一温度阈值。在本实施例中，通过温度传感器检测的温度检测值还能够监控IGBT是否处于正常运行状态，若温度检测值已经达到第二温度阈值，而IGBT尚未产生相应的调整，则表明IGBT或其控制电路存在异常，生成第三提示信号以提示用户进行相应的处理。
进一步的，在步骤S600之后，电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
步骤S730、比对温度检测值和第三温度阈值；
步骤S830、当温度检测值小于第三温度阈值时，生成第四提示信号以提示温度传感器存在异常；
其中，第三温度阈值小于或等于IGBT以当前的电流检测值正常运行时被加热锅具的温度，且第三温度阈值小于第一温度阈值。在本实施例中，通过IGBT检测温度传感器是否处于正常运行状态，若温度传感器所检测到的温度检测值过低，即小于第三温度阈值时，表明其存在异常，生成第四提示信号以提示用户进行相应的处理。
本发明还提出一种电磁烹饪器具，如图8所示，电磁烹饪器具包括IGBT100、存储器200、处理器300及存储在存储器200上并可在处理器300上运行的电磁烹饪器具检测程序，其中，IGBT100用于驱动电磁烹饪器具加热。当然，电磁烹饪器具还可以包括温度传感器(图中未示出)，温度传感器与处理器电连接，以检测被加热锅具的温度。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，并执行以下操作：
获取绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度和电流检测值；
根据开通宽度，获取绝缘栅双极型晶体管的第一电流阈值；
比对电流检测值和第一电流阈值；
当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，在比对电流检测值和第一电流阈值的操作之后，还执行以下操作：
当电流检测值大于第一电流阈值时，比对电流检测值和第二电流阈值；
当电流检测值大于第一电流阈值，且小于或等于第二电流阈值时，控制电磁烹饪器具以当前的加热功率运行；
当电流检测值大于第二电流阈值时，升高电磁烹饪器具的加热功率；
其中，第二电流阈值大于第一电流阈值。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，获取绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度的操作包括：
累计电磁烹饪器具以当前的加热功率连续运行的第一累积时长；
比对第一累积时长和第一预设时长；
当第一累积时长大于或等于第一预设时长时，获取绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常的操作包括：
当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，累计电流检测值连续小于或等于第一电流阈值的第二累积时长；
比对第二累积时长和第二预设时长；
当第二累积时长大于或等于第二预设时长时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示电磁烹饪器具存在异常的操作包括：
当电流检测值小于或等于第一电流阈值时，比对电流检测值和第三电流阈值；
当电流检测值小于或等于第三电流阈值时，控制电磁烹饪器具停止加热，并生成第一提示信号以提示加热终止；
其中，第三电流阈值小于第一电流阈值。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，在比对电流检测值和第三电流阈值的操作之后，还执行以下操作：
当电流检测值大于第三电流阈值时，比对电流检测值和第四电流阈值；
当电流检测值大于第四电流阈值时，生成第二提示信号以提示加热异常；
当电流检测值大于第三电流阈值，且小于或等于第四电流阈值时，降低电磁烹饪器具的加热功率；
其中，第四电流阈值大于第三电流阈值，且第四电流阈值小于第一电流阈值。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，还执行以下操作：
获取温度传感器的温度检测值；
比对温度检测值和第一温度阈值；
当温度检测值大于或等于第一温度阈值时，控制电磁烹饪器具停止加热。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，在获取温度传感器的温度检测值的操作之后，还执行以下操作：
比对温度检测值和第二温度阈值；
当温度检测值大于或等于第二温度阈值时，生成第三提示信号以提示绝缘栅双极型晶体管存在异常；
其中，第二温度阈值大于或等于绝缘栅双极型晶体管以第一电流阈值正常运行时被加热锅具的温度，且第二温度阈值小于第一温度阈值。
处理器300执行存储在存储器200上的电磁烹饪器具检测程序，在获取温度传感器的温度检测值的操作之后，还执行以下操作：
比对温度检测值和第三温度阈值；
当温度检测值小于第三温度阈值时，生成第四提示信号以提示温度传感器存在异常；
其中，第三温度阈值小于或等于绝缘栅双极型晶体管以当前的开通电流正常运行时被加热锅具的温度，且第三温度阈值小于第一温度阈值。
以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种电磁烹饪器具检测方法，所述电磁烹饪器具包括绝缘栅双极型晶体管，所述绝缘栅双极型晶体管用于驱动所述电磁烹饪器具加热，其特征在于，所述电磁烹饪器具检测方法包括以下步骤：
获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度和电流检测值；
根据所述开通宽度，获取所述绝缘栅双极型晶体管的第一电流阈值；
比对所述电流检测值和所述第一电流阈值；
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。
2.如权利要求1所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，在比对所述电流检测值和所述第一电流阈值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
当所述电流检测值大于所述第一电流阈值时，比对所述电流检测值和第二电流阈值；
当所述电流检测值大于所述第一电流阈值，且小于或等于所述第二电流阈值时，控制所述电磁烹饪器具以当前的加热功率运行；
当所述电流检测值大于所述第二电流阈值时，升高所述电磁烹饪器具的加热功率；
其中，所述第二电流阈值大于所述第一电流阈值。
3.如权利要求1所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度的步骤包括：
累计所述电磁烹饪器具以当前的加热功率连续运行的第一累积时长；
比对所述第一累积时长和第一预设时长；
当所述第一累积时长大于或等于所述第一预设时长时，获取所述绝缘栅双极型晶体管当前的开通宽度。
4.如权利要求1所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常的步骤包括：
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，累计所述电流检测值连续小于或等于所述第一电流阈值的第二累积时长；
比对所述第二累积时长和第二预设时长；
当所述第二累积时长大于或等于所述第二预设时长时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常。
5.如权利要求1所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率，和/或生成提示信号以提示所述电磁烹饪器具存在异常的步骤包括：
当所述电流检测值小于或等于所述第一电流阈值时，比对所述电流检测值和第三电流阈值；
当所述电流检测值小于或等于所述第三电流阈值时，控制所述电磁烹饪器具停止加热，并生成第一提示信号以提示加热终止；
其中，所述第三电流阈值小于所述第一电流阈值。
6.如权利要求5所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，在比对所述电流检测值和第三电流阈值的步骤之后，还包括以下步骤：
当所述电流检测值大于所述第三电流阈值时，比对所述电流检测值和第四电流阈值；
当所述电流检测值大于所述第四电流阈值时，生成第二提示信号以提示加热异常；
当所述电流检测值大于所述第三电流阈值，且小于或等于所述第四电流阈值时，降低所述电磁烹饪器具的加热功率；
其中，所述第四电流阈值大于所述第三电流阈值，且所述第四电流阈值小于所述第一电流阈值。
7.如权利要求1所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，所述电磁烹饪器具还包括温度传感器，所述温度传感器用于检测被加热锅具的温度；
所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
获取所述温度传感器的温度检测值；
比对所述温度检测值和第一温度阈值；
当所述温度检测值大于或等于所述第一温度阈值时，控制所述电磁烹饪器具停止加热。
8.如权利要求7所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，在获取所述温度传感器的温度检测值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
比对所述温度检测值和第二温度阈值；
当所述温度检测值大于或等于所述第二温度阈值时，生成第三提示信号以提示所述绝缘栅双极型晶体管存在异常；
其中，所述第二温度阈值大于或等于所述绝缘栅双极型晶体管以第一电流阈值正常运行时被加热锅具的温度，且所述第二温度阈值小于所述第一温度阈值。
9.如权利要求7所述的电磁烹饪器具检测方法，其特征在于，在获取所述温度传感器的温度检测值的步骤之后，所述电磁烹饪器具检测方法还包括以下步骤：
比对所述温度检测值和第三温度阈值；
当所述温度检测值小于第三温度阈值时，生成第四提示信号以提示所述温度传感器存在异常；
其中，所述第三温度阈值小于或等于所述绝缘栅双极型晶体管以当前的开通电流正常运行时被加热锅具的温度，且所述第三温度阈值小于所述第一温度阈值。
10.一种电磁烹饪器具，其特征在于，所述电磁烹饪器具包括绝缘栅双极型晶体管、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的电磁烹饪器具检测程序，其中：
所述绝缘栅双极型晶体管用于驱动所述电磁烹饪器具加热；
所述电磁烹饪器具检测程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的电磁烹饪器具检测方法的步骤。
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