CN110379768B - 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法 - Google Patents

一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法 Download PDF

Info

Publication number
CN110379768B
CN110379768B CN201910665786.1A CN201910665786A CN110379768B CN 110379768 B CN110379768 B CN 110379768B CN 201910665786 A CN201910665786 A CN 201910665786A CN 110379768 B CN110379768 B CN 110379768B
Authority
CN
China
Prior art keywords
substrate
graphene
graphene composite
composite oily
front surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201910665786.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN110379768A (zh
Inventor
杨文华
叶锡名
姜心愿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hefei University of Technology
Original Assignee
Hefei University of Technology
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hefei University of Technology filed Critical Hefei University of Technology
Priority to CN201910665786.1A priority Critical patent/CN110379768B/zh
Publication of CN110379768A publication Critical patent/CN110379768A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN110379768B publication Critical patent/CN110379768B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/20Conductive material dispersed in non-conductive organic material
    • H01B1/24Conductive material dispersed in non-conductive organic material the conductive material comprising carbon-silicon compounds, carbon or silicon
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76877Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/70Manufacture or treatment of devices consisting of a plurality of solid state components formed in or on a common substrate or of parts thereof; Manufacture of integrated circuit devices or of parts thereof
    • H01L21/71Manufacture of specific parts of devices defined in group H01L21/70
    • H01L21/768Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics
    • H01L21/76838Applying interconnections to be used for carrying current between separate components within a device comprising conductors and dielectrics characterised by the formation and the after-treatment of the conductors
    • H01L21/76877Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material
    • H01L21/76879Filling of holes, grooves or trenches, e.g. vias, with conductive material by selective deposition of conductive material in the vias, e.g. selective C.V.D. on semiconductor material, plating
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/535Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames including internal interconnections, e.g. cross-under constructions

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Carbon And Carbon Compounds (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法,其是以石墨烯复合油性导电浆料作为硅通孔填充材料。本发明的方法具有工艺简单、成本低的优点,可在低温下实现石墨烯浆料的填充,且石墨烯浆料具有良好的热分散性,特别适用于高温条件下导电器件的应用,具有高度产业利用的价值。

Description

一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法
技术领域
本发明属于微电子工艺领域,具体涉及一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法。
背景技术
随着便携式电子系统复杂性的增加,对VLSI集成电路用的低功率、轻型及小型封装的生产技术提出了越来越高的要求。传统的二维封装技术已经不能满足芯片的高密度集成,在成熟的二维封装基础上逐步向三维封装上发展,已成为芯片封装的新思路。近年来,以导线键合和倒装芯片堆叠形式的3D集成已经进入了主流半导体制造,以解决物理扩展的局限性,同时提供更好的性能和功能。TSV(Through Silicon Via,硅通孔)作为一种新兴技术,为设计人员提供了比引线键合和倒装芯片堆叠更自由、更高的密度和空间利用率。通过硅通孔 (TSV)铜互连的立体(3D)垂直整合,目前被认为是半导体行业最先进的技术之一。硅片通孔(TSV)是三维叠层硅器件技术的最新进展。
在TSV的制备过程中,填孔工序是关键工序,其填充质量直接影响着传输特性、热特性、集成特性,是研究中的重点。目前,Cu电阻率(1.678μΩ.cm)较小,成为TSV填充材料首选。但Cu作为一种金属,不适合作为高温条件下工作器件的硅通孔(TSV)填充材料,且 Cu的填充工艺涉及溅射、电镀等步骤,填充过程较为繁琐。
石墨烯具有优异的光学、电学、力学特性,在材料学、微纳加工、能源、生物医学和药物传递等方面具有重要的应用前景,这一迄今导电性能最强的新型材料,被认为是一种未来革命性的材料。若以石墨烯作为硅通孔(TSV)填充材料,实现半导体芯片的垂直连接,具有重要的研究意义。
发明内容
为解决Cu作为TSV填充材料所存在的诸多问题,本发明的目的在于提供一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法,使其适用于长期在高温下工作的导电器件。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法,其是以石墨烯复合油性导电浆料作为硅通孔填充材料。
进一步地,所述石墨烯复合油性导电浆料的制作方法为:先将分散剂聚乙烯吡咯烷酮粉末均匀分散到N-甲基吡咯烷酮溶液中,再将石墨烯粉末和导电碳黑均匀分散在含有分散剂的 N-甲基吡咯烷酮溶液中,超声振荡均匀,得到固含量为5wt.%的初步石墨烯导电浆料,其中石墨烯粉末和导电碳黑的质量比为1:1~20、聚乙烯吡咯烷酮的质量与石墨烯粉末和导电碳黑总质量的比为1:4;然后将所述初步石墨烯导电浆料与PVDF粘结剂按体积比1~5:1均匀混合,即得到石墨烯复合油性导电浆料。
进一步地,所述的TSV制作方法,包括如下步骤:
(1)利用深反应离子刻蚀技术在Si基片正面中间形成孔径为5~50μm、深度为50~300μm 的盲孔;
(2)在Si基片正面沉积一层SiO2保护层,所述SiO2层覆盖基片的正面以及盲孔内壁;
(3)利用光刻技术在Si基片正面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片正面中间位置形成一个正方形图案,且保证所述盲孔位于所述正方形图案区域内;
(4)在Si基片正面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得盲孔内填满石墨烯复合油性导电浆料,并在盲孔上方、Si基片正面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶,即在正面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘;
(5)对Si基片背面进行研磨、抛光处理,直至露出填充有石墨烯复合油性导电浆料的盲孔,然后清洗背面并烘干;再在背面非盲孔区域生长SiO2层;
利用光刻技术在Si基片背面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片背面中间位置形成一个与步骤(3)尺寸相同、位置相对应的正方形图案;再在Si基片背面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得Si基片背面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶,即在背面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘。
进一步地,步骤(4)与步骤(5)所述填充石墨烯复合油性导电浆料的方法为:将Si基片放在烧杯中,在基片表面滴上几滴石墨烯复合油性导电浆料,再将烧杯放入超声清洗机中超声振荡30min,最后将Si基片取出并放在80℃的干燥箱中干燥10min。
与已有技术相比,本发明的有益效果体现在:
1、本发明采用石墨烯复合油性导电浆料作为TSV工艺的填充材料,与现有技术相比,省略了溅射、电镀等繁琐过程,工艺简单、容易实现,且工艺成本较低。
2、与现有填充材料相比,石墨烯浆料具有良好的导电性,能够满足绝大多数导电器件,而且石墨烯浆料是一种耐高温材料,特别适用于超高温条件下导电器件的应用,具有高度产业利用的价值。
总之,本发明的方法简单易行,不需要额外复杂工艺,更能满足高温条件下导电器件的需求,是对现有技术的一个大的突破。
附图说明
图1是经步骤1刻蚀盲孔后的TSV孔示意图;
图2是经步骤2在Si基片正面和孔内壁沉积一层SiO2绝缘层后的TSV孔示意图;
图3是经步骤3在Si基片正面形成正方形光刻图案后的TSV孔示意图;
图4是经步骤4在Si基片正面完成浆料填充后的TSV孔示意图;
图5是经步骤4在Si基片正面制成石墨烯焊盘后的TSV孔示意图;
图6是经步骤5在Si基片背面形成石墨烯焊盘后的TSV孔示意图;
图中标号:1为Si基片;2为盲孔;3为SiO2保护层;4为光刻胶;5为石墨烯复合油性导电浆料。
具体实施方式
下面,结合附图及具体实施方式对本发明作进一步说明。
如图1至6所示,一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法,具体包括以下步骤:
(1)利用深反应离子刻蚀技术在Si基片正面中间形成孔径为50μm、深度为200μm的盲孔,处理后的结构如图1所示;其中,深反应离子刻蚀技术为现有常规技术手段,大概流程为:
首先利用光刻技术在Si基片表面形成盲孔图案,然后周期性交替导入刻蚀气体SF6和钝化气体C4F8,刻蚀气体SF6刻蚀硅衬底,而钝化气体C4F8则沉积在孔表面起保护作用,避免已刻蚀区域再被刻蚀,从而得到具有高宽深比的通孔。
(2)在Si基片正面沉积一层SiO2保护层,SiO2层覆盖基片的正面以及盲孔内壁,处理后的结构如图2所示。
(3)利用光刻技术在Si基片正面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片正面中间位置形成一个正方形图案,且保证盲孔位于正方形图案区域内,处理后的结构如图3所示。
(4)在Si基片正面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得盲孔内填满石墨烯复合油性导电浆料,并在盲孔上方、Si基片正面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶(通过丙酮清洗去胶),即在正面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘,处理后的结构如图4和5所示。
其中,石墨烯复合油性导电浆料的制作方法为:先将分散剂聚乙烯吡咯烷酮粉末均匀分散到N-甲基吡咯烷酮溶液中,再将石墨烯粉末和导电碳黑均匀分散在含有分散剂的N-甲基吡咯烷酮溶液中,超声振荡均匀,得到固含量为5wt.%的初步石墨烯导电浆料,其中石墨烯粉末和导电碳黑的质量比为1:5、聚乙烯吡咯烷酮的质量与石墨烯粉末和导电碳黑总质量的比为 1:4;然后将初步石墨烯导电浆料与PVDF粘结剂按体积比1:1均匀混合,即得到石墨烯复合油性导电浆料。
填充石墨烯复合油性导电浆料的方法为:将Si基片放在烧杯中,在基片表面滴上几滴石墨烯复合油性导电浆料,再将烧杯放入超声清洗机中超声振荡30min,最后将Si基片取出并放在80℃的干燥箱中干燥10min。
(5)对Si基片背面进行研磨、抛光处理,直至露出填充有石墨烯复合油性导电浆料的盲孔,然后清洗背面并烘干;再在背面非盲孔区域生长SiO2层;
利用光刻技术在Si基片背面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片背面中间位置形成一个与步骤(3)尺寸相同、位置相对应的正方形图案;再在Si基片背面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得Si基片背面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶,即在背面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘,处理后的结构如图6所示。
本发明的方法具有工艺简单、实用性强等优点,且特别适用于高温条件下导电器件的应用,具有高度产业利用的价值。

Claims (2)

1.一种基于石墨烯浆料填充的TSV制作方法,其特征在于:是以石墨烯复合油性导电浆料作为硅通孔填充材料,所述石墨烯复合油性导电浆料的制作方法为:先将分散剂聚乙烯吡咯烷酮粉末均匀分散到N-甲基吡咯烷酮溶液中,再将石墨烯粉末和导电碳黑均匀分散在含有分散剂的N-甲基吡咯烷酮溶液中,超声振荡均匀,得到固含量为5wt.%的初步石墨烯导电浆料,其中石墨烯粉末和导电碳黑的质量比为1:1~20、聚乙烯吡咯烷酮的质量与石墨烯粉末和导电碳黑总质量的比为1:4;然后将所述初步石墨烯导电浆料与PVDF粘结剂按体积比1~5:1均匀混合,即得到石墨烯复合油性导电浆料;所述制作方法包括如下步骤:
(1)利用深反应离子刻蚀技术在Si基片正面中间形成孔径为5~50μm、深度为50~300μm的盲孔;
(2)在Si基片正面沉积一层SiO2保护层,所述SiO2层覆盖基片的正面以及盲孔内壁;
(3)利用光刻技术在Si基片正面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片正面中间位置形成一个正方形图案,且保证所述盲孔位于所述正方形图案区域内;
(4)在Si基片正面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得盲孔内填满石墨烯复合油性导电浆料,并在盲孔上方、Si基片正面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶,即在正面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘;
(5)对Si基片背面进行研磨、抛光处理,直至露出填充有石墨烯复合油性导电浆料的盲孔,然后清洗背面并烘干;再在背面非盲孔区域生长SiO2层;
利用光刻技术在Si基片背面的外围区域覆盖光刻胶,从而使Si基片背面中间位置形成一个与步骤(3)尺寸相同、位置相对应的正方形图案;再在Si基片背面重复填充石墨烯复合油性导电浆料,使得Si基片背面形成所需厚度的石墨烯复合油性导电浆料层;然后去除外围光刻胶,即在背面的正方形图案区域内形成石墨烯焊盘。
2.根据权利要求1所述的TSV制作方法,其特征在于:步骤(4)与步骤(5)所述填充石墨烯复合油性导电浆料的方法为:将Si基片放在烧杯中,在基片表面滴上几滴石墨烯复合油性导电浆料,再将烧杯放入超声清洗机中超声振荡30min,最后将Si基片取出并放在80℃的干燥箱中干燥10min。
CN201910665786.1A 2019-07-23 2019-07-23 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法 Active CN110379768B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910665786.1A CN110379768B (zh) 2019-07-23 2019-07-23 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201910665786.1A CN110379768B (zh) 2019-07-23 2019-07-23 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN110379768A CN110379768A (zh) 2019-10-25
CN110379768B true CN110379768B (zh) 2021-08-17

Family

ID=68255139

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201910665786.1A Active CN110379768B (zh) 2019-07-23 2019-07-23 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN110379768B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112018031B (zh) * 2020-09-09 2023-12-19 合肥工业大学 一种基于铜纳米粒子填充SiC通孔的方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008244093A (ja) * 2007-03-27 2008-10-09 Elpida Memory Inc 半導体装置の製造方法
US8404588B2 (en) * 2010-10-06 2013-03-26 Electronics And Telecommunications Research Institute Method of manufacturing via electrode
US9728485B1 (en) * 2016-02-05 2017-08-08 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor device with interconnect structure having catalys layer
CN107768381B (zh) * 2016-08-17 2021-11-09 上海新昇半导体科技有限公司 一种纳米管存储器结构及其制备方法
CN107658264A (zh) * 2017-09-28 2018-02-02 江苏师范大学 一种基于多层石墨烯辅助层的三维硅通孔垂直互联方法
CN107658262B (zh) * 2017-09-28 2021-01-22 江苏师范大学 一种基于石墨烯复合结构的三维硅通孔垂直互联方法
CN109243989B (zh) * 2018-09-03 2020-01-17 合肥工业大学 一种基于石墨烯浆料的硅-硅低温键合的方法
CN109888292A (zh) * 2019-04-03 2019-06-14 山东星火科学技术研究院 一种石墨烯碳黑二元导电添加剂及其制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN110379768A (zh) 2019-10-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7985620B2 (en) Method of fabricating via first plus via last IC interconnect
CN101483149B (zh) 一种硅通孔互连结构的制备方法
CN102103979B (zh) 一种制作利用硅通孔构成的三维硅基无源电路的方法
TW201125073A (en) Semiconductor package and method of mounting semiconductor die to opposite sides of TSV substrate
TW201104797A (en) Semiconductor device and method of mounting die with TSV in cavity of substrate for electrical interconnect of Fi-PoP
US20230104555A1 (en) Semiconductor apparatus and electronic device that includes semiconductor apparatus
CN113257778A (zh) 一种3d堆叠且背部导出的扇出型封装结构及其制造方法
CN110379768B (zh) 一种基于石墨烯浆料填充的tsv制作方法
CN201994289U (zh) 晶圆级转接板结构
Shen et al. A clamped through silicon via (TSV) interconnection for stacked chip bonding using metal cap on pad and metal column forming in via
CN102157438A (zh) 晶圆级转接板的制备方法
CN103219282B (zh) 一种tsv露头工艺
CN104009014A (zh) 集成无源器件晶圆级封装三维堆叠结构及制作方法
CN209993594U (zh) 基于陶瓷衬底的三维集成封装转接板
CN116093032A (zh) 金刚石增强的先进ic与先进ic封装
CN112382575B (zh) 一种用于5g设备的半导体存储封装及其制备方法
CN212257389U (zh) 半导体结构
CN210224007U (zh) 一种硅基扇出型晶圆级封装结构
CN115911007A (zh) 一种封装结构以及封装方法
CN112018031B (zh) 一种基于铜纳米粒子填充SiC通孔的方法
CN109065498B (zh) 一种三维系统封装集成应用的硅转接板制作方法
CN2617033Y (zh) 一种倒装片封装结构
CN110299342A (zh) 基于陶瓷衬底的三维集成封装转接板及其制作方法
CN105023888B (zh) 板级扇出型芯片封装器件及其制备方法
CN116454020B (zh) 一种埋入式高平坦性的tgv互连工艺及tgv互连结构

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant