CN109827759B - 应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡；获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，旨在解决现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

Description

应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置

技术领域

本申请涉及光学监测技术领域，尤其涉及一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置。

背景技术

现有技术中的投影产品中，光学模组的成像质量直接影响投影产品的使用效果，在光学模组各部分组件组装过程中，不可避免的会存在异物进入光学模组内部，因此在投影产品组装完成后需要进行缺陷检测，以保证光学模组在实际工作中视野不受脏点影响。

目前，光学模组中的缺陷主要通过投影白屏图像，在对通过相机采集到的白屏图像进行对比度计算确定光学模组中的缺陷，但是这种检测方法无法准确对透明或半透明缺陷进行检测，从而导致在缺陷检测过程中，出现透明或半透明缺陷漏检的问题，降低了投影产品的组装合格率。

发明内容

本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置，旨在解决现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

为实现上述目的，本申请提出了一种应用于光学模组的缺陷检测方法，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：

控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡；

获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；

根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息，包括：

根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块；

根据所述扫描区块确定扫描区域，所述扫描区域为扫描区块中的至少一区域；

对所述扫描区域进行扫描，确定所述第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联；

根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；

根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，包括：

获取所述第一区块与所述第二区块的颜色；

当所述第一区块的颜色为黑色时，确定所述第一区块为所述扫描区块；

当所述第二区块的颜色为黑色时，确定所述第二区块为所述扫描区块。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，还包括：

根据所述第一区块与所述第二区块确定交点区域的大小；

根据所述交点区域的大小，确定所述扫描区块。

可选地，所述根据所述扫描区块确定扫描区域，包括：

获取所述扫描区块的非扫描宽度；

根据所述扫描区块与所述非扫描宽度，确定所述扫描区域。

可选地，所述根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息，包括：

将所述第一检测信息与第一预设阈值进行对比；

当所述第一检测信息大于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息为所述图卡图像的第一缺陷信息。

可选地，根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息，包括：

获取所述图卡与所述图卡图像的对应关系，

根据所述第一缺陷信息以及所述图卡与所述图卡图像的对应关系，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

可选地，所述控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡，之前还包括：

调整所述采集单元，使经过所述采集单元的中心的法线与经过所述显示单元的中心的法线共线。

可选地，所述根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息，之后还包括：

调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描。

可选地，所述调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像，直至全部所述图卡完成扫描的步骤，包括：

调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

可选地，所述调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，包括：

根据所述扫描区块大小，确定所述第一区块与所述第二区块沿第一方向的第一移动距离以及沿第二方向的第二移动距离，其中所述第一方向与所述第一区块的一侧边缘平行，所述第二方向与所述第一区块的另一侧边缘平行，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

将所述图卡沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

将所述图卡沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

将所述图卡先沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，再沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

可选地，所述调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤：

将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

为实现上述目的，本申请提出一种应用于光学模组的缺陷检测装置，所述应用于光学模组的缺陷检测装置包括采集单元与控制器，其中，

所述控制器与所述光学模组通信连接；

所述控制器执行上述任一项实施方式所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，进行光学模组的缺陷检测。

本申请提出的技术方案中，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：所述显示单元显示所述图卡，所述采集单元获取所述图卡的图卡图像，其中所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；在获取所述图卡图像后，根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。由于所述第一区块或所述第二区块有且仅有一个为黑色，因此透明或半透明缺陷会对附近亮图案发出的进行折射反射形成亮点，在经过高对比度的所述图卡进行检测后，能够容易通过所述图卡对透明或半透明缺陷进行检测，从而避免现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法一实施例的流程示意图；

图2为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法另一实施例的流程示意图；

图3为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；

图4为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；

图5为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；

图6为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；

图7为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法又一实施例的流程示意图；

图8为本发明光学模组与缺陷检测装置的结构示意图；

图9为本发明应用于光学模组的缺陷检测方法中第一图卡的示意图；

图10为图9中第一图卡沿第一方向按第一移动距离移动后的工作状态示意图；

图11为图9中第一图卡沿第二方向按第一移动距离移动后的工作状态示意图；

图12为图9中第一图卡先沿第一方向按第一移动距离移动，再沿第二方向按第二移动距离移动后的工作状态示意图；

图13为图9中第一图卡将第一区块与第二区块的颜色进行调换后的工作状态示意图；

图14为图9中第一图卡将第一区块与第二区块的颜色进行调换后，再将图卡沿第一方向按第一移动距离移动后的工作状态示意图；

图15为图9中第一图卡将第一区块与第二区块的颜色进行调换后，再将图卡沿第二方向按第一移动距离移动后的工作状态示意图；

图16为图9中第一图卡将第一区块与第二区块的颜色进行调换后，再将图卡先沿第一方向按第一移动距离移动，再沿第二方向按第二移动距离移动后的工作状态示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				10	显示单元	12	透镜
11	显示屏	20	采集单元

本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

需要说明，本申请实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，在本申请中如涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”、“固定”等应做广义理解，例如，“固定”可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

另外，本申请各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

本申请提供一种应用于光学模组的缺陷检测方法及检测装置。

请参照图1与图8，所述光学模组包括显示单元10，其中，所述显示单元10包括显示屏11与透镜12，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：

S100，控制所述光学模组的所述显示单元10显示所述图卡；

S200，所述采集单元20获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；

S300，根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。

其中，所述模组缺陷信息是指检测到所述光学模组的透明或半透明脏污的大小信息与位置信息。

其中，由于透明或半透明缺陷会对附近亮图案发出的进行折射反射形成亮点，因此对所述暗色区块内的缺陷形成的亮点进行计算后，能够确定所述缺陷的个数与位置信息。

本申请提出的技术方案中，所述光学模组包括采集单元20与显示单元10，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：所述显示单元10显示所述图卡，所述采集单元20获取所述图卡的图卡图像，其中所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；在获取所述图卡图像后，根据所述图卡图像，确定所述光学模组的模组缺陷信息。由于所述第一区块或所述第二区块有且仅有一个为黑色，因此透明或半透明缺陷会对附近亮图案发出的进行折射反射形成亮点，在经过高对比度的所述图卡进行检测后，能够容易通过所述图卡对透明或半透明缺陷进行检测，从而避免现有技术中无法准确对光学模组的透明或半透明缺陷进行检测，容易出现透明或半透明缺陷漏检的问题。

请参照图2，所述步骤300，包括，

S310，根据所述图卡图像，确定第一检测信息；

其中，所述第一检测信息是指对所述图卡图像进行缺陷检测后获取到的扫描信息，所述第一检测信息包括与扫描信息相对应的位置信息。

S320，根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；

其中，所述第一缺陷信息是指对所述第一检测信息进行判断后，达到缺陷判断要求的所述第一检测信息。

S330，根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

其中，在获取所述图卡图像后，根据所述图卡图像，确定第一检测信息，所述第一检测信息与检测位置相关联。根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；因为所述图卡图像的所述第一缺陷信息与所述光学模组的成像存在对应关系，因此通过所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。具体的，所述模组缺陷信息包括所述光学模组的缺陷位置信息。

具体来说，请参照图3，所述步骤S310，包括，

S311，根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块；

S312，根据所述扫描区块确定扫描区域，所述扫描区域为扫描区块中的至少一区域；

其中，所述扫描区域位于所述扫描区块内，并不与所述扫描区块的周侧边界重合。

S313，对所述扫描区域进行扫描，确定所述第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联。

在一些可选的实施方式中，在获取所述图卡图像后，根据颜色判断或算法计算确定所述图卡图像的扫描区块，并根据所述扫描区块确定所述图卡图像的扫描区域，其中，为了避免所述扫描区域受到扫描区块边界其他区块的颜色影响，所述扫描区域收容于所述扫描区块并且不与所述扫描区块的边界抵接。通过对所述扫描区域进行扫描，确定所述第一检测信息。

在一些可选的实施方式中，所述步骤S311，包括，获取所述第一区块与所述第二区块的颜色；当所述第一区块的颜色为黑色时，确定所述第一区块为所述扫描区块；当所述第二区块的颜色为黑色时，确定所述第二区块为所述扫描区块。

在一些可选的实施方式中，所述第一区块与所述第二区块的颜色有且仅有一个为黑色，从而保证在缺陷检测过程中，能够通过所述第一区块与所述第二区块的亮度区别对透明或半透明缺陷进行检测。具体实施方式中，当所述第二区块为黑色时，所述第二区块为所述图卡的扫描范围，透明或者半透明的缺陷会受到周侧所述第一区块的影响产生折射反射等最终在图像上形成亮点，从而对透明或半透明缺陷进行检测。

在一些可选的实施方式中，所述步骤S311，还可以包括，

根据所述第一区块与所述第二区块确定交点区域的大小；

根据所述交点区域的大小，确定所述扫描区块。

在一些可选的实施方式中，由于所述第一区块与所述第二区块间隔交替设置，通过算法确定所述第一区块和/或所述第二区块的交点区域大小。具体实施方式中，所述第一区块的大小为64*64像素，所述第二区块的大小为68*68像素，通过算法确定所述交点区域为2*2像素，并确定所述扫描区块的大小为68*68像素。

请参照图4，所述步骤S312，包括，

S3121，获取所述扫描区块的非扫描宽度；

其中，由于所述扫描区块与非扫描区块交替设置，为了避免所述扫描区块边缘与所述非扫描区块之间发生干涉，通过减小所述扫描区域的面积避免干涉情况的发生，其中，所述非扫描宽度用于表示所述扫描区块与所述扫描区域之间的间隔宽度。

S3122，根据所述扫描区块与所述非扫描宽度，确定所述扫描区域。

在一些可选的实施方式中，所述非扫描宽度为预设值，所述扫描区域在通过所述扫描区块与预设的所述非扫描宽度进行计算。在另一具体实施例中，所述扫描区域与所述扫描区块为等比例的大小关系，所述非扫描宽度根据所述扫描区块大小以及预设的比例关系进行确定。具体的，所述扫描区块的尺寸为68*68像素，所述非扫描宽度的预设值为4像素，因此根据计算，所述扫描区域的尺寸为60*60像素。

请参照图5，所述步骤S313，包括，

S3131，将所述扫描区域划分成多个第一扫描区；

S3132，对所述第一扫描区逐个进行扫描，获取第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联。

在一些可选的实施方式中，所述扫描区域包括多个所述第一扫描区，具体实施方式中，所述扫描区域的大小为60*60像素，设置所述第一扫描区的尺寸为15*15像素，每个所述扫描区域包括16个所述第一扫描区。通过逐个对所述第一扫描区进行对比度扫描，确定每个所述扫描区的所述第一检测信息，其中，所述第一检测信息与每个所述第一扫描区相关联。

在一些可选的实施方式中，所述步骤S3132，包括：将所述第一扫描区划分成多个第二扫描区；对所述第二扫描区逐个进行扫描，获取第二检测信息，所述第二检测信息与扫描位置相关联；根据所述第二检测信息，确定所述第一检测信息。

在一些可选的实施方式中，所述第一扫描区包括多个所述第二扫描区，具体实施方式中，所述第一扫描区的大小为15*15像素，设置所述第二扫描区的尺寸为5*5像素，每个所述第一扫描区包括9个所述第二扫描区。通过逐个对所述第二扫描区进行对比度扫描，确定每个所述扫描区的所述第一检测信息，其中，所述第一检测信息与每个所述第二扫描区相关联。

在一些可选的实施方式中，在一些可选的实施方式中，所述步骤S320，包括：

将所述第一检测信息与第一预设阈值进行对比；

当所述第一检测信息大于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息为所述图卡图像的第一缺陷信息。

具体的，将所述第一检测信息与所述第一预设阈值进行对比确认，当所述第一检测信息小于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息不属于所述图卡图像的缺陷信息，当所述第一检测信息大于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息为所述图卡图像的第一缺陷信息。在一实施例中，所述第一预设阈值为600，当所述第一检测信息检测到的对比度为300时，所述第一检测信息对应的所述扫描区域无缺陷，当所述第一检测信息检测到的对比度为1000时，所述第一检测信息对应的所述扫描区域存在缺陷，所述第一检测信息为所述第一缺陷信息。

请参照图6，在一些可选的实施方式中，所述步骤S330，包括：

S331，获取所述图卡与所述图卡图像的对应关系；

S332，根据所述第一缺陷信息以及所述图卡与所述图卡图像的对应关系，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

具体实施方式中，所述显示单元10显示的图卡与所述采集单元20接收到的图卡图像相关联，在优选实施例中，所述图卡与所述图卡图像均为矩形，所述图卡与所述图卡图像的长宽比例相同，当检测到所述图卡图像的所述第一缺陷信息时，可以通过所述图卡图像与所述图卡的对应关系，确定所述第一缺陷信息所表示的缺陷在所述光学模组上的所述模组缺陷信息。

在一些可选的实施方式中，所述步骤S100之前还包括：

调整所述采集单元20，使所述采集单元20的中心与所述显示单元10的中心共轴线；

其中，所述采集单元20的中心与所述显示单元10的中心共轴线，用于保证所述采集单元20能够准确的接收到所述显示单元10发出的光学信号。

在一些可选的实施方式中，所述步骤S300，之后还包括：

S400，调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描。

其中，由于单一图卡无法对所述图卡的全部检测范围进行检测，因此需要通过调整所述图卡的检测位置或检测范围，通过多次检测后，完成对所述图卡全部检测范围的缺陷检测。

具体的，所述步骤S400包括：

S410，调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

S420，调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

在一些可选的实施方式中，当所述图卡的扫描范围小于所述显示单元10的要求检测范围时，为了保证对要求检测范围进行全部检测，需要多次调整所述图卡的检测位置及检测范围，使所述图卡的扫描范围覆盖全部要求检测范围。

请参照图7，在一些可选的实施方式中，所述步骤S410包括：

S411，根据所述扫描区块大小，确定所述第一区块与所述第二区块沿第一方向的第一移动距离以及沿第二方向的第二移动距离，其中所述第一方向与所述扫描区块的一侧边缘平行，所述第二方向与所述扫描区块的另一侧边缘平行，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

其中，在一些可选实施方式中，当所述第二区块为所述扫描区块时，由于所述第一区块与所述第二区块交替设置，在进行缺陷检测时，仅通过所述第二区块进行缺陷扫描，并且所述第一区块与所述第二区块的边缘位置容易出现检测准确率低的问题，因此移动所述第一区块与所述第二区块，通过调整所述图卡的检测位置，使所述第一区块与所述第二区块的边界区域能够在移动后的所述第二区块扫描区域内进行检测，提供缺陷检测准确率。具体的，所述第一移动距离小于所述第二区块沿所述第一方向的尺寸长度，并且大于所述非扫描宽度；所述第二移动距离小于所述第二区块沿所述第二方向的尺寸长度，并且大于所述非扫描宽度。

S412，将所述图卡沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

S413，将所述图卡沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

S414，将所述图卡先沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，再沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

在一些可选的实施方式中，请参照图9至图12，其中，图9为第一图卡，图10为所述第一图卡沿所述第一方向按所述第一移动距离移动后的工作状态，图11为所述第一图卡沿所述第二方向按所述第一移动距离移动后的工作状态，图12为所述第一图卡先沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，再沿所述第二方向按所述第二移动距离移动后的工作状态。在具体实施例中，所述扫描区块的尺寸大小为68*68像素，由于所述扫描区块为矩形，所述第一方向与所述扫描区块的一边延伸方向相平行，所述第二方向与所述第二区块的另一边延伸方向相平行。那么经过步骤S412、步骤S413、步骤S414三次位置移动及缺陷扫描后，能够使所述扫描区块与所述非扫描区块的边界区域均收容于所述扫描区块的扫描区域内，避免所述缺陷位于所述扫描区块与所述非扫描区块交界处时，缺陷检测准确率降低的问题。

优选的，所述第一移动距离与所述第二移动距离相等，具体实施方式中，所述第二区块为正方形，所述第一移动距离与所述第二移动距离相等，所述第二区块在经过步骤S412、步骤S413、步骤S414三次位置移动及缺陷扫描后，能够保证所述扫描区块在四次扫描过程中，所述扫描区块具有最大的扫描范围，提高缺陷检测效率。

具体的，所述步骤S420，包括：

将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

在一些可选的实施方式中，请参照图13至图16，其中，图13为所述第一图卡将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换后的工作状态；图14为所述第一图卡将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换后，再将所述图卡沿所述第一方向按所述第一移动距离移动后的工作状态；图15为所述第一图卡将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换后，再将所述图卡沿所述第二方向按所述第一移动距离移动后的工作状态；图16为所述第一图卡将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换后，再将所述图卡先沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，再沿所述第二方向按所述第二移动距离移动后的工作状态。

在一实施例中，为了保证所述图卡内对扫描范围进行全部检测，需要对非扫描区块的位置进行检测，因此将所述扫描区块与所述非扫描区块进行颜色调换后，确定调换颜色后的所述非扫描区块为所述图卡的新的扫描区块，具体的，当所述第一区块为所述图卡的扫描区块时，按照缺陷检测的相同步骤对所述第一区块进行扫描，并且在扫描完成后，调整所述图卡的位置后重新进行扫描，通过对所述第一区块与所述第二区块进行扫描，保证所述图卡的检测范围能够覆盖所述图卡的全部要求检测范围。

为实现上述目的，本申请提出一种应用于光学模组的缺陷检测装置，其特征在于，所述应用于光学模组的缺陷检测装置包括采集单元20与控制器，其中，

所述控制器与所述光学模组通信连接；

所述控制器执行上述任一项实施方式所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，进行光学模组的缺陷检测。

在本申请提出的技术方案中，通过对暗色区块进行对比度扫描，能够对透明或半透明缺陷进行检测，避免在现有技术中，容易对透明或半透明缺陷出现漏检的问题，因此，为了保证光学模组在进行缺陷检测过程中，针对不透明缺陷、半透明缺陷以及透明缺陷均能有良好的检测效果，将所述图卡的检测范围增大为暗色区块与亮色区块，其中，在亮色区块进行不透明缺陷检测，在暗色区块进行透明或半透明缺陷检测，从而能够提光学模组的缺陷检测准确率。

本发明实施例还提出一种存储介质，所述存储介质上存储有应用于光学模组的缺陷检测程序，所述应用于光学模组的缺陷检测程序被处理器执行时实现上述任一项实施方式所述的应用于光学模组的缺陷检测方法的步骤。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上所述仅为本申请的优选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是在本申请的发明构思下，利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (12)

1.一种应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述光学模组包括采集单元与显示单元，所述应用于光学模组的缺陷检测方法包括：

控制所述光学模组的所述显示单元显示图卡；

获取所述图卡的图卡图像；所述图卡图像包括第一区块与第二区块，所述第一区块与所述第二区块均为矩形且间隔交替设置；所述第一区块与所述第二区块颜色不一致，且所述第一区块与所述第二区块有且仅有一个为黑色；

根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块；

根据所述扫描区块确定扫描区域，所述扫描区域为扫描区块中的至少一区域；

对所述扫描区域进行扫描，确定第一检测信息，所述第一检测信息与扫描位置相关联；

根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息；

根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的模组缺陷信息。

2.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，包括：

获取所述第一区块与所述第二区块的颜色；

当所述第一区块的颜色为黑色时，确定所述第一区块为所述扫描区块；

当所述第二区块的颜色为黑色时，确定所述第二区块为所述扫描区块。

3.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述图卡图像，确定所述图卡图像的扫描区块，还包括：

根据所述第一区块与所述第二区块确定交点区域的大小；

根据所述交点区域的大小，确定所述扫描区块。

4.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述扫描区块确定扫描区域，包括：

获取所述扫描区块的非扫描宽度；

根据所述扫描区块与所述非扫描宽度，确定所述扫描区域。

5.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一检测信息，确定所述图卡图像的第一缺陷信息，包括：

将所述第一检测信息与第一预设阈值进行对比；

当所述第一检测信息大于所述第一预设阈值时，确定所述第一检测信息为所述图卡图像的第一缺陷信息。

6.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息，包括：

获取所述图卡与所述图卡图像的对应关系，

根据所述第一缺陷信息以及所述图卡与所述图卡图像的对应关系，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息。

7.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述控制所述光学模组的所述显示单元显示所述图卡，之前还包括：

调整所述采集单元，使经过所述采集单元的中心的法线与经过所述显示单元的中心的法线共线。

8.如权利要求1所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述根据所述第一缺陷信息，确定所述光学模组的所述模组缺陷信息，之后还包括：

调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描。

9.如权利要求8所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述调整所述图卡，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，直至全部所述图卡完成扫描的步骤，包括：

调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

10.如权利要求9所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述调整所述图卡的检测位置，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，包括：

根据所述扫描区块大小，确定所述第一区块与所述第二区块沿第一方向的第一移动距离以及沿第二方向的第二移动距离，其中所述第一方向与所述扫描区块的一侧边缘平行，所述第二方向与所述扫描区块的另一侧边缘平行，所述第一方向与所述第二方向相互垂直；

将所述图卡沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

将所述图卡沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤；

将所述图卡先沿所述第一方向按所述第一移动距离移动，再沿所述第二方向按所述第二移动距离移动，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

11.如权利要求9所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，其特征在于，所述调整所述图卡的检测范围，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤，包括：

将所述第一区块与所述第二区块的颜色进行调换，执行所述获取所述图卡的图卡图像的步骤。

12.一种应用于光学模组的缺陷检测装置，其特征在于，所述应用于光学模组的缺陷检测装置包括采集单元与控制器，其中，

所述控制器与所述光学模组通信连接；

所述控制器执行权利要求1-11中任一项所述的应用于光学模组的缺陷检测方法，进行光学模组的缺陷检测。

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