CN109786363B

CN109786363B - 显示面板

Info

Publication number: CN109786363B
Application number: CN201910139465.8A
Authority: CN
Inventors: 刘晋铨; 宋旻骏; 纪杨
Original assignee: AU Optronics Kunshan Co Ltd; AU Optronics Corp
Current assignee: AU Optronics Kunshan Co Ltd; AU Optronics Corp
Priority date: 2019-02-22
Filing date: 2019-02-22
Publication date: 2020-09-29
Anticipated expiration: 2039-02-22
Also published as: TW202032221A; CN109786363A; TWI719481B

Abstract

本发明提供一种显示面板，包括显示区、非显示区、多个测试焊垫、至少一个导电图案以及第一开关电路。显示区具有像素阵列，非显示区设置于显示区周边。多个测试焊垫、至少一个导电图案以及第一开关电路设置于非显示区内；其中，第一开关电路与导电图案及多个测试焊垫耦接，且导电图案覆盖并重叠设置于部分多个测试焊垫上方。

Description

显示面板

技术领域

本发明是有关于一种显示面板，且特别是有关于一种具有测试焊垫以及测试电路的显示面板。

背景技术

一般而言，显示面板具有显示区、位于显示区之外的非显示区。显示区内具有阵列配置的多个像素结构，非显示区内往往形成有覆晶薄膜焊垫(COF Pad)、多工器(Mux)、测试焊垫(CT Pad)、测试电路、静电放电保护电路(ESD)以及其他可能存在的驱动电路及相关走线。

现今的显示面板朝向窄边框方向发展，非显示区的面积(宽度)变得越来越小，位于非显示区的电路以及走线会变得越来越密。测试焊垫主要用于向显示区提供控制信号，如提供VGH/VGL/VDD/VCOM/CKV等信号。为了更好的完成显示面板的测试，这些测试焊垫往往数量较多且占用很大的面积，在测试完成后，还会通过涂布银胶的方式进行接地，涂布的银胶也会占用很大的面积，这些均不利于现有显示面板的窄边框设计。

如何能够在窄边框设计的显示面板中减少测试焊垫以及银胶所占用的面积，实为需要解决的问题之一。

发明内容

本发明一实施例的显示面板，包括一显示区，具有一像素阵列；一非显示区，设置于所述显示区周边；多个测试焊垫、至少一个导电图案以及一第一开关电路，所述多个测试焊垫、所述至少一个导电图案以及所述第一开关电路设置于所述非显示区内；其中，所述第一开关电路与所述导电图案及所述多个测试焊垫耦接，且所述导电图案覆盖并重叠设置于部分所述多个测试焊垫上方。

本发明另一实施例的显示面板，包括一第一基板，包含一显示区与一非显示区，所述显示区具有一像素阵列，而所述非显示区设置于所述显示区的周边；多个测试焊垫，设置于所述第一基板的所述非显示区；多个信号焊垫，设置于所述第一基板的所述非显示区，且包含一第一信号焊垫、一第二信号焊垫以及一第三信号焊垫；至少一个导电图案，位于所述非显示区，且与其中一所述测试焊垫接触；一第一开关电路，具有至少一第一开关单元，且所述第一开关单元具有一第一端、一第二端以及一控制端，所述第一端耦接于所述第一信号焊垫，所述第二端则耦接于其中一所述测试焊垫，而所述控制端则耦接于所述第二信号焊垫。

本发明又一实施例的显示面板，包括一显示区，具有一像素阵列；一非显示区，设置于所述显示区周边；多个测试焊垫，具有一第一测试焊垫与一第二测试焊垫，且设置于所述非显示区内；至少一个导电图案以及一第一开关电路，所述至少一个导电图案以及所述第一开关电路设置于所述非显示区内；其中，所述第一测试焊垫耦接于所述第一开关电路，且所述第一测试焊垫与所述至少一个导电图案在垂直投影方向上有重叠面积；所述第二测试焊垫与所述第一开关电路为彼此电性绝缘，且所述第二测试焊垫与所述至少一个导电图案之间相互隔离。

以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述，但不作为对本发明的限定。

附图说明

图1为本发明一实施例显示面板的结构示意图。

图2A为本发明另一实施例显示面板的结构示意图。

图2B为图2A沿L-L’的剖面结构示意图。

图3为本发明又一实施例显示面板的结构示意图。

图4为本发明再一实施例显示面板的结构示意图。

其中，附图标记：

100、200、300：显示面板 110：显示区

120：非显示区 130、A、B、C：测试焊垫

140：导电图案 150：第一开关电路

160：第二开关电路 T1：第一开关单元

T2：第二开关单元 T3：第三开关单元

AGCTL、AGGND、CT：控制信号 SP1、SP2、SP3：信号焊垫

210：第一基板 220：第二基板

230：导电层

具体实施方式

下面结合附图对本发明的结构原理和工作原理作具体的描述：

图1为本发明一实施例显示面板的结构示意图。如图1所示，本实施例的显示面板100包括显示区110以及非显示区120。具体而言，多个像素单元(图中未示出)形成像素阵列设置于显示区110，测试焊垫130、导电图案140以及第一开关电路150则设置于非显示区120。于图1所示的实施例中，显示面板100或显示区110为矩形形状，但本发明并不以此为限，可因不同的设计与需求，显示面板100或显示区110也可设置为圆形、椭圆形、其他不规则的弧形、三角形、五边形或其他多边形。另外，多个像素单元可为对齐或错位等方式排列成阵列。测试焊垫130、导电图案140以及第一开关电路150可以为一个或多个，举例而言，如图1所示，测试焊垫130为多个，分为测试焊垫A和测试焊垫B，导电图案140以及开关电路150为一个，但本发明并不以此为限，导电图案140以及开关电路150也可以为多个。其中，测试焊垫A表示被导电图案140覆盖的测试焊垫，测试焊垫B表示未被导电图案140覆盖且与导电图案140相互隔离的测试焊垫。

于图1所示的实施例中，第一开关电路150由多个第一开关单元T1组成，每一第一开关单元T1均包括第一端、第二端以及控制端。其中，第一开关单元T1的第一端连接至控制信号AGGND，第二端分别连接至一个测试焊垫A，控制端并联连接在一起，并电性连接至控制信号AGCTL。第二开关电路160由多个第二开关单元T2组成，每一第二开关单元T2均包括第一端、第二端以及控制端。其中，第二开关单元T2的第一端分别连接至一个测试焊垫A及测试焊垫B，第二端则连接至显示区110内的像素单元，控制端并联连接在一起，并电性连接至控制信号CT。

另外，在本实施例中，导电图案140部分或全部覆盖测试焊垫A，当然，导电图案140覆盖的测试焊垫A的数量可以为一个或多个，既可以完全覆盖测试焊垫A也可以部分覆盖测试焊垫A，本发明并不以此为限。举例而言，如图1所示，导电图案140部分覆盖图中最右侧的三个测试焊垫A，则与覆盖测试焊垫A的数量相对应的，第一开关电路150由3个第一开关单元T1组成。如果导电图案140覆盖测试焊垫A的数量发生变化，与其相对应，构成第一开关电路150的第一开关单元T1的数量也随之发生变化。也就是说，第一开关单元T1的数量与导电图案140覆盖测试焊垫A的数量相同或成正比例。其中，与测试焊垫A连接的第一开关单元T1的第二端还同时连接至导电图案140。

于本实施例中，当进行显示面板100的性能/功能测试时，即显示面板100处于测试期间时，控制信号AGCTL为禁能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于断开状态，而控制信号CT为致能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于导通状态，将测试焊垫A和/或测试焊垫B的测试信号提供至像素单元，进行显示面板100的测试；当不进行显示面板100的性能/功能测试时，例如为正常显示时，即显示面板100处于非测试期间时，控制信号AGCTL为致能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于导通状态，而控制信号CT为禁能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于断开状态，导电图案140电性连接至控制信号AGGND，AGGND例如为地电位，从而实现导电图案140的接地。以N型开关元件来组成第一开关单元T1和/或第二开关单元T2为例，当显示面板100处于测试期间时，控制信号CT为高电位，而控制信号AGCTL为低电位；当显示面板100处于非测试期间时，控制信号CT为低电位，而控制信号AGCTL为高电位。以此类推，以P型开关元件为例时，致能信号为低电位，禁能信号为高电位。第一开关单元T1与第二开关单元T2可以同为N型或P型的开关元件，也可以为不同类型的开关元件，本发明并不以此为限。本实施例中，第一开关单元T1与第二开关单元T2为相同类型的开关元件，则控制信号CT与控制信号AGCTL为反相信号；如果第一开关单元T1与第二开关单元T2为不同类型的开关元件，则控制信号CT与控制信号AGCTL为同相信号。如此一来，第一开关单元T1与第二开关单元T2的控制端可电性连接于同一控制信号。于另一变形例中，第二开关单元T2可以与形成在非显示区中的静电放电保护(ESD)电路(图中未示出)中的开关单元实现共用。

图2A为本发明另一实施例显示面板的结构示意图。如图2A所示，与图1所示的显示面板100相比，显示面板200还包括信号焊垫SP1、SP2以及SP3，且信号焊垫SP1、SP2以及SP3的面积小于测试焊垫A和/或测试焊垫B的面积。其中，信号焊垫SP1向显示面板200提供控制信号AGGND，信号焊垫SP2向显示面板200提供控制信号AGCTL，信号焊垫SP3向显示面板200提供控制信号CT。与显示面板100相同，当显示面板200处于测试期间时，信号焊垫SP2提供控制信号AGCTL为禁能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于断开状态，信号焊垫SP3提供控制信号CT为致能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于导通状态，将测试焊垫A和/或测试焊垫B的测试信号提供至像素单元，进行显示面板100的测试；当显示面板200处于非测试期间时，信号焊垫SP2提供控制信号AGCTL为致能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于导通状态，信号焊垫SP3提供控制信号CT为禁能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于断开状态，信号焊垫SP1向导电图案140提供控制信号AGGND，AGGND例如为地电位，从而实现导电图案140的接地。于本实施例中，第一开关单元T1与第二开关单元T2为相同类型的开关元件，则控制信号CT与控制信号AGCTL为反相信号。于另一实施例中，第一开关单元T1与第二开关单元T2为不同类型的开关元件时，第一开关单元T1与第二开关单元T2的控制端均电性连接至同一控制信号，具体而言，第一开关单元T1与第二开关单元T2的控制端电性连接至信号焊垫SP2。此时，还可以节省一个信号焊垫SP3的面积。

图2B为图2A沿L-L’的剖面结构示意图，且为便于清楚说明，图2B仅将部分层别绘示出来，省略其他层别(如彩色滤光层、黑色树脂层、主动组件层…等)。如图2B所示，本实施例中显示面板200的显示区及非显示区形成在第一基板210上，且显示面板200还包括第二基板220，第二基板220设置在第一基板210上方，第二基板220上形成一导电层230，导电层230形成在第二基板220上的位置与第一基板210上的导电图案140的位置相对应，当第二基板220设置在第一基板210上时，导电层230与测试焊垫A上的导电图案140接触，并实现电连接，从而实现对第二基板220的接地。

为了向信号焊垫SP1、SP2以及SP3提供控制信号，显示面板200还可以包括一电路板(图中未示出)，电路板电性连接至信号焊垫SP1、SP2以及SP3，以提供控制信号。

图3为本发明又一实施例显示面板的结构示意图。如图3所示，与图2A所示的显示面板200相比，显示面板300还包括测试焊垫C、第三开关单元T3，测试焊垫C与测试焊垫B一样未被导电图案140所覆盖且与导电图案140相互隔离。第三开关单元T3包括第一端、第二端以及控制端。其中，第三开关单元T3的第一端连接至测试焊垫C，第二端以及控制端并联连接在一起，并电性连接至信号焊垫SP3；另外，测试焊垫C同时直接电性连接至信号焊垫SP3，此时，控制信号CT也可通过测试焊垫C提供。当显示面板300处于测试期间时，信号焊垫SP2提供控制信号AGCTL为禁能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于断开状态，信号焊垫SP3或测试焊垫C提供控制信号CT为致能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于导通状态，将测试焊垫A和/或测试焊垫B的测试信号提供至像素单元，进行显示面板100的测试；当显示面板300处于非测试期间时，信号焊垫SP2提供控制信号AGCTL为致能信号，第一开关电路150的第一开关单元T1均处于导通状态，信号焊垫SP3或测试焊垫C提供控制信号CT为禁能信号，第二开关电路160的第二开关单元T2均处于断开状态，信号焊垫SP1向导电图案140提供控制信号AGGND，AGGND例如为地电位，从而实现导电图案140的接地。

图4为本发明再一实施例显示面板的结构示意图。如图4所示，与图1至图3所示的显示面板100、200、300相比，显示面板400中的测试焊垫A、测试焊垫B以及测试焊垫C呈一行排列，与显示面板100、200、300中两行的排列方式不同。当然，测试焊垫也可以采用其他排列方式，本发明并不以此为限。

综上，本发明的实施例通过在测试焊垫上方形成导电图案的方式，通过开关电路实现在测试期间测试焊垫向像素单元提供测试信号，在非测试期间导电图案实现接地的工作状态。导电图案覆盖测试焊垫，从而可以节约非显示区的面积，实现显示面板的窄边框设计。

当然，本发明还可有其它多种实施例，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形，但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

一显示区，具有一像素阵列；

一非显示区，设置于所述显示区周边；

多个测试焊垫、至少一个导电图案以及一第一开关电路，所述多个测试焊垫、所述至少一个导电图案以及所述第一开关电路设置于所述非显示区内；其中，

所述第一开关电路与所述导电图案及所述多个测试焊垫耦接，且所述导电图案覆盖并重叠设置于部分所述多个测试焊垫上方；

其中，还包括一第二开关电路，所述第二开关电路耦接于所述多个测试焊垫与所述像素阵列之间。

2.如权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关电路包括多个第一开关单元，所述第一开关单元的数量与所述导电图案覆盖所述多个测试焊垫的数量相对应。

3.如权利要求2所述的显示面板，其特征在于，每一所述多个第一开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端，其中，

每一所述第一开关单元的所述第一端耦接一第一控制信号，每一所述第一开关单元的所述第二端耦接至被所述导电图案覆盖的所述多个测试焊垫，每一所述第一开关单元的所述控制端耦接一第二控制信号。

4.如权利要求3所述的显示面板，其特征在于，在测试期间，所述第二控制信号禁能所述第一开关单元；在非测试期间，所述第二控制信号致能所述第一开关单元。

5.如权利要求4所述的显示面板，其特征在于，所述第一控制信号为低电压电位。

6.如权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第二开关电路包括多个第二开关单元，耦接于所述多个测试焊垫与所述像素阵列之间。

7.如权利要求6所述的显示面板，其特征在于，每一所述多个第二开关单元包括一第一端、一第二端以及一控制端；其中，

每一所述第二开关单元的所述第一端耦接至所述多个测试焊垫，每一所述第二开关单元的所述第二端耦接至所述像素阵列，每一所述第二开关单元的所述控制端耦接一第三控制信号。

8.如权利要求7所述的显示面板，其特征在于，在测试期间，所述第三控制信号致能所述第二开关单元；在非测试期间，所述第三控制信号禁能所述第二开关单元。

9.如权利要求8所述的显示面板，其特征在于，所述第二控制信号与所述第三控制信号反相。

10.一种显示面板，其特征在于，包括：

一第一基板，包含一显示区与一非显示区，所述显示区具有一像素阵列，而所述非显示区设置于所述显示区的周边；

多个测试焊垫，设置于所述第一基板的所述非显示区；

多个信号焊垫，设置于所述第一基板的所述非显示区，且包含一第一信号焊垫、一第二信号焊垫以及一第三信号焊垫；

至少一个导电图案，位于所述非显示区，且与其中一所述测试焊垫接触；

一第一开关电路，具有至少一第一开关单元，且所述第一开关单元具有一第一端、一第二端以及一控制端，所述第一端耦接于所述第一信号焊垫，所述第二端则耦接于其中一所述测试焊垫，而所述控制端则耦接于所述第二信号焊垫；

一第二开关电路，具有多个第二开关单元，每一所述第二开关单元具有一第一端、一第二端以及一控制端，其中所述第一端耦接于所述测试焊垫，所述第二端耦接于所述像素阵列。

11.如权利要求10所述的显示面板，其特征在于，更包含：

一第二基板，具有一导电层，且所述至少一个导电图案位于所述导电层与其中一所述测试焊垫之间。

12.如权利要求10所述的显示面板，其特征在于，所述测试焊垫的面积大于所述信号焊垫的面积。

13.如权利要求10所述的显示面板，其特征在于，更包含一电路板，所述电路板设置于所述信号焊垫，使得所述电路板与所述信号焊垫彼此电性连接。

14.如权利要求10所述的显示面板，其特征在于，

每一所述第二开关单元的所述控制端耦接于所述第三信号焊垫。

15.如权利要求10所述的显示面板，其特征在于，

每一所述第二开关单元的所述控制端耦接于所述第二信号焊垫；其中，所述第一开关电路与所述第二开关电路为不同种类的开关元件。

16.一种显示面板，其特征在于，包括:

一显示区，具有一像素阵列；

一非显示区，设置于所述显示区周边；

多个测试焊垫，具有一第一测试焊垫与一第二测试焊垫，且设置于所述非显示区内；

至少一个导电图案以及一第一开关电路，所述至少一个导电图案以及所述第一开关电路设置于所述非显示区内；其中，

所述第一测试焊垫耦接于所述第一开关电路，且所述第一测试焊垫与所述至少一个导电图案在垂直投影方向上有重叠面积；

所述第二测试焊垫与所述第一开关电路为彼此电性绝缘，且所述第二测试焊垫与所述至少一个导电图案之间相互隔离；

所述多个测试焊垫更包含一第三测试焊垫，所述第三测试焊垫与所述第一开关电路为彼此电性绝缘，且所述第三测试焊垫与所述至少一个导电图案之间相互隔离。

17.如权利要求16所述的显示面板，其特征在于，更包含一第二开关电路与一第三开关元件，其中所述第二开关电路分别耦接于所述像素阵列与所述第一测试焊垫以及所述像素阵列与所述第二测试焊垫，而所述第三开关元件则耦接于所述第三测试焊垫。

18.如权利要求17所述的显示面板，其特征在于，所述第三开关元件具有一第一端、一第二端以及一控制端，且所述第一端耦接于所述第三测试焊垫，所述第二端耦接于所述控制端。