CN109425796A - 一种背板工装测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供的背板工装测试系统,采用并行的方式对不同规格的待测单板进行测试,具有测试多种类型多块待测单板的功能,既能够减少测试单板研发投入及物料使用,又能够减少了测试成本,简化了测试操作,提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及通信领域,特别涉及一种背板工装测试系统。
背景技术
单板测试工装系统作为单板自动化测试的重要工具,被广泛的应用在单板研发以及生产线当中,起着测试单板功能以及I/O接口的作用,对研发定位故障与生产线高质量发货提供有力手段与重要保障。配合背板使用的单板作为通讯领域单板的一个重要分支,它的测试工装系统在单板测试工装系统中也占有着很重要的地位。配合背板使用的单板的测试工装系统(以下简称背板工装系统)的核心硬件之一即为测试背板,它是背板工装系统的平台,所有待测板均插在测试背板上,由其提供信号解决方案,所以测试背板影响着整个单板测试工装系统的实现,测试的效率与测试成本。
如图1所示,传统的背板工装系统包括机框、测试背板、激励板、电源以及风扇等。待测单板与激励板均通过连接器插在测试背板上,在测试背板上通过设计PCB走线实现激励板与待测单板的信号互连。计算机将测试版本发送给激励板,激励板再将测试版本与I/O激励信号通过测试背板发送给待测单板,运行测试指令实现待侧单板的功能测试与I/O信号测试。传统技术大多是一个测试背板只能测试一种类型的待测单板,那么每测试一种类型的单板就要重新开发一套测试工装系统,这样在测试效率以及测试成本上都耗费较大。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种背板工装测试系统,可以在同一个测试背板上并行测试多个不同类型单板,通过采用这种结构可以简化测试系统结构,节省测试成本,提高测试效率。
一种背板工装测试系统,包括:
测试背板;
安装在所述测试背板上的至少两组单板测试组件,所述至少两组单板测试组件包括第一类型待测单板测试组件和第二类型待测单板测试组件;
为所述至少两组单板测试组件提供电能的电源组件,所述电源组件分别于所述第一类型待测单板测试组件和所述第二类型待测单板测试组件电连接;
所述第一类型待测单板测试组件包括用于提供第一测试版本的第一激励板、与所述第一激励板连接的第一激励板连接器及用于安装第一类型待测单板的第一类型待测单板连接器,所述第二类型待测单板测试组件包括用于提供第二测试版本的第二激励板、与所述第二激励板连接的第二激励板连接器及用于安装第二类型待测单板的第二类型待测单板连接器,所述第一激励板连接器通过所述测试背板与所述第一类型待测单板连接器连接,所述第二激励板连接器通过所述测试背板与所述第二类型待测单板连接器上连接。
可选地,还包括用于散热的风扇,所述风扇与所述电源组件电连接。
可选地,围绕所述第一类型待测单板测试组件设置第一隔间,围绕所述第二类型待测单板测试组件设置第二隔间。
可选地,所述第一类型待测单板连接器具有多个用于设置第一类型待测单板的第一接口,所述第二类型待测单板连接器具有多个用于设置第二类型待测单板的第二接口。
可选地,所述第一测试版本和所述第二测试版本不同。
可选地,所述系统包括框体,所述测试背板安装在所述框体上。
可选地,所述第一隔间和所述第二隔间设置在所述测试背板上。
可选地,所述第一隔间和所述第二隔间外观尺寸不相同。
从以上技术方案可以看出,本发明实施例具有以下优点:
本发明提供的背板工装测试系统,采用并行的方式对不同规格的待测单板进行测试,具有测试多种类型多块待测单板的功能,既能够减少测试单板研发投入及物料使用,又能够减少了测试成本,简化了测试操作,提高了测试效率。
附图说明
图1为现有技术中提供测试工装系统的结构示意图;
图2为一种实施例中背板工装测试系统的结构示意图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本发明保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在一个实施例中,如图2所示,提供一种背板工装测试系统,包括:
测试背板,测试背板可以支撑其他电路板、器件和器件之间的相互连接,并为所支撑的器件提供电源和数据信号的电路板或框架。
安装在所述测试背板上的至少两组单板测试组件,所述至少两组单板测试组件包括第一类型待测单板测试组件和第二类型待测单板测试组件,对于待测单板的个数不做限定,可以根据需要灵活增加或减少;
为所述至少两组单板测试组件提供电能的电源组件,所述电源组件分别于所述第一类型待测单板测试组件和所述第二类型待测单板测试组件电连接,通过电源组件分别为第一类型待测单板测试组件和第二类型待测单板测试组件进行供电;
所述第一类型待测单板测试组件包括第一激励板连接器、与所述第一激励板连接的第一激励板连接器及用于安装第一类型待测单板的第一类型待测单板连接器,所述第二类型待测单板测试组件包括第二激励板连接器、与所述第二激励板连接的第二激励板连接器及用于安装第二类型待测单板的第二类型待测单板连接器,所述第一激励板连接器通过所述测试背板与所述第一类型待测单板连接器连接,所述第二激励板连接器通过所述测试背板与所述第二类型待测单板连接器上连接,所述第一激励板连接器通过所述测试背板将测试版本下发到设置在第一类型待测单板连接器上的第一类型待测单板,所述第二激励板连接器通过所述测试背板将测试版本下发到设置在第二类型待测单板连接器上的第二类型待测单板。
第一激励板连接器和第二激励板连接器可以为相同的激励板连接器,相应地,第一激励板和第二激励板也采用相同的激励板,为了测试不同规格的待测单板,待测单板连接器可以包括多种规格,即第一类型待测单板连接器可以不同于第二类型待测单板连接器。
为了便于增加对同一种规格型号的待测单板测试效率,可以将多个第一类型待测单板连接器通过并行的方式进行同步测量,具体地可以采用第一类型待测单板连接器具有多个用于设置第一类型待测单板的第一接口,第一类型待测单板通过第一接口设置在第一类型待测单板连接器上,第二类型待测单板连接器具有多个用于设置第二类型待测单板的第二接口,第二类型待测单板通过第二接口设置在第二类型待测单板连接器上,其中,对于第一类型待测单板连接器和第二类型待测单板连接的个数可以根据需要进行增加,对此不做限定。
可选地,还包括用于散热的风扇,所述风扇与所述电源组件电连接。
可选地,第一测试版本和第二测试版本可以相同也可以不同,根据测试的需要决定,对此不做限定,本实施例中,第一测试版本和第二测试版本不相同。
可选地,所述第一类型待测单板和所述第二类型待测单板规格型号不相同,对应规格不相同,围绕所述第一类型待测单板测试组件设置第一隔间,围绕所述第二类型待测单板测试组件设置第二隔间,所述第一隔间和所述第二隔间可以设置成不相同,通过隔间的形状不同便于从外观直接区分出不同规格的单板测试区域。
可选地,所述第一隔间和所述第二隔间设置在所述测试背板上,还可以根据需要增加支撑件用来安装第一隔间和第二隔间,隔间的个数根据激励板的个数决定,每组单板测试组件对应设置一个隔间,可以形成一个小型的测试系统。
另外,在隔间中设有轨道,可以配合待测单板连接器完成对待测单板的固定和保护。
所述系统包括框体,所述测试背板安装在所述框体上,在本实施例中,测试背板的形状为矩形,可将测试背板容纳固定在框体上面。
上位机可以采用计算机,通过操作计算机上的测试软件将测试版本分别下发给第一激励板和第二激励板,第一激励板连接器通过测试背板将测试版本下发给第一类型待测单板,第二激励板连接器通过测试背板将测试版本下发给第二类型待测单板,两个单板测试组件均能够独立运行互不干涉,计算机运行测试指令,第一激励板和第二激励板分别发出激励信号,并行的测试两种不同类型的第一类型待测单板和第二类型待测单板。
结合图2所示,针对本发明实施例中提供的背板工装测试系统提供一种应用场景加以说明。
每种类型的待测单板可以分别设置为第一类型待测单板D1,数量为m1块、第二类型待测单板D2,数量为m2块...第n类型待测单板Dn,数量为mn块,其中mn>1,在测试背板上设置n套激励板连接器B以及,m1套第一类型待测单板连接器C1、m2套第二类型待测单板连接器C2...mn套第n类型待测单板连接器Cn,n块激励板,第一激励板B1、第二激励板B2...第n激励板Bn分别插入配套的激励板连接器B使得激励信号通过激励板连接器B进入测试背板,m1块第一类型待测单板D1插入配套的m1套第一类型待测单板连接器C1使得IO信号通过m1套第一类型待测单板连接器C1进入测试背板,m2块第二类型待测单板D2插入配套的m2套第二类型待测单板连接器C2使得IO信号通过m2套第二类型待测单板连接器C2进入测试背板,...mn块第n待测单板Dn插入配套的mn套第n待测单板连接器Cn使得IO信号通过mn套第n待测单板连接器Cn进入测试背板,m1块第一类型待测单板D1通过背板PCB走线与第一激励板B1的激励信号连接,形成一个独立的测试小系统H1;m2块第二类型待测单板D2通过背板PCB走线与第二激励板B2的激励信号连接,形成一个独立的测试小系统H2...mn块第n待测单板Dn通过背板PCB走线与第n激励板Bn的激励信号连接,形成一个独立的测试小系统Hn,n块激励板,第一激励板B1、第二激励板B2...第n激励板Bn分别与计算机相连,计算机运行工装测试软件将测试版本下发给每个激励板B1,B2...Bn,第一激励板B1通过测试背板将测试版本下发给m1块第一类型待测单板D1,第二激励板B2通过测试背板将测试版本下发给m2块第二类型待测单板D2...第n激励板Bn通过测试背板将测试版本下发给mn块第n类型待测单板Dn,n套测试小系统H1、H2...Hn均能够独立运行互不干涉,计算机运行测试指令,第一激励板B1、第二激励板B2...第n激励板Bn分别发出激励信号,并行的测试m1块待测单板D1,m2块待测单板D2...mn块待测单板Dn。
通过采用本发明提供的背板工装测试系统,采用并行的方式对不同规格的待测单板进行测试,具有测试多种类型多块待测单板的功能,减少了测试成本,简化了测试操作,提高了测试效率。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,该程序可以存储于一计算机可读存储介质中,存储介质可以包括:只读存储器(ROM,Read Only Memory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccess Memory)、磁盘或光盘等。
以上对本发明所提供的一种背板工装测试系统进行了详细介绍,对于本领域的一般技术人员,依据本发明实施例的思想,在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处,综上所述,本说明书内容不应理解为对本发明的限制。
Claims (8)
1.一种背板工装测试系统,其特征在于,包括:
测试背板;
安装在所述测试背板上的至少两组单板测试组件,所述至少两组单板测试组件包括第一类型待测单板测试组件和第二类型待测单板测试组件;
为所述至少两组单板测试组件提供电能的电源组件,所述电源组件分别与所述第一类型待测单板测试组件和所述第二类型待测单板测试组件电连接;
所述第一类型待测单板测试组件包括用于提供第一测试版本的第一激励板、与所述第一激励板连接的第一激励板连接器及用于安装第一类型待测单板的第一类型待测单板连接器,所述第二类型待测单板测试组件包括用于提供第二测试版本的第二激励板、与所述第二激励板连接的第二激励板连接器及用于安装第二类型待测单板的第二类型待测单板连接器,所述第一激励板连接器通过所述测试背板与所述第一类型待测单板连接器连接,所述第二激励板连接器通过所述测试背板与所述第二类型待测单板连接器上连接。
2.根据权利要求1所述的背板工装测试系统,其特征在于,还包括用于散热的风扇,所述风扇与所述电源组件电连接。
3.根据权利要求1所述的背板工装测试系统,其特征在于,围绕所述第一类型待测单板测试组件设置第一隔间,围绕所述第二类型待测单板测试组件设置第二隔间。
4.根据权利要求1所述的背板工装测试系统,其特征在于,所述第一类型待测单板连接器具有多个用于设置第一类型待测单板的第一接口,所述第二类型待测单板连接器具有多个用于设置第二类型待测单板的第二接口。
5.根据权利要求1所述的背板工装测试系统,其特征在于,所述第一测试版本和所述第二测试版本不同。
6.根据权利要求1所述的背板工装测试系统,其特征在于,所述系统包括框体,所述测试背板安装在所述框体上。
7.根据权利要求3所述的背板工装测试系统,其特征在于,所述第一隔间和所述第二隔间设置在所述测试背板上。
8.根据权利要求3或7所述的背板工装测试系统,其特征在于,所述第一隔间和所述第二隔间的外观尺寸不相同。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201710760624.7A CN109425796B (zh) | 2017-08-30 | 2017-08-30 | 一种背板工装测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
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---|---|
CN109425796A true CN109425796A (zh) | 2019-03-05 |
CN109425796B CN109425796B (zh) | 2021-09-07 |
Family
ID=65502083
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201710760624.7A Active CN109425796B (zh) | 2017-08-30 | 2017-08-30 | 一种背板工装测试系统 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN109425796B (zh) |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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