CN109059181B - 光电传感器校准方法、装置、空调器及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种光电传感器校准方法，包括以下步骤：获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。本发明还公开了一种光电传感器校准装置、空调器及计算机可读存储介质。本发明提高了光电传感器检测的精准性。
Description
技术领域
本发明涉及光电传感器技术领域，尤其涉及一种光电传感器校准方法、装置、空调器及可读存储介质。
背景技术
光电传感器是以光电器件作为转换元件的传感器，它可用于检测直接引起光量变化的非电物理量，例如过滤网洁净度。在光电传感器生产过程中，由于工艺限制，不同的光电传感器间具有差异性。例如，对于对管式光电传感器，其一侧安装发射管，另一侧安装接收管，不同发光管的发射强度会有所不同，不同接收管所要达到线性区的接收功率也会有所不同，并没有达到统一的一致性。这样，就导致了在采用光电传感器进行检测时，检测结果会存在误差，不够精准。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种光电传感器校准方法、装置、空调器及可读存储介质，旨在解决光电传感器检测不够精准的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供的一种光电传感器校准方法，所述光电传感器校准方法包括以下步骤：
获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。
可选地，所述当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节的步骤包括：
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
可选地，所述当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度的步骤包括：
当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
可选地，所述获取光电传感器当前进行参数检测的检测值的步骤之后，还包括：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配；
若否，则执行步骤对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
可选地，所述将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配的步骤之后，还包括：
若所述检测值与所述基准参考值匹配，则维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
可选地，所述将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配的步骤包括：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
可选地，所述基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配的步骤之后，还包括：
将调节后的脉冲宽度进行存储。
可选地，所述光电传感器为过滤网洁净度检测传感器，所述检测值为过滤网洁净度。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种光电传感器校准装置，所述光电传感器校准装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被所述处理器执行时实现如上所述的光电传感器校准方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种空调器，所述空调器包括过滤网以及如上所述的光电传感器校准装置。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被处理器执行时实现如上所述的光电传感器校准方法的步骤。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
1、通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。
2、当检测值与预设的基准参考值不匹配时，根据光电传感器当前对应的脉冲宽度，采用二分法计算调节后的脉冲宽度，并根据计算的脉冲宽度，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，直至最终的检测值与基准参考值匹配，采用二分法进行脉冲宽度调节，操作简单、快捷，提高了光电传感器校准的效率。
3、通过计算检测值与基准参考值的绝对差值，当绝对差值小于或等于预设阈值时，判定检测值与基准参考值匹配；只有当绝对差值大于预设阈值时，判定检测值与基准参考值不匹配，因此提高了判断的精确性，避免了对光电传感器进行无效校准。
4、通过将调节后的脉冲宽度进行存储，便于后续光电传感器以所存储的脉冲宽度进行参数检测，从而提高了光电传感器检测的精准性。
附图说明
图1为本发明实施例方案涉及的光电传感器校准装置的硬件运行环境的结构示意图；
图2为本发明光电传感器校准方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明光电传感器校准方法第二实施例的流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的解决方案主要是：通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。通过本发明实施例的技术方案，解决了光电传感器检测不够精准的问题。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的光电传感器校准装置的硬件运行环境的结构示意图。
在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。
如图1所示，该光电传感器校准装置可以包括：处理器1001(例如CPU)、通信总线1002、用户接口1003、网络接口1004、存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的光电传感器校准装置结构并不构成对光电传感器校准装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及光电传感器校准程序。
本发明中，光电传感器校准装置通过处理器1001调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，并执行以下操作：
获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配；
若否，则执行步骤对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
若所述检测值与所述基准参考值匹配，则维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的光电传感器校准程序，还执行以下操作：
将调节后的脉冲宽度进行存储。
本实施例通过上述方案，通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。
基于上述硬件结构，提出本发明光电传感器校准方法实施例。
参照图2，图2为本发明光电传感器校准方法第一实施例的流程示意图。
在本实施例中，所述光电传感器校准方法包括：
步骤S10，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
步骤S20，当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
步骤S30，基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。
本发明提出的光电传感器校准方法，适用于上述实施例中的光电传感器校准装置，该光电传感器校准装置可设置于空调器等设备中，也可以是外接于空调器等设备的装置。通过采用该光电传感器校准方法，实现对各种光电传感器进行校准。
在对光电传感器进行校准时，首先采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值。若获取的检测值与基准参考值匹配，也即说明光电传感器合格，不需要校准。反之，若获取的检测值与基准参考值不匹配，则对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度，继续进行检测，获取光电传感器再次进行参数检测的检测值，循环执行上述操作，将再次获得的检测值与基准参考值进行比对，直至所获得的检测值与基准参考值匹配，结束操作。
可选地，所述步骤S10之后，还包括：
步骤a，将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配；若是，则执行步骤b，若否，则执行步骤S20；
步骤b，维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
可选地，在获取光电传感器当前进行参数检测的检测值之后，将所获取的检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所获取的检测值与基准参考值是否匹配。可选地，所述步骤a包括：
步骤a1，将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
步骤a2，若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
步骤a3，若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
可选地，预先设置相应的用于进行匹配检测的预设阈值，在获取到光电传感器当前进行参数检测的检测值之后，将所获取的检测值与预设的基准参考值进行比对，计算该检测值与准参考值的绝对差值，并将计算的绝对差值与预设阈值进行比对。若计算的绝对差值小于或等于预设阈值，则判定检测值与基准参考值匹配。反之，若计算的绝对差值大于预设阈值，则判定检测值与基准参考值不匹配。
可以理解的是，除了上述的，还可以通过其他方式来判断检测值与基准参考值是否匹配。例如，计算获取的检测值与基准参考值之间的差值，若差值处于预设的范围区间内，则判定获取的检测值与基准参考值匹配；若差值处于预设的范围区间外，则判定获取的检测值与基准参考值不匹配。本实施例中，对判断检测值与基准参考值是否匹配的方式不作具体限制。
若获取的检测值与基准参考值匹配，则维持光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。反之，若获取的检测值与基准参考值不匹配，则对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，基于调节后的脉冲宽度，循环执行上述操作，直至所获得的检测值与基准参考值匹配，结束操作。
可选地，所述步骤S30之后，还包括：
步骤c，将调节后的脉冲宽度进行存储。
可选地，在对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节完成之后，将调节后的脉冲宽度进行存储。这样，以便于后续根据所存储的调节后的光电传感器进行参数检测，从而提高光电传感器检测的精准性。
下文以空调器中设置的过滤网洁净度检测传感器为例，对该光电传感器校准方法进行详细说明。本领域技术人员可以理解的是，该光电传感器校准方法并不限于应用于过滤网洁净度检测传感器。
对过滤网洁净度检测传感器进行校准，也即对过滤网洁净度检测传感器对应的PwmDuty脉冲宽度(占空比)进行调节校准，也即通过光电传感器校准装置对过滤网洁净度检测传感器对应的PwmDuty脉冲宽度(占空比)进行调节校准。本实施例中，光电传感器校准装置包括控制模块、调节模块、检测模块和反馈模块。其中，检测模块用于对过滤网洁净度进行检测，并将检测到的检测值输出给反馈模块。反馈模块用于将检测模块的检测值进行分压，滤波处理，然后传输到控制模块。控制模块用于对检测模块的检测值进行运算分析，并对调节模块进行控制输出，控制调节模块进行调节。调节模块用于将过滤网洁净度检测传感器对应的Pwm脉冲信号的PwmDuty脉冲宽度进行调节，通过调节后，Pwm脉冲信号转换成不同幅值的电压信号，从而使过滤网洁净度检测传感器发射功率变化，进行校准调节。
具体地，在对过滤网洁净度检测传感器进行校准时，采用过滤网洁净度检测传感器以当前的脉冲宽度进行过滤网洁净度检测，获取过滤网洁净度。
在获取过滤网洁净度之后，将获取的过滤网洁净度与预设的过滤网洁净度对应的基准参考值进行比对，判断获取的过滤网洁净度与基准参考值是否匹配。例如，计算获取的过滤网洁净度与基准参考值之间的差值，若差值处于预设的范围区间内，则判定获取的过滤网洁净度与基准参考值匹配；若差值处于预设的范围区间外，则判定获取的过滤网洁净度与基准参考值不匹配。
若获取的过滤网洁净度与基准参考值匹配，则过滤网洁净度检测传感器不需要进行校准，维持过滤网洁净度检测传感器以当前对应的脉冲宽度不变，进行过滤网洁净度检测。
反之，若获取的过滤网洁净度与基准参考值不匹配，则对过滤网洁净度检测传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。之后，采用过滤网洁净度检测传感器以调节后的脉冲宽度，再次进行过滤网洁净度检测，获取新的过滤网洁净度，将再次获得的新的过滤网洁净度与基准参考值进行比对，判断新的过滤网洁净度与基准参考值是否匹配。若新的过滤网洁净度与基准参考值不匹配，则循环执行上述操作，直至最新一次检测获取的过滤网洁净度与基准参考值匹配，操作结束。
本实施例提出的方案，通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。
进一步地，基于第一实施例，本发明还提出了光电传感器校准方法第二实施例。在第二实施例中，如图3所示，所述步骤S20包括：
步骤S21，当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
步骤S22，根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
本实施例中，在获取到光电传感器当前进行参数检测的检测值，将所获取的检测值与预设的基准参考值进行比对之后，若获取的检测值与基准参考值不匹配，则根据获取的检测值、以及基准参考值，采用二分法计算调节后的脉冲宽度，并根据计算的脉冲宽度，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。具体地，所述步骤S21包括：
步骤c，当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
步骤d，当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
可选地，预先设置脉冲宽度对应的脉冲宽度下限阈值PwmDuty_MIN和脉冲宽度上限阈值PwmDuty_MAX，将光电传感器当前对应的脉冲宽度用PwmDuty1表示，计算的光电传感器调节后的脉冲宽度用PwmDuty2表示。当将所获取的检测值与预设的基准参考值进行比对之后，若所获取的检测值大于预设的基准参考值，则根据光电传感器当前对应的脉冲宽度PwmDuty1和脉冲宽度下限阈值PwmDuty_MIN，采用第一计算公式：
PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度PwmDuty2。
若所获取的检测值小于预设的基准参考值，则根据光电传感器当前对应的脉冲宽度PwmDuty1和脉冲宽度上限阈值PwmDuty_MAX，采用第二计算公式：
PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度PwmDuty2。
仍以过滤网洁净度检测传感器为例，假设获取过滤网洁净度检测传感器检测的过滤网洁净度为Vad_D，预设的基准参考值为VAD_MAX_LIMIT。若过滤网洁净度Vad_D大于基准参考值VAD_MAX_LIMIT，则采用第一计算公式：
PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度PwmDuty2；
若过滤网洁净度Vad_D小于基准参考值VAD_MAX_LIMIT，则采用第二计算公式：
PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度PwmDuty2。
之后，根据计算的脉冲宽度PwmDuty2，对过滤网洁净度检测传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，直至以调节后的脉冲宽度进行过滤网洁净度检测时，检测的过滤网洁净度Vad_D与基准参考值VAD_MAX_LIMIT匹配，过滤网洁净度检测传感器校准完成。
采用二分法对过滤网洁净度检测传感器对应的脉冲宽度进行调节，操作简单、快捷。比如，若脉冲宽度上限阈值PwmDuty_MAX为255，脉冲宽度下限阈值PwmDuty_MIN为0，则采用二分法对过滤网洁净度检测传感器对应的脉冲宽度进行调节的调节次数最大为8次。而很多情况下并不需要调节8次，就可以将过滤网洁净度Vad_D调整到预设的基准参考值VAD_MAX_LIMIT。
本实施例提出的方案，当检测值与预设的基准参考值不匹配时，根据光电传感器当前对应的脉冲宽度，采用二分法计算调节后的脉冲宽度，并根据计算的脉冲宽度，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，直至最终的检测值与基准参考值匹配，采用二分法进行脉冲宽度调节，操作简单、快捷，提高了光电传感器校准的效率。
此外，本发明实施例还提出一种空调器，该空调器包括过滤网以及上述实施例中所述的光电传感器校准装置，也即包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被所述处理器执行时实现如下操作：
获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配；
若否，则对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
若所述检测值与所述基准参考值匹配，则维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将调节后的脉冲宽度进行存储。
可选地，光电传感器校准装置通过处理器执行存储器所存储的光电传感器校准程序的具体操作可参考光电传感器校准方法第五实施例中所述，在此不再赘述。
本实施例提出的方案，通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。
此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被处理器执行时实现如下操作：
获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配；
若否，则对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
若所述检测值与所述基准参考值匹配，则维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
进一步地，所述光电传感器校准程序被处理器执行时还实现如下操作：
将调节后的脉冲宽度进行存储。
本实施例提出的方案，通过采用光电传感器以当前对应的脉冲宽度进行参数检测，获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，当获取的检测值与预设的基准参考值不匹配时，对光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节，并基于调节后的脉冲宽度再次进行参数检测，直至检测值与基准参考值匹配，光电传感器校准完成。通过校准后的光电传感器进行参数检测，提高了光电传感器检测的精准性。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，空调器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (9)
1.一种光电传感器校准方法，其特征在于，所述光电传感器校准方法包括以下步骤：
获取光电传感器当前进行参数检测的检测值；
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配，若否，则对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节；
基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配；
所述当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节的步骤包括：
当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度；
根据计算的脉冲宽度，对所述光电传感器当前对应的脉冲宽度进行调节。
2.如权利要求1所述的光电传感器校准方法，其特征在于，所述当所述检测值与预设的基准参考值不匹配时，采用二分法计算调节后的脉冲宽度的步骤包括：
当所述检测值大于所述基准参考值时，采用第一计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty1-PwmDuty_MIN)/2，计算调节后的脉冲宽度；
当所述检测值小于所述基准参考值时，采用第二计算公式PwmDuty2＝(PwmDuty_MAX-PwmDuty1)/2，计算调节后的脉冲宽度；
其中，PwmDuty1为所述光电传感器当前对应的脉冲宽度，PwmDuty2为调节后的脉冲宽度，PwmDuty_MIN为预设的脉冲宽度下限阈值，PwmDuty_MAX为预设的脉冲宽度上限阈值。
3.如权利要求1所述的光电传感器校准方法，其特征在于，所述将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配的步骤之后，还包括：
若所述检测值与所述基准参考值匹配，则维持所述光电传感器当前对应的脉冲宽度不变。
4.如权利要求1所述的光电传感器校准方法，其特征在于，所述将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，判断所述检测值与所述基准参考值是否匹配的步骤包括：
将所述检测值与预设的基准参考值进行比对，计算所述检测值与所述基准参考值的绝对差值；
若所述绝对差值小于或等于预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值匹配；
若所述绝对差值大于所述预设阈值，则判定所述检测值与所述基准参考值不匹配。
5.如权利要求1所述的光电传感器校准方法，其特征在于，所述基于调节后的脉冲宽度，返回继续执行步骤获取光电传感器当前进行参数检测的检测值，直至所述检测值与所述基准参考值匹配的步骤之后，还包括：
将调节后的脉冲宽度进行存储。
6.如权利要求1-5中任一项所述的光电传感器校准方法，其特征在于，所述光电传感器为过滤网洁净度检测传感器，所述检测值为过滤网洁净度。
7.一种光电传感器校准装置，其特征在于，所述光电传感器校准装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的光电传感器校准方法的步骤。
8.一种空调器，其特征在于，所述空调器包括过滤网以及如权利要求7所述的光电传感器校准装置。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有光电传感器校准程序，所述光电传感器校准程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的光电传感器校准方法的步骤。
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