CN108088800B - 传感器检验方法、传感器和空气处理设备 - Google Patents

Abstract

本发明公开一种传感器检验方法、传感器和空气处理设备，其中，传感器检验方法包括以下步骤：光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器正常；否则，判定传感器异常；其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。本发明技术方案提高了传感器的维护效率。

Description

传感器检验方法、传感器和空气处理设备

技术领域

本发明涉及传感技术领域，特别涉及一种传感器检验方法、传感器和空气处理设备。

背景技术

在空气处理设备中，通常设有滤网，一方面能够避免室内空气中的杂质进入空气处理设备内部导致设备故障，另一方面也能够改善室内空气的质量。随着使用时间的增长，滤网上将附着灰尘、病菌等，因此有必要对滤网的洁净度进行检测。用于检测滤网洁净度的传感器包括光发射组件和光接收组件，并分别对应安装在滤网两侧，当滤网上附着了灰尘、病菌等时，光接收组件接收到的光强将产生变化，以实现滤网洁净度的检测。由于工艺限制和环境影响等因素，传感器的性能将会随着时间推移而下降，甚至出现故障，检测效果变差。而为了检验传感器的性能，保障其检测效果，通常需要频繁拆装传感器，导致传感器的维护效率降低。

发明内容

本发明的主要目的是提出一种传感器检验方法，旨在解决上述检验传感器不便的技术问题，提高传感器维护的效率。

为实现上述目的，本发明提出的传感器检验方法，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；

所述传感器检验方法包括以下步骤：

所述光发射组件关闭时，获取所述光接收组件接收到的第一接收光强；

所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取所述光接收组件接收到的第二接收光强；

比对所述第一接收光强、所述第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；

当所述第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且所述第二接收光强减所述第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定所述传感器正常；

否则，判定所述传感器异常；

其中，所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。

可选地，判定所述传感器异常的步骤包括：

调节所述光发射组件发射检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到的接收光强；

根据所述发射光强和所述接收光强，判定所述传感器的异常类型；

生成与所述异常类型相对应的提示信号。

可选地，判定所述传感器异常的步骤包括：

当所述第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，获取所述光发射组件以第二发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第三接收光强；

比对所述第二接收光强和所述第三接收光强；

当所述第三接收光强减所述第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定所述滤网脏堵；

当所述第三接收光强减所述第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定所述传感器与电源的连接异常；

其中，所述第二发射光强大于所述第一发射光强。

可选地，判定所述传感器异常的步骤包括：

当所述第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，获取所述光发射组件以第三发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第四接收光强；

比对所述第二接收光强和所述第四接收光强；

当所述第二接收光强减所述第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；

当所述第二接收光强减所述第四接收光强的差值小于第三预设差值时，判定所述传感器短路；

其中，所述第三发射光强小于所述第一发射光强。

可选地，判定所述传感器正常的步骤包括：

比对所述第二接收光强和第三预设阈值及第四预设阈值；

当所述第二接收光强小于所述第三预设阈值，或所述第二接收光强大于所述第四预设阈值时，生成校准提示信号；

其中，所述第三预设阈值大于所述第一预设阈值，所述第四预设阈值小于所述第二预设阈值，且所述第三预设阈值小于所述第四预设阈值。

可选地，在获取所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第二接收光强的步骤之前，所述传感器检验方法还包括以下步骤：

获取校准指令；

根据所述校准指令，调节所述光发射组件发射检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到的接收光强；

计算所述接收光强关于所述发射光强的变化率；

当所述接收光强关于所述发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

可选地，在获取校准指令的步骤之前，所述传感器检验方法还包括以下步骤：

累计所述空气处理设备的累积运行时长；

当所述累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令；或，

获取所述滤网的安装信号；

当获取到所述滤网的安装信号时，生成校准指令；或，

获取校准提示信号；

当获取到所述校准提示信号时，生成校准指令。

本发明还提出一种传感器，用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件、光接收组件、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器检验程序，其中，所述光发射组件用于发射检测光；所述光接收组件与所述光发射组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；所述传感器检验程序被所述处理器执行时实现传感器检验方法的步骤，所述传感器检验方法包括以下步骤：所述光发射组件关闭时，获取所述光接收组件接收到的第一接收光强；所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取所述光接收组件接收到的第二接收光强；比对所述第一接收光强、所述第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；当所述第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且所述第二接收光强减所述第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定所述传感器正常；否则，判定所述传感器异常；其中，所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。

本发明还提出一种空气处理设备，所述空气处理设备包括滤网、传感器、存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器检验程序，其中，

所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收；

所述传感器检验程序被所述处理器执行时实现传感器检验方法的步骤，所述传感器检验方法包括以下步骤：所述光发射组件关闭时，获取所述光接收组件接收到的第一接收光强；所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取所述光接收组件接收到的第二接收光强；比对所述第一接收光强、所述第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；当所述第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且所述第二接收光强减所述第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定所述传感器正常；否则，判定所述传感器异常；其中，所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。

可选地，所述空气处理设备包括空调器或空气净化器。

本发明技术方案中，传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器包括光发射组件和光接收组件，光发射组件和光接收组件对应分设于滤网的两侧，光发射组件发射的检测光经滤网透射，被光接收组件接收；传感器检验方法包括以下步骤：光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器正常；否则，判定传感器异常；其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。通过切换光发射组件的关闭和打开状态，并比对关闭状态下的第一接收光强、打开状态下的第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值，判断传感器是否工作在放大区，且光接收组件的接收状态是否正常，从而判断传感器是否正常。由于光发射组件的打开和关闭可以通过预设的程序或电路执行，因此在检验传感器的过程中，无需拆装传感器，即可方便地获知传感器是否正常，从而简化了传感器的维护过程，提高了传感器的维护效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明传感器一实施例的结构示意图；

图2为本发明传感器检验方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明传感器检验方法第二实施例中步骤S500的细化流程示意图；

图4为本发明传感器检验方法第三实施例中步骤S500的细化流程示意图；

图5为本发明传感器检验方法第四实施例中步骤S500的细化流程示意图；

图6为本发明传感器检验方法第五实施例中步骤S400的细化流程示意图；

图7为本发明传感器检验方法第六实施例的流程示意图；

图8为本发明传感器检验方法第七实施例中的部分流程示意图；

图9为本发明传感器检验方法第八实施例中的部分流程示意图；

图10为本发明传感器检验方法第九实施例中的部分流程示意图；

图11为本发明传感器一实施例的电路结构示意图；

图12为本发明空气处理设备一实施例的结构示意图。

图1和图12中的虚线箭头代表检测光的传输方向。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提出一种传感器检验方法。如图1所示，在本发明的第一实施例中，传感器10用于检测空气处理设备的滤网20洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收。

具体的，光发射组件11可以选用发光二极管或发光三极管，通过连续或脉冲方式产生一定频率的光波信号，并为光接收组件12所接收。为了避免环境光对滤网20的洁净度检测的干扰，可以选用能够产生红外信号的光发射组件11。光接收组件12具体可以为光敏三极管，具有三种工作状态：当光强较弱时，光接收组件12工作在截止区，在截止区中，光接收组件12尚未完全开启，随着光强的增大，光接收组件12产生的信号强度略有增大，但基本为零；当光强适中时，光接收组件12工作在放大区，在放大区中，光接收组件12产生的信号强度随光强的变化基本呈线性关系，从而能够较为直观地反映光强变化，减少非线性失真对检测过程的干扰；当光强较强时，光接收组件12工作在饱和区，在饱和区中，即使光强进一步增大，因光接收组件12饱和，其所产生的信号强度也基本不变，接近饱和信号。综上所述，能够正常工作的传感器10应该工作在放大区，以实现较好的检测效果。在传感器10的工作过程中，当光发射组件11发射的检测光发射强度不变的情况下，若滤网20较为洁净，那么，能够透射通过滤网20的检测光较多，相应的，光接收组件12接收到的接收光强较强，反之，若滤网20出现脏堵，那么，能够透射通过滤网20的检测光较少，相应的，光接收组件20接收到的接收光强较弱，从而实现对滤网20洁净度的检测。

如图2所示，传感器检验方法包括以下步骤：

步骤S100、光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；

步骤S200、光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；

步骤S300、比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；

步骤S400、当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器正常；

步骤S500、否则，判定传感器异常；

其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。

其中，当光发射组件11关闭时，光接收组件12接收到的第一接收光强即对应为环境光强。光发射组件11以第一发射光强发射检测光时，光接收组价12接收到的第二接收光强对应于环境光强和检测光经滤网20透射的透射光强之和。在一优选方案中，第一发射光强接近或等于传感器10的标准发射光强，在标准发射光强下，光接收组件12接收到的接收光强接近或恰好对应于线性区信号最强点。通过以接近或等于标准发射光强发射检测光，一方面能够尽量排除可能已处于脏堵状态的滤网20的干扰，有效增大第一接收光强和第二接收光强之间的差值，避免传感器10因干扰工作在截止区，从而准确地检验传感器10是否工作正常，避免误检；另一方面能够避免环境光强过强对传感器10产生干扰，而导致传感器10工作在饱和区所造成的误检。光发射组件的关闭和打开可以通过发送光脉冲的方式实现，即控制光发射组件11发射一脉冲，相应的，在传感器10正常的情况下，光接收组件12也应该接收到一脉冲，接收到脉冲中接收光强的最小值对应于第一接收光强，接收到脉冲中接收光强的最大值则对应于第二接收光强。当然，也可以通过其它时序电路等控制光发射组件11以预设的时间间隔打开和关闭，并获取对应的光接收组件12的接收光强，以判断传感器10是否正常。光发射组件11每关闭和打开一次即可实现一次测量，若需要实时监测传感器10是否正常，可以控制光发射组件11循环关闭和打开，或者，以一定的时间间隔关闭和打开，以实现定时监测传感器10是否正常。通过比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值以确定传感器10的工作状态。其中，第一预设阈值为传感器10截止区和放大区的交界处所对应的接收光强，第二预设阈值为传感器10放大区和饱和区的交界处所对应的接收光强，由于光接收组件12的性质，第一预设阈值小于第二预设阈值。通常状况下，光发射组件11关闭时接收到的第一接收光强小于光发射组件11打开时接收到的第二接收光强，当然，若传感器10出现异常，并不排除第一接收光强大于第二接收光强的情况发生。在比对过程中，可以根据第一接收光强和第二接收光强之间的大小关系，以及第一预设阈值和第二预设阈值之间的大小关系，推导出部分待比对量之间的大小关系，以减少比对的次数。当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值时，表明传感器10工作在放大区，进一步的，当第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，表明光接收组件12能够分辨出光发射组件11发射的光强的变化，当上述两条件均满足时，判定传感器10正常，从而可使用该传感器10检测滤网20的洁净度。否则，具体的，当第二接收光强小于或等于第一预设阈值，即传感器10工作在截止区，或第二接收光强大于或等于第二预设阈值，即传感器10工作在饱和区，或第二接收光强减第一接收光强的差值小于或等于第一预设差值，即光接收组件12不能很好地分辨出光发射组件11的发射光强的变化，甚至出现光发射组件11打开状态下的第二接收光强小于光发射组件11关闭状态下的第一接收光强的情况，上述情况只要有一种满足，则判定传感器10异常，以待后续的维护处理。

在本实施例中，传感器10用于检测空气处理设备的滤网20洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网20的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收；传感器10检验方法包括以下步骤：光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器10正常；否则，判定传感器10异常；其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。通过切换光发射组件11的关闭和打开状态，并比对关闭状态下的第一接收光强、打开状态下的第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值，判断传感器10是否工作在放大区，且光接收组件12的接收状态是否正常，从而判断传感器10是否正常。由于光发射组件11的打开和关闭可以通过预设的程序或电路执行，因此在检验传感器10的过程中，无需拆装传感器10，即可方便地获知传感器10是否正常，从而简化了传感器10的维护过程，提高了传感器10的维护效率。

在本发明的第二实施例中，如图3所示，判定传感器10异常的步骤包括：

步骤S510、调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

步骤S520、根据发射光强和接收光强，判定传感器10的异常类型；

步骤S530、生成与异常类型相对应的提示信号。

由于传感器10中包括多个组件，并与外界电源电路等相连，因此，传感器10发生异常时，包括多种不同的异常类型，例如，传感器10与电源之间的连线断开，传感器10中的光发射组件或光接收组件短路，以及由于传感器10之外的原因，如滤网脏堵等所造成的传感器10检测异常。为了便于后续的维护和检修，在本实施例中，通过调节光反射组件11发射检测光的发射光强，并获取光接收组件12接收到的接收光强，根据发射光强和接收光强之间的关系，判定具体的异常类型，并根据不同的异常类型产生不同的提示信号，以便于用户在后续的维护中能够有针对性地解决问题，提高维护的效率，后文中还将详细阐述。

在本发明的第三实施例中，如图4所示，判定传感器异常的步骤包括：

步骤S540、当第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，获取光发射组件以第二发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第三接收光强；

步骤S550、比对第二接收光强和第三接收光强；

步骤S561、当第三接收光强减第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定滤网脏堵；

步骤S562、当第三接收光强减第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定传感器与电源的连接异常；

其中，第二发射光强大于第一发射光强。

在本实施例中，当第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，表明此时光接收组件12没有接收到光或工作在截止区，造成上述情况可能的原因为光发射组件11或光接收组件12中至少一者没有正常工作，或者，由于滤网20脏堵导致透射光强度过低。为了分辨上述两种原因，增大光发射组件11的发射光强至第二发射光强，其中，第二发射光强大于第一发射光强。那么，如果是由于滤网20脏堵导致透射光强度过低，随着发射光强的增大，接收光强应该有相应的增大，即当第三接收光强减第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定滤网脏堵；如果是由于光发射组件11或光接收组件12中至少一者没有正常工作，那么，光接收组件12接收到的接收光强将基本保持不变，即第三接收光强减第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定传感器与电源的连接异常的光接收组件。

在本发明的第四实施例中，如图5所示，判定传感器异常的步骤包括：

步骤S570、当第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，获取光发射组件以第三发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第四接收光强；

步骤S580、比对第二接收光强和第四接收光强；

步骤S591、当第二接收光强减第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；

步骤S592、当第二接收光强减第四接收光强的差值小于第三预设差值时，判定传感器短路；

其中，第三发射光强小于第一发射光强。

在本实施例中，当第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，表明此时光接收组件12工作在饱和区，造成上述情况可能的原因为环境光强过强导致背景光强过大，或者光发射组件11或光接收组件12中至少一者发生了短路，导致发射光强过强或光接收组件12产生的电信号过大。为了分辨上述两种原因，减小光发射组件11的发射光强至第三发射光强，其中，第三发射光强小于第一发射光强。那么，如果是由于环境光强过大导致透射光强度过高，随着发射光强的减小，接收光强应该有相应的减小，即当第二接收光强减第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；如果是由于光发射组件11或光接收组件12中至少一者短路，那么，光发射组件11的发射光强事实上不能被调低，或者光接收组件12所产生的电信号依然对应于短路状态下的电信号，此时，第二接收光强减第四接收光强的差值小于第三预设差值，判定传感器短路。

在本发明的第五实施例中，如图6所示，判定传感器正常的步骤包括：

步骤S410、比对第二接收光强和第三预设阈值及第四预设阈值；

步骤S420、当第二接收光强小于第三预设阈值，或第二接收光强大于第四预设阈值时，生成校准提示信号；

其中，第三预设阈值大于第一预设阈值，第四预设阈值小于第二预设阈值，且第三预设阈值小于第四预设阈值。

在本实施例中，为了进一步优化传感器的工作状态，控制第二接收光强在第三预设阈值和第四预设阈值之间，当第二接收光强超出第三预设阈值和第四预设阈值所限定的范围时，生成校准提示信号，提醒相关人员对传感器进行校准，以使得传感器的放大区能够很好地覆盖常用的检测范围，避免当滤网20稍有脏堵时，传感器的工作状态就移动到截止区，或滤网20较为洁净时，传感器的工作状态就移动到饱和区，导致实际的检测范围减小。其中，第三预设阈值和第四预设阈值与第一发射强度相关。在一具体示例中，第一发射强度为滤网洁净状态下，光接收组件12接收到的接收光强接近或等于放大区和饱和区之间的交界点时的发射强度。随着滤网脏堵情况的加重，实际的接收光强将逐渐减小，以上述第一发射强度为标准发射强度，对传感器进行校准，能够尽可能充分利用放大区所对应的检测范围，提高传感器的检测效果。相应的，第三预设阈值和第四预设阈值所限定的区间对应于放大区中接近截止区的一段区间，且第三预设阈值小于第四预设阈值，当第二接收光强超出上述区间时，虽然此时传感器仍然工作在放大区，但是并没有能够充分利用整个放大区以获得较大的检测范围，故生成校准提示信号，提示用户对传感器的工作状态进行校准，或根据校准提示信号自动校准传感器，从而改善传感器的检测效果。

在本发明的第六实施例中，如图7所示，在步骤S200之前，传感器检验方法还包括以下步骤：

步骤S710、获取校准指令；

步骤S720、根据校准指令，调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

步骤S730、计算接收光强关于发射光强的变化率；

步骤S740、当接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

在本实施例中，为了尽可能增大第一接收光强和第二接收光强之间的差别，以实现更准确和灵敏地检验，有必要以合适的第一发射光强发射检测光。其中，第一发射光强对应于滤网处于洁净状态时，光接收组件接收到的接收光强接近或等于放大区与饱和区交界点处的发射光强。通过校准指令，确定当前滤网处于洁净状态，可以对第一发射光强进行校准。调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强，计算接收光强关于发射光强的变化率，当发射光强从零逐渐增大至使光接收组件饱和的过程中，在截止区，变化率基本为零，在放大区，变化率为一大于零的常数，在饱和区，变化率恢复至基本为零，因此，当接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，即变化率突然增大时，表明此处为放大区和饱和区之间的交界，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

在本发明的第七实施例中，如图8所示，在步骤S710之前，传感器检验方法还包括以下步骤：

步骤S811、累计空气处理设备的累积运行时长；

步骤S812、当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令。

其中，第一预设时长为空气处理设备出厂前调试过程中的运行时长和用户使用前安装过程中的运行时长之和，也就是说，第一预设时长对应于空气处理设备自可以运行至用户正式使用之间所运行的时长，当累积运行时长达到第一预设时长时，对应于用户开始使用空气处理设备的时段，此时，滤网仍处于洁净状态，在该状态下生成校准指令，以校准光发射组件的第一发射光强。

在本发明的第八实施例中，如图9所示，在步骤S710之前，传感器检验方法还包括以下步骤：

步骤S821、获取滤网的安装信号；

步骤S822、当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令。

考虑到用户在使用过程中可能会对滤网进行清洗，并重新将滤网安装到空气处理设备中，因此，通过获取滤网的安装信号，当获取到滤网的安装信号时，表明滤网刚经过清洗，处于洁净状态，此时，生成校准指令，以校准光发射组件的第一发射光强。

在本发明的第九实施例中，如图10所示，在步骤S710之前，传感器检验方法还包括以下步骤：

步骤S831、获取校准提示信号；

步骤S832、当获取到校准提示信号时，生成校准指令。

在检验传感器的过程中，虽然光接收组件运行在放大区，传感器状态正常，但是，由于光接收组件状态的偏离，可能导致放大区不能很好地覆盖检测范围，因此，可以通过生成校准提示信号，提示对第一发射光强进行重新校准，以改善传感器的工作状态。当获取到校准提示信号时，生成校准指令，以校准光发射组件的第一发射光强。

本发明还提出一种传感器，如图1和图11所示，传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11、光接收组件12、存储器13、处理器14及存储在存储器13上并可在处理器14上运行的传感器检验程序，其中，光发射组件11用于发射检测光；光接收组件12与光发射组件11对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收；处理器14与光发射组件11和光接收组件12均保持电连接。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，并执行以下操作：

光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；

光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；

比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；

当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器正常；

否则，判定传感器异常；

其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

根据发射光强和接收光强，判定传感器的异常类型；

生成与异常类型相对应的提示信号。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

当第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，获取光发射组件以第二发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第三接收光强；

比对第二接收光强和第三接收光强；

当第三接收光强减第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定滤网脏堵；

当第三接收光强减第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定传感器与电源的连接异常；

其中，第二发射光强大于第一发射光强。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

当第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，获取光发射组件以第三发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第四接收光强；

比对第二接收光强和第四接收光强；

当第二接收光强减第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；

当第二接收光强减第四接收光强的差值小于第三预设差值时，判定传感器短路；

其中，第三发射光强小于第一发射光强。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，判定传感器正常的操作包括：

比对第二接收光强和第三预设阈值及第四预设阈值；

当第二接收光强小于第三预设阈值，或第二接收光强大于第四预设阈值时，生成校准提示信号；

其中，第三预设阈值大于第一预设阈值，第四预设阈值小于第二预设阈值，且第三预设阈值小于第四预设阈值。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在获取光发射组件以第一发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第二接收光强的操作之前，还执行以下操作：

获取校准指令；

根据校准指令，调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

处理器14调用存储在存储器13中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

累计空气处理设备的累积运行时长；

当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令；或，

获取滤网的安装信号；

当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令；或，

获取校准提示信号；

当获取到校准提示信号时，生成校准指令。

本发明还提出一种空气处理设备，如图12所示，空气处理设备包括滤网20、传感器10、存储器30、处理器40及存储在存储器30上并可在处理器40上运行的传感器检验程序，其中，

传感器10用于检测空气处理设备的滤网洁净度，传感器10包括光发射组件11和光接收组件12，光发射组件11和光接收组件12对应分设于滤网的两侧，光发射组件11发射的检测光经滤网20透射，被光接收组件12接收。处理器40与传感器10和存储器30电连接。具体的，空气处理设备包括空调器或空气净化器。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，并执行以下操作：

光发射组件关闭时，获取光接收组件接收到的第一接收光强；

光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取光接收组件接收到的第二接收光强；

比对第一接收光强、第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；

当第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且第二接收光强减第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定传感器正常；

否则，判定传感器异常；

其中，第一预设阈值小于第二预设阈值。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

根据发射光强和接收光强，判定传感器的异常类型；

生成与异常类型相对应的提示信号。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

当第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，获取光发射组件以第二发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第三接收光强；

比对第二接收光强和第三接收光强；

当第三接收光强减第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定滤网脏堵；

当第三接收光强减第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定传感器与电源的连接异常；

其中，第二发射光强大于第一发射光强。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，判定传感器异常的操作包括：

当第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，获取光发射组件以第三发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第四接收光强；

比对第二接收光强和第四接收光强；

当第二接收光强减第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；

当第二接收光强减第四接收光强的差值小于第三预设差值时，判定传感器短路；

其中，第三发射光强小于第一发射光强。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，判定传感器正常的操作包括：

比对第二接收光强和第三预设阈值及第四预设阈值；

当第二接收光强小于第三预设阈值，或第二接收光强大于第四预设阈值时，生成校准提示信号；

其中，第三预设阈值大于第一预设阈值，第四预设阈值小于第二预设阈值，且第三预设阈值小于第四预设阈值。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在获取光发射组件以第一发射光强发射检测光时，光接收组件接收到的第二接收光强的操作之前，还执行以下操作：

获取校准指令；

根据校准指令，调节光发射组件发射检测光的发射光强，并获取光接收组件接收到的接收光强；

计算接收光强关于发射光强的变化率；

当接收光强关于发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

处理器40调用存储在存储器30中的传感器检验程序，在获取校准指令的操作之前，还执行以下操作：

累计空气处理设备的累积运行时长；

当累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令；或，

获取滤网的安装信号；

当获取到滤网的安装信号时，生成校准指令；或，

获取校准提示信号；

当获取到校准提示信号时，生成校准指令。

以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是在本发明的发明构思下，利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的技术领域均包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种传感器检验方法，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收，其特征在于，所述传感器检验方法包括以下步骤：

所述光发射组件关闭时，获取所述光接收组件接收到的第一接收光强；

所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，获取所述光接收组件接收到的第二接收光强；

比对所述第一接收光强、所述第二接收光强、第一预设阈值和第二预设阈值；

当所述第二接收光强大于第一预设阈值且小于第二预设阈值，且所述第二接收光强减所述第一接收光强的差值大于第一预设差值时，判定所述传感器正常；

否则，判定所述传感器异常；

其中，所述第一预设阈值小于所述第二预设阈值。

2.如权利要求1所述的传感器检验方法，其特征在于，判定所述传感器异常的步骤包括：

调节所述光发射组件发射检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到的接收光强；

根据所述发射光强和所述接收光强，判定所述传感器的异常类型；

生成与所述异常类型相对应的提示信号。

3.如权利要求1所述的传感器检验方法，其特征在于，判定所述传感器异常的步骤包括：

当所述第二接收光强小于或等于第一预设阈值时，获取所述光发射组件以第二发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第三接收光强；

比对所述第二接收光强和所述第三接收光强；

当所述第三接收光强减所述第二接收光强的差值大于或等于第二预设差值时，判定所述滤网脏堵；

当所述第三接收光强减所述第二接收光强的差值小于第二预设差值时，判定所述传感器与电源的连接异常；

其中，所述第二发射光强大于所述第一发射光强。

4.如权利要求1所述的传感器检验方法，其特征在于，判定所述传感器异常的步骤包括：

当所述第二接收光强大于或等于第二预设阈值时，获取所述光发射组件以第三发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第四接收光强；

比对所述第二接收光强和所述第四接收光强；

当所述第二接收光强减所述第四接收光强的差值大于或等于第三预设差值时，判定环境光强过大；

当所述第二接收光强减所述第四接收光强的差值小于第三预设差值时，判定所述传感器短路；

其中，所述第三发射光强小于所述第一发射光强。

5.如权利要求1所述的传感器检验方法，其特征在于，判定所述传感器正常的步骤包括：

比对所述第二接收光强和第三预设阈值及第四预设阈值；

当所述第二接收光强小于所述第三预设阈值，或所述第二接收光强大于所述第四预设阈值时，生成校准提示信号；

其中，所述第三预设阈值大于所述第一预设阈值，所述第四预设阈值小于所述第二预设阈值，且所述第三预设阈值小于所述第四预设阈值。

6.如权利要求1所述的传感器检验方法，其特征在于，在获取所述光发射组件以第一发射光强发射检测光时，所述光接收组件接收到的第二接收光强的步骤之前，所述传感器检验方法还包括以下步骤：

获取校准指令；

根据所述校准指令，调节所述光发射组件发射检测光的发射光强，并获取所述光接收组件接收到的接收光强；

计算所述接收光强关于所述发射光强的变化率；

当所述接收光强关于所述发射光强的变化率减小量大于或等于第四预设差值时，确定当前光发射组件发射检测光的发射光强为第一发射光强。

7.如权利要求6所述的传感器检验方法，其特征在于，在获取校准指令的步骤之前，所述传感器检验方法还包括以下步骤：

累计所述空气处理设备的累积运行时长；

当所述累积运行时长达到第一预设时长时，生成校准指令；或，

获取所述滤网的安装信号；

当获取到所述滤网的安装信号时，生成校准指令；或，

获取校准提示信号；

当获取到所述校准提示信号时，生成校准指令。

8.一种传感器，用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件用于发射检测光，所述光接收组件与所述光发射组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收，其特征在于，所述传感器还包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器检验程序，其中，所述传感器检验程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的传感器检验方法的步骤。

9.一种空气处理设备，其特征在于，所述空气处理设备包括滤网和传感器，所述传感器用于检测空气处理设备的滤网洁净度，所述传感器包括光发射组件和光接收组件，所述光发射组件和所述光接收组件对应分设于所述滤网的两侧，所述光发射组件发射的检测光经所述滤网透射，被所述光接收组件接收，其特征在于，所述空气处理设备还包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的传感器检验程序，其中，所述传感器检验程序被所述处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的传感器检验方法的步骤。

10.如权利要求9所述的空气处理设备，其特征在于，所述空气处理设备包括空调器或空气净化器。

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