CN108594896B - 烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质 - Google Patents

烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质 Download PDF

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CN108594896B CN201810391029.5A CN201810391029A CN108594896B CN 108594896 B CN108594896 B CN 108594896B CN 201810391029 A CN201810391029 A CN 201810391029A CN 108594896 B CN108594896 B CN 108594896B
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Abstract

本发明公开了一种烤箱温控方法，包括：检测烤箱边缘测温点处的第一温度；根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；根据所述第二温度进行加热控制。本发明还公开了一种烤箱温控装置及计算机可读存储介质。本发明提高了烤箱温控的精准性。

Description

烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质
技术领域
本发明涉及烤箱技术领域，尤其涉及一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质。
背景技术
随着生活水平的提高，烤箱已经被广泛应用，给人们的日常生活带来极大便利。目前，在采用烤箱加热食物时，一般是通过将测量温度与用户设定温度进行对比，若测量温度低于设定温度则进行加热，若测量温度高于设定温度则停止加热。然而，由于烤箱的测温器件一般都设置在箱体的边缘位置，所测得的测量温度与烤箱中心处的温度会存在一定的温差，因而很容易出现到了设定温度时，食物已经被烘烤过度的情况。因此，烤箱温控的精准性不高。
发明内容
本发明的主要目的在于提出一种烤箱温控方法、装置及计算机可读存储介质，旨在解决现有技术中烤箱温控的精准性不高的技术问题。
为实现上述目的，本发明提供一种烤箱温控方法，所述烤箱温控方法包括以下步骤：
检测烤箱边缘测温点处的第一温度；
根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；
根据所述第二温度进行加热控制。
优选地，所述根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度的步骤包括：
根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；
将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。
优选地，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：
获取所述烤箱当前设定的目标温度；
根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；
所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：
根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。
优选地，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：
获取所述第一温度对应的检测时间；
所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：
采用预设公式
Figure BDA0001642101550000021
计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；
其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。
优选地，所述检测烤箱边缘测温点处的第一温度的步骤之前，还包括：
分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；
根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
优选地，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：
计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；
根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
优选地，所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度包括多组，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：
计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；
根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
优选地，所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤之前，还包括：
对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；
所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤包括：
计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种烤箱温控装置，所述烤箱温控装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被所述处理器执行时实现如上文所述的烤箱温控方法的步骤。
此外，为实现上述目的，本发明还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被处理器执行时实现如上文所述的烤箱温控方法的步骤。
本发明提出的方案，通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制，而不是直接根据测量得到的烤箱边缘温度进行加热控制，从而提高了烤箱温控的精准性。
附图说明
图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的烤箱温控装置结构示意图；
图2为本发明烤箱温控方法第一实施例的流程示意图；
图3为本发明烤箱温控方法第一实施例中根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度的细化流程示意图；
图4为本发明实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的温度曲线示意图；
图5为本发明实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的实测温度差值曲线示意图；
图6为本发明实施例方案涉及的一个可选的烤箱边缘测温点处与中心处的实测温度差值曲线和拟合温度差值曲线示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
本发明实施例的解决方案主要是：通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制。通过本发明实施例的技术方案，解决了烤箱温控的精准性不高的问题。
本发明实施例提出一种烤箱温控装置。
参照图1，图1为本发明实施例方案涉及的硬件运行环境的烤箱温控装置结构示意图。
在后续的描述中，使用用于表示元件的诸如“模块”、“部件”或“单元”的后缀仅为了有利于本发明的说明，其本身没有特定的意义。因此，“模块”、“部件”或“单元”可以混合地使用。
如图1所示，该烤箱温控装置可以包括：处理器1001、通信总线1002、用户接口1003、网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。存储器1005可以是高速RAM存储器，也可以是稳定的存储器(non-volatile memory)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的烤箱温控装置结构并不构成对烤箱温控装置的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。
如图1所示，作为一种计算机存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、网络通信模块以及烤箱温控程序。
本发明中，所述烤箱温控装置通过处理器1001调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，并执行以下操作：
检测烤箱边缘测温点处的第一温度；
根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；
根据所述第二温度进行加热控制。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；
将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
获取所述烤箱当前设定的目标温度；
根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；
根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
获取所述第一温度对应的检测时间；
采用预设公式
Figure BDA0001642101550000061
计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；
其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；
根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；
根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；
根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，处理器1001可以调用存储器1005中存储的烤箱温控程序，还执行以下操作：
对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；
计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。
本实施例通过上述方案，通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制，而不是直接根据测量得到的烤箱边缘温度进行加热控制，从而提高了烤箱温控的精准性。
基于上述硬件结构，提出本发明烤箱温控方法实施例。
参照图2，图2为本发明烤箱温控方法第一实施例的流程示意图。
在第一实施例中，所述烤箱温控方法包括以下步骤：
步骤S10，检测烤箱边缘测温点处的第一温度；
步骤S20，根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；
步骤S30，根据所述第二温度进行加热控制。
目前，在采用烤箱加热食物时，一般是通过将测量温度与用户设定温度进行对比，若测量温度低于设定温度则进行加热，若测量温度高于设定温度则停止加热。然而，由于烤箱的测温器件一般都设置在箱体的边缘位置，所测得的测量温度与烤箱中心处的温度会存在一定的温差，因而很容易出现到了设定温度时，食物已经被烘烤过度的情况，导致食物口感欠佳。
为了提高烤箱温控的精准性，提升烤箱加热的食物的口感，本发明提出一种烤箱温控方法，应用于烤箱温控装置。该烤箱温控装置可以是独立于烤箱的装置，也可以设置于烤箱当中。
本实施例中，当用户利用烤箱进行食物加热的过程中，通过设置在烤箱内边缘位置的测温器件检测烤箱边缘测温点处的当前温度。例如，在烤箱内边缘位置设置NTC(Negative Temperature Coefficient，负温度系数)温度传感器，通过该NTC温度传感器来检测烤箱边缘测温点处的当前温度。为了便于描述，下文将检测到的烤箱边缘测温点处的当前温度称为第一温度。
当检测到烤箱边缘测温点处的第一温度之后，根据该第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处所对应的温度。为了便于描述，下文将烤箱中心处所对应的温度称为第二温度。本实施例中，预先设置有烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数，该差值拟合函数可根据检测烤箱边缘测温点处的实际温度和烤箱中心处的实际温度进行试验拟合生成。具体地，如图3所示，所述步骤S20包括：
步骤S21，根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；
步骤S22，将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。
可选地，在检测到烤箱边缘测温点处的第一温度之后，根据预设的差值拟合函数，计算烤箱边缘测温点处的第一温度与烤箱中心处的第二温度之间的温度差值。然后，将第一温度减去该温度差值，计算获得烤箱中心处对应的第二温度，也即进行食物加热时实际对应的加热温度。
之后，根据该烤箱中心处对应的第二温度，对烤箱进行加热控制。例如，将该第二温度与用户设置的目标温度进行比较，若第二温度低于目标温度则继续进行加热；反之，若第二温度高于目标温度则停止加热。又如，计算第二温度与目标温度的偏差，根据该偏差来调节烤箱继电器的通断时间比，控制继电器的工作状态，以控制烤箱加热管的输出功率，从而达到食物加热所需求的适宜温度。需要说明的是，除了上述列举的两种根据第二温度进行加热控制的方式以外，还可以通过其他方式来根据第二温度进行加热控制，本实施例对此并不作限制。
可选地，预先设置相应的检测周期T，例如，预设该检测周期T为1秒，本领域技术人员可以理解的是，检测周期T也可以设置为其他值，可根据实际情况进行灵活设置。根据所设置的检测周期T，周期性检测烤箱边缘测温点处的第一温度，进而根据上述操作计算出烤箱中心处的第二温度，从而周期性地根据当前所获得的第二温度进行加热控制。
本实施例提供的方案，通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制，而不是直接根据测量得到的烤箱边缘温度进行加热控制，从而提高了烤箱温控的精准性。
进一步地，基于第一实施例提出本发明烤箱温控方法第二实施例，在本实施例中，所述步骤S21之前，还包括：
步骤a，获取所述烤箱当前设定的目标温度；
步骤b，根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；
所述步骤S21包括：
步骤c，根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。
为了进一步提高烤箱温控的精准性，本实施例中，预设有烤箱加热所设定的目标温度与差值拟合函数的映射关系，针对于不同的目标温度，对应着相应不同的差值拟合函数。
在进行烤箱加热的过程中，除了检测烤箱边缘测温点处的第一温度以外，还获取烤箱当前设定的目标温度。根据该目标温度，以及预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定出该目标温度对应的差值拟合函数。
之后，根据所确定的该目标温度对应的差值拟合函数，计算出烤箱边缘测温点处的第一温度与烤箱中心处的第二温度之间的温度差值。然后将烤箱边缘测温点处的第一温度减去该温度差值，计算获得烤箱中心处的第二温度。也即本实施例中，即使检测的烤箱边缘测温点处的第一温度为同一个温度，若烤箱当前设定的目标温度不同，则根据目标温度对应的差值拟合函数计算得到的温度差值不同，进而计算得到的烤箱中心处的第二温度也不相同，从而更加进一步提高了获得烤箱中心处的第二温度的精准性。
可选地，所述步骤S21之前，还包括：
步骤d，获取所述第一温度对应的检测时间；
所述步骤S21包括：
步骤e，采用预设公式
Figure BDA0001642101550000091
计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；
其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。
可选地，除了检测烤箱边缘测温点处的第一温度以外，还获取检测烤箱边缘测温点处的第一温度所对应的检测时间。可选地，从烤箱开始加热工作时进行计时，在检测烤箱边缘测温点处的第一温度时，同时获取此刻记录的时间，也即获取第一温度所对应的检测时间。
在获取到烤箱边缘测温点处的第一温度，以及第一温度所对应的检测时间之后，采用以下预设公式计算该第一温度与烤箱中心处的第二温度之间的温度差值：
Figure BDA0001642101550000101
其中，f(t)为待计算的温度差值，t为烤箱边缘测温点处的第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2分别为预设系数，其根据烤箱设定的目标温度而定，对于不同的目标温度，σ1、μ1、σ2、μ2对应不同的数值，也即针对于不同的目标温度，对应着相应不同的差值拟合函数。
在通过上述预设公式计算出烤箱边缘测温点处的第一温度与烤箱中心处的第二温度之间的温度差值之后，将第一温度减去该温度差值，计算获得烤箱中心处对应的第二温度，也即进行食物加热时实际对应的加热温度。之后，根据该烤箱中心处对应的第二温度，对烤箱进行加热控制。
以设定的目标温度为210℃为例，分别检测烤箱中心处的实际温度和采用本发明的烤箱温控方法拟合烤箱中心处的温度，获得温度曲线如图4所示。通过图4对比实际检测到的烤箱中心处实测温度曲线和拟合得到的烤箱中心处温度曲线，可知，实际检测到的烤箱中心处实测温度和拟合得到的烤箱中心处温度十分接近，尤其是当温度动态稳定于目标温度后，实际检测到的烤箱中心处实测温度和拟合得到的烤箱中心处温度相差非常小，也即说明通过本发明的烤箱温控方法所拟合得到的烤箱中心处的温度十分准确，进而实现了精准地对烤箱温度进行调节。
本实施例提供的方案，通过获取烤箱当前设定的目标温度，根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定该目标温度对应的差值拟合函数，然后根据确定的差值拟合函数，计算第一温度与第二温度之间的温度差值，进而计算得到烤箱中心处的第二温度，也即根据所设定的目标温度的不同，相应采用不同的差值拟合函数来计算出烤箱中心处的第二温度，进而根据该第二温度进行加热控制，从而更进一步提高了烤箱温控的精准性。
进一步地，基于第一实施例或第二实施例提出本发明烤箱温控方法第三实施例，在本实施例中，所述步骤S10之前，还包括：
步骤f，分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；
步骤g，根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
本实施例中，为了能够获得准确的差值拟合函数，以便于根据该差值拟合函数能够精准地计算出烤箱中心处的第二温度，通过进行试验获得烤箱边缘测温点处的温度与烤箱中心处的温度的温度差值，根据该温度差值来拟合差值拟合函数。具体地，分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc。例如，采用热电偶测温元件采集烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc。
在采集到烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc之后，根据该烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函。可选地，所述步骤g包括：
步骤g1，计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；
步骤g2，根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
可选地，在采集到烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc之后，计算边缘测温点处的试验温度Tntc与中心处的试验温度Tc的试验温度差值ΔT。之后，根据该试验温度差值ΔT拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。将烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc、烤箱中心处的试验温度Tc、试验温度差值ΔT绘制温度曲线如图5所示。
在后续的温控阶段，只需通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度，以及拟合得到的烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数，即可计算出烤箱中心处的第二温度，进而根据第二温度进行加热控制。
可选地，所述步骤g包括：
步骤g3，计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；
步骤g4，根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
为了进一步提高拟合得到的烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的精准性，可选地，采集多组烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc，然后计算所采集的多组边缘测温点处的试验温度Tntc的第一平均温度
Figure BDA0001642101550000121
以及多组中心处的试验温度Tc的第二平均温度
Figure BDA0001642101550000122
然后根据计算的第一平均温度
Figure BDA0001642101550000123
和第二平均温度
Figure BDA0001642101550000124
拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，所述步骤g3之前，还包括：
步骤h，对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；
所述步骤g3包括：
步骤g31，计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。
进一步地，为了提高拟合得到的烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的精准性，在采集到多组烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc之后，对多组烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc进行预处理，如进行滤波处理，剔除其中的异常试验温度，也即剔除掉其中的坏点，之后再计算预处理后的多组边缘测温点处的试验温度Tntc的第一平均温度
Figure BDA0001642101550000125
以及预处理后的多组中心处的试验温度Tc的第二平均温度
Figure BDA0001642101550000126
根据该第一平均温度
Figure BDA0001642101550000127
和第二平均温度
Figure BDA0001642101550000128
拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
可选地，根据该试验温度差值ΔT拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。可选地，采用以下预设公式来进行拟合：
Figure BDA0001642101550000129
其中，αi为第i个待求取的拟合数据，ΔTi为第i个烤箱实测试验数据求差得到的试验温度差值，利用上述公式反向求解出n个拟合数据αi，使得函数ε最小。通过将n个拟合数据αi在坐标轴上进行标注，观察测温点处与中心处的温度差值曲线，可以发现该曲线最符合高斯曲线：
Figure BDA00016421015500001210
因此，利用高斯曲线进行拟合差值曲线，可以获得更好的效果。
例如，以设定的目标温度为230℃为例，分别采集到烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc，根据烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc，基于高斯曲线进行拟合求得的拟合差值曲线如图6所示。通过图6对比拟合差值曲线和实际计算烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc的差值曲线可知，两条曲线十分相似，实际计算烤箱边缘测温点处的试验温度Tntc与烤箱中心处的试验温度Tc的差值和拟合得到的温度差值相差非常小，也即说明通过高斯曲线进行拟合所得到的差值很精准，进而确保了根据该拟合差值曲线，可精准地获得烤箱中心处的第二温度。
本实施例提供的方案，通过采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度，根据该烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。之后在进行温控时，基于检测到的烤箱边缘测温点处的第一温度和拟合得到的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，进而根据第二温度进行加热控制，从而进一步提高了烤箱温控的精准性。
此外，本发明实施例还提出一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被处理器执行时实现如下操作：
检测烤箱边缘测温点处的第一温度；
根据所述第一温度，以及预设的差值拟合函数，计算所述烤箱中心处的第二温度；
根据所述第二温度进行加热控制。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；
将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
获取所述烤箱当前设定的目标温度；
根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；
根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
获取所述第一温度对应的检测时间；
采用预设公式
Figure BDA0001642101550000141
计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；
其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；
根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；
根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；
根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
进一步地，所述烤箱温控程序被处理器执行时还实现如下操作：
对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；
计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。
本实施例提供的方案，通过检测烤箱边缘测温点处的第一温度，根据该第一温度以及预设的差值拟合函数，计算出烤箱中心处的第二温度，然后根据第二温度进行加热控制，也即是根据食物所处环境的实际温度进行加热控制，而不是直接根据测量得到的烤箱边缘温度进行加热控制，从而提高了烤箱温控的精准性。
需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者系统不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者系统所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者系统中还存在另外的相同要素。
上述本发明实施例序号仅仅为了描述，不代表实施例的优劣。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到上述实施例方法可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件，但很多情况下前者是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在如上所述的一个存储介质(如ROM/RAM、磁碟、光盘)中，包括若干指令用以使得一台终端设备(可以是手机，计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。
以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种烤箱温控方法，其特征在于，所述烤箱温控方法包括以下步骤：
检测烤箱边缘测温点处的第一温度；
获取所述第一温度对应的检测时间；根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值；将所述第一温度减去所述温度差值，计算获得所述第二温度；
根据所述第二温度进行加热控制；
所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：
采用预设公式
Figure FDA0002395742360000011
计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值；
其中，f(t)为所述温度差值，t为所述第一温度对应的检测时间，σ1、μ1、σ2、μ2为预设系数。
2.根据权利要求1所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤之前，还包括：
获取所述烤箱当前设定的目标温度；
根据预设的目标温度与差值拟合函数的映射关系，确定所述目标温度对应的差值拟合函数；
所述根据预设的差值拟合函数，计算所述烤箱边缘测温点处的第一温度与中心处的第二温度之间的温度差值的步骤包括：
根据确定的所述差值拟合函数，计算所述第一温度与所述第二温度之间的温度差值。
3.根据权利要求1或2所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述检测烤箱边缘测温点处的第一温度的步骤之前，还包括：
分别采集烤箱边缘测温点处的试验温度与烤箱中心处的试验温度；
根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
4.根据权利要求3所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：
计算所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度的试验温度差值；
根据所述试验温度差值，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
5.根据权利要求4所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度包括多组，所述根据所述边缘测温点处的试验温度与所述中心处的试验温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数的步骤包括：
计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度；
根据所述第一平均温度和所述第二平均温度，拟合烤箱边缘测温点处与中心处的温度对应的差值拟合函数。
6.根据权利要求5所述的烤箱温控方法，其特征在于，所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤之前，还包括：
对多组所述边缘测温点处的试验温度和所述中心处的试验温度进行预处理，剔除其中的异常试验温度；
所述计算多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及多组所述中心处的试验温度的第二平均温度的步骤包括：
计算预处理后的多组所述边缘测温点处的试验温度的第一平均温度，以及预处理后的多组所述中心处的试验温度的第二平均温度。
7.一种烤箱温控装置，其特征在于，所述烤箱温控装置包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被所述处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的烤箱温控方法的步骤。
8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有烤箱温控程序，所述烤箱温控程序被处理器执行时实现如权利要求1-6任一项所述的烤箱温控方法的步骤。
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