CN108963491B - 能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座。该双螺纹测试插座包括：基座，所述基座配置成用于将电子元件设置在其上；盖，所述盖配置成用于开启或者关闭所述基座的上部；操作手柄，所述操作手柄配置成螺纹连接于形成在所述盖中的盖内螺纹部且当盖内螺纹部被旋转操作时移动；调节杆，所述调节杆配置成螺纹连接于形成在述操作手柄中的手柄内螺纹部且当手柄内螺纹部被旋转操作时移动；推块，所述推块配置成在所述盖覆盖所述基座的上部状态下当所述旋转手柄被旋转操作时被所述调节杆推动以压紧所述电子元件。根据本申请，可以提供一种能够精确调整高度的双螺纹测试插座，使得测试插座可以通用于具有不同高度的各种电子部件的检测。

Description

能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座

技术领域

本发明涉及一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座，更具体地，涉及一种双螺纹测试插座，该双螺纹测试插座能够进行精细高度调节以使该测试插座可以通用于具有不同高度的各种电子元件的检测。

背景技术

对半导体、LCD模块、图像传感器和照相机模块等，通过向它们提供操作信号和电力来进行质量检查，以确认它们在各个独立的元件装配完成之后是否能够正常操作，所述操作信号和电力与那些提供给实际安装的电子元件的操作信号和电力相同。

测试插座是一种被配置为将LCD模块、相机模块等连接到测试器从而使得测试器的信号可以被传输到LCD、相机模块等的装置。

在这方面，以本申请人的名义提交的韩国专利第1032980号中公开了一种半导体芯片测试插座。在韩国专利第1032980号中公开的半导体芯片测试插座包括：主体，该主体具有在其上安装半导体芯片的基座部；连接部，该连接部设置在主体的上部并且具有形成在该连接部的中心处的开孔，以暴露所述基座部；紧固部，该紧固部设置为将所述连接部可装卸地连接于所述主体的上部；盖单元，该盖单元铰接于所述连接部的一侧以开启/关闭所述开孔；以及操作单元，该操作单元设置在盖单元中以保持所述盖单元的闭合状态并向下压半导体芯片。所述紧固部包括：肋，该肋铰接到所述连接部分的两个相对的表面并具有形成在其下部的锁定突起；弹性支撑组件，该弹性支撑组件插入在所述连接部分和所述肋的上侧之间以弹性地支撑所述肋；以及锁定槽，所述锁定槽形成在所述主体中，以当所述弹性支撑组件根据所述肋的旋转方向被压时与所述锁定突起脱离，并且在所述弹性支撑组件弹性恢复时与所述锁定突起接合。

韩国专利第1032980号中的半导体芯片测试插座的优点在于，通过仅封闭盖体并旋转手柄的简单操作就能够维持半导体芯片的连接状态，从而提高了操作的便利性。

然而，韩国专利第1032980号的半导体芯片测试插座的问题在于，不能通用于检查具有不同高度的各种半导体芯片。也就是，在韩国专利No.1032980中公开的半导体芯片测试插座被配置成使得当操作者在盖单元130保持关闭的状态下旋转设置在盖单元130的上部的手柄164时，螺纹连接到盖单元130中心的升降体162沿着螺纹下降，设置在升降体162上的压缩部件170下降，从而压紧半导体芯片的上部。然而，由于升降体162的下降距离、也就是压缩部件170的下降距离是固定的，使得半导体芯片测试插座不能通用于检查具有不同高度的各种半导体芯片。因此，当要测试的半导体芯片改变时，测试插座必须被更换，存在不便之处。

[现有技术文献]

[专利文献]

(专利文献1)韩国专利第1032980号(于2011年4月27日登记)。

发明内容

本申请一方面提供一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座，以使该测试插座可以通用于具有不同高度的各种电子元件的检测。

为了实现上述内容，本申请提供了一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座。该测试插座包括：基座，所述基座配置成用于将电子元件安置于其上；盖，所述盖配置成用于打开或关闭基座的上部；操作手柄，所述操作手柄配置成螺纹连接于形成在所述盖中的盖内螺纹部并且在所述盖内螺纹部被旋转操作时移动；调节杆，所述调节杆配置成螺纹连接于形成在所述操作手柄中的手柄内螺纹部并且在所述手柄内螺纹部被旋转操作时移动；以及推块，所述推块配置成在所述盖覆盖所述基座的上部的状态下当所述操作手柄被旋转操作时被所述调节杆推动以压紧所述电子部件。

所述盖内螺纹部的中心轴线和手柄内螺纹部的中心轴线彼此平行，并且盖内螺纹部的螺纹和手柄内螺纹部的螺纹可以形成在彼此相反的方向上，使得所述操作手柄和所述调节杆之间的相对旋转由于所述调节杆和所述推块之间的接触表面的摩擦被阻止，即使所述操作手柄在所述调节杆压紧所述推块的状态下被旋转。

操作手柄可以包括手柄，所述手柄配置成能够被旋转操作、环形块，所述环形块配置成与所述手柄整体旋转并且根据所述调节杆的旋转操作指示沿周向的移动距离，以及手柄外螺纹部，所述手柄外螺纹部配置成与所述手柄整体旋转并且螺纹连接于所述盖内螺纹部。

所述调节杆可以包括杆，所述杆配置成能够被旋转操作并且根据所述调节杆的旋转操作来指示移动距离，所述移动距离显示在所述环形块上，以及杆外螺纹部，所述杆外螺纹部配置成与所述杆整体旋转并且螺纹连接所述手柄内螺纹部。

所述调节杆包括锁定单元和弹性单元，所述锁定单元配置成与所述杆整体旋转并且具有沿外周面布置的多个锁定凹槽，所述环形块具有锁定主体和弹性单元，当所述调节杆相对于所述操作手柄旋转时，所述锁定主体与所述锁定凹槽接合或脱离，并且所述弹性单元配置成朝向所述锁定凹槽压紧所述锁定主体。

所述推块可以通过安装于所述盖的弹性组件朝向所述调节杆的方向被压。

根据本申请的内容，能够提供一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座，其中由于所述操作杆螺纹连接于形成在所述操作手柄中的手柄内螺纹部并且在旋转操作发生时能够移动，使得所述测试插座可以通用于具有不同高度的各种电子元件的检测。

另外，可以提供一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座，其中由于盖内螺纹部的螺纹和手柄内螺纹部的螺纹形成在相反的方向上，使得所述操作手柄和所述调节杆之间的相对旋转由于所述调节杆和所述推块之间的接触表面的摩擦被阻止，即使所述操作手柄在所述调节杆压紧所述推块的状态下被旋转。为了便于描述，在下文中，将“能够进行精确调节高度的双螺纹测试插座”简称为“双螺纹测试插座”。

附图说明

根据下述的结合附图的详细描述，本申请的上述及其他方面、特征和优点将会更加明显，其中：

图1是显示根据本发明的一个实施方式中公开的双螺旋测试插座的盖位于关闭状态的立体图；

图2是显示图1的双螺旋测试插座的盖位于开启状态的立体图；

图3是图1的双螺旋测试插座的部分爆炸立体图；

图4-图6逐步示出了使用状态下的图1的双螺旋测试插座的截面图；

图7-图9逐步示出了使用状态下的图1的双螺旋测试插座的俯视图。

具体实施方式

在下文中，将参考附图详细描述本申请的示例性的实施方式。在本申请的描述中，将省略对公知的功能或结构的描述以使得本申请的主题更明显。

本申请一方面提供一种双螺纹测试插座，该测试插座能够进行精确高调节度以使得该测试插座可以通用于具有不同高度的各种电子部件的检测。

图1是显示根据本发明的一个实施方式中公开的双螺旋测试插座的盖位于关闭状态的立体图，图2是显示图1中的双螺旋测试插座的盖位于打开状态的立体图，图3是图1的双螺旋测试插座的部分爆炸立体图，图4-图6逐步示出了使用状态下的图1的双螺旋测试插座的截面图，图7-图9逐步示出了使用状态下的图1的双螺旋测试插座的俯视图。

如图1-图3所示，本申请的双螺纹测试插座10配置为通用于具有不同高度的各种电子组件EC的检测，且包括基座100、盖200、操作手柄300，调节杆400和推块500。

电子元件EC是指安装在双螺纹测试插座10上并通过测试器进行质量检测的半导体、LCD模块、图像传感器、相机模块等。附图示出了作为电子元件EC的半导体芯片。为了促进对本申请的理解，将在图1和5所示的状态中对上部和下部分别进行描述。

如图2和图4所示，基座100配置成用于将电子元件EC安置在其上，并且在被安置电路板PCB的顶面上的状态下通过螺栓等安装在测试器(未示出)上。在基座100上形成有用于安装电子元件EC的座部110。座部110通过基座100的顶面被向上暴露。

双螺纹测试插座10是用于将电子元件EC与测试器连接的装置，其中，在电子部件EC安装在座部110上的状态下，设置在电子元件EC下方的连接器(未示出)连接于设置在座部110上的连接销(未示出)。连接销连接到印刷电路板(PCB)。

如图1和图2所示，盖200配置为开启或者关闭基座100的上部，且可旋转地连接于基座100。

如图2和4所示，盖200和基座100通过销(以下称为“盖销220”)相互连接以使彼此之间能够相对旋转。在相对于基座100旋转大约90度的状态下，盖200被卡在基座100上而不能进一步旋转。

扭簧装配在盖销220上。盖200通过扭簧沿远离基座100的方向上被压。电子元件EC在盖子200和基座100之间形成大约90度夹角的状态下安装在座部110上。

如图4所示，当使用者从图4所示的状态将盖200朝向基座100推动时，如图5所示，盖200关闭基座100的顶部。如图2和图4所示，在盖200的与盖销220相对的一侧上设置有钩210，并且基座100具有锁定台阶120，且钩210与该锁定台阶120接合。钩210通过销(下文中称为“钩销211”)可旋转地连接于盖200。

扭簧安装在钩销211上。钩210通过扭转弹簧具有在钩210与锁定台阶120接合的方向上的旋转力。如图2所示，当盖200关闭基座100的上部时，钩210与锁定台阶120接合，从而将盖200保持在关闭基座100的上部的状态。

如图5和6所示，在盖200内形成有推块500在垂直方向上移动的空间(以下称为“移动空间200A”)。移动空间200A向下打开(从而使得推块500能够推动电子部件EC)。

如图3所示，盖200具有在其上部形成的盖内螺纹部201，操作手柄300的手柄外螺纹部330螺纹连接盖内螺纹部201。盖内螺纹部201形成在竖直方向上高于移动空间200A并贯穿盖200的上部的孔状。在孔的内圆周表面上，形成有与手柄外螺纹部330螺纹连接的螺纹。

如图3至图6所示，操作手柄300配置成螺纹连接在盖200中形成的盖内螺纹部201并且在旋转操作期间沿竖直方向移动。操作手柄300包括手柄310、环形块320和手柄外螺纹部330。

手柄310配置成能够被使用者旋转且螺栓连接第一环形块321的上端。

环形块320配置成根据调节杆400沿着圆周方向的旋转操作来指示移动距离，并且环形块320具有形成在其中心的孔，以使杆外螺纹部420和锁定单元430通过。

环形块320包括第一环形块321和第二环形块322。第一环形块321和第二环形块322螺栓连接于彼此并与手柄310整体旋转。

如图7-图9所示，在第一环形块321的顶面上，沿着圆周方向形成有符号S，符号S用于指示根据操作杆400的旋转操作的移动距离。符号S可以由数字形成。例如，符号S形成为使得参考位置显示为“0”，“正数”从参考位置的一侧增加，而“负数”从参考位置的另一侧增加。

“正数”表示调节杆400的高度从参考位置下降，“负数”表示调节杆400的高度从参考位置上升。“正数”和“负数”的绝对值可以用通过将参考位置和符号S之间的夹角除以360度然后乘以杆外螺纹420的螺距而获得的值来表示(在单螺纹的情况下)。

在相对于操作手柄300旋转调节杆400的同时，用户通过杆410中的检测孔411读取观察到的符号S的值，检测调节杆400在竖直方向上的取决于调节杆400的旋转操作的正确移动距离。

如图3所示，锁定主体B和弹性单元E设置在第二环形块322中。由于锁定体B、弹性单元E与锁定单元430协同操作，当描述控制杆400时将对锁定主体B和弹性单元E进行详细描述。

如图1所示，环形块320在手柄外螺纹部330与盖内螺纹部201螺纹连接的状态下设置在盖200的上方。如图3所示，在盖200的顶面形成有突起240，在第二环形块322上形成有构成操作手柄300的旋转部的插入空间A。

在手柄外螺纹部330与盖内螺纹部201螺纹连接的状态下，突起240设置在插入空间A内。插入空间A形成围绕手柄外螺纹部330的旋转轴线的圆弧部。

因此，当操作手柄300旋转时，插入空间A的周向的相对两端分别形成在操作手柄300旋转时与突起240接合的边界。也就是说，操作手柄300可以相对于手柄外螺纹部300的旋转轴线以插入空间A在圆周方向上的相对端之间的夹角旋转。

如图7和图8所示，手柄310上的相对于手柄外螺纹部330的旋转轴线的相对侧上形成有标识“开启(OPEN)”和“测试(TEST)”，并且在盖200的顶表面上形成有标识“关闭(CLOSE)”。

如图7和图8所示，操作手柄300沿逆时针方向仅旋转到使得标识“开启(OPEN)”与标识“关闭(CLOSE)”相匹配的点，并且沿顺时针方向仅旋转到使得标识“测试(TEST)”与标识“关闭(CLOSE)”相匹配的点。

这意味着相对于手柄外螺纹部330的旋转轴线，插入空间A的相对端部之间的夹角大约为180度，并且在标识“开启(OPEN)”和“测试(TEST)”与标识“关闭(CLOSE)”相匹配的位置，突起240与插入空间A的相对两端接触。

如图3至图6所示，手柄外螺纹部330配置为与盖内螺纹部201螺纹连接，手柄外螺纹部330连接于第二环形块322的下部且与手柄310整体旋转。

在手柄外螺纹部330的外表面上形成有与盖内螺纹部201的螺纹相对应的螺纹。因此，当使用者旋转把手310时，操作手柄300在竖直方向上与手柄310的旋转角度呈比例地移动。

操作手柄300在竖直方向上的移动距离与将手柄310的旋转角度除以360度然后乘以手柄外螺纹部330的螺距而获得的值相一致(在单排螺旋的情况下)。

如图7和图8所示，标识“开启(OPEN)”意味着当手柄310逆时针旋转时操作手柄300被抬起，并且标识“测试(TEST)”意味着当手柄310顺时针旋转时操作手柄300下降。

如图7和图8所示，由于操作手柄300具有0.5圈的旋转部分，操作手柄300的“开启(OPEN)”和“测试(TEST)”位置之间的相对于盖200的高度差等于手柄外螺纹部330节距长度(pitch length)的一半(在单螺纹的情况下)。

当然，操作手柄300的标识“开启(OPEN)”和“关闭(CLOSE)”围绕手柄外螺旋部300的旋转轴线的夹角可以是除了大约180度之外的角度(在下文中，称为“特定角度”)。此时，操作手柄300的“开启(OPEN)”位置和“测试(TEST)”位置之间相对于盖200的高度差可以通过将特定角度除以360度然后乘以手柄外螺纹部330的螺距来获得(在单螺纹的情况下)。

如图3所示，手柄内螺纹部301形成在手柄外螺纹部330的内部。盖内螺纹部201的中心轴线与手柄内螺纹部301的中心轴线彼此平行。盖内螺纹部201的中心轴线和手柄内螺纹部301的中心轴线优选形成为直线。手柄内螺纹部分301呈沿竖直方向贯穿手柄外螺纹部330的孔的形式。在该孔的内圆周表面上形成有与杆外螺纹部420螺纹连接的螺纹。

如图3至图6所示，调节杆400被配置成螺纹连接到形成在操作手柄300上的手柄内螺纹部301并且在旋转操作期间移动。调节杆400包括杆410、杆外螺纹部420和锁定单元430。

如图7和图9所示，杆410可被使用者旋转地操作并且被螺栓连接到锁定单元430的上端。杆410设置在第一环形块321的上方并且在杆外螺纹部420螺纹连接手柄内螺纹部分301的状态下旋转。

杆410在符号S的正上方形成检测孔411。用户可以通过检测孔411检测符号S的具体值。也就是，杆410根据调节杆400的旋转操作指示移动距离，该移动距离通过检查孔411显示在第一环形块321上。

换句话说，符号S可以由数字形成。符号S形成为使得参考位置被指示为“0”，“正数”从参考位置沿逆时针方向增加，并且“负数”从参考位置沿顺时针方向增加。

“正数”意味着当杆410逆时针旋转时调节杆400的高度从参考位置下降，“负数”意味着当杆410顺时针旋转时调节杆400的高度从参考位置上升。“正数”和“负数”的绝对值可以用通过将参考位置和符号S之间的夹角除以360度然后乘以杆外螺纹部420的螺距而获得的值来表示(在单螺纹的情况下)。

在相对于操作手柄300旋转调节杆400的同时，用户通过杆410中的检测孔411观察到的符号S的值，来正确地检测调节杆400的在竖直方向上的取决于调节杆400的旋转操作的移动距离。

如图3所示，锁定单元430具有沿着其周向外表面形成的多个锁定凹槽431，并且与杆410整体旋转。多个锁定凹槽431以和符号S围绕杆外螺纹部420的旋转轴线的角度相同的角度形成凹形槽。

在环形块320上安装有锁定主体B，在调节杆400相对于操作手柄300进行相对旋转的过程中该锁定主体B与锁定凹槽431接合或脱离；弹性单元E配置为沿朝向锁定凹槽431的方向压锁定主体B。锁定体B形成球形以使锁定主体B能够容易地与锁定凹槽431接合和脱离。弹性单元E可以设置为压缩弹簧。

因此，在杆410通过检测孔411精确地指示符号S中的特定值的状态下，锁定主体B分别插入到锁定凹槽431中，并且用户能够通过旋转杆410正确地调整和检测调节杆400在竖直方向上的移动距离。

如图3至图6所示，杆外螺纹部420配置为螺纹连接于手柄内螺纹部301，并与锁定单元430整体形成。

在杆外螺纹部420的外表面上形成有与手柄内螺纹部301的螺纹相对应的螺纹。因此，当使用者旋转杆410时，操作杆400沿竖直方向与杆410的旋转角度成比例地移动。

操作杆400在竖直方向上的移动距离与通过将手柄410的旋转角度(参考位置和符号S之间的夹角)除以360度然后乘以杆外螺纹部420的螺距得到数值相一致(在单排螺纹的情况下)。

如图5和图6所示，在将杆外螺纹部420螺纹连接到手柄内螺纹部301的状态下，杆外螺纹部420的下端保持在相对于手柄外螺纹部330的下端向下凸出的状态。

盖内螺纹部201的螺纹和手柄内螺纹部301的螺纹(手柄外螺纹部330和杆外螺纹部420的螺纹)形成在相反的方向上。如上所述，盖内螺纹部201的螺纹(手柄外螺纹部330的螺纹)可以形成为右螺旋，并且手柄内螺纹部301的螺纹(杆外螺纹部420的螺纹)可以形成为左螺旋。当然，盖内螺纹部201的螺纹(手柄外螺纹部330的螺纹)可以形成为左螺旋且手柄内螺纹部301的螺纹(杆外螺纹部420的螺纹)可以形成为右螺旋。

由于盖内螺纹部201的螺纹和手柄内螺纹部301的螺纹(手柄外螺纹部330和杆外螺纹420的螺纹)形成在彼此相反的方向上，即使操作手柄300在调节杆400压紧推块500的状态下旋转，操作手柄300和调节杆400之间的相对旋转由于调节杆400和推块500之间的接触表面的摩擦被阻止。由于调节杆400和推块500之间的接触表面的摩擦而阻止操作手柄300与调节杆400之间的相对旋转的机构将在下面与使用状态一起描述。

如图5和图6所示，推块500被配置成通过由调节杆400推动而压紧电子元件EC，并且推块500包括主体510和压缩部520。主体510和压缩部520均采用长方体块的形式。

主体510通过设置在盖200上的弹性元件230朝向调节杆400的方向被挤压。盖200具有插入孔202，该插入孔202形成在盖200的上端，并且在螺栓插入该插入孔202，在螺栓插入该插入孔202的状态下，所述螺栓连接至形成在主体510中的紧固孔511。弹性元件230在插入孔202内向上压螺栓头。因此，主体510的顶面保持与杆外螺纹部420的底面接触。

压缩部520配置为压电子元件EC的顶面并且被设置在主体510的下端处。压缩部520可以由诸如橡胶的软材料制成。

下面，将对本申请的双螺纹测试插座的使用状态进行详细描述。

在使用双螺纹测试插座10对电子元件EC进行测试之前，杆410根据电子元件EC的高度旋转到指示符号S的特定值的状态。

例如，当杆410中的检测孔411指示符号S中的“0”并且待检测的电子元件EC的高度为2mm时，在压缩部520能够以适当的压力压电子元件EC，以及如果电子元件EC的高度为2.3mm且杆410中的检测孔411指示符号S中的“-0.2”，压缩部520能够以适当的压力压电子元件EC的情况下，使用者旋转杆410使得压缩部520根据电子元件EC的高度以适当的压力压电子元件EC(如图7和图9所示)。

另外，在对电子部件EC进行测试之前，用户需要检查手柄310的标识“开启(OPEN)”是否匹配盖200的标识“关闭(CLOSE)”。

在完成上述过程之后，使用者将电子部件EC放置在座部110上(如图4所示)，然后在盖200处于开启状态下(如图2所示)关闭盖200(如图1和图5所示)。

如图5所示，在电子元件EC放置后盖200被关闭的状态下，压缩部520的底面与电子元件EC的顶面间隔开。图7是图5所示的状态的俯视图。

之后，如图8所示，使用者顺时针旋转手柄以使手柄310的标识“测试(TEST)”与盖200的标识“关闭(CLOSE)”相匹配。

图6是图8所示的状态的截面图。如图6所示，当手柄310的标识“测试(TEST)”与盖200的标识“关闭(CLOSE)”相匹配时，推块500被杆外螺纹部420的底面向下推，因此压缩部520向下压电子部件EC，并且设置在电子部件EC下方的连接器(未示出)完全连接于设置在座部110中的连接销(未示出)。

在通过顺时针旋转把手310使推块500下降的过程中(同时使压缩部520压电子部件EC)，逆时针摩擦力施加到杆外螺纹部420的底面(与主体510接触的表面)。另外，弹性元件230的弹性恢复力向上作用于杆外螺纹部420。

因此，当杆外螺纹部420的螺纹(右螺旋)与手柄外螺纹部330的螺纹形成在相同的方向上时，杆外螺纹部420能够在逆时针旋转(通过施加到杆外螺纹部420的摩擦力和向上作用的弹性恢复力)的同时从手柄内螺纹部301向上移动。

通过在手柄内螺纹部301中顺时针旋转手柄310而使推动块500下降的过程中，当杆外螺纹部420逆时针旋转时，由于压缩部520以小于适当压力的力压电子元件EC，设置在电子元件EC下方的连接器与设置在座部110中的连接销之间的连接可能会失效。

如上所述，在本申请的双螺纹测试插座10中，由于手柄外螺纹部330的螺纹和杆外螺纹部420的螺纹形成在彼此相反的方向上，即使逆时针方向的摩擦被施加到杆外螺纹部420上，向下的运动被向上作用的弹性恢复力阻止，使得手柄内螺纹部301的逆时针旋转被阻止。

当通过测试器对电子元件EC的测试完成时，用户逆时针旋转手柄以使手柄310的标识“开启(OPEN)”与盖200的标识“关闭(CLOSE)”相匹配(如图5和图7所示)。之后，用户打开盖200并从座部110释放被测试的电子元件EC。

根据本发明，提供一种双螺纹测试插座，其中，由于操作杆螺纹连接到形成在操作手柄中的手柄内螺纹部并且在执行旋转操作时移动，所以测试插座能够通用于具有不同高度的各种电子元件的检测。

此外，本发明还提供一种双螺纹测试插座，其中，由于盖内螺纹部的螺纹和手柄内螺纹部的螺纹形成在相反的方向上，操作手柄和调节杆之间的相对旋转由于调节杆和推块之间的接触表面的摩擦能够被阻止，即使操作手柄在调节杆压推块的状态下被旋转。

尽管以上已经描述了本申请的具体实施方式，但是本领域技术人员显而易见的是，本申请并不限于以上公开的实施方式，在不脱离本发明的构思和范围内，可以对本发明的实施方式进行各种修改和变型。因此，这些修改和变型不应该从本发明的构思或观点中被单独地解释，并且可以理解的是，这些修改的实施方式均属于本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种能够进行精确高度调节的双螺纹测试插座，其特征在于，该测试插座包括：

基座，所述基座配置成用于将电子元件安置在其上；

盖，所述盖配置成用于开启或者关闭所述基座的上部；

操作手柄，所述操作手柄配置成螺纹连接于形成在所述盖中的盖内螺纹部且当所述盖内螺纹部被旋转操作时移动；

调节杆，所述调节杆配置成螺纹连接于形成在所述操作手柄中的手柄内螺纹部且当所述手柄内螺纹部被旋转操作时移动；

推块，所述推块配置成在所述盖覆盖所述基座的上部状态下当所述操作手柄被旋转操作时被所述调节杆推动以压紧所述电子元件，

其中所述盖内螺纹部的中心轴线和所述手柄内螺纹部的中心轴线彼此平行，以及

其中所述盖内螺纹部的螺纹和所述手柄内螺纹部的螺纹形成在彼此相反的方向上，使得所述操作手柄和所述调节杆之间的相对旋转由于所述调节杆和所述推块之间的接触表面的摩擦被阻止，即使所述操作手柄在所述调节杆压紧所述推块的状态下被旋转。

2.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述操作手柄包括：

手柄，所述手柄配置成能够被旋转操作；

环形块，所述环形块配置成与所述手柄整体旋转并且根据所述调节杆的旋转操作指示沿周向的移动距离；以及

手柄外螺纹部，所述手柄外螺纹部配置成与所述手柄整体旋转并且螺纹连接于所述盖内螺纹部。

3.根据权利要求2所述的测试插座，其中所述调节杆包括：

杆，所述杆配置成能够被旋转操作并且根据所述调节杆的旋转操作来指示移动距离，所述移动距离显示在所述环形块上；以及

杆外螺纹部，所述杆外螺纹部配置成与所述杆整体旋转并且螺纹连接所述手柄内螺纹部。

4.根据权利要求3所述的测试插座，其中所述调节杆包括锁定单元，所述锁定单元配置成与所述杆整体旋转并且具有沿外周面布置的多个锁定凹槽，

所述环形块设置有锁定主体和弹性单元，当所述调节杆相对于所述操作手柄旋转时，所述锁定主体与所述锁定凹槽接合或脱离，所述弹性单元配置成朝向所述锁定凹槽压紧所述锁定主体。

5.根据权利要求1所述的测试插座，其中所述推块通过安装于所述盖的弹性元件朝向所述调节杆的方向被压。

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