CN108944064B - 调测装置、调测热敏头阻值的方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种调测装置及调测热敏头阻值的方法。其中，一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，调测装置包括：控制器；电源组件，连接热敏头和控制器，电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接热敏头和控制器。本发明提供的调测装置，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且结构简单，操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

Description

调测装置、调测热敏头阻值的方法

技术领域

本发明涉及厚膜热敏打印头技术领域，具体而言，涉及一种调测装置、一种调测热敏头阻值的方法。

背景技术

随着热敏打印市场的需求量不断增加，厚膜热敏头作为热敏打印机的核心部件，其产品质量将直接影响最终的打印效果和企业的生产成本。而提升厚膜热敏头产品良率的关键之处便在于如何最大程度地降低热敏打印头中各个发热电阻之间的阻值偏差，以保证较好的阻值均一性。因此，调阻与测阻是制造厚膜热敏头过程中必不可少的工艺环节。关于调阻，由于厚膜热敏头电阻宽度较窄，常用的激光调阻难以对其实现精确的调整，而脉冲调阻技术是厚膜电阻微调方法中的一种技术，其又分为脉冲电压高温氧化法和脉冲电压高频放电法，均具有高精度、高效率的特点。测阻方面，通常采用普通的万用表对电阻器的阻值进行直接测量以检验是否符合标准，但是由于厚膜热敏头电路的宽度仅为几十微米，并且不同规格的厚膜热敏头中存在几百至几千个小的发热电阻，这种直接测量的方法难以适用。相关技术采用脉冲电压高频放电法实现了对热敏头发热电阻的精确调阻，提高了生产效率和产品成品率，可是该调阻方法为单向调阻，容错率较低，并且在调阻与测阻的过程中仅对单点电阻进行，难以满足更高的生产效率。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术或相关技术中存在的技术问题之一。

为此，本发明的一方面在于提出了一种调测装置。

本发明的另一方面在于提出了一种调测热敏头阻值的方法。

有鉴于此，本发明提出了一种调测装置，用于测量和调试热敏头的阻值，调测装置包括：控制器；电源组件，连接热敏头和控制器，电源组件设置有低压脉冲电源和高压脉冲电源；电阻测试装置，连接热敏头和控制器。

根据本发明的调测装置，包括电源组件、控制器、电阻测试装置以及测温装置，其中，电源组件包括高压脉冲电源与低压脉冲电源，分别与控制器相连，电阻测试装置与控制器相连。通过电阻测试装置对热敏头发热电阻的阻值进行采集，在发热电阻的阻值大于目标阻值的上限值时，将高压脉冲电源加载至该发热电阻两端，以通过脉冲电压高频放电法对该发热电阻的阻值进行修正。在经过一定的脉冲加载时间后，一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。经过上述高压脉冲调阻后，发热电阻阻值应基本可以满足厚膜热敏头的规格要求。当出现阻值过调的现象时，即阻值低于目标阻值的下限值时，需要对该发热电阻进行进一步地微调，此时，关闭高压脉冲电源，打开低压脉冲电源，将低压脉冲电源加载至阻值过调的发热电阻两端，以通过脉冲加热升温的方式提升发热电阻的阻值，完成发热电阻的二次调阻，最终使所有发热电阻均符合产品的规格要求。本发明提供的调测装置，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且结构简单，操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

其中，优选地，控制器与电阻测试装置相连通过通讯接口相连。

在上述技术方案中，优选地，调测装置还包括：测温装置，连接热敏头和控制器。

在该技术方案中，调阻时，由测温装置实时观察发热电阻的温度，在经过一定的脉冲加载时间后，温度降低至要求的温度范围之内时，表示一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。

在上述任一技术方案中，优选地，控制器包括：多个继电器和多路输出接口，多个继电器与多路输出接口相连接。

在该技术方案中，控制器具有多路输出接口，多个继电器设于控制器中，多个继电器与多路输出接口相连接，高压脉冲电源和低压脉冲电源与控制器相连，脉冲电压通过闭合的继电器加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正，实现多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的修正，进一步地提升了产品的生产效率。

在上述任一技术方案中，优选地，电阻测试装置包括：电阻测试部，包括多路测量接口；探针排，连接电阻测试部和热敏头，探针排包括多个探针，多个探针的数量与多路测量接口的数量和多路输出接口的数量相同。

在该技术方案中，电阻测试装置包括电阻测试部和探针排，通过探针排连接电阻测试部和热敏头。其中，电阻测试部具有多路测量接口，探针排由多个探针组成，探针的数量与多路测量接口的数量以及控制器的多路输出接口的数量相同，电阻测试部通过探针排对热敏头的多个发热电阻的阻值同时进行测量，并将测量值与目标阻值进行比较，再将比较结果传输至控制器，控制器根据比较结果控制继电器的通断。其中，测量值大于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值则继电器闭合，高压脉冲电源或低压脉冲电源通过闭合的继电器(断开的继电器无法通过)，经探针排加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正。本发明集中了对热敏头发热电阻阻值修正和阻值测量的功能，大大简化了发热电阻调测装置的整体结构，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。

其中，优选地，电阻测试部为电阻测试仪。

在上述任一技术方案中，优选地，多个探针中的每个探针包括两个输入端口，分别连接至多路输出接口和电阻测试部的多路测量接口。

在上述任一技术方案中，优选地，调测装置还包括：提醒装置，连接控制器和电源组件。

在该技术方案中，调测装置还包括提醒装置，当发热电阻的阻值高于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值时，以及在调阻时，发热电阻的温度高于要求的温度范围时，可相应的发出提醒，实现对热敏头阻值的直观监测；当调阻后的阻值满足厚膜热敏头的规格要求时，也可相应的发出提醒，以采取相应的措施。

在上述任一技术方案中，优选地，多个探针的数量至少为8个。

在该技术方案中，本领域技术人员应该理解，探针的数量至少为8个，但不限于此。只要满足探针排中的多个探针与热敏头上的多个发热电阻一一对应，且多路输出接口与多路测量接口的通道数与探针数相一致，都是可以实现的。

本发明还提出了一种调测热敏头阻值的方法，用于如上述技术方案中任一项的调测装置，方法包括：检测热敏头的多个发热电阻中的每个发热电阻的阻值；确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整，以使目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低。

根据本发明的调测热敏头阻值的方法，通过检测热敏头的多个发热电阻中每个发热电阻的阻值，并将其与目标阻值进行比较，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，使高压脉冲电源通过闭合的继电器加载至目标发热电阻的两端，并控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行修正，其中第一预设参数应保证目标发热电阻的阻值在一次调阻过程后下降预设幅度。通过本发明的技术方案，实现多路同时对热敏头发热电阻阻值的测量与修正，使热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且操作方便，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

在上述技术方案中，优选地，该方法还包括：控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整的同时，检测发热电阻的温度；在温度处于预设温度范围内时，继续检测目标发热电阻的阻值。

在该技术方案中，在通过高压脉冲电源对目标发热电阻的阻值进行调整的过程中，实时检测目标发热电阻的温度，当阻值调整完成后且温度降低至预设温度范围内时，表示一次调阻完毕，此时可重新测量目标发热电阻的阻值，并输出比较结果，当调阻后的阻值仍大于目标阻值的上限值时，则按照上述同样的方式进行下一次调阻。

在上述任一技术方案中，优选地，该方法还包括：当目标发热电阻的阻值小于目标阻值的下限值时，控制高压脉冲电源关闭、低压脉冲电源开启，并控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使低压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制低压脉冲电源按照第二预设参数对阻值进行调整，以使调整后的目标发热电阻的阻值处于下限值与上限值之间。

在该技术方案中，当出现阻值过调的现象时，即调整后的阻值低于目标阻值的下限值时，需要对目标发热电阻进行进一步地微调，此时关闭高压脉冲电源，打开低压脉冲电源，并控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，使低压脉冲电源加载至阻值过调的发热电阻两端，按照第二预设参数以脉冲加热升温的方式提升发热电阻的阻值，完成发热电阻的二次调阻，最终使所有发热电阻均符合产品的规格要求。本发明提供的调测热敏头阻值的方法，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。

在上述任一技术方案中，优选地，预设幅度的范围为：小于等于目标阻值的5％；上限值或下限值与目标阻值的差值的绝对值为预设幅度；第一预设参数包括：电压、脉宽及时间；第二预设参数包括：电压、脉宽及时间。

在该技术方案中，预设幅度为在一次调阻过程后单点电阻阻值的降低幅度；第一预设参数为高压脉冲电源的预设参数，包括电压、脉宽及时间，但不限于此，第二预设参数为低压脉冲电源的预设参数，包括电压、脉宽及时间，但不限于此，其中第一预设参数设置应满足一次脉冲调阻后，发热电阻的阻值降低幅度为小于等于目标阻值的5％，且此幅度与阻值偏差要求相同，同时第一预设参数与第二预设参数的设置应满足脉冲调阻时，发热电阻的温度在发热电阻的烧结温度之内。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述部分中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1示出了根据本发明的一个实施例的调测装置的示意图；

图2示出了根据本发明的一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图；

图3示出了根据本发明的另一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图；

图4示出了根据本发明的再一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图；

图5示出了根据本发明的一个具体实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图。

其中，图1中附图标记与部件名称之间的对应关系为：

1高压脉冲电源，2低压脉冲电源，3控制器，4继电器组，5通讯接口，6电阻测试部，7探针排，8测温装置，9热敏头。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

下面参照图1描述根据本发明一个实施例中的调测装置。

在本发明的一个实施例中，如图1所示，提出了一种调测装置，用于测量和调试热敏头9的阻值，调测装置包括：控制器3；电源组件，连接热敏头9和控制器3，电源组件设置有低压脉冲电源2和高压脉冲电源1；电阻测试装置，连接热敏头9和控制器3。

本发明提供的调测装置，包括电源组件、控制器3、电阻测试装置以及测温装置8，其中，电源组件包括高压脉冲电源1与低压脉冲电源2，分别与控制器3相连，电阻测试装置和测温装置8分别与控制器3相连。通过电阻测试装置对热敏头9发热电阻的阻值进行采集，在发热电阻的阻值大于目标阻值的上限值时，将高压脉冲电源1加载至该发热电阻两端，以通过脉冲电压高频放电法对该发热电阻的阻值进行修正。在经过一定的脉冲加载时间后，一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。经过上述高压脉冲调阻后，发热电阻阻值应基本可以满足厚膜热敏头9的规格要求。当出现阻值过调的现象时，即阻值低于目标阻值的下限值时，需要对该发热电阻进行进一步地微调，此时，关闭高压脉冲电源1，打开低压脉冲电源2，将低压脉冲电源2加载至阻值过调的发热电阻两端，以通过脉冲加热升温的方式提升发热电阻的阻值，完成发热电阻的二次调阻，最终使所有发热电阻均符合产品的规格要求。本发明提供的调测装置，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头9发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且结构简单，操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

在本发明的一个实施例中，优选地，调测装置还包括：测温装置8，连接热敏头9和控制器3。

在该实施例中，调阻时，由测温装置实时观察发热电阻的温度，在经过一定的脉冲加载时间后，温度降低至要求的温度范围之内时，表示一次调阻完毕，此时电阻测试装置对调阻后的发热电阻进行重新测量，以上述同样的方式进行下一次的调阻。

在本发明的一个实施例中，优选地，控制器3与电阻测试装置相连通过通讯接口5相连。

在本发明的一个实施例中，优选地，控制器3包括：继电器组4和多路输出接口，继电器组4由有个并联的继电器组成，多个继电器与多路输出接口相连接。

在该实施例中，控制器3具有多路输出接口，多个继电器设于控制器3中，多个继电器与多路输出接口相连接，高压脉冲电源1和低压脉冲电源2与控制器3相连，脉冲电压通过闭合的继电器加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正，实现多路同时进行对热敏头9发热电阻阻值的修正，进一步地提升了产品的生产效率。

在本发明的一个实施例中，优选地，电阻测试装置包括：电阻测试部6，包括多路测量接口；探针排7，连接电阻测试部6和热敏头9，探针排7包括多个探针，多个探针的数量与多路测量接口的数量和多路输出接口的数量相同。

在该实施例中，电阻测试装置包括电阻测试部6和探针排7，通过探针排7连接电阻测试部6和热敏头9。其中，电阻测试部6具有多路测量接口，探针排7由多个探针组成，探针的数量与多路测量接口的数量以及控制器3的多路输出接口的数量相同，电阻测试部6通过探针排7对热敏头9的多个发热电阻的阻值同时进行测量，并将测量值与目标阻值进行比较，再将比较结果传输至控制器3，控制器3根据比较结果控制继电器的通断。其中，测量值大于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值则继电器闭合，高压脉冲电源1或低压脉冲电源2通过闭合的继电器(断开的继电器无法通过)，经探针排7加载至需要修正的发热电阻两端，对发热电阻进行修正。本发明集中了对热敏头9发热电阻阻值修正和阻值测量的功能，大大简化了发热电阻调测装置的整体结构，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对热敏头9发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。

在本发明的一个实施例中，优选地，电阻测试部6为电阻测试仪。

在本发明的一个实施例中，优选地，多个探针中的每个探针包括两个输入端口，分别连接至控制器3的多路输出接口和电阻测试部6的多路测量接口。

在本发明的一个实施例中，优选地，调测装置还包括：提醒装置，连接控制器3和电源组件。

在该实施例中，调测装置还包括提醒装置，当发热电阻的阻值高于目标阻值的上限值或低于目标阻值的下限值时，以及在调阻时，发热电阻的温度高于要求的温度范围时，可相应的发出提醒，实现对热敏头9阻值的直观监测；当调阻后的阻值满足厚膜热敏头9的规格要求时，也可相应的发出提醒，以采取相应的措施。

在本发明的一个实施例中，优选地，多个探针的数量至少为8个。

在该实施例中，本领域技术人员应该理解，探针的数量至少为8个，但不限于此。只要满足探针排7中的多个探针与热敏头上的多个发热电阻一一对应，且多路输出接口与多路测量接口的通道数与探针数相一致，都是可以实现的。

在本发明的一个实施例中，提出了一种调测热敏头阻值的方法，用于如上述实施例中任一项的调测装置，图2示出了本发明的一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图。其中，该方法包括：

步骤202，测热敏头的多个发热电阻中的每个发热电阻的阻值；

步骤204，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整，以使目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低。

本发明提供的调测热敏头阻值的方法，通过检测热敏头的多个发热电阻中每个发热电阻的阻值，并将其与目标阻值进行比较，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，使高压脉冲电源通过闭合的继电器加载至目标发热电阻的两端，并控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行修正，其中第一预设参数应保证目标发热电阻的阻值在一次调阻过程后下降预设幅度。通过本发明的技术方案，实现多路同时对热敏头发热电阻阻值的测量与修正，使热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且操作方便，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率。

图3示出了本发明的另一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图。其中，该方法包括：

步骤302，测热敏头的多个发热电阻中的每个发热电阻的阻值；

步骤304，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整，以使目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低，同时检测发热电阻的温度；

步骤306，在温度处于预设温度范围内时，继续检测目标发热电阻的阻值。

在该实施例中，在通过高压脉冲电源对目标发热电阻的阻值进行调整的过程中，实时检测目标发热电阻的温度，当阻值调整完成后且温度降低至预设温度范围内时，表示一次调阻完毕，此时可重新测量目标发热电阻的阻值，并输出比较结果，当调阻后的阻值仍大于目标阻值的上限值时，则按照上述同样的方式进行下一次调阻。

图4示出了本发明的再一个实施例的调测热敏头阻值的方法的流程示意图。其中，该方法包括：

步骤402，测热敏头的多个发热电阻中的每个发热电阻的阻值；

步骤404，确定多个发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制高压脉冲电源按照第一预设参数对目标发热电阻的阻值进行调整，以使目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低，同时检测发热电阻的温度；

步骤406，在温度处于预设温度范围内时，继续检测目标发热电阻的阻值；

步骤408，当目标发热电阻的阻值小于目标阻值的下限值时，控制高压脉冲电源关闭、低压脉冲电源开启，并控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使低压脉冲电源加载在目标发热电阻的两端；以及控制低压脉冲电源按照第二预设参数对阻值进行调整，以使调整后的目标发热电阻的阻值处于下限值与上限值之间。

在该实施例中，当出现阻值过调的现象时，即调整后的阻值低于目标阻值的下限值时，需要对目标发热电阻进行进一步地微调，此时关闭高压脉冲电源，打开低压脉冲电源，并控制与目标发热电阻相对应的继电器闭合，使低压脉冲电源加载至阻值过调的发热电阻两端，按照第二预设参数以脉冲加热升温的方式提升发热电阻的阻值，完成发热电阻的二次调阻，最终使所有发热电阻均符合产品的规格要求。本发明提供的调测热敏头阻值的方法，通过脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法两种方法的相互结合，对发热电阻实现双向调阻，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，并且操作方便，过程可逆，降低了生产成本，极大提升了产品质量和生产效率，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对热敏头发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。

在本发明的一个实施例中，优选地，若经过二次调阻后，依然存在有发热电阻阻值不合格的情况，则可以重新调整低压脉冲电源的参数，使发热电阻恢复初始阻值，重新进行调阻。

在本发明的一个实施例中，优选地，预设幅度的范围为：小于等于目标阻值的5％；上限值或下限值与目标阻值的差值的绝对值为预设幅度；第一预设参数包括：电压、脉宽及时间；第二预设参数包括：电压、脉宽及时间。

在该实施例中，预设幅度为在一次调阻过程后单点电阻阻值的降低幅度；第一预设参数为高压脉冲电源的预设参数，包括电压、脉宽及时间，但不限于此，第二预设参数为低压脉冲电源的预设参数，包括电压、脉宽及时间，但不限于此，其中第一预设参数设置应满足一次脉冲调阻后，发热电阻的阻值降低幅度为小于等于目标阻值的5％，且此幅度与阻值偏差要求相同，同时第一预设参数与第二预设参数的设置应满足脉冲调阻时，发热电阻的温度在发热电阻的烧结温度之内。

具体实施例：

提出了一种厚膜热敏头发热电阻的调测装置，包括高压脉冲电源、低压脉冲电源、控制器、电阻测试仪、探针排以及温度测量模块。其中，控制器具有多路输出接口，继电器组设于控制器中，高压脉冲电源与控制器相连，低压脉冲电源与控制器相连，控制器与电阻测试仪通过通讯接口相连，电阻测试仪具有多路测量接口，探针排由多个探针组成，每个探针具有两个输入端口，分别连接控制器的多路输出接口和电阻测试仪的多路测量接口，温度测量模块与厚膜热敏头相连，主要用于对调阻时发热电阻温度的测量。

在本发明的一个具体实施例中，提出了一种厚膜热敏头发热电阻的调测方法，图5示出了本发明的一个具体实施例的厚膜热敏头发热电阻的调测方法的流程示意图。其中，该方法包括：

步骤502，设定高压脉冲电源与低压脉冲电源的相关参数；

步骤504，设定比较值；

步骤506，发热电阻阻值测量；

步骤508，测量值是否大于比较值；若大于则执行步骤510，否则执行步骤512；

步骤510，继电器闭合；

步骤512，继电器断开；

步骤514，加载脉冲电压进行调阻；

步骤516，发热电阻阻值测量；

步骤518，判断阻值偏差是否小于目标阻值的5％；若小于直接结束，否则返回步骤508。

在该实施例中，目标阻值Rs为1000Ω，要求阻值偏差不大于5％，即最终的阻值测量值应不超过1050Ω。具体实施如下：

首先开启高压脉冲电源，关闭低压脉冲电源，对高压脉冲电源的相关参数进行设置，其中，高压脉冲的参数设置应保证一次调阻完毕后，发热电阻的阻值可以降低目标阻值的5％之内，即每次降低50Ω。然后，对电阻测试仪进行阻值比较值的设定，比较值R0为目标阻值的1.05倍，即1050Ω，接着将探针排中的探针与厚膜热敏头上的焊点一一对应，同时进行R1、R2、R3的阻值测量，R1、R2、R3的测量值分别为1075Ω、1363Ω、1528Ω，将得到的测量值与R0进行比较，比较结果为R1、R2、R3均大于R0。此时，电阻测试仪将比较结果通过通讯接口传输至控制器，控制器进一步地控制继电器组中的三个继电器S1、S2、S3全部切换到闭合状态。

进一步地打开高压脉冲电源，脉冲电压通过S1、S2、S3和探针排加载至R1、R2、R3的两端进行调阻，同时通过温度测量模块观察发热电阻的温度情况。在经过之前所设置的脉冲加载时间后，S1、S2、S3断开。当温度降低至要求范围内时，由电阻测试仪重新测量阻值，此时R1、R2、R3的阻值为1025Ω、1313Ω、1478Ω，并再与R0进行比较，可以发现R1的阻值已经满足阻值偏差5％的要求了。因此，将第二次的比较结果传输至控制器，此时S1、S2、S3的状态变为断开、闭合、闭合，则接下来仅对R2、R3进行调阻。

重复上述调阻与测阻步骤，最终R1、R2、R3的阻值为1025Ω、1013Ω、1028Ω，均满足阻值偏差5％的要求。

若出现发热电阻阻值低于阻值偏差5％下限的情况，则关闭高压脉冲电源，开启低压脉冲电源，对低压脉冲电源和电阻测试仪进行设置，类似于上述方法，采用脉冲电压高温氧化法对发热电阻阻值进行微调，使发热电阻的阻值偏差最终稳定在5％以内。若依然存在有发热电阻阻值不合格的情况，则可以重新调整低压脉冲电源的参数，采用脉冲电压高温氧化法使该发热电阻恢复初始阻值，重新进行调阻。

本发明提供的厚膜热敏头发热电阻的调测方法及装置，采用了脉冲电压高频放电法和脉冲电压高温氧化法，实现了发热电阻阻值由大变小、由小变大的双向调阻过程，使厚膜热敏头发热电阻具有良好的阻值一致性，满足高精度的要求，降低了生产成本，极大提升了产品的质量和合格率。同时，集中了对厚膜热敏头发热电阻阻值修正和阻值测量的功能，大大简化了发热电阻调测装置的整体结构，并且在调阻和测阻的过程中，可以多路同时进行对厚膜热敏头发热电阻阻值的调测，进一步地提升了产品的生产效率。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种调测热敏头阻值的方法，其特征在于，所述方法包括：

检测所述热敏头的多个发热电阻中的每个所述发热电阻的阻值；

确定多个所述发热电阻的阻值中大于目标阻值的上限值的目标发热电阻，控制与所述目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使高压脉冲电源加载在所述目标发热电阻的两端；以及

控制所述高压脉冲电源按照第一预设参数对所述目标发热电阻的阻值进行调整，以使所述目标发热电阻的阻值按照预设幅度降低；

当所述目标发热电阻的阻值小于目标阻值的下限值时，控制所述高压脉冲电源关闭、低压脉冲电源开启，并控制与所述目标发热电阻相对应的继电器闭合，以使所述低压脉冲电源加载在所述目标发热电阻的两端；以及

控制所述低压脉冲电源按照第二预设参数对所述目标发热电阻的阻值进行调整，以使调整后的所述目标发热电阻的阻值处于所述下限值与所述上限值之间。

2.根据权利要求1所述的调测热敏头阻值的方法，其特征在于，还包括：

所述控制所述高压脉冲电源按照第一预设参数对所述目标发热电阻的阻值进行调整的同时，检测所述发热电阻的温度；

在所述温度处于预设温度范围内时，继续检测所述目标发热电阻的阻值。

3.根据权利要求1所述的调测热敏头阻值的方法，其特征在于，

所述预设幅度的范围为：小于等于所述目标阻值的5％；

所述上限值或所述下限值与所述目标阻值的差值的绝对值为所述预设幅度；

所述第一预设参数包括：电压、脉宽及时间；

所述第二预设参数包括：电压、脉宽及时间。

Images