CN102323483A - 一种相对法电阻温度系数测量的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种相对法电阻温度系数测量的方法，主要包括：测出待测某电阻在室温下的阻值，然后给该电阻通过一个较大的脉冲电流使电阻自加热到某一个温度；再测出该电阻加热后的阻值，这样便可计算出该电阻在加热后的变化量，整个测试过程用MS-51单片机进行控制；再以同样的方法测出一个同型号的已知温度系数的电阻变化量，通过与已知电阻变化量的比较可得出被测电阻的温度系数。本发明有益效果为：核心在于给被测电阻通过脉冲电流自加热来获得电阻温度系数测量的温差、通过与已知温度系数的同型号电阻的比较得出测量结果、温度控制和读数测量由单片机自动控制完成，整个过程由单片机控制，通常不到10秒钟便可测得一支电阻的温度系数，操作简单快捷。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试方法，尤其涉及一种相对法电阻温度系数测量的方法。
背景技术
目前，对于电阻温度系数测量是一项比较费时费力的工作，通常较为简单的测量方法是，先在室温下测量出电阻的读数，再将电阻放到恒温槽内(恒温槽被预先设定到一个特定温度)，待电阻稳定下来后再测出电阻的读数，然后根据读数的变化和温差计算出电阻的温度系数。采用以上方法所进行的测试，主要不便之处在于两点：(1)对于电阻温度的控制，我们需要测出电阻在不同温度下的读数，这就需要一个较长时间来改变电阻的温度；(2)为确保测量结果的准确，要求电阻测试装置在该期间漂移尽可能的小，这就需要电阻测试装置有很高的稳定性。此外，还有一些测量方式，例如，可分别测量电阻在25℃、50℃、100℃、150℃下的电阻值，通过直线拟合，获得R～T关系曲线，并求出R与T的函数关系，但此方法很多时间都耗费在热盘温度的上升、下降和稳定过程中，尤其是在目标的自动测量系统中更是如此。因此，综合以上因素，需要对现有技术进行合理的创新。
发明内容
针对以上缺陷，本发明提供一种操作简单、由单片机自控完成、测试稳定、较为快捷的相对法电阻温度系数测量的方法，以解决现有技术的诸多不足。
为实现上述目的，本发明采用以下技术方案：
一种相对法电阻温度系数测量的方法，主要包括以下步骤：(1)测出待测某电阻在室温下的阻值，然后给该电阻通过一个较大的脉冲电流使电阻自加热到某一个温度；(2)再测出该电阻加热后的阻值，这样便可计算出该电阻在加热后的变化量，整个测试过程用MS-51单片机进行控制；(3)再以同样的方法测出一个同型号的已知温度系数的电阻变化量，通过与已知电阻变化量的比较可得出被测电阻的温度系数。
本发明所述的相对法电阻温度系数测量的方法的有益效果为：该方法核心在于给被测电阻通过脉冲电流自加热来获得电阻温度系数测量所需的温差、通过与已知温度系数的同型号电阻的比较得出测量结果、温度控制和读数测量由单片机自动控制完成；本方法对于批量电阻温度系数测量或者网络电阻的温度系数配对非常实用，已成功运用于MF2512电阻测试仪上，整个过程由单片机控制，通常不到10秒钟便可测得一支电阻的温度系数，操作简单快捷。
具体实施方式
本发明实施例所述的相对法电阻温度系数测量的方法，主要步骤包括：
首先，测出待测某电阻在室温下的阻值，然后给该电阻通过一个较大的脉冲电流使电阻自加热到某一个温度；其次，再测出该电阻加热后的阻值，这样便可计算出该电阻在加热后的变化量，整个测试过程用MS-51单片机进行控制；最后，再以同样的方法测出一个同型号的已知温度系数的电阻变化量，通过与已知电阻变化量的比较可得出被测电阻的温度系数。
实施例
本发明实施例所述的相对法电阻温度系数测量的方法，主要步骤包括以下：
(1)选用1W的功率，对一支温度系数为+100PPM/℃的电阻加热3秒钟，测出该电阻加热前后阻值变化了如+500PPM，那么可知该型号电阻在加热后温度上升了5℃；
(2)对于未知温度系数同型号的电阻，以同样的功率加热相同的时间，则可认为该电阻加热后也上升了5℃，
(3)测量得出该未知温度系数电阻加热前后阻值变化了如+300PPM，则可得出该电阻的温度系数是+300PPM÷5℃＝+60PPM/℃。
若将以上实际步骤与计算方式结合，则可知：
(设：Rr为参考电阻并已知道该电阻的TCR)
(设：Rx为被测电阻与Rr为同型号电阻)
①测出电阻Rx在室温下的电阻值；
②给电阻Rx加一个电流，使该电阻温度升高。(电流大小和时间，根据Rx耗散功率来确定)；
③在步骤2之后及时测出电阻的阻值；
④计算该电阻前后阻值的变化量RxΔ；
⑤重复1-4步骤测出Rr的变化量RrΔ；
⑥根据RxΔ/RrΔ的比较得出Rx的TCR。
以上实施例是本发明较优选具体实施方式的一种，本领域技术人员在本技术方案范围内进行的通常变化和替换应包含在本发明的保护范围内。
Claims (1)
1.一种相对法电阻温度系数测量的方法，其特征在于，主要包括以下步骤：
(1)测出待测某电阻在室温下的阻值，然后给该电阻通过一个较大的脉冲电流使电阻自加热到某一个温度；
(2)再测出该电阻加热后的阻值，这样便可计算出该电阻在加热后的变化量，整个测试过程用MS-51单片机进行控制；
(3)再以同样的方法测出一个同型号的已知温度系数的电阻变化量，通过与已知电阻变化量的比较可得出被测电阻的温度系数。
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