CN102636695A - 一种电阻温度系数测量的方法 - Google Patents
一种电阻温度系数测量的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102636695A CN102636695A CN2012100936991A CN201210093699A CN102636695A CN 102636695 A CN102636695 A CN 102636695A CN 2012100936991 A CN2012100936991 A CN 2012100936991A CN 201210093699 A CN201210093699 A CN 201210093699A CN 102636695 A CN102636695 A CN 102636695A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- probe
- resistance
- temperature
- value
- pincushion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
Claims (3)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210093699.1A CN102636695B (zh) | 2012-03-31 | 2012-03-31 | 一种电阻温度系数测量的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210093699.1A CN102636695B (zh) | 2012-03-31 | 2012-03-31 | 一种电阻温度系数测量的方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102636695A true CN102636695A (zh) | 2012-08-15 |
CN102636695B CN102636695B (zh) | 2016-10-26 |
Family
ID=46621164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201210093699.1A Active CN102636695B (zh) | 2012-03-31 | 2012-03-31 | 一种电阻温度系数测量的方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN102636695B (zh) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105717362A (zh) * | 2016-04-22 | 2016-06-29 | 滨州学院 | 电阻率测量装置及方法 |
CN105868439A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-08-17 | 深圳市赛尔美电子科技有限公司 | 一种电阻丝阻值拟合方法 |
CN106093575A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-11-09 | 国网河北省电力公司电力科学研究院 | 一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的方法 |
CN109443600A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-03-08 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 在片薄膜铂电阻温度传感器的标定方法 |
CN110531159A (zh) * | 2018-05-25 | 2019-12-03 | 深圳御烟实业有限公司 | 电阻检测系统和方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN87100833A (zh) * | 1986-02-13 | 1987-10-07 | 瓦萨拉公司 | 测量阻抗,尤其是低电容量阻抗的方法 |
US4890494A (en) * | 1983-10-08 | 1990-01-02 | Plessey Overseas Limited | Atmospheric sensor |
CN101329295A (zh) * | 2007-06-22 | 2008-12-24 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 电阻温度系数测量方法 |
CN101907657A (zh) * | 2010-06-11 | 2010-12-08 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 探针电阻的检测方法 |
CN102323483A (zh) * | 2011-08-09 | 2012-01-18 | 田业善 | 一种相对法电阻温度系数测量的方法 |
-
2012
- 2012-03-31 CN CN201210093699.1A patent/CN102636695B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4890494A (en) * | 1983-10-08 | 1990-01-02 | Plessey Overseas Limited | Atmospheric sensor |
CN87100833A (zh) * | 1986-02-13 | 1987-10-07 | 瓦萨拉公司 | 测量阻抗,尤其是低电容量阻抗的方法 |
CN101329295A (zh) * | 2007-06-22 | 2008-12-24 | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 | 电阻温度系数测量方法 |
CN101907657A (zh) * | 2010-06-11 | 2010-12-08 | 上海宏力半导体制造有限公司 | 探针电阻的检测方法 |
CN102323483A (zh) * | 2011-08-09 | 2012-01-18 | 田业善 | 一种相对法电阻温度系数测量的方法 |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
任英丽: "测定金属电阻温度系数的方法研究", 《大学物理实验》 * |
李朝林: "多晶硅压力传感器灵敏温度系数自补偿技术研究", 《计算机与自动化技术》 * |
郑曙东等: "电阻温度系数实验的不确定度分析", 《青海大学学报(自然科学版)》 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN105868439A (zh) * | 2016-03-22 | 2016-08-17 | 深圳市赛尔美电子科技有限公司 | 一种电阻丝阻值拟合方法 |
CN105868439B (zh) * | 2016-03-22 | 2019-04-05 | 深圳市赛尔美电子科技有限公司 | 一种电阻丝阻值拟合方法 |
CN105717362A (zh) * | 2016-04-22 | 2016-06-29 | 滨州学院 | 电阻率测量装置及方法 |
CN105717362B (zh) * | 2016-04-22 | 2018-11-23 | 滨州学院 | 电阻率测量装置及方法 |
CN106093575A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-11-09 | 国网河北省电力公司电力科学研究院 | 一种变温下测量导体常温电阻率及电阻温度系数的方法 |
CN110531159A (zh) * | 2018-05-25 | 2019-12-03 | 深圳御烟实业有限公司 | 电阻检测系统和方法 |
CN110531159B (zh) * | 2018-05-25 | 2022-04-19 | 深圳御烟实业有限公司 | 电阻检测系统和方法 |
CN109443600A (zh) * | 2018-12-18 | 2019-03-08 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 在片薄膜铂电阻温度传感器的标定方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102636695B (zh) | 2016-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102636695A (zh) | 一种电阻温度系数测量的方法 | |
US2947938A (en) | Electrothermal measuring apparatus and method for the calibration thereof | |
CN109164851B (zh) | 电阻类发热设备的温控自动校正设备及方法 | |
CN101303607B (zh) | 一种正温度系数发热元件温度控制方法 | |
CN105868439B (zh) | 一种电阻丝阻值拟合方法 | |
CN104977557A (zh) | 一种接触电阻测试仪校准装置和方法 | |
CN104089718B (zh) | 恒温测试系统及温度监测方法 | |
CN105374799B (zh) | 具有校正温度漂移的集成电路芯片 | |
CN203773345U (zh) | 变压器温度测控仪自动校验装置 | |
US10337904B2 (en) | Apparatus and method for determining flow of a medium | |
WO2014122481A3 (en) | Contact sensor | |
CN105527038B (zh) | 铂热电阻传感器误差修正方法和用该方法测温的热量表 | |
CN104970776B (zh) | 一种体温检测方法和一种高精度动态校准电子体温计装置 | |
CN105784215A (zh) | 一种压力传感器温度补偿方法 | |
CN105092095A (zh) | 温度标定方法及装置 | |
CN116202656A (zh) | 一种用于半导体温度传感器批量校准的方法和系统 | |
CN104808041A (zh) | 一种氮氧传感器芯片泵电流的测试方法及装置 | |
US1411396A (en) | Electrical-resistance thermometer | |
CN106249049A (zh) | 一种提高极值厚膜电阻激光微调精度的装置 | |
CN103713218A (zh) | 晶体振荡器温度特性自动测量方法和系统 | |
CN112639424A (zh) | 温度传感器校准 | |
CN111637983B (zh) | 一种电阻型温度传感器的检测系统及方法 | |
WO2014095312A1 (de) | Verfahren zum kalibrieren eines stromsensors | |
CN101493497B (zh) | 一种可提高测试效率的应力迁移测试方法 | |
US20110077890A1 (en) | Method for thermally compensating a gaging device and thermally compensated gaging station |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: SHANGHAI HUAHONG GRACE SEMICONDUCTOR MANUFACTURING Free format text: FORMER OWNER: HONGLI SEMICONDUCTOR MANUFACTURE CO LTD, SHANGHAI Effective date: 20140504 |
|
C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20140504 Address after: 201203 Shanghai Zhangjiang hi tech park Zuchongzhi Road No. 1399 Applicant after: Shanghai Huahong Grace Semiconductor Manufacturing Corporation Address before: 201203 Shanghai Guo Shou Jing Road, Pudong New Area Zhangjiang hi tech Park No. 818 Applicant before: Hongli Semiconductor Manufacture Co., Ltd., Shanghai |
|
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |