CN108772250B - 一种校正装置及点胶机 - Google Patents

Abstract

本发明涉及点胶及校正技术领域，具体涉及一种校正装置及点胶机，其中，校正装置包括壳体，及：安装于壳体中的用于测量点胶针头X轴坐标的X轴光传感器、Y轴坐标的Y轴光传感器以及Z轴坐标的Z轴光传感器；X轴光传感器和Y轴光传感器发出的光束位于壳体的顶部表面，Z轴光传感器发出的光束位于壳体内部，并位于X轴光传感器与Y轴光传感器发出的光束下方；辅助机构，设于Z轴光传感器上方，包括设于壳体中的辅助本体，及偏压件；辅助本体具有位于Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及遮挡Z轴光传感器发出的光束的检测位置；偏压件施加给辅助本体一个恢复至初始位置的偏压力。本发明的校正装置测量Z轴坐标校正时间短且操作容易。

Description

一种校正装置及点胶机

技术领域

本发明涉及点胶及校正技术领域，具体涉及一种校正装置及点胶机。

背景技术

点胶机又称涂胶机、滴胶机、打胶机、灌胶机等，点胶机主要用于产品工艺中的胶水、油漆以及其他液体精确点、注、涂、点滴到每个产品精确位置，可以用来实现打点、画线、圆型或弧型。

现有技术中的点胶机通常包括带点胶产品的载台、点胶针头、驱动点胶针头运动的机械手、连接点胶针头和机械手的点胶组件等，通常情况下机械手在重复运动后，点胶组件与机械手以及点胶针头之间的连接结构会发生微小位移，至各部件之间的相对位置会产生微小偏差，从而容易导致机械手按预定指令驱动点胶针头运动后，使点胶针头的实际点胶位置和工件的待点胶位置出现偏差，导致实际点胶位置不准确。

为此，现有技术中提供了一种使用光传感器测量点胶针头X轴坐标、Y轴坐标以及Z轴坐标的校正装置，所述校正装置可以将点胶针头的现有的坐标信息更正为经校正装置测量后的正确的坐标信息，以解决上述问题，但通常现有技术中的校正装置中测量Z轴坐标的光传感器与测量X轴坐标以及Y轴坐标的光传感器位于同一平面内，这样的校正装置在测量X轴坐标以及Y轴坐标时点胶针头均是横向运动来遮挡相应的光束，比较好实现，而测量Z轴坐标时，点胶针头需要纵向运动来遮挡相应的光束，即沿垂直于相应光束的方向运动，由于点胶针头较细，从上向下运动来对准同样较细的光束，很难一下就与光束对准并将其遮挡住，需要来回运动多次，尝试很多次才能对准光束将其遮挡，因此，这样的设计在测量Z轴坐标时操作困难，无疑浪费了很多校正Z轴坐标的时间，影响了的工作效率。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于克服现有技术中的点胶机的校装置中对Z轴坐标的校正时间长、操作困难的技术缺陷，从而提供一种对Z轴坐标的校正时间短、操作容易的校正装置及点胶机。

为解决上述技术问题，本发明采用的技术方案如下：

本发明提供了一种校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，包括壳体，及：

传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器；所述X轴光传感器和所述Y轴光传感器发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器与所述Y轴光传感器发出的光束下方；

辅助机构，设于所述Z轴光传感器上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。

所述壳体包括内壳，所述内壳在其顶面及所述Z轴光传感器发出的光束之间设有容置腔，所述容置腔在靠近所述内壳的顶面的一端设有开口，在靠近所述Z轴光传感器发出的光束的一端设置有安装板，所述安装板上成型有安装通孔；

所述辅助本体包括容置于所述容置腔中的传动杆件，及设于所述传动杆件远离所述Z轴光传感器一端的探测部；所述传动杆件的另一端为穿过所述安装通孔、并可遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的遮挡端，所述探测部远离所述传动杆件的一侧具有适于与所述点胶针头接触的探测平面；

所述偏压件为压簧，所述压簧套设于所述遮挡端上，且所述压簧的底端与所述安装板相抵，顶端固定在所述传动杆件上。

所述探测部的外径大于所述传动杆件的外径，所述校正装置还包括限位结构，所述限位结构包括：

套筒，可拆卸地固定套设于所述传功杆件外部，且远离所述安装板设置；

限位槽，形成于所述套筒与所述探测部之间；

限位板，一端固定设置于所述内壳的顶面上，另一端容置于所述限位槽中，且所述限位板的厚度小于所述限位槽的槽宽。

所述容置腔的横截面大小及形状与所述套筒的横截面大小及形状相匹配，所述安装通孔的孔径小于所述套筒的外径。

所述X轴光传感器发出的光束与所述X轴垂直，所述Y轴光传感器发出的光束与所述Y轴垂直，所述Z轴光传感器发出的光束与所述Z轴垂直。

所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴分别为空间直角坐标系上的三个坐标轴；

所述X轴光传感器发出的光束与所述Y轴光传感器发出的光束，相互垂直且位于同一水平面内。

所述X轴光传感器发出的光束与所述Y轴光传感器发出的光束不相交。

所述壳体还包括外壳，套设于所述内壳外部，所述外壳的顶面上成型有：

L型凹槽通道，可供所述点胶针头在其中运动，包括与所述X轴光传感器发出的光束垂直的第一支通道，及与所述Y轴光传感器发出的光束垂直、并与所述第一支通道连通的第二支通道；

让位通孔，设于所述探测平面上方，可供所述点胶针头穿过以与所述探测平面接触。

所述X轴光传感器以及所述Y轴光传感器分别为光纤传感器，所述Z轴光传感器为光电传感器。

本发明还提供了一种点胶机，包括：上述的校正装置，及所述点胶针头。

本发明的技术方案相比现有技术，具有如下优点：

1.本发明提供的校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，包括壳体，及：传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器；所述X轴光传感器和所述Y轴光传感器发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器与所述Y轴光传感器发出的光束下方；辅助机构，设于所述Z轴光传感器上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。这样的结构设计避免了直接用点胶针头自上而下来遮挡很细的光束导致操作困难、操作时间长的情况，而通过使用辅助机构，使辅助本体在没有外力作用时位于Z轴光传感器发出的光束的上方，与Z轴光传感器发出的光束直接对准，这样点胶针头可以直接通过按压辅助本体来遮挡Z轴光传感器发出的光束即可实现对点胶针头的Z轴坐标值的校正，由于辅助本体与点胶针头的接触面可以使用较大的结构，因此点胶针头可以很快的与辅助本体接触并施加压力，操作简单，且减小了点胶针头校正Z轴坐标值的时间，提高了点胶针头的校正效率。

2.本发明提供的校正装置，所述探测部的外径大于所述传动杆件的外径，所述校正装置还包括限位结构，所述限位结构包括：套筒，可拆卸地固定套设于所述传功杆件外部，且远离所述安装板设置；限位槽，形成于所述套筒与所述探测部之间；限位板，一端固定设置于所述内壳的顶面上，另一端容置于所述限位槽中，且所述限位板的厚度小于所述限位槽的槽宽。

当点胶针头与辅助本体相抵并推动辅助本体向下运动，至遮挡端将Z轴光传感器发出的光束遮挡住时，点胶针头采集到Z轴坐标信息；在点胶针头离开探测部后，辅助本体在压簧的恢复弹力作用下向上运动，直至套筒上表面与限位板下表面接触并相抵，辅助本体及点胶针头停止向上运动，限位板可以起到一个限制辅助机构继续向上运动的作用，避免了探测部随传动杆件向上运动的幅度过大，可以限制探测部向上运动的行程，缩短辅助机构恢复至初始状态的时间，从而减小了辅助机构在运动过程中零部件的损耗，同时避免了压簧和辅助本体被弹出的风险，又能避免点胶针头在离开探测部的瞬间，探测部向上运动的幅度过大与点胶针头发生碰撞，导致点胶针头损坏的风险。因此，通过限位板与限位槽的配合，将辅助机构往复运动的行程限位在一个合适的范围内，使辅助机构运动幅度以及往复运动时间减小，延长了辅助机构各零部件的使用寿命。

3.本发明提供的校正装置，所述容置腔的横截面大小及形状与所述套筒的横截面大小及形状相匹配，所述安装通孔的孔径小于所述套筒的外径。这样的结构设计实现了辅助机构在径向上的限位，避免了传动杆件在运动过程中发生晃动，进而防止遮挡端发生晃动，从而确保遮挡端能够有效地将Z轴光传感器发出的光束遮挡，提高测量结果的准确性及校正Z轴坐标的效率。

4.本发明提供的校正装置，所述X轴光传感器发出的光束与所述X轴垂直，所述Y轴光传感器发出的光束与所述Y轴垂直，所述Z轴光传感器发出的光束与所述Z轴垂直。这样的结构设计使系统中预设的判定坐标值的程序更简单，使校正后的坐标值信息不易出错。

5.本发明提供的校正装置，所述X轴光传感器发出的光束与所述Y轴光传感器发出的光束不相交。这样的结构设计可以减小校正装置的占用空间，使X轴光传感器发出的光束以及Y轴光传感器发出的光束在保证能较快测量X轴坐标和Y轴坐标的情况下尽量缩短，使校正装置尽量小型化，能满足占用空间小的要求。

7.本发明提供的校正装置，所述壳体还包括外壳，套设于所述内壳外部，所述外壳的顶面上成型有：L型凹槽通道，可供所述点胶针头在其中运动，包括与所述X轴光传感器发出的光束垂直的第一支通道，及与所述Y轴光传感器发出的光束垂直、并与所述第一支通道连通的第二支通道；让位通孔，设于所述探测平面上方，可供所述点胶针头穿过以与所述探测平面接触。L型凹槽通道的结构设计，使点胶针头不用分别测量X轴和Y轴的坐标值，点胶针头只要进入L型的凹槽通道中并沿着通道运动就可一次测量到X轴和Y轴的坐标值，操作简单且测量速度快；让位通孔的结构设计可以使探测平面位于让位通孔的下方，避免了探测平面漏出外壳顶面时，容易与其他部件放生碰撞使遮挡端将Z轴光传感器发出的光束遮挡住，而对没有使用校正装置校正坐标信息的点胶针头进行坐标信息校正的风险，而此时的点胶针头实则位于其他位置上，与校正后的坐标信息严重不符，从而使点胶针头的点胶位置与实际要点胶的位置发生严重的偏差。

8.本发明提供的校正装置，所述X轴光传感器以及所述Y轴光传感器分别为光纤传感器，所述Z轴光传感器为光电传感器。X轴光传感器与Y轴光传感器发出的光束均需使用点胶针头遮挡才能测量坐标信息，由于点胶针头较细，所以点胶针头需要遮挡的光束也需为较细的光束，所以测量X轴坐标和Y轴坐标需要使用发出光束较细的光纤传感器；而测量Z轴坐标则不需要点胶针头直接与光束接触，而是通过遮挡端来遮挡Z轴光传感器发出的光束，由于遮挡端可以使用较粗的结构，所以Z轴光传感器可以使用较便宜但发出的光束较粗的光电传感器，从而节省了成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例1中提供的校正装置去掉外壳和内壳后的立体结构示意图；

图2为本发明实施例1中提供的校正装置去掉外壳和内壳后的立体结构示意图；

图3为本发明实施例1中提供的校正装置的内壳的立体结构示意图；

图4为本发明实施例1中提供的校正装置去掉外壳后的立体结构示意图；

图5为本发明实施例1中提供的校正装置安装外壳后的立体结构示意图；

附图标记说明：

1-遮挡端；2-压簧；3-Z轴光传感器；4-探测平面；5-套筒；6-圆环；7-内壳；8-外壳；9-限位板；10-安装板；11-安装通孔；12-X轴光传感器；13-Y轴光传感器；14-传动杆件；15-容置腔；16-避让腔；17-限位槽；18-第一支通道；19-第二支通道；20-让位通孔。

具体实施方式

下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

此外，下面所描述的本发明不同实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互结合。

如图1至图5所示，本实施例提供一种校正装置，所述校正装置适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，包括壳体、传感器组件、辅助机构及限位结构。

在本实施中，所述传感器组件安装于所述壳体中，传感器组件包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器12，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器13，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器3；所述X轴光传感器12和所述Y轴光传感器13发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器3发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器12与所述Y轴光传感器13发出的光束下方。

所述X轴光传感器12发出的光束与所述X轴垂直，所述Y轴光传感器13发出的光束与所述Y轴垂直，所述Z轴光传感器3发出的光束与所述Z轴垂直。这样的结构设计使系统中预设的判定坐标值的程序更简单，使校正后的坐标值信息不易出错。

所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴分别为空间直角坐标系上的三个坐标轴；所述X轴光传感器12发出的光束与所述Y轴光传感器13发出的光束，相互垂直且位于同一水平面内，所述X轴光传感器12发出的光束与所述Y轴光传感器13发出的光束不相交。这样的结构设计可以减小校正装置的占用空间，使X轴光传感器12发出的光束以及Y轴光传感器13发出的光束在保证能较快测量X轴坐标和Y轴坐标的情况下尽量缩短，使校正装置尽量小型化，能满足占用空间小的要求。

所述X轴光传感器12以及所述Y轴光传感器13分别为光纤传感器，所述Z轴光传感器3为光电传感器。X轴光传感器12与Y轴光传感器13发出的光束均需使用点胶针头遮挡才能测量坐标信息，由于点胶针头较细，所以点胶针头需要遮挡的光束也需为较细的光束，所以测量X轴坐标和Y轴坐标需要使用发出光束较细的光纤传感器；而测量Z轴坐标则不需要点胶针头直接与光束接触，而是通过遮挡端来遮挡Z轴光传感器3发出的光束，由于遮挡端可以使用较粗的结构，所以Z轴光传感器3可以使用较便宜但发出的光束较粗的光电传感器，从而节省了成本。

作为可变换的实施方式，所述X轴光传感器12、所述Y轴光传感器13以及所述Z轴光传感器3还可以均为光纤传感器。

在本实施中，所述壳体包括内壳7和外壳8，所述传感器组件、辅助机构及限位结构均安装于所述内壳7上，所述外壳8套设于所述内壳7外部。

所述外壳8的顶面上成型有：L型凹槽通道，可供所述点胶针头在其中运动，包括与所述X轴光传感器12发出的光束垂直的第一支通道18，及与所述Y轴光传感器13发出的光束垂直、并与所述第一支通道18连通的第二支通道19。L型凹槽通道的结构设计，使点胶针头不用分别测量X轴和Y轴的坐标值，点胶针头只要进入L型的凹槽通道中并沿着通道运动就可一次测量到X轴和Y轴的坐标值，操作简单且测量速度快。

所述内壳7在其顶面及所述Z轴光传感器3发出的光束之间设有容置腔15，所述容置腔15在靠近所述内壳7的顶面的一端设有开口，在靠近所述Z轴光传感器3发出的光束的一端设置有安装板10，所述安装板10上成型有安装通孔11。

在本实施中，所述辅助机构设于所述Z轴光传感器3上方，包括设于所述内壳7上的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述内壳7之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器3发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器3发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力。辅助本体这样的结构设计可以使在点胶针头的坐标信息校正完毕离开辅助本体后，辅助本体可以在压簧2的作用力下再次回到初始位置，以使校正装置能够再次正常使用。

在本实施中，所述辅助本体包括容置于所述容置腔15中的传动杆件14，及设于所述传动杆件14远离所述Z轴光传感器3一端的探测部，所述探测部的外径大于所述传动杆件14的外径；所述传动杆件14的另一端为穿过所述安装通孔11、并可遮挡所述Z轴光传感器3发出的光束的遮挡端1，所述探测部远离所述传动杆件14的一侧具有适于与所述点胶针头接触的探测平面4。

其中，所述外壳8的顶面上还成型有让位通孔20，所述让位通孔20设于所述探测平面4上方，可供所述点胶针头穿过以与所述探测平面4接触。让位通孔的结构设计可以使探测平面4位于让位通孔20的下方，避免了探测平面4漏出外壳顶面时，容易与其他部件放生碰撞使遮挡端1将Z轴光传感器3发出的光束遮挡住，而对没有使用校正装置校正坐标信息的点胶针头进行坐标信息校正的风险，而此时的点胶针头实则位于其他位置上，与校正后的坐标信息严重不符，从而使点胶针头的点胶位置与实际要点胶的位置发生严重的偏差。

在本实施例中，所述偏压件为弹性元件。具体地，所述弹性元件为压簧2，所述压簧2套设于所述遮挡端1上，且所述压簧2的底端与所述安装板10抵接，顶端固定在所述传动杆件14上。

其中，所述传动杆件14上还固设有一圆环6，所述圆环6设置于所述套筒5下方，所述压簧2的顶端通过所述圆环6固定在所述传动杆件14上。

在本实施例中，所述限位结构包括：套筒5，可拆卸地固定套设于所述传功杆件外部，且远离所述安装板10设置；限位槽17，形成于所述套筒5与所述探测部之间；限位板9，一端固定设置于所述内壳7的顶面上，另一端容置于所述限位槽17中，且所述限位板9的厚度小于所述限位槽17的槽宽。当所述套筒5随所述传动杆件14向上运动至与所述限位板9接触时，套筒5会被限位板9限位住，使套筒5不能继续向上运动。

当点胶针头与辅助本体相抵并推动辅助本体向下运动，至遮挡端将Z轴光传感器发出的光束遮挡住时，点胶针头采集到Z轴坐标信息；在点胶针头离开探测部后，辅助本体在压簧的恢复弹力作用下向上运动，直至套筒上表面与限位板下表面接触并相抵，辅助本体及点胶针头停止向上运动，限位板可以起到一个限制辅助机构继续向上运动的作用，避免了探测部随传动杆件向上运动的幅度过大，可以限制探测部向上运动的行程，缩短辅助机构恢复至初始状态的时间，从而减小了辅助机构在运动过程中零部件的损耗，同时避免了压簧和辅助本体被弹出的风险，又能避免点胶针头在离开探测部的瞬间，探测部向上运动的幅度过大与点胶针头发生碰撞，导致点胶针头损坏的风险。因此，通过限位板与限位槽的配合，将辅助机构往复运动的行程限位在一个合适的范围内，使辅助机构运动幅度以及往复运动时间减小，延长了辅助机构各零部件的使用寿命。

其中，所述容置腔15的横截面大小及形状与所述套筒5的横截面大小及形状相匹配。所述安装通孔11的孔径小于所述套筒5的外径。这样的结构设计实现了辅助机构在径向上的限位，避免了传动杆件14在运动过程中发生晃动，进而防止遮挡端发生晃动，从而确保遮挡端能够有效地将Z轴光传感器3发出的光束遮挡，提高测量结果的准确性及校正Z轴坐标的效率。

在本实施中，在所述容置腔15与所述安装板10之间还设置有避让腔16，所述压簧2以及所述圆环6容置其中，所述避让腔16的横截面大小及形状与所述圆环6的横截面大小及形状相匹配，且所述圆环6的外径小于所述套筒5的外径，相应的所述避让腔16的内径小于所述容置腔15的内径，使所述容置腔15与所述避让腔16的连接端形成阶梯型结构。这样的结构设计实现了圆环6在径向上的限位，进而使与圆环6连接的传动杆件14在径向上被限位，避免了传动杆件14在运动过程中发生晃动，进而使遮挡端1发生晃动，而不能全部将Z轴光传感器3发出的光束遮挡，从而影响测量结果及校正Z轴坐标的效率。

所述校正装置的工作过程为：

当所述点胶针头需要校正X轴坐标信息时，只需进入L型凹槽通道内，穿过位于第一支通道18上的X轴光传感器12发出的光束，将X轴的坐标信息校正为从X轴光传感器12发出的光束处获取的新的X轴坐标信息；同理，当所述点胶针头需要校正Y轴坐标信息时，穿过位于第二支通道19上的Y轴光传感器13发出的光束，将Y轴的坐标信息校正为从Y轴光传感器13发出的光束处获取的新的Y轴坐标信息。L型凹槽通道的结构设计，使点胶针头不用分别测量X轴和Y轴的坐标值信息，点胶针头只要进入L型的凹槽通道中并沿着通道运动就可同时测量到X轴和Y轴的坐标值信息，操作简单且测量速度快。

当所述点胶针头需要校正Z轴坐标信息时，只需将所述点胶针头移动至所述探测平面4，并按压探测平面4，使传动杆件14向下运动，从而带动遮挡端1向下运动，将Z轴光传感器3发出的光束全部遮挡住时即可获取的新的Z轴坐标信息。

这样的结构设计避免了直接用点胶针头自上而下来遮挡很细的光束导致操作困难、操作时间长的情况，而通过使用辅助机构，使辅助本体在没有外力作用时位于Z轴光传感器3发出的光束的上方，与Z轴光传感器3发出的光束直接对准，这样点胶针头可以直接通过按压辅助本体来遮挡Z轴光传感器3发出的光束即可实现对点胶针头的Z轴坐标值的校正，由于辅助本体与点胶针头的接触面可以使用较大的结构，因此点胶针头可以很快的与辅助本体接触并施加压力，操作简单，且减小了点胶针头校正Z轴坐标值的时间，提高了点胶针头的校正效率。

实施例2

本实施例提供一种点胶机，所述点胶机包括实施例1中所述的校正装置，及点胶针头等。

显然，上述实施例仅仅是为清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。而由此所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明创造的保护范围之中。

Claims (9)

1.一种校正装置，适于对点胶针头的点胶位置的坐标值进行校正，其特征在于，包括壳体，及：

传感器组件，安装于所述壳体中，包括用于测量所述点胶针头X轴坐标的X轴光传感器(12)，用于测量所述点胶针头Y轴坐标的Y轴光传感器(13)，以及用于测量所述点胶针头Z轴坐标的Z轴光传感器(3)；所述X轴光传感器(12)和所述Y轴光传感器(13)发出的光束位于所述壳体的顶部表面，所述Z轴光传感器(3)发出的光束位于所述壳体内部，并位于所述X轴光传感器(12)与所述Y轴光传感器(13)发出的光束下方；

辅助机构，设于所述Z轴光传感器(3)上方，包括设于所述壳体中的辅助本体，及设于所述辅助本体与所述壳体之间的偏压件；所述辅助本体具有位于所述Z轴光传感器(3)发出的光束的上方的初始位置，及在所述点胶针头的作用下遮挡所述Z轴光传感器(3)发出的光束的检测位置；所述偏压件施加给所述辅助本体一个使所述辅助本体恢复至所述初始位置的偏压力；

所述壳体包括内壳(7)，所述内壳(7)在其顶面及所述Z轴光传感器(3)发出的光束之间设有容置腔(15)，所述容置腔(15)在靠近所述内壳(7)的顶面的一端设有开口，在靠近所述Z轴光传感器(3)发出的光束的一端设置有安装板(10)，所述安装板(10)上成型有安装通孔(11)；

所述辅助本体包括容置于所述容置腔(15)中的传动杆件(14)，及设于所述传动杆件(14)远离所述Z轴光传感器(3)一端的探测部；所述传动杆件(14)的另一端为穿过所述安装通孔(11)、并可遮挡所述Z轴光传感器(3)发出的光束的遮挡端(1)，所述探测部远离所述传动杆件(14)的一侧具有适于与所述点胶针头接触的探测平面(4)；

所述偏压件为压簧(2)，所述压簧(2)套设于所述遮挡端(1)上，且所述压簧(2)的底端与所述安装板(10)相抵，顶端固定在所述传动杆件(14)上。

2.根据权利要求1所述的校正装置，其特征在于：所述探测部的外径大于所述传动杆件(14)的外径，所述校正装置还包括限位结构，所述限位结构包括：

套筒(5)，可拆卸地固定套设于所述传动杆件(14)外部，且远离所述安装板(10)设置；

限位槽(17)，形成于所述套筒(5)与所述探测部之间；

限位板(9)，一端固定设置于所述内壳(7)的顶面上，另一端容置于所述限位槽(17)中，且所述限位板(9)的厚度小于所述限位槽(17)的槽宽。

3.根据权利要求2所述的校正装置，其特征在于：所述容置腔(15)的横截面大小及形状与所述套筒(5)的横截面大小及形状相匹配，所述安装通孔(11)的孔径小于所述套筒(5)的外径。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的校正装置，其特征在于：所述X轴光传感器(12)发出的光束与所述X轴垂直，所述Y轴光传感器(13)发出的光束与所述Y轴垂直，所述Z轴光传感器(3)发出的光束与所述Z轴垂直。

5.根据权利要求4所述的校正装置，其特征在于：

所述X轴、所述Y轴以及所述Z轴分别为空间直角坐标系上的三个坐标轴；

所述X轴光传感器(12)发出的光束与所述Y轴光传感器(13)发出的光束，相互垂直且位于同一水平面内。

6.根据权利要求5所述的校正装置，其特征在于：所述X轴光传感器(12)发出的光束与所述Y轴光传感器(13)发出的光束不相交。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的校正装置，其特征在于：所述壳体还包括外壳(8)，套设于所述内壳(7)外部，所述外壳(8)的顶面上成型有：

L型凹槽通道，可供所述点胶针头在其中运动，包括与所述X轴光传感器(12)发出的光束垂直的第一支通道(18)，及与所述Y轴光传感器(13)发出的光束垂直、并与所述第一支通道(18)连通的第二支通道(19)；

让位通孔(20)，设于所述探测平面(4)上方，可供所述点胶针头穿过以与所述探测平面(4)接触。

8.根据权利要求1-3中任一项所述的校正装置，其特征在于：所述X轴光传感器(12)以及所述Y轴光传感器(13)分别为光纤传感器，所述Z轴光传感器(3)为光电传感器。

9.一种点胶机，其特征在于，包括：权利要求1-8中任一项所述的校正装置，及所述点胶针头。