CN108692662A - 电子元件测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了电子元件测试装置，其不仅可以检测电子元件的尺寸，而且，可以快速的对电子元件的电性能进行检测，检测自动化程度高，检测可靠，本发明采用多工位的方式进行检测，有效降低了检测劳动强度，多工位转动盘组件旁可以配设上料与下料的机械手，实现全自动化检测，本发明在检测时，当上料机械手上料后，顶紧组件先对电子元件顶紧定位在定位槽的基准面上，然后，真空吸附组件对电子元件件吸附固定，当电子元件转动至尺寸检测工位时，利用光束对其进行检测，光束接收器根据接收到的光可以判断出电子元件的轮廓，其尺寸可计算出，判断是否合格，如合格的话，利用电性能检测组件对其进行电性能测试即可，不合格产品可由机械手取出。

Description

电子元件测试装置

技术领域

本发明涉及电子元件测试装置，属于电子元器件测试设备技术领域。

背景技术

目前，对于电子元器件，比如PCB板等来说，其在生产完成后，一般需要对电子元件进行测量，其最基本的测量包括尺寸测量、电性能测量等等，目前的电子元件的测量一般采用人工的方式进行测量，其测量效率较低，测量准确度难以达到，对于规模化的生产具有较严重的制约。因此，如何设计一种电子元件的测量装置，对于提高电子元件的测量效率以及准确度，保证规模化生产具有极其重要的意义。

本发明针对以上问题，提供电子元件测试装置，提高电子元件的测量效率以及准确度，实现全自动化的测量。

发明内容

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：电子元件测试装置，其包括多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件，其特征在于，所述多工位转动盘组件至少包括转动盘和固定盘，其中，所述转动盘的下方同轴设置有固定盘，所述转动盘相对于所述固定盘沿着其中心轴线分度转动；

所述转动盘上圆周阵列设置有多个对电子元件进行定位的定位槽；

所述定位槽的底部固定设置有对电子器件进行支撑的透明支撑板，所述定位槽内设置有对所述电子器件进行定位的顶紧组件；

所述透明支撑板上设置有对所述电子器件进行负压吸附的负压固定组件；

所述尺寸检测组件包括光束发射器和光束接收器组件，所述固定盘上至少设置有一个安装光束发射器的盲孔，所述光束发射器的正上方且位于所述转动盘的上方设置有所述光束接收器组件，所述光束接收器组件根据其接收的光对电子元件的尺寸进行检测；

所述转动盘的上方还设置有电性能检测组件，所述电性能检测组件对电子元件的电性能进行检测。

进一步，作为优选，所述多工位转动盘组件还包括驱动电机、齿轮组、支撑转动件和电机罩，所述转动盘的下端一体设置有驱动轴，所述驱动轴为上大下小的阶梯结构，所述驱动电机的输出轴与所述驱动轴的下端之间采用齿轮组啮合传动，所述驱动电机固定设置在所述固定盘的下部，所述驱动轴采用轴承支撑于所述固定盘的中心阶梯槽内，所述驱动轴的阶梯结构大端的下端面与所述固定盘的中心阶梯槽上端面之间设置有可转动的支撑转动件，所述驱动电机的外部设置有固定于所述固定盘上的电机罩，所述驱动电机驱动所述转动盘相对于所述固定盘转动。

进一步，作为优选， 所述负压固定组件包括真空发生器，所述透明支撑板嵌入设置在所述转动盘的定槽内，所述转动盘上还固定设置有真空发生器，所述透明支撑板内设置有气道，所述透明支撑板的上端面设置有多个负压吸附孔，所述负压吸附孔与所述气道连通，所述气道与所述真空发生器连接。

进一步，作为优选，所述顶紧组件包括横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸，所述横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸均为两个，两个所述横向顶紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个横向侧壁的两端，两个所述纵向紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个纵向侧壁的两端， 另一个横向侧壁和另一个纵向侧壁为对电子元件进行定位的基准面。

进一步，作为优选，所述电性能检测组件包括检测主轴、外保护套壳、内固定套、定位安装座、弹簧、安装簧片、检测头和检测盘，所述外保护套壳的上端固定在所述检测主轴的下端，所述外保护套壳内部同轴设置有内固定套，所述内固定套中水平固定有定位安装座，所述定位安装座的下端采用多根弹簧连接有安装簧片，所述安装簧片的外周固定于所述内固定套内壁上，且所述安装簧片为弹性结构，所述安装簧片的下端采用检测头连接固定有检测盘，所述检测盘上设置有多个对电子元件进行电性能检测的检测触头，所述检测主轴可调节位置的设置在检测机架上。

进一步，作为优选，所述光接收组件包括调节座、检测盘和光束接收器，所述光束接收器固定在所述检测盘的下端面上，所述检测盘固定在所述调节座上，所述调节座可调节的设置在检测机架上，所述光接收器正对朝向所述光束发射组件设置。

进一步，作为优选，所述光束接收器包括方形检测板和阵列设置在所述方形检测板上的光接收探头组件，所述光接收探头以等间距成排成列的方式排列布置在所述方形检测板上，所述光接收探头正对朝向所述光束发射组件设置，根据能够接收到光束信号的光接收探头的位置实现对电子元件轮廓尺寸的检测。

进一步，作为优选，所述光接收探头组件包括内层板、中间层板、外层板、光束接收探头和聚光镜，所述内层板固定在所述检测盘上，所述外层板采用所述中间层板固定连接在所述内层板上，所述聚光镜安装在所述中间层板上，所述光接收探头定位在所述内层板上，所述内层板、中间层板和外层板均为透光材料制成，光束发射器发射的光束经过所述聚光镜聚光后照射在所述光束接收探头上，实现对光束的接收。

进一步，作为优选，所述内层板、中间层板、外层板上位于所述光束接收探头的位置设置有槽口。

进一步，作为优选，还包括控制器，所述控制器控制所述多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件的动作。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

本发明的电子元件检测装置可以实现对电子元件的自动化检测，不仅可以检测电子元件的尺寸，而且，可以快速的对电子元件的电性能进行检测，检测自动化程度高，检测可靠，本发明采用多工位的方式进行检测，有效降低了检测劳动强度，多工位转动盘组件旁可以配设上料与下料的机械手，实现全自动化检测，此外，本发明的尺寸检测采用光束的方式进行检测，在检测时，当上料机械手上料后，顶紧组件先对电子元件顶紧定位在定位槽的基准面上，然后，真空吸附组件对电子元件件吸附固定，当电子元件转动至尺寸检测工位时，利用光束对其进行检测，光束接收器根据接收到的光可以判断出电子元件的轮廓，这样其尺寸可以计算出，判断是否合格，如果合格的话，利用电性能检测组件对其进行电性能测试即可，不合格的产品可由机械手取出。

附图说明

图1是本发明电子元件测试装置的结构示意图；

图2是本发明电子元件测试装置的顶紧组件布置结构示意图；

图3是本发明电子元件测试装置的方形检测板结构示意图；

图4是本发明电子元件测试装置的光接收探头组件结构示意图；

图5是本发明电子元件测试装置的负压固定组件结构示意图；

图6是本发明电子元件测试装置的电性能检测组件结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-6，本发明提供一种技术方案：电子元件测试装置，其包括多工位转动盘组件、尺寸检测组件4和电性能检测组件3，其特征在于，所述多工位转动盘组件至少包括转动盘2和固定盘1，其中，所述转动盘2的下方同轴设置有固定盘1，所述转动盘2相对于所述固定盘1沿着其中心轴线分度转动；所述转动盘2上圆周阵列设置有多个对电子元件进行定位的定位槽；所述定位槽的底部固定设置有对电子器件进行支撑的透明支撑板10，所述定位槽内设置有对所述电子器件进行定位的顶紧组件；所述透明支撑板10上设置有对所述电子器件进行负压吸附的负压固定组件；所述尺寸检测组件包括光束发射器9和光束接收器组件，所述固定盘上至少设置有一个安装光束发射器的盲孔，所述光束发射器9的正上方且位于所述转动盘的上方设置有所述光束接收器组件，所述光束接收器组件根据其接收的光对电子元件的尺寸进行检测；所述转动盘2的上方还设置有电性能检测组件，所述电性能检测组件对电子元件的电性能进行检测。

在本实施例中，所述多工位转动盘组件还包括驱动电机6、齿轮组7、支撑转动件8和电机罩5，所述转动盘2的下端一体设置有驱动轴，所述驱动轴为上大下小的阶梯结构，所述驱动电机6的输出轴与所述驱动轴的下端之间采用齿轮组7啮合传动，所述驱动电机固定设置在所述固定盘的下部，所述驱动轴采用轴承支撑于所述固定盘的中心阶梯槽内，所述驱动轴的阶梯结构大端的下端面与所述固定盘的中心阶梯槽上端面之间设置有可转动的支撑转动件8，所述驱动电机6的外部设置有固定于所述固定盘上的电机罩5，所述驱动电机6驱动所述转动盘相对于所述固定盘1转动。

其中，所述负压固定组件包括真空发生器27，所述透明支撑板10嵌入设置在所述转动盘的定槽内，所述转动盘上还固定设置有真空发生器27，所述透明支撑板内设置有气道，所述透明支撑板的上端面设置有多个负压吸附孔26，所述负压吸附孔26与所述气道连通，所述气道与所述真空发生器27连接。

作为较佳的实施例，如图2，所述顶紧组件包括横向顶紧气缸19和纵向顶紧气缸18，所述横向顶紧气缸19和纵向顶紧气缸18均为两个，两个所述横向顶紧气缸19分别布置在所述转动盘的定位槽的一个横向侧壁的两端，两个所述纵向紧气缸18分别布置在所述转动盘的定位槽的一个纵向侧壁的两端， 另一个横向侧壁和另一个纵向侧壁为对电子元件进行定位的基准面。

如图6所示，所述电性能检测组件包括检测主轴15、外保护套壳16、内固定套28、定位安装座29、弹簧30、安装簧片31、检测头17和检测盘32，所述外保护套壳16的上端固定在所述检测主轴15的下端，所述外保护套壳16内部同轴设置有内固定套28，所述内固定套28中水平固定有定位安装座29，所述定位安装座29的下端采用多根弹簧连接有安装簧片31，所述安装簧片31的外周固定于所述内固定套28内壁上，且所述安装簧片31为弹性结构，所述安装簧片31的下端采用检测头连接固定有检测盘32，所述检测盘32上设置有多个对电子元件进行电性能检测的检测触头17，所述检测主轴15可调节位置的设置在检测机架上。

其中， 所述光接收组件包括调节座12、检测盘13和光束接收器14，所述光束接收器14固定在所述检测盘13的下端面上，所述检测盘13固定在所述调节座12上，所述调节座12可调节的设置在检测机架上，所述光接收器正对朝向所述光束发射组件设置。

作为更佳的实施例，所述光束接收器包括方形检测板和阵列设置在所述方形检测板14上的光接收探头组件20，所述光接收探头组件20以等间距成排成列的方式排列布置在所述方形检测板上，所述光接收探头正对朝向所述光束发射组件设置，根据能够接收到光束信号的光接收探头的位置实现对电子元件轮廓尺寸的检测。

如图6，所述光接收探头组件包括内层板21、中间层板23、外层板24、光束接收探头22和聚光镜25，所述内层板21固定在所述检测盘上，所述外层板24采用所述中间层板固定连接在所述内层板21上，所述聚光镜25安装在所述中间层板上，所述光接收探头22定位在所述内层板21上，所述内层板、中间层板和外层板均为透光材料制成，光束发射器发射的光束经过所述聚光镜聚光后照射在所述光束接收探头上，实现对光束的接收。

其中，所述内层板、中间层板、外层板上位于所述光束接收探头的位置设置有槽口。

此外，本发明还包括控制器，所述控制器控制所述多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件的动作。

本发明的电子元件检测装置可以实现对电子元件的自动化检测，不仅可以检测电子元件的尺寸，而且，可以快速的对电子元件的电性能进行检测，检测自动化程度高，检测可靠，本发明采用多工位的方式进行检测，有效降低了检测劳动强度，多工位转动盘组件旁可以配设上料与下料的机械手，实现全自动化检测，此外，本发明的尺寸检测采用光束的方式进行检测，在检测时，当上料机械手上料后，顶紧组件先对电子元件顶紧定位在定位槽的基准面上，然后，真空吸附组件对电子元件件吸附固定，当电子元件转动至尺寸检测工位时，利用光束对其进行检测，光束接收器根据接收到的光可以判断出电子元件的轮廓，这样其尺寸可以计算出，判断是否合格，如果合格的话，利用电性能检测组件对其进行电性能测试即可，不合格的产品可由机械手取出。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (10)

1.电子元件测试装置，其特征在于，其包括多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件，其特征在于，所述多工位转动盘组件至少包括转动盘和固定盘，其中，所述转动盘的下方同轴设置有固定盘，所述转动盘相对于所述固定盘沿着其中心轴线分度转动；所述转动盘上圆周阵列设置有多个对电子元件进行定位的定位槽；所述定位槽的底部固定设置有对电子器件进行支撑的透明支撑板，所述定位槽内设置有对所述电子器件进行定位的顶紧组件；所述透明支撑板上设置有对所述电子器件进行负压吸附的负压固定组件；所述尺寸检测组件包括光束发射器和光束接收器组件，所述固定盘上至少设置有一个安装光束发射器的盲孔，所述光束发射器的正上方且位于所述转动盘的上方设置有所述光束接收器组件，所述光束接收器组件根据其接收的光对电子元件的尺寸进行检测；所述转动盘的上方还设置有电性能检测组件，所述电性能检测组件对电子元件的电性能进行检测。

2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述多工位转动盘组件还包括驱动电机、齿轮组、支撑转动件和电机罩，所述转动盘的下端一体设置有驱动轴，所述驱动轴为上大下小的阶梯结构，所述驱动电机的输出轴与所述驱动轴的下端之间采用齿轮组啮合传动，所述驱动电机固定设置在所述固定盘的下部，所述驱动轴采用轴承支撑于所述固定盘的中心阶梯槽内，所述驱动轴的阶梯结构大端的下端面与所述固定盘的中心阶梯槽上端面之间设置有可转动的支撑转动件，所述驱动电机的外部设置有固定于所述固定盘上的电机罩，所述驱动电机驱动所述转动盘相对于所述固定盘转动。

3.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述负压固定组件包括真空发生器，所述透明支撑板嵌入设置在所述转动盘的定槽内，所述转动盘上还固定设置有真空发生器，所述透明支撑板内设置有气道，所述透明支撑板的上端面设置有多个负压吸附孔，所述负压吸附孔与所述气道连通，所述气道与所述真空发生器连接。

4.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述顶紧组件包括横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸，所述横向顶紧气缸和纵向顶紧气缸均为两个，两个所述横向顶紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个横向侧壁的两端，两个所述纵向紧气缸分别布置在所述转动盘的定位槽的一个纵向侧壁的两端， 另一个横向侧壁和另一个纵向侧壁为对电子元件进行定位的基准面。

5.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述电性能检测组件包括检测主轴、外保护套壳、内固定套、定位安装座、弹簧、安装簧片、检测头和检测盘，所述外保护套壳的上端固定在所述检测主轴的下端，所述外保护套壳内部同轴设置有内固定套，所述内固定套中水平固定有定位安装座，所述定位安装座的下端采用多根弹簧连接有安装簧片，所述安装簧片的外周固定于所述内固定套内壁上，且所述安装簧片为弹性结构，所述安装簧片的下端采用检测头连接固定有检测盘，所述检测盘上设置有多个对电子元件进行电性能检测的检测触头，所述检测主轴可调节位置的设置在检测机架上。

6.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述光接收组件包括调节座、检测盘和光束接收器，所述光束接收器固定在所述检测盘的下端面上，所述检测盘固定在所述调节座上，所述调节座可调节的设置在检测机架上，所述光接收器正对朝向所述光束发射组件设置。

7.根据权利要求6所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述光束接收器包括方形检测板和阵列设置在所述方形检测板上的光接收探头组件，所述光接收探头以等间距成排成列的方式排列布置在所述方形检测板上，所述光接收探头正对朝向所述光束发射组件设置，根据能够接收到光束信号的光接收探头的位置实现对电子元件轮廓尺寸的检测。

8.根据权利要求6所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述光接收探头组件包括内层板、中间层板、外层板、光束接收探头和聚光镜，所述内层板固定在所述检测盘上，所述外层板采用所述中间层板固定连接在所述内层板上，所述聚光镜安装在所述中间层板上，所述光接收探头定位在所述内层板上，所述内层板、中间层板和外层板均为透光材料制成，光束发射器发射的光束经过所述聚光镜聚光后照射在所述光束接收探头上，实现对光束的接收。

9.根据权利要求8所述的电子元件测试装置，其特征在于：所述内层板、中间层板、外层板上位于所述光束接收探头的位置设置有槽口。

10.根据权利要求1-9任意一项所述的电子元件测试装置，其特征在于：还包括控制器，所述控制器控制所述多工位转动盘组件、尺寸检测组件和电性能检测组件的动作。