CN108627529A - 一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,包括如下步骤:采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120‑140℃,保温0.8‑1.2h,得到隔膜b;将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。本发明解决了陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下状态无法评测的问题,通过各种评测方法可以判断基膜状态是否正常,是判断陶瓷涂覆隔膜闭孔温度的重要依据,方法简便,对基膜无破坏性。
Description
技术领域
本发明涉及分析技术领域,尤其涉及一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法。
背景技术
陶瓷涂覆隔膜是以PP、PE或者多层复合隔膜为基膜,表面涂覆一层三氧化二铝材料,经过特殊工艺处理,和基体粘接紧密,显著提高锂离子电池的耐高温性能和安全性。陶瓷涂覆隔膜耐高温性、高安全性、高倍率性、良好浸润性、独特的自关断特性、自放电率、循环寿命长。陶瓷涂覆隔膜已经广泛应用于锂离子电池中。
然而陶瓷涂覆隔膜中,由于表面涂覆一层氧化铝,很难判断基膜(PE、PP或多层复合基体)的状态,包括:基膜的基重、孔径大小、是否堵孔等,尤其是基膜在不同温度下的状态更加难以判断,而基膜在不同温度下是否闭孔是评测隔膜闭孔温度的重要因素。并且对于锂离子电池来说,无论是新鲜的电池还是循环后的问题电池拆解,陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的评测都是必不可少的,因此如何发明一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法显得非常重要。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,以克服无法评测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下状态无法评测的不足。
本发明提出的一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,包括如下步骤:
S1、采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;
S2、将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120-140℃,保温0.8-1.2h,得到隔膜b;
S3、将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;
S4、将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。
优选地,S1中,待测陶瓷涂覆隔膜为新鲜陶瓷涂覆隔膜或循环后拆解所得陶瓷涂覆隔膜。
优选地,S1中,溶剂为酒精或水。
优选地,S2中,实验组为3组,分别升温至120℃、130℃、140℃。
本发明解决了陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下状态无法评测的问题,通过各种评测方法可以判断基膜状态是否正常,是判断陶瓷涂覆隔膜闭孔温度的重要依据,方法简便,对基膜无破坏性。
附图说明
图1为不同温度对陶瓷涂覆隔膜中基膜的形貌的影响;其中,(1)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在常温的状态,(2)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在120℃保温1h的状态,(3)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在130℃保温1h的状态,(4)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在140℃保温1h的状态。
具体实施方式
下面,通过具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。
实施例1
一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,包括如下步骤:
S1、采用酒精擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;
S2、将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120-140℃,保温0.8-1.2h,得到隔膜b;
S3、将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;
S4、将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。
实施例2
一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,包括如下步骤:
S1、采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;
S2、将隔膜a分为对照组和三个实验组,再将实验组分别升温至120℃、130℃和140℃,保温1h,对照组不做处理,得到隔膜b;
S3、将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重,如下表所示;
组别 | 升温温度,℃ | 基膜质量,g | 基膜面积,cm2 | 基膜面密度,g/m2 |
对照组 | 常温 | 9.42×10-2 | 131.50 | 7.16 |
实验组1 | 120 | 9.39×10-2 | 130.25 | 7.21 |
实验组2 | 130 | 9.38×10-2 | 129.24 | 7.23 |
实验组3 | 140 | 9.38×10-2 | 127.43 | 7.36 |
S4、将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态,如图1所示。
参照图1,图1为不同温度对陶瓷涂覆隔膜中基膜的形貌的影响。其中,(1)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在常温的状态,(2)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在120℃保温1h的状态,(3)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在130℃保温1h的状态,(4)图为新鲜陶瓷涂覆隔膜的基膜在140℃保温1h的状态。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,其特征在于,包括如下步骤:
S1、采用溶剂擦拭待测陶瓷涂覆隔膜表面,直至露出基膜得到隔膜a;
S2、将隔膜a分为对照组和至少一个实验组,再将实验组升温至120-140℃,保温0.8-1.2h,得到隔膜b;
S3、将隔膜b进行称重,计算其面积,计算基膜基重;
S4、将隔膜b制成待测样品,喷金,置于扫描电子显微镜样品仓中,拍摄基膜形貌以判断待测陶瓷涂覆隔膜的基膜在不同温度下的状态。
2.根据权利要求1所述用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,其特征在于,S1中,待测陶瓷涂覆隔膜为新鲜陶瓷涂覆隔膜或循环后拆解所得陶瓷涂覆隔膜。
3.根据权利要求1所述用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,其特征在于,S1中,溶剂为酒精或水。
4.根据权利要求1所述用于评测陶瓷涂覆隔膜中基膜受不同温度影响的方法,其特征在于,S2中,实验组为3组,分别升温至120℃、130℃、140℃。
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