CN108449980A - 放射线图像生成装置 - Google Patents

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Abstract

在使用利用了X线等的波动性进行高灵敏度放射线摄影的光栅的装置中，本发明提供可拍摄对装置相对移动的试件的技术。像素值运算单元(51)使用在与放射线的路径交叉方向上移动的试件(10)的多个强度分布图像，判定试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)。而且，像素值运算单元(51)通过将属于各区域(Ak)的点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)。图像运算单元(52)使用区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。

Description

放射线图像生成装置
技术领域
本发明涉及用于利用透过了被检体的放射线例如X线的作为波的性质而高灵敏度地对试件(sample)的内部构造进行观察的技术。
背景技术
透过力强的放射线、例如X线作为用于透视物体内部的探测器(probe)，在医用图像诊断、非破坏检查、安检(security check)等中被广泛利用。X线透视图像的对比度基于X线衰减率的不同，对X线吸收强的物体被作为X线的影子描绘。就X线吸收能力而言，包含原子序数大的元素越多，则X线吸收能力越强。反之，关于由原子序数小的元素构成的物质，可以批评其难以实现对比度，这也是现有的X线透视图像的原理的缺点。因此，对于生物软组织或有机材料等，不能得到充分的灵敏度。
另一方面，如果利用X线的作为波的性质，则与一般的现有的X线透视图像相比，最高能够实现大约一千倍的高灵敏度化。以下，将其称为X线相位对比度法。若将该技术应用于由几乎不怎么吸收X线的轻元素构成的物质(生物软组织或有机材料等)的观察，则由于能够进行通过现有方法难以进行的检查，所以其实用化受到期待。
作为用于实现利用了X线相位对比度法的高灵敏度拍摄法的途径(approach)，已知使用透过光栅(lattice)的方法(参照下述专利文献1及2)。该方法是通过被X线照射的透过光栅在X线检测器上形成的强度图案(pattern)基于被同一X线照射的被摄体中的极少量的X线的折射或散射而发生变化的现象，来得到表示被摄体的构造的对比度的方法。通过该方法，一般能够生成与现有的透视图像对应的吸收图像、表示基于被摄体的X线的折射的大小的折射图像、以及表示基于被摄体的散射的大小的散射图像。在所使用的透过光栅的光栅周期微小的情况下，考虑到基于光栅的干涉效应(换言之，衍射效应)导致的分数塔尔博(Talbot)效应，将检测器配置于上述强度图案出现得强烈的位置。此外，在上述强度图案细到由检测器无法直接进行析像的情况下，通过在其位置再配置一个透过光栅，使得生成莫尔条纹(moire)，从而能够将强度图案的变化可视化。再者，以下，将最初的透过光栅称为G1，将第二透过光栅称为G2。将由G1和G2构成的结构称为塔尔博干涉仪。为了使塔尔博干涉仪工作，期望对G1照射的放射线的空间的可干涉距离与G1周期相等或大于G1周期。这通过下述方式来满足：要求放射线的波是均匀的，例如在X线中，使用同步放射光或微焦点(microfocus)X线源。特别地，由于微焦点X线源是能够在实验室中使用的射线源，所以在考虑实用性时是个特别值得注意的要点。但是，一般而言，由于微焦点X线源的输出受限，所以通常需要几分钟至几十分钟的曝光时间。一般使用的X线源比微焦点X线源功率高，但原本就不期望为了使X线塔尔博干涉仪工作而所需的空间的可干涉性。因此，已知将第3光栅(以下，G0)配置于一般的X线源附近的塔尔博-劳厄(Talbot-Lau)干涉仪。G0作为多狭缝(multislit)发挥作用。关注G0中的一个狭缝。穿过它的X线使下游的塔尔博干涉仪(G1和G2)发挥作用。即，G0能够解释为是虚拟地创建微焦点X线源的光栅。在G0中，关注穿过其相邻狭缝的X线。它也使下游的塔尔博干涉仪工作，但是能够对G0的周期进行调整，使得基于G1的强度图案在G2位置正好错开1周期(严密地说，1周期的整数倍)。这样，生成了基于下游的塔尔博干涉仪的莫尔图像，并且可以使用几乎没有干涉性的以往的明亮的X线源，实现相位对比度拍摄的高速化。因此，能够将塔尔博-劳厄干涉仪作为多个塔尔博干涉仪的叠加来掌握，并将G0作为射线源的一部分来掌握。此外，还能够实现仅将G0和G1配置于射线源附近，省略G2，直接由检测器对扩大了的上述强度图案进行拍摄的方式，将其称为劳厄(Lau)干涉仪。
不论是哪种结构的情况下，直接利用所记录的强度图案或者莫尔图像的情形较少，能够由计算机通过规定的步骤对所记录的图像进行处理，生成吸收图像、折射图像、以及散射图像等来利用。在现有技术中，以被摄体在视野内静止为前提，条纹扫描法被用于该目的。条纹扫描法是将任一个光栅在其周期方向上平移，对多个强度图案或者莫尔图像进行拍摄，而进行图像运算的方法。更具体地说，将任一个光栅平移其周期d的1/M进行拍摄，使用重复该步骤M次而得到的M个图像进行图像运算。M为3以上的整数。
还有通过一次的拍摄而生成吸收图像、折射图像、以及散射图像等的方法。其一为傅里叶变换法(参照下述非专利文献1及2)。在该方法中，在生成了基于上述强度图案或者旋转莫尔等的细条纹(载波条纹(carrier fringe))的状态下，对测量图像施加一次傅里叶变换。若仅提取0次衍射区域而进行傅里叶逆变换，则得到吸收图像，若提取+1次的(或者-1次的)衍射区域，在将其原点移动后进行傅里叶逆变换，进一步，对所得到的结果的偏角进行运算，则得到折射图像，若对0次和+1次的(或者-1次的)衍射区域之比进行傅里叶逆变换，则得到散射图像。由于不像条纹扫描法那样需要拍摄多张图像，所以有利于拍摄的高速化。但是，由于空间分辨率因载波条纹的周期而受到限制，所以通常画质不佳。还尝试使强度图案或者莫尔图像的图案与图像检测器的像素矩阵整合，不经傅里叶变换而进行通常的条纹扫描的运算的方法。例如，若使强度图案或者莫尔图像的图案的周期与M像素量一致，则使用该M像素的值进行条纹扫描的运算即可。最终，该M像素成为所生成的吸收图像、折射图像、以及散射图像的1像素。沿该M像素的方向的空间分辨率与傅里叶变换法同样地，与强度图案的周期(M像素)相应地下降。
那么，考虑需要进行在传送带输送机上移动的被摄体的非破坏检查或诊断、对被摄体上的广阔范围进行扫描的非破坏检查或诊断的情况。在使光栅平移而应用条纹扫描法的情况下，为了实现正在运动的被摄体的拍摄，需要在被摄体移动相当于设为目标的空间分辨率的距离的期间完成基于条纹扫描的多个图像测量。因此，需要进行高速摄影，同时，必须在短时间反复进行光栅平移。在反复进行条纹扫描法而创建运动图像时，由于光栅的面积有限，所以并不是使光栅在一方向上平移即可，而需要为了使光栅回归原点而进行往复运动。这会引起振动，还可以被指出对使用了X线透过光栅的拍摄光学系统有坏影响的问题。因此，作为不进行光栅平移的技术，提出了下述专利文献5记载的技术。在该技术中，在被摄体的行进方向上，在M个区域形成光栅自身的图案以使光栅周期的相位错开1/M周期量。若观察在被摄体上固定的坐标，则通过被摄体移动，能够对该坐标处的条纹扫描法所需的数据进行采样。此外，还提出了将光栅倾斜而生成旋转莫尔，使被摄体移动，从而对条纹扫描法所需的数据进行采样的方法(参照下述专利文献6)。但是，不论是哪种情况，都以光栅图案是理想的且无失真为前提。
另外，作为在所述各文献的技术中使用的透过光栅，一般需要具有大面积且高长径比(aspect ratio)的构造，其制作驱使着极其高度的技术。但是，如果对实际制作的光栅进行评价，则通常其周期具有极小的不均匀性。如果是准确地配置了理想地制作出的光栅的塔尔博(Talbot)干涉仪(包含塔尔博-劳厄(Talbot-Lau)干涉仪或劳厄(Lau)干涉仪的情况)，则在检测器面上必定能得到均匀的X线强度分布。然而，在现实中，极小程度地发生莫尔图案。由于这是光栅周期的不均匀性引起的，所以即使对光栅配置进行调整也无法消除。作为发生这样的不均匀的原因，可举出图案的描绘或转印的阶段的不准确、或者光栅基板的歪斜等。完美的光栅指在几cm角的面积中光栅的周期均匀性被控制为nm数量级，在技术上是极其困难的课题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开WO2004/058070号公报
专利文献2：美国专利第5812629号公报
专利文献3：日本特开2008-145111号公报
专利文献4：日本特开2009-240378号公报
专利文献5：国际公开WO2015/064723号公报
专利文献6：日本特表2013-513413号公报
非专利文献
非专利文献1：M.Takeda，H.Ina and S.Kobayashi，″Fourier-transform methodof fringe-pattern analysis for computer-based topography and interferometry，″J.Opt.Soc.Am.72，156-160(1982).
非专利文献2：Atsushi Momose，Wataru Yashiro，Hirohide Maikusa，YoshihiroTakeda，″High-speed X-ray phase imaging and X-ray phase tomography with Talbotinterferometer and white synchrotron radiation″Opt.Express 17，12540-12545(2009)
发明内容
发明要解决的问题
本发明人得到了以下发现：即使在使用了光栅失真的光栅的情况下，通过拍着对于光栅相对移动的试件，不使用基于光栅的机械性平移的通常的条纹扫描法，也可以运算吸收图像、折射图像、或散射图像。
本发明是基于所述发现的发明。本发明的目的在于，为了可以使用光栅失真的光栅，提供可以降低光栅制作和装置维持的成本的技术。
解决问题的方案
本发明可以作为在以下的项目中记载的发明来表现。
(项目1)
一种放射线图像生成装置，其是使用透过了在从射线源单元至检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像，生成所述试件的放射线图像的装置，其特征在于，
包括像素值运算单元和图像运算单元，
所述像素值运算单元为以下结构：使用在与所述路径交叉的方向上移动的所述试件的多个强度分布图像，判定所述试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)，并且通过将属于各区域(Ak)的所述点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，
所述图像运算单元为以下结构：使用所述区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
(项目2)
如项目1所述的放射线图像生成装置，
还包括区域确定单元，
所述区域确定单元包括初始图像运算单元、初始图像判定单元、以及范围计算单元，
所述初始图像运算单元为以下结构：在无所述试件的状态下，使用一边使所述射线源单元、所述光栅群和所述检测单元的位置关系至少部分地变化，一边获取的多个强度分布图像，至少计算微分相位图像(φ0)，
所述初始图像判定单元为以下结构：判定所述微分相位图像中的像素值在所述试件的移动方向中，在-π～+π的值域内是否连续地分布，
所述范围计算单元为以下结构：决定所述区域(Ak)，以使所述微分相位图像中的所述像素值为位于特定的范围的像素的集合。
(项目3)
如项目2所述的放射线图像生成装置，
所述区域确定单元还包括像素数计算单元，
所述像素数计算单元为以下结构：分别计算各区域(Ak)中的、属于所述点(p，q)的轨迹的像素数。
(项目4)
如项目1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置，
其用于医疗用途。
(项目5)
如项目1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置，
其用于食品、工业零件、或工业产品的检查用途、。
(项目6)
一种放射线检查装置，包括：项目1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置、所述射线源单元、所述光栅群、以及检测单元，
所述检测单元为以下结构：获取透过了在从所述射线源单元至所述检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像。
(项目7)
如项目6所述的放射线检查装置，
其用于医疗用途。
(项目8)
如项目6所述的放射线检查装置，
其用于食品、工业零件、或工业产品的检查用途。
(项目9)
一种放射线图像生成方法，是使用透过了在从射线源单元至检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像，生成所述试件的放射线图像的方法，其特征在于，包括：
使用在与所述路径交叉的方向上移动的所述试件的多个强度分布图像，判定所述试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)，并且通过将属于各区域(Ak)的所述点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)的步骤；以及
使用所述区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像的步骤。
(项目10)
如项目9所述的放射线图像生成方法，
其用于医疗用途。
(项目11)
如项目9所述的放射线图像生成方法，
其用于食品、工业零件、或工业产品的检查用途。
(项目12)
用于使计算机执行项目9记载的各步骤的计算机程序。
该计算机程序可以容纳在合适的记录介质(例如CD-ROM和DVD盘那样的光学记录介质、硬盘和软盘那样的磁记录介质、或者MO盘那样的光磁记录介质)中。该计算机程序可以通过因特网等通信线路传输。
发明的效果
根据本发明，为了可以使用光栅失真的光栅，能够提供可以降低光栅制作和装置维持的成本的技术。
此外，根据本发明，不必使用光栅的精密平移机构，所以可以将装置成本抑制得低，并且高精度地生成相对地穿过视野的被摄体的放射线图像。
附图说明
图1是表示使用了本发明的一实施方式的放射线图像生成装置的放射线检查装置的概略结构的说明图。
图2是用于说明图1的装置中使用的图像生成单元的框图。
图3是用于说明图1的装置中使用的区域确定单元的框图。
图4是表示使用了图1的装置的图像生成方法的概略的流程图。
图5是因光栅的失真引起的莫尔条纹图像的一例。该图(a)～(e)表示与条纹扫描法的光栅的位移对应变化的莫尔条纹图像。
图6是表示从图5的图像算出的微分相位图像的一例的图像。
图7是表示从图6的微分相位图像算出的区域分割的一例的图像。
图8是表示使用了图1的装置的图像生成方法的概略的流程图。
图9是伴随试件的移动而拍摄的图像。该图(a)～(i)表示伴随试件的移动而拍摄的运动图像。
图10表示使用了从图9的运动图像生成的合计像素值而生成的图像。
图11表示从图10生成的吸收图像。
图12表示从图10生成的折射图像。
图13表示从图10生成的散射画像。
图14是说明在具体的实施例中使用的试件的说明图。
图15表示在变形例中得到的放射线图像，图15a表示吸收图像，图15b表示折射图像，图15c表示散射画像。
图16表示在变形例中得到的修改后的放射线图像，图16a表示吸收图像，图16b表示折射图像，图16c表示散射画像。
具体实施方式
以下，说明使用了本发明的放射线图像生成装置的放射线检查装置的例子。
(本实施方式中的放射线检查装置)
以下，一边参照附图，一边说明本实施方式的放射线检查装置的结构。该放射线检查装置是作为试件10，将生物体或生物体以外的物体的任意一个作为对象的装置。此外，该装置可以在医疗用或非医疗用的用途中使用。作为非医疗用的用途，例如可以例示食品、工业零件、或者工业产品的检查用途，但不限制于此。
(放射线检查装置的整体的结构)
本实施方式的放射线检查装置(参照图1)包括：射线源单元1；光栅群2；检测单元3；运送单元4；以及图像生成单元5。进而该装置追加地包括：控制单元6和输出单元7。
(射线源单元)
射线源单元1为将具有对试件10的透过性的放射线向光栅群2放射的结构。具体而言，在本实施方式中，作为放射线源1，使用产生X射线的X射线源。作为放射线源1，例如，可以使用通过向目标照射电子射线，产生X射线(即放射线)的X射线源。放射线源1的具体的结构可以与现有的X射线源是同样的，所以对其省略此外的进一步的详细说明。
(光栅群)
光栅群2包括向该光栅群2照射的放射线可透过的多张的光栅。光栅群2满足为了构成塔尔博干涉仪(包括为塔尔博-劳厄干涉仪、劳厄干涉仪的情况)所需要的机械的结构以及几何学的配置的条件。其中，在本实施方式中，构成塔尔博干涉仪的条件，只要满足为了能够进行必要的检查而足够的程度即可，不需要按照数学上严格的含义来满足条件。
具体而言，本实施方式的光栅群2由光栅G0、光栅G1、光栅G2这3张光栅构成。光栅G0是用于构成作为塔尔博干涉仪的一种的塔尔博-劳厄干涉仪的光栅，使用吸收型光栅。通过光栅G0，实现作为塔尔博-劳厄干涉仪的结构要素的微小光源阵列(如果着眼于一个光源，则为塔尔博干涉仪)。作为光栅G1，通常使用相位型光栅，但是也可以设为吸收型光栅。作为光栅G2，使用吸收型光栅。再者，也可以是省略G2的配置的结构(劳厄干涉仪。参照日本特开2012-16370号公报)。
在本例的光栅群2中，在任意一个光栅中，有一些失真。这里，所谓失真，是指生成因失真引起的某些莫尔条纹(参照后述的图5)那样的、光栅从理想状态的“偏差”或者“离散”。这样的失真，在通常的制造方法中，不是别有意图而是自然地产生。当然，也可以制造光栅，使其有意图地具有失真。
上述以外的点中的光栅G0～G2的结构与以往的塔尔博干涉仪(包含塔尔博-劳厄干涉仪以及劳厄干涉仪的情况)为同样的结构即可，所以省略除此之外的详细说明。
(检测单元)
本实施方式的检测单元3为以下结构：可以获取透过了被配置在从射线源单元1至检测单元3的路径上的试件10和光栅群2的放射线的强度分布图像。
更详细地说，检测单元3具有纵横二维地排列像素的结构，为对每个像素检测通过多个光栅G0～G2而到达的放射线的结构。
(运送单元)
运送单元4为以下结构：使试件10相对于光栅群2，向与放射线的放射方向交叉的方向(在图1的例中为图中右方向)移动。具体而言，本实施方式的运送单元4由使试件10向横方向移动的带式输送机构成。此外，在本实施方式中，运送单元4是输送该试件10的单元，使得试件10可以通过作为光栅G0和光栅G1之间的空间、即放射线通过的部分。再者，运送单元4也可以是使试件10通过光栅G1和G2之间的单元。再者，在设为劳厄干涉仪的结构(参照日本特开2012-16370号公报)的情况下，使试件10通过光栅G1和检测单元3之间。
作为运送单元4的带式输送机中使用的带，优选使用的放射线的透过率高的带。再者，作为运送单元4，不限于带式输送机，只要可以向希望的方向输送试件10，可以设为适合的结构。此外，也可以设为将试件10固定，使放射线源、光栅群以及检测单元的全体对于试件10相对移动(包含极坐标上的移动)的结构。
(图像生成单元)
图像生成单元5(参照图2)包括：像素值运算单元51和图像运算单元52。进而，本实施方式的图像生成单元5另外包括区域确定单元53。
像素值运算单元51是使用关于向与从射线源单元1至检测单元3的X射线的路径交叉的方向(在图1的例子中为图中右方向)移动的试件10的多个强度分布图像，判定试件10上固定的坐标点(p，q)(后述)是否属于各强度分布图像上的区域Ak(后述)的单元。进而，像素值运算单元51是通过将点(p，q)位于各区域Ak时的各强度分布图像上的像素值相加在一起，求与各区域Ak对应的点(p，q)的合计像素值Jk(后述)的单元。
图像运算单元52为使用与区域Ak对应的合计像素值Jk，输出必要的放射线图像的结构。
区域确定单元53(参照图3)包括：初始图像运算单元531；初始图像判定单元532；范围计算单元533以及像素数计算单元534。
初始图像运算单元531为在没有试件10的状态下，使用至少部分地改变射线源单元1和光栅群2以及检测单元3之间的位置关系的同时获取的多个强度分布图像，至少计算被包裹的微分相位图像(φ0)的结构。所谓被包裹的微分相位图像是通过反正切的运算，值域为从-π至+π的图像。即，例如原来的值为1.5π的像素值以-0.5π来表示。
初始图像判定单元532为以下结构：判定被包裹的微分相位图像的像素值在试件10的移动方向中，是否在-π至+π的值域中连续地分布。
范围计算单元533为以下结构：决定作为被包裹的微分相位图像的像素值为特定的范围内的像素的集合的区域(Ak)。
像素数计算单元534为以下结构：计算属于各区域(Ak)的像素数。
图像生成单元5中的更详细的结构，作为动作方法的说明而稍后记载。
(控制单元)
控制单元6为以下结构：对运送单元4发送驱动信号，并且对图像生成单元5发送试件10的移动速度信息(指示值或检测值)。
(输出单元)
输出单元7为以下结构：能够输出由图像生成单元5生成的图像。作为输出单元7，可以使用能够向用户呈现图像的显示器、能够暂时或持久保存图像的存储器部件、和其他的适当的装置。输出单元7也可以是通过网络将图像数据传送到其他装置的结构。
(本实施方式的放射线检查装置的动作)
以下，说明使用了本实施方式的放射线检查装置的图像生成方法。该方法大致划分为由区域确定阶段(图4)和图像生成阶段(图8)构成。首先，说明图4的区域确定阶段。
(区域确定阶段)
(图4的步骤SA-1)
首先，设为使运送单元4停止，不使用试件10的状态(无试件的状态)。在该状态下，进行以往的条纹扫描法。即，若将光栅周期设为T，则使光栅仅依次移动距离T×1/M(M为3以上的自然数)，同时进行基于X射线的拍摄，由检测单元3获取多个强度分布图像。该图像相当于“至少部分地改变射线源单元1和光栅群2以及检测单元3之间的位置关系的同时获取的多个强度分布图像”的一例子。图5(a)～(e)表示这样得到的强度分布图像的例子。在该例子中，设M＝5。此外，在图5的例子中，生成来源于光栅的失真的莫尔条纹。
(图4的步骤SA-2)
接着，区域确定单元53的初始图像运算单元531使用获取的多个强度分布图像，至少计算被包裹的微分相位图像φ0(x，y)作为初始图像(参照图6)。这里，(x，y)表示检测单元3中的视野上或者图像取入范围上的坐标。本例的初始图像运算单元531还计算吸收图像A0(x，y)和可见图像V0(x，y)。
(图4的步骤SA-3)
接着，区域确定单元53的初始图像判定单元532判定在坐标(x，y)的各y中，被包裹的微分相位图像φ0(x，y)的值在试件10的移动方向(在图1的例子中，图中右方向)中，是否在(-π～+π)的值域内连续地分布。即，判定是否有在整个-π～+π中的连续的相位变化。在该阶段中，由于试件10实际上未使用，因此所谓所述移动方向是指试件10要移动的方向。
如果该步骤中的判定为“否”，则进至后述的步骤SA-4，如果为“是”，则进至后述的步骤SA-5。
(图4的步骤SA-4)
在坐标(x，y)的各y中，被包裹的微分相位图像φ0(x，y)的值在试件10的移动方向中在-π～+π的值域内未连续地分布的情况下，进行光栅的校准。这里，所谓光栅的校准是指光栅中的某些相对的配置状态的变更，例如，包含光栅的倾斜、光栅间的距离、光栅的弯曲等。关于校准的作业本身，既可以由作业者手动进行，也可以通过某些自动化装置自动地进行。之后，返回所述步骤SA-1，反复以后的步骤。
(图4的步骤SA-5)
在步骤SA-4中的判断为“是”时，范围计算单元533基于被包裹的微分相位图像φ0(x，y)的值，决定区域(Ak)。
更具体地说，若将视野区域分割为n个(其中n为3以上的整数)，则区域Ak能够由以下的规则定义。再者，k＝1，2，...，n。
若
图7示出这样分割的区域的例子。在该例子中设n＝6。在该例子中，所谓一个区域Ak，是指将作为飞地的各区域并在一起后的部分。此外，全部视野区域被区域Ak不重叠地覆盖。
通过以上处理，能够确定要分割强度分布图像的区域Ak。
(图4的步骤SA-6)
接着，像素数计算单元534为如下结构：分别计算各区域(Ak)中的、属于骑在试件10上的坐标中的点(p，q)的轨迹(即，伴随试件的移动横穿各区域的轨迹)的像素数的结构。点(p，q)的轨迹，可以称为试件上的哪一个点横穿视野时的轨迹，在图7的例子中，例如可以识别为从上至下的直线。
更具体地说，本例中的像素数计算单元534制作在各y中沿x轴方向可数的属于区域Ak的像素数Nk的表g(y)g(y)＝(N1(y)，N2(y)，…，Nn(y))。
(实际的图像生成阶段)
接着，说明图8所示的图像生成阶段。
(图8的步骤SB-1)
首先，拍摄移动的试件10以横穿检测单元3中的视野。即，检测单元3，对于在横穿从射线源单元1至检测单元3的路径的方向上移动的试件10，获取多个强度分布图像。图9(a)～(i)示出这样获取的多个强度分布图像的例子。图中x表示试件10的移动方向。在图9(a)～(i)中，表示试件10在检测单元3的视野内沿x方向移动的情形。
再者，实际的拍摄(采样周期)更短，图9表示了从莫尔运动图像中对每100帧提取出的图像。此外，关于强度分布图像，在以后的说明中以I(x，v，t)表示。这里，x，y是视野内的坐标，t是相应帧的获取时刻。因此，能够通过I(x，y，t)中的t的变化来表现运动图像。
于是，对试件固定的坐标(p，q)，如以下这样表示。
p＝x+vt，
q＝y
其中，v是试件10在x轴方向上的速度。
(图8的步骤SB-2)
接着，对于在与从射线源单元1至检测单元3的路径交叉的方向上移动的试件10的多个强度分布图像(参照图9)，像素值运算单元51能够通过将试件10上的点(p，q)属于区域(Ak)的情况下的像素值进行合计而求合计像素值(Jk)。
该处理具体地可如下执行。即，当点(p，q)位于某区域Ak中时，I(p-vt，y，t)/Nk(y)被加到堆栈Jk(p，q)中。对全部的运动图像帧(即与各t对应的帧)进行该处理。此处，除以Nk(y)是为了根据像素数将像素值I的值归一化(即平均化)。因此，本实施方式中的合计像素值Jk通过像素数Nk而被标准化。
更具体地说，所述过程能够如下记述。
当(p，q)∈Ak，Jk(p，q)+＝I(p-vt，y，t)/Nk(y)
图10表示与该堆栈Jk对应的图像(即，相加在一起的所有的帧的图像)的例子。在该例子中，在下述的Jk(p，q)(k＝1，2，…，n)中设n＝20。
(图8的步骤SB-3)
图像运算单元52使用合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
更具体地说，在本实施方式中，能够使用得到的Jk(p，q)(k＝1，2，…，n)，将吸收图像Abs、折射图像φ以及散射图像Vis分别作为
进行运算。在图11～13中，表示了得到的图像例子。再者，这些仅仅是根据需要生成的放射线图像的一例，不需要将全部生成这些图像。此外，也能够生成其他种类的图像。
根据本实施方式，在图像生成阶段，能够不使用历来的条纹扫描法(使光栅逐步移动的方法)生成需要的放射线图像。因此，在该实施方式中，即使在试件和装置相对移动(通常是试件侧移动)的情况下，也能够高速地生成放射线图像，因此，能够加快两者间的相对移动速度。
此外，根据本实施方式，即使光栅形状或配置状态不完整，也能够生成精度高的放射线图像，因此能够将装置的制造成本或维护成本抑制得较低。
(变形例)
以下，说明变形例涉及的图像生成装置。
在所述的实施方式中，当点(p，q)存在于某区域Ak中时，通过将I(p-vt，y，t)/Nk(y)加到堆栈Jk(p，q)中而生成Jk。此处，如果在X射线强度或莫尔图像的清晰度不能够近似为均匀的情况下，有时在图像中产生误差。
因此，在变形例中，在Jk的运算中，进一步导入用于减少该误差的影响的系数。具体而言，在试件中对固定的坐标(p，q)(此处p＝x+vt，q＝y)，通过对全部的I(x，y，t)运算
当(p，q)∈Ak，Jk(p，q)+＝I(p-vt，y，t)/Nk(y)/A0(p-vt，y)，能够得到Jk。即，在该变形例中，通过将I除以系数A0(p-vt，y)实现强度校正。再者，由于该系数A0与所述吸收像的数据相同，因此使用相同的标号。
变形例中的其他结构以及操作，由于与所述实施方式相同，所以对其省略此外的进一步的详细说明。
(实验例)
以下，基于图14～图16说明使用了所述实施方式的方法的实验例子。
在该实验例中，使用图14所示的试件10。该试件10具有内部包含空气部分(图中，由小圆圈表示)的聚乙烯球101、内部包含空气部分的聚丙烯球102、PMMA球103以及内部包含空气部分的POM球104。这些球101～104中的任意一个直径都相同(7.9mm)，且沿一维方向(图14中的横向方向)排列。
首先，在图15a～图15c中表示由本实施方式的方法获取到的放射线图像。由这些图可知，能够以高精度得到放射线图像，但另一方面观察到不需要的对比度。再者，在该实验例中的试件的扫描方向是图中的水平方向。
接下来，在图16a～图16c中表示由变形例的方法获取到的放射线图像。由这些图可知，能够得到减小误差后的放射线图像。
再者，所述实施方式以及实施例的描述仅为示例，并非表示本发明中必需的结构。只要能够实现本发明的主旨，各部分的结构并不限定于上述。
例如，在所述实施方式中，使用X射线源作为射线源单元，但也能够使用对试件具有透过性的其他的放射线，例如中子射线源。当然，在该情况下，使用能够检测使用的放射线的检测单元作为检测单元。
标号说明
Ak 区域
G0～G2 光栅
Jk 合计像素值
Nk 像素数
1 射线源单元
2 光栅群
3 检测单元
4 运送单元
5 图像生成单元
51 像素值运算单元
52 图像运算单元
53 区域确定单元
531 初始图像运算单元
532 初始图像判定单元
533 范围计算单元
534 像素数计算单元
6 控制单元
7 输出单元
10 试件

Claims (12)

1.一种放射线图像生成装置，其是使用透过了在从射线源单元至检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像，生成所述试件的放射线图像的装置，其特征在于，
包括像素值运算单元和图像运算单元，
所述像素值运算单元为以下结构：使用在与所述路径交叉的方向上移动的所述试件的多个强度分布图像，判定所述试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)，并且通过将属于各区域(Ak)的所述点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，
所述图像运算单元为以下结构：使用所述区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像。
2.如权利要求1所述的放射线图像生成装置，
还包括区域确定单元，
所述区域确定单元包括初始图像运算单元、初始图像判定单元、以及范围计算单元，
所述初始图像运算单元为以下结构：在无所述试件的状态下，使用一边使所述射线源单元、所述光栅群和所述检测单元的位置关系至少部分地变化，一边获取的多个强度分布图像，至少计算微分相位图像(φ0)，
所述初始图像判定单元为以下结构：判定所述微分相位图像中的像素值在所述试件的移动方向中，在-π～+π的值域内是否连续地分布，
所述范围计算单元为以下结构：决定所述区域(Ak)，以使所述微分相位图像中的所述像素值为位于特定的范围的像素的集合。
3.如权利要求2所述的放射线图像生成装置，
所述区域确定单元还包括像素数计算单元，
所述像素数计算单元为以下结构：分别计算各区域(Ak)中的、属于所述点(p，q)的轨迹的像素数。
4.如权利要求1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置，
其用于医疗用途。
5.如权利要求1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置，
其用于食品、工业零件、或工业产品的检查用途。
6.一种放射线检查装置，包括：权利要求1～3的任意一项所述的放射线图像生成装置、所述射线源单元、所述光栅群、以及检测单元，
所述检测单元为以下结构：获取透过了在从所述射线源单元至所述检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像。
7.如权利要求6所述的放射线检查装置，
其用于医疗用途。
8.如权利要求6所述的放射线检查装置，
其用于食品、工业零件，或工业产品的检查用途。
9.一种放射线图像生成方法，是使用透过了在从射线源单元至检测单元的路径上配置的试件和光栅群的放射线的强度分布图像，生成所述试件的放射线图像的方法，其特征在于，包括：
使用在与所述路径交叉的方向上移动的所述试件的多个强度分布图像，判定所述试件上的点(p，q)是否属于各强度分布图像上的区域(Ak)，并且通过将属于各区域(Ak)的所述点(p，q)中的各强度分布图像上的像素值相加，求各区域(Ak)中的合计像素值(Jk)的步骤；以及
使用所述区域(Ak)中的合计像素值(Jk)，生成需要的放射线图像的步骤。
10.如权利要求9所述的放射线图像生成方法，
其用于医疗用途。
11.如权利要求9所述的放射线图像生成方法，
其用于食品、工业零件、或工业产品的检查用途。
12.用于使计算机执行权利要求9所述的各步骤的计算机程序。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112955735A (zh) * 2018-11-06 2021-06-11 株式会社岛津制作所 X射线相位摄像系统

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20150117599A1 (en) 2013-10-31 2015-04-30 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10416099B2 (en) 2013-09-19 2019-09-17 Sigray, Inc. Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system
US10295485B2 (en) 2013-12-05 2019-05-21 Sigray, Inc. X-ray transmission spectrometer system
USRE48612E1 (en) 2013-10-31 2021-06-29 Sigray, Inc. X-ray interferometric imaging system
US10401309B2 (en) 2014-05-15 2019-09-03 Sigray, Inc. X-ray techniques using structured illumination
US10295486B2 (en) 2015-08-18 2019-05-21 Sigray, Inc. Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution
JP6619268B2 (ja) * 2016-03-17 2019-12-11 国立大学法人東北大学 放射線画像生成装置
US10247683B2 (en) 2016-12-03 2019-04-02 Sigray, Inc. Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams
JP6753342B2 (ja) * 2017-03-15 2020-09-09 株式会社島津製作所 放射線格子検出器およびｘ線検査装置
US20200011812A1 (en) * 2017-03-17 2020-01-09 Tohoku University Radiographic image generating device
JP6797762B2 (ja) * 2017-07-27 2020-12-09 国立大学法人東北大学 放射線画像生成装置及び放射線画像生成方法
CN110832309B (zh) * 2017-10-31 2022-08-23 株式会社岛津制作所 X射线相位差摄像系统
JP7033779B2 (ja) 2017-11-30 2022-03-11 国立大学法人東北大学 放射線画像生成装置
JP7021676B2 (ja) * 2017-12-22 2022-02-17 株式会社島津製作所 Ｘ線位相差撮像システム
US10578566B2 (en) 2018-04-03 2020-03-03 Sigray, Inc. X-ray emission spectrometer system
JP6881682B2 (ja) * 2018-05-16 2021-06-02 株式会社島津製作所 Ｘ線イメージング装置
DE112019002822T5 (de) 2018-06-04 2021-02-18 Sigray, Inc. Wellenlängendispersives röntgenspektrometer
US11272894B2 (en) 2018-06-15 2022-03-15 Shimadzu Corporation X-ray imaging device
JP7117452B2 (ja) 2018-07-26 2022-08-12 シグレイ、インコーポレイテッド 高輝度反射型ｘ線源
US10656105B2 (en) 2018-08-06 2020-05-19 Sigray, Inc. Talbot-lau x-ray source and interferometric system
WO2020051061A1 (en) 2018-09-04 2020-03-12 Sigray, Inc. System and method for x-ray fluorescence with filtering
CN112823280A (zh) 2018-09-07 2021-05-18 斯格瑞公司 用于深度可选x射线分析的系统和方法
JPWO2020188856A1 (ja) * 2019-03-19 2021-10-14 株式会社島津製作所 Ｘ線イメージング装置
JP7200816B2 (ja) 2019-04-22 2023-01-10 株式会社島津製作所 Ｘ線位相イメージング装置およびｘ線位相コントラスト画像生成方法
JP7188261B2 (ja) * 2019-04-24 2022-12-13 株式会社島津製作所 Ｘ線位相イメージング装置
WO2021002356A1 (ja) * 2019-07-02 2021-01-07 コニカミノルタ株式会社 放射線画像判定装置、検査システム及びプログラム
JP2021085829A (ja) 2019-11-29 2021-06-03 株式会社島津製作所 Ｘ線位相イメージング装置
JP7460577B2 (ja) 2020-06-03 2024-04-02 株式会社リガク Ｘ線画像生成装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102551759A (zh) * 2010-12-14 2012-07-11 富士胶片株式会社 放射线成像系统和放射线照相图像处理方法
US20130083893A1 (en) * 2011-10-04 2013-04-04 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and image processing method
CN104318536A (zh) * 2014-10-21 2015-01-28 沈阳东软医疗系统有限公司 Ct图像的校正方法及装置
CN105637351A (zh) * 2013-10-31 2016-06-01 国立大学法人东北大学 非破坏检查装置
US20190069834A1 (en) * 2017-09-07 2019-03-07 Fujifilm Corporation Mammary gland content rate calculation device, method, and program

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5812629A (en) 1997-04-30 1998-09-22 Clauser; John F. Ultrahigh resolution interferometric x-ray imaging
AU2003292785A1 (en) 2002-12-26 2004-07-22 Atsushi Momose X-ray imaging system and imaging method
EP1879020A1 (en) * 2006-07-12 2008-01-16 Paul Scherrer Institut X-ray interferometer for phase contrast imaging
JP2008145111A (ja) 2006-12-06 2008-06-26 Univ Of Tokyo Ｘ線撮像装置、これに用いるｘ線源、及び、ｘ線撮像方法
JP2009240378A (ja) 2008-03-28 2009-10-22 Univ Of Tokyo Ｘ線撮像装置、及び、これに用いるスリット部材の製造方法
EP2509504B1 (en) * 2009-12-10 2018-07-18 Koninklijke Philips N.V. Scanning system for differential phase contrast imaging
WO2011070489A1 (en) * 2009-12-10 2011-06-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Non- parallel grating arrangement with on-the-fly phase stepping, x-ray system and use
JP5725870B2 (ja) * 2010-02-22 2015-05-27 キヤノン株式会社 Ｘ線撮像装置およびｘ線撮像方法
EP2585817B1 (en) * 2010-06-28 2020-01-22 Paul Scherrer Institut A method for x-ray phase contrast and dark-field imaging using an arrangement of gratings in planar geometry
JP5601909B2 (ja) 2010-07-06 2014-10-08 国立大学法人 東京大学 Ｘ線撮像装置及びこれを用いるｘ線撮像方法
US20130259194A1 (en) * 2012-03-30 2013-10-03 Kwok L. Yip Hybrid slot-scanning grating-based differential phase contrast imaging system for medical radiographic imaging
DE102013219553A1 (de) * 2013-09-27 2015-04-02 Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg Untersuchungsverfahren eines Objekts mit einem Röntgenaufnahmesystem zur Phasenkontrast-Bildgebung mit stochastischer Phasenabtastung

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102551759A (zh) * 2010-12-14 2012-07-11 富士胶片株式会社 放射线成像系统和放射线照相图像处理方法
US20130083893A1 (en) * 2011-10-04 2013-04-04 Fujifilm Corporation Radiation imaging apparatus and image processing method
CN105637351A (zh) * 2013-10-31 2016-06-01 国立大学法人东北大学 非破坏检查装置
CN104318536A (zh) * 2014-10-21 2015-01-28 沈阳东软医疗系统有限公司 Ct图像的校正方法及装置
US20190069834A1 (en) * 2017-09-07 2019-03-07 Fujifilm Corporation Mammary gland content rate calculation device, method, and program

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
桂志国: "基于邻域相关信息的X射线图像增强算法", 《计算机工程与应用》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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