CN108204830B - 相位偏差的补偿方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种相位偏差的补偿方法和装置。该方法包括：获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；确定相位偏差；基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿。通过本申请，解决了相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题。

Description

相位偏差的补偿方法和装置
技术领域
本申请涉及绝对编码器技术领域，具体而言，涉及一种相位偏差的补偿方法和装置。
背景技术
随着现代科技的发展，人们对光电编码器的分辨率的要求越来越高，而光栅加工受到制作工艺及成本的限制，使得栅距不能无限减小；因此，只靠光栅的物理分辨率已不能满足现在社会的应用要求。为了提高光电编码器的分辨率，研究者提出了信号细分技术。细分技术对栅距起到了放大作用，传感器运动一个栅距的大小，光电接收电路就会产生一个正弦波电信号，通过插值获得优于一个栅距的分辨率，提高测量系统的分辨率。
在实际细分过程中，为了提高光电编码器的细分精度，要求细分信号有较好的正弦性；而在编码器过程中，由于光栅间距、光栅黑白比、装配精度、码盘偏心等因素的影响，使得信号不是理想的正弦波，因此必须对细分信号进行校正或补偿。
研究表明，在影响编码器细分精度诸多因素中，细分信号间的相位偏差的影响最为显著；因此如何获得细分信号的相位偏差，便成为相位补偿和提高细分精度的关键。相关技术中通过检测信号的交点值实现，但该方法因受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度。
针对相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
发明内容
本申请的主要目的在于提供一种相位偏差的补偿方法和装置，以解决相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题。
为了实现上述目的，根据本申请的一个方面，提供了一种相位偏差的补偿方法。该方法包括：获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。
进一步地，根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：检测所述第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到所述第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一余弦模拟信号进行采样，得到所述第一余弦采样信号；检测所述第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到所述第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一正弦模拟信号进行采样，得到所述第一正弦采样信号。
进一步地，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：确定所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值；基于所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值，确定所述相位偏差。
进一步地，所述第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，所述第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：分别确定所述第一正弦采样信号对应的幅值、所述第二正弦采样信号对应的幅值、所述第一余弦采样信号对应的幅值、所述第二余弦采样信号对应的幅值；分别基于所述第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于所述第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于所述第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于所述第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；计算所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值；将所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值作为所述相位偏差。
进一步地，基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿包括：根据所述相位偏差通过第一预设算法对所述第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；根据所述相位偏差通过第二预设算法对所述第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种相位偏差的补偿装置。该装置包括：第一获取单元，用于获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；第二获取单元，用于将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；第三获取单元，用于根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；确定单元，用于根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；补偿单元，用于基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。
进一步地，所述第三获取单元包括：第一检测模块，用于检测所述第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；第一采样模块，用于在检测到所述第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制所述采样器对所述第一余弦模拟信号进行采样，得到所述第一余弦采样信号；第二检测模块，用于检测所述第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；第二采样模块，用于在检测到所述第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制所述采样器对所述第一正弦模拟信号进行采样，得到所述第一正弦采样信号。
进一步地，所述确定单元包括：第一确定模块，用于确定所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值；第二确定模块，用于基于所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值，确定所述相位偏差。
进一步地，所述第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，所述第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，所述确定单元包括：第三确定模块，用于分别确定所述第一正弦采样信号对应的幅值、所述第二正弦采样信号对应的幅值、所述第一余弦采样信号对应的幅值、所述第二余弦采样信号对应的幅值；第一计算模块，用于分别基于所述第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于所述第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于所述第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于所述第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；第二计算模块，用于计算所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值；第四确定模块，用于将所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值作为所述相位偏差。
进一步地，所述补偿单元包括：第一补偿模块，用于根据所述相位偏差通过第一预设算法对所述第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；第二补偿模块，用于根据所述相位偏差通过第二预设算法对所述第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行上述任意一项所述的相位偏差的补偿方法。
为了实现上述目的，根据本申请的另一方面，提供了一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行上述任意一项所述的相位偏差的补偿方法。
通过本申请，采用以下步骤：获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿，解决了相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题。通过第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，降低了对AD的采样率(对应上述的采样器的采样率)的要求，从而提高细分信号的高频相位补偿效果，达到增强编码器分辨率和细分精度的效果。
附图说明
构成本申请的一部分的附图用来提供对本申请的进一步理解，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
图1是根据本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法的流程图；
图2是根据本申请实施例提供的可选的相位偏差的补偿方法的示意图；
图3是相位补偿前正余弦利萨茹图；
图4是相位补偿前信号的示意图；以及
图5是根据本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置的示意图。
具体实施方式
需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
为了便于描述，以下对本申请实施例涉及的部分名词或术语进行说明：
利萨茹(Lissajous)曲线(又称利萨茹图形、李萨如图形或鲍迪奇(Bowditch)曲线)是由在互相垂直的方向上的两个频率成简单整数比的简谐振动所合成的规则的、稳定的闭合曲线。借由使用利萨茹图形可以测量出两个信号的频率比与相位差。在电工、无线电技术中，常利用示波器来观察利萨如图形，并用以测定频率或相位差。
下面结合优选的实施步骤对本发明进行说明，图1是根据本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法的流程图，如图1所示，该方法包括如下步骤：
步骤S101，获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号。
例如，如图2所示，系统输入模拟信号Sin0和Cos0，获取Sin0和Cos0，将Sin0作为上述的第一正弦模拟信号，将Cos0作为上述的第一余弦模拟信号。由于生产水平的限制，导致Sin0和Cos0之间存在一定的相位偏差，其利萨茹图如图3所示，因此Sin0和Cos0可用公式表示为：Sin0＝A*Sinθ；Cos0＝A*Cos(θ+δ)；
步骤S102，将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号。
如图2所示，将输入的Sin0(对应上述的第一正弦模拟信号)和Cos0(对应上述的第一余弦模拟信号)转化为Sin1(对应上述的第一正弦数字信号)和Cos1(对应上述的第一余弦数字信号)。
步骤S103，根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号。
Sin1的脉冲边沿变化对应Sin0的n*360°和n*360°+180°，Cos1的脉冲边沿变化对应Cos0的n*360°+90°和n*360°+270°，n为整数；利用Sin1和Cos1脉冲的边沿变化触发AD采样，获得当前采样值Sin2(对应上述的第一正弦采样信号)和Cos2(对应上述的第一余弦采样信号)。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法中，根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：检测第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一余弦模拟信号进行采样，得到第一余弦采样信号；检测第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一正弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号。
需要说明的是上述的第一正弦采样信号可以为多个，第一余弦采样信号可以为多个，例如，在Sin1的上升沿采样获得Cos21，在Sin1的下升沿采样获得Cos22，在Cos1的上升沿采样获得Sin21，在Cos1的下升沿采样获得Sin22。
步骤S104，根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法中，根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：确定第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值；基于第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值，确定相位偏差。
例如，在Sin1的上升沿采样获得Cos2，理想情况下Cos2的幅值应为A；由于相位偏差δ的存在，实际Cos2的幅值应为A1，因此计算得到相位偏差：
δ/2＝arccos (A1)。
由于根据已知脉冲变化边沿与角度的对应关系便可计算获得细分信号间的相位偏差。通过上述方法检测细分信号的相位偏差，可以有效降低对AD采样率的要求；例如，每圈512线编码器、最高转速6000rpm，交点值检测法对AD采样率要求3686.4KHz；通过本申请中提及的采样方法对AD的采样率要求204.8KHz，从而有效的降低对AD采样率的要求。
为了提高相位偏差的检测精度，可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法中，第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：分别确定第一正弦采样信号对应的幅值、第二正弦采样信号对应的幅值、第一余弦采样信号对应的幅值、第二余弦采样信号对应的幅值；分别基于第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；计算第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值；将第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值作为相位偏差。
如图4所示，一个周期内可以利用Sin1和Cos1的四次边沿变化，计算获得四次相位偏差，取四次相位偏差的平均值作为最终的相位偏差，从而提高了相位偏差的检测精度。
步骤S105，基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法中，基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿包括：根据相位偏差通过第一预设算法对第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；根据相位偏差通过第二预设算法对第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
根据上述步骤计算出的相位偏差，对Sin2和Cos2进行相位补偿，得到Sin3和Cos3；
Sin3＝A*Sinθ+tan(δ/2)*A*Cos(θ+δ)；
Cos3＝A*Cos(θ+δ)+tan(δ/2)*A*Sinθ；
根据相位补偿后的Sin3和Cos3，利用反正切的方法实现角度细分：Θ＝arctan(Sin3/Cos3)，从而提高编码器的分辨率。
综上所述，本申请实施例提供的相位偏差的补偿方法，通过获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿，解决了相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题。通过第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，降低了对AD的采样率(对应上述的采样器的采样率)的要求，从而提高细分信号的高频相位补偿效果，达到增强编码器分辨率和细分精度的效果。
需要说明的是，在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
本申请实施例还提供了一种相位偏差的补偿装置，需要说明的是，本申请实施例的相位偏差的补偿装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于相位偏差的补偿方法。以下对本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置进行介绍。
图5是根据本申请实施例的相位偏差的补偿装置的示意图。如图5所示，该装置包括：第一获取单元10、第二获取单元20、第三获取单元30、确定单元40和补偿单元50。
具体地，第一获取单元10，用于获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；
第二获取单元20，用于将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；
第三获取单元30，用于根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；
确定单元40，用于根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；
补偿单元50，用于基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿。
本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置，通过第一获取单元10获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；第二获取单元20将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；第三获取单元30根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；确定单元40根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；补偿单元50基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿，解决了相关技术中绝对编码器细分信号的相位偏差检测及补偿方法受限于AD的采样率而使高频检测结果恶化，无法保证高频相位补偿精度的问题，通过第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，降低了对AD的采样率(对应上述的采样器的采样率)的要求，从而提高细分信号的高频相位补偿效果，达到增强编码器分辨率和细分精度的效果。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置中，第三获取单元包括：第一检测模块，用于检测第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；第一采样模块，用于在检测到第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制采样器对第一余弦模拟信号进行采样，得到第一余弦采样信号；第二检测模块，用于检测第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；第二采样模块，用于在检测到第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制采样器对第一正弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置中，确定单元包括：第一确定模块，用于确定第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值；第二确定模块，用于基于第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值，确定相位偏差。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置中，第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，确定单元包括：第三确定模块，用于分别确定第一正弦采样信号对应的幅值、第二正弦采样信号对应的幅值、第一余弦采样信号对应的幅值、第二余弦采样信号对应的幅值；第一计算模块，用于分别基于第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；第二计算模块，用于计算第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值；第四确定模块，用于将第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值作为相位偏差。
可选地，在本申请实施例提供的相位偏差的补偿装置中，补偿单元包括：第一补偿模块，用于根据相位偏差通过第一预设算法对第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；第二补偿模块，用于根据相位偏差通过第二预设算法对第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
所述相位偏差的补偿装置包括处理器和存储器，上述第一获取单元10、第二获取单元20、第三获取单元30、确定单元40和补偿单元50等均作为程序单元存储在存储器中，由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。
处理器中包含内核，由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上，通过调整内核参数来降低了对AD的采样率的要求，从而提高细分信号的高频相位补偿效果，达到增强编码器分辨率和细分精度。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)，存储器包括至少一个存储芯片。
本发明实施例提供了一种存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现所述相位偏差的补偿方法。
本发明实施例提供了一种处理器，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行所述相位偏差的补偿方法。
本发明实施例提供了一种设备，设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序，处理器执行程序时实现以下步骤：获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿。
根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：检测第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一余弦模拟信号进行采样，得到第一余弦采样信号；检测第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一正弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号。
根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：确定第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值；基于第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值，确定相位偏差。
第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：分别确定第一正弦采样信号对应的幅值、第二正弦采样信号对应的幅值、第一余弦采样信号对应的幅值、第二余弦采样信号对应的幅值；分别基于第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；计算第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值；将第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值作为相位偏差。
基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿包括：根据相位偏差通过第一预设算法对第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；根据相位偏差通过第二预设算法对第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。
本申请还提供了一种计算机程序产品，当在数据处理设备上执行时，适于执行初始化有如下方法步骤的程序：获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；将第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差；基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿。
根据第一正弦数字信号和第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：检测第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一余弦模拟信号进行采样，得到第一余弦采样信号；检测第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；若检测到第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制采样器对第一正弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号。
根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：确定第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值；基于第一正弦采样信号对应的幅值和/或第一余弦采样信号对应的幅值，确定相位偏差。
第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据第一正弦采样信号和第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：分别确定第一正弦采样信号对应的幅值、第二正弦采样信号对应的幅值、第一余弦采样信号对应的幅值、第二余弦采样信号对应的幅值；分别基于第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；计算第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值；将第一相位偏差、第二相位偏差、第三相位偏差和第四相位偏差的平均值作为相位偏差。
基于相位偏差对第一正弦采样信号和第一余弦采样信号进行相位补偿包括：根据相位偏差通过第一预设算法对第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；根据相位偏差通过第二预设算法对第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (12)

1.一种相位偏差的补偿方法，其特征在于，包括：
获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；
将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；
根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；
根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；
基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号包括：
检测所述第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；
若检测到所述第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一余弦模拟信号进行采样，得到所述第一余弦采样信号；
检测所述第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；
若检测到所述第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化，控制所述采样器对所述第一正弦模拟信号进行采样，得到所述第一正弦采样信号。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差包括：
确定所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值；
基于所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值，确定所述相位偏差。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，所述第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，
确定相位偏差包括：
分别确定所述第一正弦采样信号对应的幅值、所述第二正弦采样信号对应的幅值、所述第一余弦采样信号对应的幅值、所述第二余弦采样信号对应的幅值；
分别基于所述第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于所述第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于所述第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于所述第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；
计算所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值；
将所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值作为所述相位偏差。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿包括：
根据所述相位偏差通过第一预设算法对所述第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；
根据所述相位偏差通过第二预设算法对所述第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
6.一种相位偏差的补偿装置，其特征在于，包括：
第一获取单元，用于获取第一正弦模拟信号和第一余弦模拟信号；
第二获取单元，用于将所述第一正弦模拟信号转换为对应的第一正弦数字信号；将所述第一余弦模拟信号转换为对应的第一余弦数字信号；
第三获取单元，用于根据所述第一正弦数字信号和所述第一余弦数字信号的脉冲边沿变化控制采样器对所述第一正弦模拟信号和所述第一余弦模拟信号进行采样，得到第一正弦采样信号和第一余弦采样信号；
确定单元，用于根据所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号，确定相位偏差；
补偿单元，用于基于所述相位偏差对所述第一正弦采样信号和所述第一余弦采样信号进行相位补偿。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述第三获取单元包括：
第一检测模块，用于检测所述第一正弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；
第一采样模块，用于在检测到所述第一正弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制所述采样器对所述第一余弦模拟信号进行采样，得到所述第一余弦采样信号；
第二检测模块，用于检测所述第一余弦数字信号的脉冲边沿是否发生变化；
第二采样模块，用于在检测到所述第一余弦数字信号的脉冲边沿发生变化的情况下，控制所述采样器对所述第一正弦模拟信号进行采样，得到所述第一正弦采样信号。
8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定单元包括：
第一确定模块，用于确定所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值；
第二确定模块，用于基于所述第一正弦采样信号对应的幅值和/或所述第一余弦采样信号对应的幅值，确定所述相位偏差。
9.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述第一正弦采样信号包括：第一正弦采样信号和第二正弦采样信号，所述第一余弦采样信号包括：第一余弦采样信号和第二余弦采样信号，所述确定单元包括：
第三确定模块，用于分别确定所述第一正弦采样信号对应的幅值、所述第二正弦采样信号对应的幅值、所述第一余弦采样信号对应的幅值、所述第二余弦采样信号对应的幅值；
第一计算模块，用于分别基于所述第一正弦采样信号对应的幅值计算出第一相位偏差、基于所述第二正弦采样信号对应的幅值计算出第二相位偏差、基于所述第一余弦采样信号对应的幅值计算出第三相位偏差、基于所述第二余弦采样信号对应的幅值计算出第四相位偏差；
第二计算模块，用于计算所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值；
第四确定模块，用于将所述第一相位偏差、所述第二相位偏差、所述第三相位偏差和所述第四相位偏差的平均值作为所述相位偏差。
10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述补偿单元包括：
第一补偿模块，用于根据所述相位偏差通过第一预设算法对所述第一正弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一正弦采样信号；
第二补偿模块，用于根据所述相位偏差通过第二预设算法对所述第一余弦采样信号进行相位补偿，得到补偿后的第一余弦采样信号。
11.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，所述程序执行权利要求1至5中任意一项所述的相位偏差的补偿方法。
12.一种处理器，其特征在于，所述处理器用于运行程序，其中，所述程序运行时执行权利要求1至5中任意一项所述的相位偏差的补偿方法。
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