CN107991798A - 取向膜的检验方法及系统 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种取向膜的检验方法及系统。该取向膜的检验方法包括：涂布单元在显示母板上形成取向膜；检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量；检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板；涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。本发明所提供的取向膜的检验方法及系统的技术方案，有效保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。

Description

取向膜的检验方法及系统
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别涉及一种取向膜的检验方法及系统。
背景技术
近年来，随着移动应用型薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor-LiquidCrystal Display，简称：TFT-LCD)产品的广泛使用，新型液晶面板产品不断被开发出来，人们对液晶显示面板的显示品质要求也越来越高。薄膜晶体管液晶显示器凭借其具有的高分辨率、高色彩饱和度、反应速度快及高开口率等优点成为新一代显示器件，广泛应用于手机等电子产品中。其中，在TFT-LCD的制程中，TFT-LCD主要通过将TFT阵列基板和彩膜基板(CF)对盒形成。
在TFT-LCD的制程中，若某张显示母板存在的不良结构数量较多，在取向膜(polyimidefilm，简称：PI)涂布机(Coater)工艺中进行PI液涂覆时，部分不良结构会粘至转印版(Asahikasei Photosensitive Resin Plate，简称：APR版)上，影响了后续的显示母板的PI印刷质量，导致产品质量和良率的下降。
发明内容
本发明提供一种取向膜的检验方法及系统，用于有效保证产品质量和提高产品的良率。
为实现上述目的，本发明提供了一种取向膜的检验方法，该取向膜的检验方法包括：
涂布单元在显示母板上形成取向膜；
检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量；
检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；
控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；
控制系统根据空闲基板的数量向所述涂布单元投入相应数量的空闲基板；
涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。
可选地，所述检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量包括：
检验单元对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；
检验单元根据显示母板图像统计出所述取向膜上不良结构的数量。
可选地，所述检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量包括：
所述检验单元对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
可选地，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量之前包括：
所述控制系统判断所述空闲基板的投入参考量大于或等于0；
所述控制系统若判断出所述空闲基板的投入参考量大于0时，执行所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量的步骤。
可选地，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量包括：所述控制系统将所述空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
为实现上述目的，本发明提供一种取向膜的检验系统，该取向膜的检验系统包括涂布单元、检验单元和控制系统；
所述涂布单元用于在显示母板上形成取向膜；在空闲基板上形成空闲膜层；
所述检验单元用于获取所述取向膜上不良结构的数量；根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；
所述控制系统用于根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；根据空闲基板的数量向所述涂布单元投入相应数量的空闲基板。
可选地，所述检验单元具体用于对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；根据显示母板图像统计出所述取向膜上不良结构的数量。
可选地，所述检验单元具体用于对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
可选地，所述控制系统具体用于判断所述空闲基板的投入参考量大于或等于0；若判断出所述空闲基板的投入参考量大于0时，根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量。
可选地，所述控制系统具体用于将所述空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
可选地，所述控制系统为计算机集成制造系统。
本发明的有益效果：
本发明所提供的取向膜的检验方法及系统的技术方案中，检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量，控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量，控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板，涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。由于投入的空闲基板将涂布单元中的APR版上的不良结构带出，因此保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。
附图说明
图1为本发明实施例一提供的一种取向膜的检验方法的流程图；
图2为本发明实施例二提供的一种取向膜的检验方法的流程图；
图3为涂布单元的结构示意图；
图4为显示母板上的取向膜的结构示意图；
图5为本发明实施例三提供的一种取向膜的检验系统的结构示意图。
具体实施方式
为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明提供的取向膜的检验方法及系统进行详细描述。
图1为本发明实施例一提供的一种取向膜的检验方法的流程图，如图1所示，该取向膜的检验方法包括：
步骤101、涂布单元在显示母板上形成取向膜。
步骤102、检验单元获取取向膜上不良结构的数量。
步骤103、检验单元根据不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量。
步骤104、控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量。
步骤105、控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板。
步骤106、涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。
本实施例所提供的取向膜的检验方法的技术方案中，检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量，控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量，控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板，涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。由于投入的空闲基板将涂布单元中的APR版上的不良结构带出，因此保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。
图2为本发明实施例二提供的一种取向膜的检验方法的流程图，如图2所示，该取向膜的检验方法包括：
步骤201、清洗单元对显示母板进行清洗。
在取向膜(polyimidefilm，简称：PI)工艺中，可从存储装置(Buffer)中将显示母板取出。在对显示母板进行涂覆工艺之前，首先需要通过清洗单元(Cleaner)对显示母板进行清洗。
步骤202、涂布单元在显示母板上形成取向膜。
本实施例中，涂布单元为涂布机(Coater)。图3为涂布单元的结构示意图，如图3所示，涂布单元包括PI盒(PI Tank)1、喷嘴(Dispenser)2、刮刀(Scraper)3、D辊(DoctorRoll)4、均胶辊(Anilox Roll)5、版酮(Plate Cylinder)6、APR版(APR Plate)7和印刷台8，其中，PI盒1用于盛放PI液；喷嘴2用于将PI盒1中的PI液滴在刮刀3上，使PI液流入刮刀3与均胶辊5之间夹缝里；刮刀3用于将PI液涂到均胶辊5上，并将均胶辊5上的多余的PI液刮掉，使均胶辊5上的PI液均匀；均胶辊5和D辊4用于将PI液均匀涂到APR版7上；版酮6用于安装APR版7，并在印刷开始时移动，带动APR版7移动，以将APR版7上的PI液转印在显示母板9上，形成取向膜；印刷台(Table)8用于印刷时托放显示母板9。
具体地，步骤202包括：
步骤202a、喷嘴将PI液滴在刮刀上，使PI液流入刮刀与均胶辊之间夹缝里。
步骤202b、刮刀将PI液均匀涂到均胶辊上。
步骤202c、均胶辊和D辊将PI液涂到APR版上。
步骤202d、版酮开始移动，带动APR版移动，以将APR版上的PI液转印在显示母板上，形成取向膜。
步骤203、预固化单元对取向膜进行预固化。
具体地，预固化单元对取向膜进行预固化，挥发掉取向膜的一部分溶剂，使得取向膜与显示母板之间具有一定的粘合力。
步骤204、检验单元获取取向膜上不良结构的数量。
本实施例中，图4为显示母板上的取向膜的结构示意图，如图4所示，取向膜10上具有不良结构11，其中，不良结构11包括不良颗粒、杂质、灰尘、彩膜基板光刻胶(CF PR)胶残留物中的任一种或者任意组合。本实施例中，不良结构11还可以包括其他结构，此处不再一一列举。
具体地，步骤204包括：
步骤204a、检验单元对显示母板进行拍照，获得显示母板图像。
本实施例中，检验单元包括拍摄装置，具体地，拍摄装置对显示母板进行拍照，获得显示母板图像。
步骤204b、检验单元根据显示母板图像统计出取向膜上不良结构的数量。
本实施例中，检验单元还包括统计模块，具体地，统计模块从显示母板图像中识别出不良结构，并统计出取向膜上不良结构的数量。
步骤205、检验单元根据不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量。
具体地，步骤205包括：检验单元对不良结构的数量与预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
具体地，假设空闲基板(Dummy Glass)的投入参考量为Count，不良结构的数量为X，预设不良结构阈值为100，那么Count＝[X/100]。其中，[X/100]表示对不良结构的数量X与预设不良结构阈值100的比值的取整计算。例如，假设不良结构的数量X为856，那么空闲基板的投入参考量为Count＝[X/100]＝[856/100]＝[8.56]＝8。在实际应用中，预设不良结构阈值可根据生产需要和产品类型进行设置。
步骤206、检验单元将空闲基板的投入参考量反馈至控制系统。
步骤207、控制系统判断空闲基板的投入参考量大于或等于0，若大于0，执行步骤208；若等于0，执行步骤211。
具体地，控制系统若判断出空闲基板的投入参考量大于0，表明不良结构的数量大于或等于预设不良结构阈值，因此，执行步骤208。控制系统若判断出空闲基板的投入参考量等于0，表明不良结构的数量小于预设不良结构阈值，因此无需向涂布单元投入空闲基板，因此，执行步骤211。
步骤208、控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量。
优选地，步骤208包括：控制系统将空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
例如，假设不良结构的数量X为800，预设不良结构阈值为100，那么空闲基板的投入参考量为Count＝[X/100]＝[800/100]＝8，因此将空闲基板的数量设置为8张，即所需向涂布单元投入的空闲基板的数量即为8张。
步骤209、控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板。
具体地，控制系统根据空闲基板的数量通过机器人(Robot)自动从存储装置(Buffer)中取出相应数量的空闲基板向涂布单元进行投入。其中，存储装置用于存放空闲基板。
步骤210、涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。
本实施例中，形成空闲膜层的方式与形成取向膜的方式相同，均是通过涂布单元涂布PI液而形成。具体地，APR版在空闲基板上涂布PI液，形成空闲膜层。
具体地，在步骤202d中，若显示母板上存在数量较多的不良结构时，当APR版将PI液转印至显示母板时，APR版容易粘上部分不良结构。而由于在步骤209中，控制系统向涂布单元投入了相应数量的空闲基板，因此在步骤210中，APR版在空闲基板上形成空闲膜层时，APR版上的不良结构也将被粘至空闲基板，即APR版上的不良结构将被空闲基板带出，从而在后续的显示母板进行取向膜的涂布工艺时，不会影响后续显示母板的取向膜的印刷质量，保证了后续显示母板上形成的取向膜的质量，提高了后续显示母板上取向膜的良率。
步骤211、控制系统投入下一个显示母板，跳转至步骤201。
具体地，步骤211中控制系统可向清洗单元投入下一个显示母板。
本实施例中，步骤206之后还包括：
步骤206a、抽检人员通过宏观抽检方式和微观抽检方式对取向膜进行抽检。
例如，宏观抽检(Mac)方式为通过肉眼观察的方式对取向膜进行抽检，微观抽检(Mic)方式为通过光学镜头对取向膜进行抽检。
步骤206b、固化单元对取向膜进行固化处理。
具体地，固化单元(Main Cure)通过高温加热的方式对取向膜进行溶剂挥发，使得取向膜固化。
本实施例所提供的取向膜的检验方法的技术方案中，检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量，控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量，控制系统根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板，涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。由于投入的空闲基板将涂布单元中的APR版上的不良结构带出，因此保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。
图5为本发明实施例三提供的一种取向膜的检验系统的结构示意图，如图5所示，该取向膜的检验系统包括涂布单元301、检验单元302和控制系统303。涂布单元301用于在显示母板上形成取向膜；在空闲基板上形成空闲膜层；检验单元302用于获取取向膜上不良结构的数量；根据不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；控制系统303用于根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；根据空闲基板的数量向涂布单元301投入相应数量的空闲基板。
具体地，检验单元302具体用于对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；根据显示母板图像统计取向膜上不良结构的数量。
具体地，检验单元302具体用于对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
具体地，控制系统303具体用于判断空闲基板的投入参考量大于或等于0；若判断出空闲基板的投入参考量大于0时，根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量。
具体地，控制系统303具体用于将空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
本实施例中，优选地，控制系统303为计算机集成制造(Computer IntegratedManu-facturing，简称：CIM)系统。
本实施例所提供的取向膜的检验系统，用于实现上述实施例二提供的取向膜的检验方法，具体描述可参见上述实施例二，此处不再赘述。
本实施例所提供的取向膜的检验系统的技术方案中，检验单元用于根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量，控制系统用于根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量，并根据空闲基板的数量向涂布单元投入相应数量的空闲基板，涂布单元用于在空闲基板上形成空闲膜层。由于投入的空闲基板将涂布单元中的APR版上的不良结构带出，因此保证了后续显示母板上的取向膜的印刷质量，从而保证了产品质量，提高了产品的良率。
可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种取向膜的检验方法，其特征在于，包括：
涂布单元在显示母板上形成取向膜；
检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量；
检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；
控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；
控制系统根据空闲基板的数量向所述涂布单元投入相应数量的空闲基板；
涂布单元在空闲基板上形成空闲膜层。
2.根据权利要求1所述的取向膜的检验方法，其特征在于，所述检验单元获取所述取向膜上不良结构的数量包括：
检验单元对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；
检验单元根据显示母板图像统计出所述取向膜上不良结构的数量。
3.根据权利要求1所述的取向膜的检验方法，其特征在于，所述检验单元根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量包括：
所述检验单元对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
4.根据权利要求3所述的取向膜的检验方法，其特征在于，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量之前包括：
所述控制系统判断所述空闲基板的投入参考量大于或等于0；
所述控制系统若判断出所述空闲基板的投入参考量大于0时，执行所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量的步骤。
5.根据权利要求1至4任一所述的取向膜的检验方法，其特征在于，所述控制系统根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量包括：所述控制系统将所述空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
6.一种取向膜的检验系统，其特征在于，包括涂布单元、检验单元和控制系统；
所述涂布单元用于在显示母板上形成取向膜；在空闲基板上形成空闲膜层；
所述检验单元用于获取所述取向膜上不良结构的数量；根据所述不良结构的数量生成空闲基板的投入参考量；
所述控制系统用于根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量；根据空闲基板的数量向所述涂布单元投入相应数量的空闲基板。
7.根据权利要求6所述的取向膜的检验系统，其特征在于，
所述检验单元具体用于对显示母板进行拍照，获得显示母板图像；根据显示母板图像统计出所述取向膜上不良结构的数量。
8.根据权利要求6所述的取向膜的检验系统，其特征在于，
所述检验单元具体用于对不良结构的数量和预设不良结构阈值的比值进行取整计算，生成空闲基板的投入参考量。
9.根据权利要求8所述的取向膜的检验系统，其特征在于，
所述控制系统具体用于判断所述空闲基板的投入参考量大于或等于0；若判断出所述空闲基板的投入参考量大于0时，根据空闲基板的投入参考量确定出空闲基板的数量。
10.根据权利要求6至9任一所述的取向膜的检验系统，其特征在于，
所述控制系统具体用于将所述空闲基板的投入参考量确定为空闲基板的数量。
11.根据权利要求6至10任一所述的取向膜的检验系统，其特征在于，所述控制系统为计算机集成制造系统。
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