CN107957423A - 检查装置 - Google Patents

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Abstract

本发明的目的在于提供一种能够抑制装置的大型化的检查装置。检查装置(1)的特征在于,包括:照明装置(3),具有拱形照射部(31),该拱形照射部(31)被呈圆弧状地设置在检查对象(100)的周围并向检查对象(100)照射光;摄像装置(5),对使从拱形照射部(31)照射的光反射的检查对象(100)的光反射表面(101)进行拍摄;以及判定装置,基于由摄像装置(5)拍摄到的图像来检查检查对象(100)的光反射表面(101)。其结果是,检查装置(1)取得能够抑制装置的大型化这种效果。

Description

检查装置
技术领域
本发明涉及检查装置。
背景技术
作为进行检查对象的表面的外观检查的以往的检查装置,例如,在专利文献1中公开了如下检查装置,该检查装置包括:载放检查对象的连接零件的检查台;照射连接零件的照明体;以及以相对于水平面倾斜的方向且能够拍摄连接零件的3个面的方向为光轴而拍摄连接零件的照相机,该检查装置使照相机的拍摄面相对于光轴倾斜。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2014-163874号公报
发明内容
本发明欲解决的问题
需要说明的是,上述的专利文献1所记载的检查装置例如为了使得能够在生产线等中的有限的空间中进行检查,而在装置的大型化抑制这一点存在进一步的改善的余地。
本发明是鉴于上述的情况而完成的,其目的在于提供一种能够抑制装置的大型化的检查装置。
用于解决问题的方案
为了达成上述目的,本发明的检查装置的特征在于,包括:照明装置,具有拱形照射部,所述拱形照射部呈圆弧状地被设置在检查对象的周围,并向所述检查对象照射光;摄像装置,对使从所述拱形照射部照射的光反射的所述检查对象的光反射表面进行拍摄;以及判定装置,基于由所述摄像装置拍摄到的图像来检查所述检查对象的所述光反射表面。
另外,在所述检查装置中,能够设为:包括旋转驱动装置,所述旋转驱动装置使所述检查对象与所述拱形照射部以沿着将所述拱形照射部的两端部连接的线的旋转轴线为旋转中心相对旋转,所述判定装置基于一边利用所述旋转驱动装置使所述检查对象与所述拱形照射部相对旋转一边由所述摄像装置拍摄到的所述图像来检查所述检查对象的所述光反射表面。
另外,在所述检查装置中,能够设为:包括在高度方向保持所述检查对象的保持面,所述检查对象的至少所述光反射表面的端部被形成为曲面状,所述拱形照射部的两端部在所述高度方向位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧,所述旋转驱动装置使该拱形照射部从开始位置旋转到结束位置,所述开始位置是所述拱形照射部的圆弧状的顶点部在所述高度方向位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧的位置,所述结束位置是在伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转该拱形照射部的光对该检查对象的扫描方向在所述开始位置的相反一侧所述顶点部位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧的位置。
另外,在所述检查装置中,能够设为:所述摄像装置在伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转该拱形照射部的光对该检查对象的扫描方向,夹着所述旋转轴线在两侧设置有至少各1个,分别位于所述拱形照射部的与所述检查对象相反一侧并相对于该检查对象相对位置被固定。
另外,在所述检查装置中,能够设为:所述摄像装置伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转将所述检查对象的所述光反射表面拍摄多次,所述判定装置基于伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转由所述摄像装置拍摄到的多个所述图像,来检查所述检查对象的所述光反射表面的光泽异常。
发明效果
本发明的检查装置能够利用照明装置和摄像装置和判定装置,向检查对象的光反射表面照射光,拍摄使该光反射的检查对象的光反射表面,基于该拍摄到的图像来检查检查对象的光反射表面。在该情况下,检查装置由于是向检查对象的光反射表面照射光的拱形照射部被呈圆弧状地设置在检查对象的周围并向该检查对象照射光的构成,所以取得能够抑制装置的大型化这种效果。
附图说明
图1是表示实施方式的检查装置的概略结构的示意性的框图。
图2是从旋转轴线方向的一侧观察实施方式的检查装置的各部的示意性的主视图。
图3是从扫描方向的一侧观察实施方式的检查装置的各部的示意性的主视图。
图4是表示实施方式的检查装置中的合成图像的一个例子的示意图。
图5是表示实施方式的检查装置中的合成图像的一个例子的示意图。
图6是表示实施方式的检查装置中的光泽异常部位的图像的一个例子的图。
图7是表示实施方式的检查装置中的控制的一个例子的流程图。
图8是对实施方式的检查装置的拱形照射部的端部位置进行说明的示意图。
附图标记说明
1 检查装置
3 照明装置
4 旋转驱动装置
5 摄像装置
7 控制装置(判定装置)
21 保持面
31 拱形照射部
31a 顶点部
31b 端部
51 第1照相机(摄像装置)
52 第2照相机(摄像装置)
100 检查对象
101 光反射表面
C 旋转轴线
X 旋转轴向
Y 扫描方向
Z 高度方向
具体实施方式
以下,基于附图详细说明本发明的实施方式。此外,本发明不被限定于本实施方式。另外,下述实施方式中的构成要素包含本领域技术人员能够且容易置换的要素、或者实质上相同的要素。
[实施方式]
图1、图2、图3所表示的本实施方式的检查装置1是对构成检查对象100的表面的光反射表面101进行外观检查的装置,代表性地是对检查对象100的光反射表面101的光泽异常进行检查的装置。此处,检查对象100在表面具有由光反射表面101构成的光泽表面,例如是金属零件、树脂成形品等。本实施方式的检查对象100是至少光反射表面101的端部被形成为曲面状的具有透光性的树脂成形品,作为一个例子,说明被设置在车辆的车厢内侧的车厢灯罩。以下,参照各图来详细说明检查装置1的构成。
此外,在以下的说明中,将相互交叉的第1方向、第2方向及第3方向中的第1方向称为“旋转轴向X”,将第2方向称为“扫描方向Y”,将第3方向称为“高度方向Z”。此处,旋转轴向X和扫描方向Y和高度方向Z是相互正交(交叉)的方向。旋转轴向X代表性地相当于沿着后述的拱形照射部31的旋转轴线C的方向。扫描方向Y相当于伴随检查对象100与拱形照射部31的相对旋转该拱形照射部31的光相对于该检查对象100的扫描方向。高度方向Z相当于后述的保持面21所保持的检查对象100的厚度方向,代表性地相当于被构成为平面的保持面21的法线方向。说明本实施方式的高度方向Z代表性地是铅直方向,旋转轴向X、扫描方向Y是水平方向。以下的说明中使用的各方向只要没有特别说明,就表示在各部已相互装配的状态下的方向。
具体而言,如图1、图2、图3所示,本实施方式的检查装置1包括:载置台2;照明装置3;旋转驱动装置4;摄像装置5;输出装置6;以及作为判定装置的控制装置7。
载置台2设置有保持面21,该保持面21在高度方向Z保持检查对象100。此处,载置台2图示为被形成为矩形板状的载置台,但是,不限于此。保持面21被设置在载置台2的高度方向Z的一侧的面,此处,被设置在铅直方向上侧的面。本实施方式的保持面21被形成为法线方向沿着高度方向Z的平面,即水平面,通过在铅直方向(高度方向Z)载置检查对象100,从而构成保持该检查对象100的载置面。
照明装置3对被保持在保持面21上的检查对象100照射检查用的光(以下,有的情况下称为“检查光”)。本实施方式的照明装置3被构成为具有拱形照射部31。拱形照射部31被呈圆弧状地设置在检查对象100的周围并向检查对象100的光反射表面101照射检查光。拱形照射部31是通过将发光二极管(LED:Light Emitting Diode)等多个发光元件呈圆弧状地排列并保持于箱体等从而构成的。拱形照射部31被设置为:以被保持在保持面21上的检查对象100位于呈圆弧状排列的多个发光元件的内侧这样的位置关系,包围该检查对象100的周围的一部分。拱形照射部31既可以在由单独的圆弧(即,单一的半径的圆弧)构成的圆弧状(例如,半圆弧状)中排列有多个发光元件,也可以在组合多个圆弧(即,半径不同的多个圆弧)而成的圆弧状中排列有多个发光元件。本实施方式的拱形照射部31为了对光反射表面101的端部被形成为曲面状的检查对象100的该光反射表面101的整面照射适当的检查光,而被配置为与保持检查对象100的保持面21之间的位置关系为预定的位置关系。即,拱形照射部31的两端部31b在高度方向Z位于保持面21的与检查对象100相反一侧。即,此处,拱形照射部31的两端部31b位于保持面21的铅直方向下侧。照明装置3通过从构成拱形照射部31的多个发光元件向该圆弧状的内侧照射检查光,从而从该拱形照射部31向检查对象100照射检查光。另外,照明装置3也可以包括使从多个发光元件照射的检查光向检查对象100扩散的扩散板。并且,照明装置3也可以在多个发光元件的扫描方向Y的两侧包括遮光罩,抑制漫反射所导致的杂散光。照明装置3被构成为除了拱形照射部31之外,包含例如用于驱动该拱形照射部31的驱动电路等。对于照明装置3,将该驱动电路等电连接于控制装置7,基于从该控制装置7输入的控制信号来控制各部的驱动。
旋转驱动装置4以旋转轴线C为旋转中心使检查对象100与拱形照射部31相对旋转。旋转轴线C是成为检查对象100与拱形照射部31的相对旋转的旋转中心的轴线,是沿着将拱形照射部31的两端部连接的线的轴线。此处,旋转轴线C被沿着旋转轴向X设定。本实施方式的旋转驱动装置4通过使拱形照射部31绕旋转轴线C相对于保持检查对象100的保持面21旋转,从而使检查对象100与拱形照射部31相对旋转。旋转驱动装置4将拱形照射部31以能够绕上述旋转轴线C旋转的方式支承于载置台2、或者设置有该载置台2的结构体等。旋转驱动装置4使该拱形照射部31从预先设定的开始位置起通过检查对象100的铅直方向上侧(在高度方向Z,光反射表面101所在的那一侧)并旋转到结束位置。此处,预先设定的开始位置是拱形照射部31的圆弧状的顶点部31a在高度方向Z位于保持面21的与检查对象100相反一侧,即,比保持面21靠铅直方向下侧的位置。另一方面,预先设定的结束位置是在扫描方向Y与开始位置相反一侧且顶点部31a位于保持面21的与检查对象100相反一侧,即,比保持面21靠铅直方向下侧的位置。旋转驱动装置4被构成为包含:用于使拱形照射部31旋转的作为动力源的马达;利用马达所产生的动力使拱形照射部31旋转的旋转机构;将马达所产生的动力传递到旋转机构的传递齿轮、传递带等传递部件;以及用于驱动该旋转驱动装置4的驱动电路等。对于旋转驱动装置4,将该驱动电路等电连接于控制装置7,基于从该控制装置7输入的控制信号来控制各部的驱动。
摄像装置5对使从拱形照射部31照射的检查光反射的检查对象100的光反射表面101进行拍摄。摄像装置5能够使用例如CCD照相机、CMOS照相机等。本实施方式的摄像装置5相对于该拱形照射部31所进行的光的扫描方向Y,夹着旋转轴线C在两侧设置有至少各1个,其中,该拱形照射部31所进行的光的扫描方向Y是对于伴随着检查对象100与拱形照射部31的相对旋转的该检查对象100。此处,摄像装置5被构成为包含第1照相机51、以及第2照相机52。第1照相机51在扫描方向Y被设置在旋转轴线C的一侧,第2照相机52被设置在旋转轴线C的另一侧。第1照相机51、第2照相机52分别位于拱形照射部31的与检查对象100相反一侧,即拱形照射部31的外侧,且相对于检查对象100相对位置被固定。此处,第1照相机51、第2照相机52通过例如被借助支承框架等被固定第支承于载置台2、或者设置有该载置台2的结构体等,从而分别在拱形照射部31的外侧相对于检查对象100相对位置被固定。第1照相机51、第2照相机52被配置为:在与检查对象100的相对位置被固定的状态下,光轴朝向检查对象100的光反射表面101,该光反射表面101的整体进入拍摄视场角内。即,第1照相机51、第2照相机52分别被配置为能够拍摄光反射表面101的整体。第1照相机51、第2照相机52优选分别将光轴角度(照相机入射角)α(参照图2)设定为例如5°以上30°以下(5°≤α≤30°)程度,但是,不限于此,例如也可以是光轴角度α=0等。此处,光轴角度α相当于第1照相机51、第2照相机52的光轴与保持面21的法线所成的角度。第1照相机51、第2照相机52分别被构成为包含用于驱动该第1照相机51、第2照相机52的驱动电路等。对于第1照相机51、第2照相机52,分别将该驱动电路等电连接于控制装置7,基于从该控制装置7输入的控制信号来控制各部的驱动。另外,第1照相机51、第2照相机52分别能够将拍摄到的图像的图像数据输出到控制装置7。此外,在以下的说明中,在不需要将第1照相机51和第2照相机52特别区别地说明的情况下,仅称为“摄像装置5”。
输出装置6输出与检查装置1中的检查的结果相关的各种信息。输出装置6能够使用例如作为与检查的结果相关的各种信息,输出视觉信息(图像信息、文字信息等)的显示器、显示灯、输出听觉信息(声音信息、音响信息)的扬声器等。输出装置6被构成为包含用于驱动输出装置6的驱动电路等。对于输出装置6,将该驱动电路等电连接于控制装置7,基于从该控制装置7输入的控制信号来控制各部的驱动。
控制装置7构成基于由摄像装置5拍摄到的图像来对检查对象100的光反射表面101进行检查的判定装置。说明本实施方式的判定装置由统一地控制检查装置1的各部的该控制装置7兼用,但不限于此,也可以是与该控制装置7分开构成并相互进行各种信号、信息的收发的构成。控制装置7被构成为包含以公知的微型计算机为主体的电子电路,该公知的微型计算机包含CPU、ROM、RAM及接口。控制装置7经由驱动电路等与照明装置3、旋转驱动装置4、摄像装置5、输出装置6等电连接,并向照明装置3、旋转驱动装置4、摄像装置5、输出装置6等输出控制信号。另外,第1照相机51、第2照相机52所拍摄到的图像的图像数据被输入到控制装置7。控制装置7通过执行被存储在ROM、RAM等中的控制程序,从而向照明装置3、旋转驱动装置4、摄像装置5、输出装置6等输出控制信号并执行用于检查检查对象100的光反射表面101的各种处理。
本实施方式的控制装置7基于一边利用旋转驱动装置4使检查对象100与拱形照射部31相对旋转一边由摄像装置5拍摄到的图像来检查检查对象100的光反射表面101。在此情况下,摄像装置5基于控制装置7的控制,伴随检查对象100与拱形照射部31的相对旋转将检查对象100的光反射表面101拍摄多次,将该拍摄到的多个图像输出到控制装置7。然后,控制装置7基于伴随检查对象100与拱形照射部31的相对旋转由摄像装置5拍摄到的多个图像,来检查检查对象100的光反射表面101的光泽异常。
作为一个例子,控制装置7功能概念地被构成为包含存储部71、照明控制部72、旋转驱动控制部73、拍摄控制部74、图像合成部75、判定部76、以及输出控制部77。存储部71、照明控制部72、旋转驱动控制部73、拍摄控制部74、图像合成部75、判定部76、以及输出控制部77能够在与被电连接起来的各种装置之间收发各种信号、信息。
存储部71是存储器等存储装置,存储有在控制装置7中的各种处理所需的条件、数据、由控制装置7执行的各种程序等。并且,存储部71存储表示由摄像装置5拍摄并被输入到控制装置7中的图像的图像数据。
照明控制部72是向照明装置3输出控制信号并执行对该照明装置3的拱形照射部31的驱动进行控制的处理的部分。照明控制部72通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而控制拱形照射部31的驱动,并使拱形照射部31点亮、消灯。
旋转驱动控制部73是向旋转驱动装置4输出控制信号并执行对该旋转驱动装置4的驱动进行控制的处理的部分。旋转驱动控制部73通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而控制旋转驱动装置4的驱动,并以旋转轴线C为旋转中心,使拱形照射部31相对于检查对象100相对旋转。在检查时,旋转驱动控制部73例如控制旋转驱动装置4,使该拱形照射部31从拱形照射部31的顶点部31a位于比保持面21靠铅直方向下侧的开始位置起,旋转到在扫描方向Y与开始位置相反一侧且顶点部31a位于比保持面21靠铅直方向下侧的结束位置。
控制装置7基于上述照明控制部72的控制来使拱形照射部31点亮,并且,基于上述旋转驱动控制部73的控制来驱动旋转驱动装置4,并使拱形照射部31相对于检查对象100相对旋转。由此,控制装置7能够利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101。
拍摄控制部74是向摄像装置5输出控制信号并执行对该摄像装置5的驱动进行控制的处理的部分。拍摄控制部74通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而控制摄像装置5的驱动,并一边使拱形照射部31相对于检查对象100相对旋转,一边使其拍摄检查对象100的光反射表面101。拍摄控制部74控制摄像装置5,伴随检查对象100与拱形照射部31的相对旋转使其将检查对象100的光反射表面101连续地拍摄多次。拍摄控制部74对于第1照相机51、第2照相机52分别使其伴随检查对象100与拱形照射部31的相对旋转将检查对象100的光反射表面101连续地拍摄多次。由此,控制装置7能够一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101,一边基于上述拍摄控制部74的控制来将该光反射表面101连续地拍摄多次。然后,拍摄控制部74控制摄像装置5,使拍摄到的图像存储在存储部71中。
图像合成部75是对于由摄像装置5拍摄并被存储在存储部71中的多个图像执行各种图像处理的部分。被存储在存储部71中并由图像合成部75实施图像处理的多个图像是一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像。图像合成部75通过对于一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像执行图像处理,从而生成将该多个图像合成的二维图像。图像合成部75通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而对于被存储在存储部71中的光反射表面101的多个图像执行图像处理并生成该二维图像。本实施方式的图像合成部75通过在该光反射表面101的多个图像中将亮度比预先设定的阈值高的区域分别提取,并将该提取的区域沿着扫描方向Y依次接合来合成,从而生成图4、图5所示那样的合成图像201、202。该合成图像201、202相当于在一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像中将该检查光映入的区域提取并合成的图像。图像合成部75对于由第1照相机51拍摄到的光反射表面101的多个图像、及由第2照相机52拍摄到的光反射表面101的多个图像分别执行上述的图像处理。例如,图像合成部75将由第1照相机51拍摄到的光反射表面101的多个图像合成而生成图4所示的合成图像201,将由第2照相机52拍摄到的光反射表面101的多个图像合成而生成图5所示的合成图像202。图像合成部75使所生成的合成图像201、202存储在存储部71中。
此处,如上所述,第1照相机51、第2照相机52位于拱形照射部31的与检查对象100相反一侧,即拱形照射部31的外侧,相对于检查对象100相对位置被固定地设置。因此,该检查装置1若为了利用检查光沿着扫描方向Y扫描光反射表面101而使拱形照射部31相对于检查对象100相对旋转,则拱形照射部31会横穿该第1照相机51、第2照相机52与光反射表面101之间。由此,合成图像201、202会包含相当于因拱形照射部31横穿第1照相机51、第2照相机52与光反射表面101之间而产生的死角的死角图像203。对此,如上所述,检查装置1为如下构成:在扫描方向Y夹着旋转轴线C在一侧设置有第1照相机51,在另一侧设置有第2照相机52。因此,基于第1照相机51所拍摄到的图像的合成图像201与基于第2照相机52所拍摄到的图像的合成图像202是将在光反射表面101中相当于各自的死角图像203的区域的图像相互补充的关系。
判定部76是基于由图像合成部75合成的合成图像201、202来执行对检查对象100的光反射表面101进行检查的处理的部分。判定部76通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而基于合成图像201、202来判定检查对象100的光反射表面101的光泽异常。如图6所示,判定部76从合成图像201、202将亮度相对较低的区域、亮度产生了不均的区域作为光泽异常部位204并进行提取。判定部76在未提取到该光泽异常部位204的情况下,判定为光反射表面101的光泽正常。另一方面,判定部76在提取到了该光泽异常部位204的情况下,判定为光反射表面101的光泽异常。
输出控制部77是向输出装置6输出控制信号并执行对该输出装置6的驱动进行控制的处理的部分。输出控制部77通过执行被存储在存储部71中的各种程序,从而控制输出装置6的驱动,是与判定部76所得到的检查的结果相关的各种信息输出。输出控制部77例如在由判定部76提取到光泽异常部位204并判定为光反射表面101的光泽异常的情况下,控制输出装置6,告知被判定为光反射表面101的光泽异常的内容。输出装置6例如也可以通过在显示器上显示包含光泽异常部位204的图像,或者使显示灯点亮/熄灭,从而告知被判定为光反射表面101的光泽异常的内容。另外,输出装置6例如也可以通过利用扬声器输出音声信息、警告音等,从而告知被判定为光反射表面101的光泽异常的内容。
接下来,参照图7的流程图来说明检查装置1中的控制的一个例子。
首先,控制装置7一边基于旋转驱动控制部73的控制来驱动旋转驱动装置4并使拱形照射部31相对于检查对象100旋转,一边基于照明控制部72的控制来从拱形照射部31向检查对象100照射检查光。而且,控制装置7基于拍摄控制部74的控制来控制摄像装置5并使其连续地拍摄检查对象100的光反射表面101的图像(步骤ST1)。拍摄控制部74使拍摄到的图像存储在存储部71中。
接下来,控制装置7的图像合成部75在步骤ST1中对于由摄像装置5拍摄并被存储在存储部71中的多个图像执行图像处理并伸出合成图像(步骤ST2)。即,图像合成部75通过将在被存储在存储部71中的光反射表面101的多个图像中亮度比预先设定的阈值高的区域分别提取,并将该提取到的区域沿着扫描方向Y順接合而合成,从而生成例如图4、图5所示的合成图像201、202。
接下来,控制装置7的判定部76基于在步骤ST2中由图像合成部75合成的合成图像201、202,从该合成图像201、202提取光泽异常部位204(步骤ST3)。
接下来,判定部76判定是否具有在步骤ST3中提取到的光泽异常部位204(步骤ST4)。
控制装置7的输出控制部77在步骤ST4中判定为具有由判定部76提取到的光泽异常部位204的情况下(步骤ST4:是),控制输出装置6,告知被判定为光反射表面101的光泽异常的内容(步骤ST5),结束该控制。控制装置7在步骤ST4中被判定为没有由判定部76提取到的光泽异常部位204的情况下(步骤ST4:否),不进行步骤ST5的处理,结束该控制。
此外,如上所述构成的检查装置1通过调整拱形照射部31的沿着扫描方向Y的宽度W(参照图2)与从拱形照射部31的顶点部31a到检查对象100的光反射表面101的距离WD(参照图3)的比率W/WD,从而能够调整检查精度与检查中的运算量(运算负荷)的平衡。检查装置1通过将比率W/WD相对减小,换言之,将宽度W相对缩窄,或者将距离WD相对加长,从而能够将映入到光反射表面101的检查光的宽度相对缩窄。而且,在此情况下,检查装置1根据映入到光反射表面101的检查光的宽度,将一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边拍摄该光反射表面101的次数相对增多。由此,检查装置1能够将构成合成图像201、202的图像的数量相对增多,能够将光泽异常部位204的提取精度相对提高,因此,能够将光反射表面101的检查精度相对提高。另一方面,检查装置1通过将比率W/WD相对增大,换言之,将宽度W相对加宽,或者将距离WD相对缩短,从而能够将映入到光反射表面101的检查光的宽度相对加宽。而且,在此情况下,检查装置1根据映入到光反射表面101的检查光的宽度,将一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边拍摄该光反射表面101的次数相对减少。由此,检查装置1能够将构成合成图像201、202的图像的数量相对减少,能够抑制检查中的运算量(运算负荷),因此,能够提高检查效率。检查装置1通过基于上述来调整比率W/WD,从而能够调整检查精度与检查中的运算量(运算负荷)的平衡。
以上说明的检查装置1能够利用照明装置3和摄像装置5和控制装置7,向检查对象100的光反射表面101照射检查光,拍摄使该检查光反射的检查对象100的光反射表面101,基于该拍摄到的图像来检查检查对象100的光反射表面101。在该情况下,检查装置1由于向检查对象100的光反射表面101照射检查光的拱形照射部31是被呈圆弧状地设置在检查对象100的周围并向该检查对象100照射光的构成,所以,例如与照射检查光的照射部被沿着旋转轴向X呈直线状地构成的情况相比较,能够在旋转轴向X实现紧凑化。其结果是,检查装置1能够抑制装置的大型化,例如,使得能够在检查对象100生产线等中的有限的空间中进行检查对象100的检查。
并且,以上说明的检查装置1通过一边驱动旋转驱动装置4并使拱形照射部31相对于检查对象100旋转一边从拱形照射部31向检查对象100照射检查光,从而能够利用来自拱形照射部31的检查光来沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101。而且,检查装置1能够基于一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边由摄像装置5连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像来检查检查对象100的光反射表面101,在此基础上,即使在进行这样的检查的情况下,也能够抑制装置的大型化。
更详细而言,以上说明的检查装置1能够将一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边由摄像装置5连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像合成,并基于该合成的图像来检查光反射表面101的光泽异常。即使在这样的情况下,检查装置1也能够如上所述抑制装置的大型化。
并且,以上说明的检查装置1中,拱形照射部31的两端部31b在高度方向Z位于保持面21的与检查对象100相反一侧,在上述的检查时,能够利用旋转驱动装置4使该拱形照射部31从开始位置旋转到结束位置。此处,拱形照射部31的旋转的开始位置、及结束位置都是拱形照射部31的顶点部31a在高度方向Z位于保持面21的与检查对象100相反一侧的位置。其结果是,即使检查对象100的光反射表面101的端部被形成为曲面状,检查装置1也能够利用拱形照射部31将检查光全面地可靠地照射到被形成为该曲面状的光反射表面101的端部并进行检查,因此,在能够抑制装置的大型化的基础上,还能够提高检查的精度。
在此情况下,代表性地如图2、图3、图8所示,检查装置1优选将拱形照射部31配置为:高度方向Z的光反射表面101的保持面21侧的端部位置102与该拱形照射部31的端部31b的位置沿着高度方向Z的距离为预先设定的设定距离L以上。同样,如图8所示,检查装置1优选将拱形照射部31配置为:该拱形照射部31的旋转的开始位置、结束位置处的顶点部31a的位置与该端部位置102的沿着高度方向Z的距离为该设定距离L以上。该设定距离L代表性地是根据图8所示的第1照相机51、第2照相机52的光轴与保持面21的法线所成的光轴角度α、从拱形照射部31的顶点部31a到检查对象100的光反射表面101的距离WD、检查对象100的光反射表面101的表面切线与保持面21所成的表面切线角度θ2等而决定的距离。设定距离L[mm]能够使用光轴角度α[°]、距离WD[mm]、表面切线角度θ2[°]并用下述的算式(1)表示。作为表面切线角度θ2的适用范围,例如设想0°以上45°以下(0°≤θ2≤45°)左右。
L=WD·Sin(2·θ2+α-90)···(1)
此外,图8中,角度θ3'[°]相当于检查光相对于光反射表面101的入射角,角度θ3[°]相当于检查光相对于光反射表面101的反射角。在此情况下,能够基于用成立的下述的算式(2)~(5)表示的关系式来导出上述的算式(1)。
L=WD·Sin(θ4)···(2)
θ4=θ2-θ3'···(3)
θ3'=θ3···(4)
θ3=90-α-θ2···(5)
拱形照射部31通过被基于该设定距离L以上述那样的几何学位置关系配置,从而将检查光全面地可靠地照射到被形成为曲面状的检查对象100的光反射表面101的端部。
并且,以上说明的检查装置1中,摄像装置5夹着成为检查对象100与拱形照射部31的相对旋转的旋转中心的旋转轴线C在两侧设置有至少各1个。由此,检查装置1能够在一边利用来自拱形照射部31的检查光沿着扫描方向Y扫描检查对象100的光反射表面101一边由摄像装置5连续地拍摄到的光反射表面101的多个图像中,用第1照相机51所拍摄到的图像和第2照相机52所拍摄到的图像来将因拱形照射部31的横穿而产生的死角的区域的图像相互补充。其结果是,检查装置1能够利用1次检查对象100与拱形照射部31的相对旋转将检查光照射到光反射表面101的整面并进行检查,因此,在能够抑制装置的大型化的基础上,还能够抑制检查时间,能够提高检查效率。
此外,上述的本发明的实施方式的检查装置不限定于上述的实施方式,能够在技术方案记载的范围内进行各种变更。
以上说明的检查装置1说明了对检查对象100的光反射表面101的光泽异常进行检查的装置,但是,只要是使用基于从拱形照射部31照射到检查对象100的检查光拍摄到的图像来进行检查的装置即可,不限于此。
以上说明的检查对象100是至少光反射表面101的端部被形成为曲面状的具有透光性的树脂成形品,作为一个例子,说明了被设置在车辆的车厢内侧的车厢灯罩,但是,不限于此,例如,也可以是整体被形成为平面状的检查对象。在此情况下,以上说明的拱形照射部31也可以不被配置为顶点部31a、两端部31b成为上述那样的预定的位置关系。
以上说明的保持面21说明了被形成为水平面,并在铅直方向(高度方向Z)载置检查对象100,从而构成保持该检查对象100的载置面,但是,不限于此,也可以是用保持爪、保持臂等来保持检查对象100的构成。在此情况下,说明了以上说明的高度方向Z代表性地是铅直方向,旋转轴向X、扫描方向Y是水平方向,但是,不限于此,例如高度方向Z也可以被设为沿着水平方向的方向。
以上说明的旋转驱动装置4说明了使拱形照射部31相对于检查对象100旋转,但是,也可以与此相反,是使检查对象100相对于拱形照射部31旋转的构成。另外,以上说明的检查装置1说明了包括旋转驱动装置4,但是,不限于此,也可以是不包括该旋转驱动装置4的构成。在此情况下,检查装置1也可以沿着相当于扫描方向Y的方向并列有多个拱形照射部31。
以上说明的摄像装置5说明了在扫描方向Y夹着旋转轴线C在两侧设置有个1个,但是,不限于此,也可以是1,也可以是3个以上。

Claims (5)

1.一种检查装置,其特征在于,
包括:
照明装置,其具有拱形照射部,所述拱形照射部呈圆弧状地设置在检查对象的周围,并向所述检查对象照射光;
摄像装置,其对所述检查对象的光反射表面进行拍摄,所述检查对象的光反射表面反射从所述拱形照射部照射的光;以及
判定装置,其基于由所述摄像装置拍摄到的图像来检查所述检查对象的所述光反射表面。
2.如权利要求1所述的检查装置,
包括旋转驱动装置,所述旋转驱动装置以沿着将所述拱形照射部的两端部连接的线的旋转轴线为旋转中心使所述检查对象与所述拱形照射部相对旋转,
所述判定装置基于一边利用所述旋转驱动装置使所述检查对象与所述拱形照射部相对旋转一边由所述摄像装置拍摄到的所述图像来检查所述检查对象的所述光反射表面。
3.如权利要求2所述的检查装置,
包括在高度方向保持所述检查对象的保持面,
所述检查对象的至少所述光反射表面的端部被形成为曲面状,
所述拱形照射部的两端部在所述高度方向位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧,
所述旋转驱动装置使该拱形照射部从开始位置旋转到结束位置,所述开始位置是所述拱形照射部的圆弧状的顶点部在所述高度方向位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧的位置,所述结束位置是在伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转该拱形照射部的光对该检查对象的扫描方向在所述开始位置的相反一侧所述顶点部位于所述保持面的与所述检查对象相反一侧的位置。
4.如权利要求2或权利要求3所述的检查装置,
所述摄像装置在伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转该拱形照射部的光对该检查对象的扫描方向,夹着所述旋转轴线在两侧设置有至少各1个,分别位于所述拱形照射部的与所述检查对象相反一侧并相对于该检查对象相对位置被固定。
5.如权利要求2至权利要求4的任一项所述的检查装置,
所述摄像装置伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转将所述检查对象的所述光反射表面拍摄多次,
所述判定装置基于伴随所述检查对象与所述拱形照射部的相对旋转由所述摄像装置拍摄到的多个所述图像,来检查所述检查对象的所述光反射表面的光泽异常。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6595708B2 (ja) * 2016-11-14 2019-10-23 日本碍子株式会社 目封止ハニカム構造体の欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP6988592B2 (ja) * 2018-03-13 2022-01-05 オムロン株式会社 画像検査装置、画像検査方法及び画像検査プログラム
CN112272766A (zh) 2018-05-01 2021-01-26 纳米系统解决方案株式会社 检查装置
KR102303925B1 (ko) * 2020-03-17 2021-09-27 (주)소닉스 곡면제품 검사용 검사장치

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5774212A (en) * 1997-03-19 1998-06-30 General Electric Co. Method and apparatus for detecting and analyzing directionally reflective surface flaws
US6788411B1 (en) * 1999-07-08 2004-09-07 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for adjusting illumination angle
US7626158B2 (en) * 2006-10-23 2009-12-01 Emhart Glass S.A. Machine for inspecting glass containers
EP2251639A1 (de) * 2009-05-12 2010-11-17 Carl Zeiss OIM GmbH Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes
CN201828529U (zh) * 2010-10-27 2011-05-11 大树智能科技(南京)有限公司 烟包外观检测装置
CN104040287A (zh) * 2012-01-05 2014-09-10 合欧米成像公司 用于光学测量的设备及相关方法
WO2015059115A1 (de) * 2013-10-22 2015-04-30 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zur erfassung eines objekts mit kreisbogenförmigen trageelementen
CN205426008U (zh) * 2016-02-02 2016-08-03 三明市前创微控科技有限公司 一种机器视觉装置
US20160282811A1 (en) * 2015-03-26 2016-09-29 Otoy, Inc. Relightable holograms

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5461417A (en) * 1993-02-16 1995-10-24 Northeast Robotics, Inc. Continuous diffuse illumination method and apparatus
JPH09133636A (ja) * 1995-09-07 1997-05-20 Toshiba Corp 照明装置及びこれを適用した欠陥検査装置
JP2000137000A (ja) * 1998-10-30 2000-05-16 Mega Trade:Kk 回転照明光による表面検査装置
JP4627596B2 (ja) * 2001-01-25 2011-02-09 大日本印刷株式会社 光反射体検査装置とその使用方法、光反射体検査方法
JP2002310935A (ja) * 2001-04-19 2002-10-23 Murata Mfg Co Ltd 照明条件抽出方法、照明条件抽出装置、外観検査システム
JP2005337853A (ja) * 2004-05-26 2005-12-08 Tsubakimoto Chain Co 外観検査用照明装置
US7792419B2 (en) * 2005-11-02 2010-09-07 Microscan Systems, Inc. Illuminator-especially for cylindrical curved surfaces
JP2007183225A (ja) * 2006-01-10 2007-07-19 Toyota Motor Corp 光照射装置、面形状検査システム、および面形状検査方法
JP2010091530A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Hitachi Plant Technologies Ltd 異物検査方法および異物検査装置
JP2012013509A (ja) * 2010-06-30 2012-01-19 Kobe Steel Ltd 表面検査装置及び表面検査方法
TW201217682A (en) * 2010-10-28 2012-05-01 Masterwork Automodules Technology Corp Ltd capable of highlighting a detection target of the detected object according to the material, shape, surface roughness, or the reflection degree of the detected object
JP6005666B2 (ja) * 2011-02-08 2016-10-12 セルラー ダイナミクス インターナショナル, インコーポレイテッド プログラミングによる造血前駆細胞の生産
TWI654419B (zh) * 2011-08-29 2019-03-21 美商安美基公司 用於非破壞性檢測-流體中未溶解粒子之方法及裝置
JP6122310B2 (ja) 2013-02-27 2017-04-26 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 検査装置
US9735634B2 (en) * 2014-07-22 2017-08-15 GM Global Technology Operations LLC Split pole spoke type PM machine with enclosed magnets
JP6370177B2 (ja) * 2014-09-05 2018-08-08 株式会社Screenホールディングス 検査装置および検査方法
JP6576059B2 (ja) * 2015-03-10 2019-09-18 キヤノン株式会社 情報処理、情報処理方法、プログラム
GB201518322D0 (en) * 2015-10-16 2015-12-02 Rolls Royce Plc A method for classifying a defect in a component intended to have a monocrystalline
DE102016109803B3 (de) * 2016-05-27 2017-07-06 Eyec Gmbh Inspektionsvorrichtung und Inspektionsverfahren zur Inspektion des Oberflächenbildes einer einen Prüfling darstellenden Flachsache
JP6917762B2 (ja) * 2017-05-09 2021-08-11 株式会社キーエンス 画像検査装置

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5774212A (en) * 1997-03-19 1998-06-30 General Electric Co. Method and apparatus for detecting and analyzing directionally reflective surface flaws
US6788411B1 (en) * 1999-07-08 2004-09-07 Ppt Vision, Inc. Method and apparatus for adjusting illumination angle
US7626158B2 (en) * 2006-10-23 2009-12-01 Emhart Glass S.A. Machine for inspecting glass containers
EP2251639A1 (de) * 2009-05-12 2010-11-17 Carl Zeiss OIM GmbH Vorrichtung und Verfahren zum optischen Inspizieren eines Gegenstandes
CN201828529U (zh) * 2010-10-27 2011-05-11 大树智能科技(南京)有限公司 烟包外观检测装置
CN104040287A (zh) * 2012-01-05 2014-09-10 合欧米成像公司 用于光学测量的设备及相关方法
FI125320B (en) * 2012-01-05 2015-08-31 Helmee Imaging Oy ORGANIZATION AND SIMILAR METHOD FOR OPTICAL MEASUREMENTS
WO2015059115A1 (de) * 2013-10-22 2015-04-30 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Verfahren und vorrichtung zur erfassung eines objekts mit kreisbogenförmigen trageelementen
US20160282811A1 (en) * 2015-03-26 2016-09-29 Otoy, Inc. Relightable holograms
CN205426008U (zh) * 2016-02-02 2016-08-03 三明市前创微控科技有限公司 一种机器视觉装置

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