CN107924156A - 图像加热设备 - Google Patents

Abstract

本图像加热设备包括：用于加热片材上的调色剂图像的环形带；第一检测器，其用于检测环形带的沿着纵向方向的一个端部的温度；第二检测器，其用于检测环形带的沿着纵向方向的另一个端部的温度；和控制器，其用于基于第一检测器和第二检测器的检测温度差的每单位时间的变化量来控制是否发出有关产生错误的警告。

Description

图像加热设备

技术领域

本发明涉及一种用于加热记录材料上的调色剂图像的图像加热设备。

背景技术

通常，在电子照相型成像设备中，由定影装置(图像加热设备)对形成在记录材料(片材)上的调色剂图像加热和加压并且因此定影该调色剂图像。

然后，在近年来，从快速启动性能和节能性能观点来看，使用薄且热容量小的定影带(膜)的定影已经投入实际使用。

在这种使用薄定影带的定影装置中，有可能在定影带的纵向端部部分处产生破裂。例如，存在这样的罕见情况，使得由订书钉紧固的记录材料被引入到定影装置中并且损坏定影带，从而产生破裂。即使在这种罕见情况中，也需要能够快速检测定影带的破裂。

因此，已经提出了一种这样的技术(日本特开专利申请(JP－A)2010－134035)，在所述技术中，提供了一种用于检测定影带的一个纵向端部部分的热敏电阻并且当热敏电阻的检测温度低于预定温度时，检测出定影装置异常。

此外，已经提出了一种技术(JP－A 2014－16411)，在所述技术中，热敏电阻分别检测定影带的一个纵向端部部分和另一个纵向端部部分处的温度并且当它们之间的温差为事先设定的预定温差时，识别出定影带破裂。

然而，在在JP－A 2010－134035中提出的方法中，当在定影带中产生破裂时，由热敏电阻检测的检测温度低于预定温度需要花费时间，并且因此，难以尽早检测温度。

此外，在在JP－A 2014－16411中提出的方法中，在记录材料的引入位置从基准位置移动向定影带的一个纵向端部侧的情况中，可能实施错误检测。这是因为即使在在定影带中没有产生破裂的情况中，两个热敏电阻之间的检测温差也达到了预定温差并且因此作出在定影带中产生破裂的错误检测。

发明内容

根据本发明的一个方面，提供了一种图像加热设备，所述图像加热设备包括：用于加热片材上的调色剂图像的环形带；第一检测器，其用于检测环形带的一个纵向端部部分的温度；第二检测器，其用于检测环形带的另一个纵向端部部分的温度；和控制器，其用于基于第一检测器和第二检测器之间的检测温度的温差的每单位时间的变化量来控制是否提供产生错误的通知。

附图说明

图1是定影装置的截面图；

图2是成像设备的截面图，在所述成像设备中安装有定影装置；

图3是定影装置的截面图；

图4是在产生破裂的情况中的定影装置的示意图；

图5是用于检测错误产生的流程图；

图6是示出了用于提供异常通知的操作部的示意图；

图7是示出了热敏电阻的检测温度变化的曲线图；

图8示出了在朝向一个(纵向)端部移动的片材的通过期间的检测温度变化的曲线图。

具体实施方式

[实施本发明的实施例]

将使用附图在下文描述本发明的优选实施例。

<<第一实施例>>

(成像设备)

图2是成像设备500的截面图，在所述成像设备中安装有定影装置。四个盒7(7a-7d)包括感光鼓单元26(26a-26d)并且包括显影单元4(4a-4d)，所述四个盒7相对于上下方向倾斜地并列，所述感光鼓单元包括作为电子照相感光构件的感光鼓1(1a-1d)。

驱动构件(未示出)在图2中顺时针(沿着Q方向)旋转驱动感光鼓1。在感光鼓1的周围，按照其旋转顺序，设置有清洁构件6(6a-6d)、充电辊2(2a-2d)和显影单元4。在调色剂图像从感光鼓1转印到中间转印带5上之后，清洁构件6移除存留在感光鼓1上的调色剂。被清洁构件6移除的调色剂收集在感光构件单元26(26a-26d)中的调色剂室中。

充电辊2均匀地对感光鼓1的表面充电。在由充电辊2对感光鼓1的表面充电之后，感光鼓1的表面通过单元开口32(32a-32d)暴露于来自扫描器单元(曝光器件)3的激光。结果，静电潜像形成在感光鼓1的表面上。在此实施例中，扫描器单元3布置在盒7的下方。

显影单元4将调色剂供应到形成在感光鼓1上的静电潜像上并且使得静电潜像显影为调色剂图像。显影单元4包括：与感光鼓1接触的显影辊25(25a-25d)，所述显影辊用于将调色剂供应到感光鼓1的表面；和与显影辊25接触的供应辊34(34a-34d)，所述供应辊用于将调色剂供应到显影辊25的表面。

当在记录材料S上形成图像时，首先，盒7使得由扫描器单元3形成在感光鼓1的表面上的静电潜像显影为调色剂图像，然后调色剂图像被转印到中间转印带5上。

中间转印带5通过驱动辊10和张力辊11拉伸并且沿着图2中的箭头R的方向被驱动。在中间转印带5的内侧，与感光鼓1相对地设置有一次转印辊12(12a-12d)，并且由未示出的偏压施加器件将转印偏压施加到一次转印辊12。例如，在使用带负电荷的调色剂的情况中，通过将正偏压施加到一次转印辊12，调色剂图像被相继转印到中间转印带5。

然后，在四种颜色的调色剂图像叠置在中间转印带5上的状态中将四种颜色的调色剂图像供给到二次转印部分15。此时，由转印带清洁装置23移除在记录材料S上进行的二次转印之后存留在中间转移带5上的调色剂，并且移除的调色剂通过残留(废物)调色剂供给路径(未示出)并且由残留(废物)调色剂收集容器(未示出)收集。

另一方面，与上述成像操作同步地，记录材料S被供给机构朝向二次转印部分15供给，所述供给机构包括供给装置13、对准辊对17等。供给装置13包括：供给盒24，其用于容纳多个记录材料S；供给辊8和供给辊对16，其用于供给被供给的记录材料S。

供给盒24能够可拆卸地安装到成像设备1。用户拉出供给盒24并且从成像设备1拆卸供给盒24，然后将记录材料S设置在供给盒24中并且将供给盒24插入到成像设备1中，从而完成记录材料S的供应。

容纳在供给盒24中的记录材料S中的位于最上游部分中的记录材料S随着供给辊8(摩擦分离型)的旋转通过供给辊8和分离垫9的加压接触而被逐一分离然后被供给。从供给装置13供给的记录材料S通过对准辊对17被供给到二次转印部分15。在二次转印部分15处，通过将正偏压施加到二次转印辊18，可以将四种颜色的调色剂图像从中间转印带5二次转印到供给的记录材料S上。

然后，将记录材料(片材)S从二次转印部分15供给到作为图像加热设备的定影装置40，在所述图像加热设备中，热量和压力被施加到转印在记录材料S上的图像，使得图像定影在记录材料S上。此后，通过排放辊对19将其上定影有调色剂图像的记录材料S排放到排放支架20上。

(图像加热设备)

接下来，将描述作为本实施例中的图像加热设备的定影装置40的结构。定影装置40包括定影带(在下文中，还称作定影膜)。在图1中示出了本实施例中的定影装置40的截面图(图2的A-A截面图)并且在图3中示出了定影装置40的截面图(图1中的B-B截面图)。

在图3中，定影装置40包括作为加压构件(可旋转构件)的加压辊106、作为板状加热器的陶瓷加热器100、和定影膜101。而且，定影装置40包括固定凸缘(防止部)104，所述固定凸缘104设置在定影膜的两个纵向端部部分上，用于防止定影膜沿着纵向方向移动，并且所述定影装置包括按压接触构件103，用于在其自身和加压辊106之间形成夹持部N，所述按压接触构件103和所述加压辊106将定影膜101夹在中间。此外，定影装置40包括支架102，所述支架102设置在定影膜的内表面侧上，以便确保按压接触构件103的强度。

(膜单元)

在此，该定影膜101、陶瓷加热器(在下文中称作加热器)100、按压接触构件103、支架102、热敏电阻105和固定凸缘104构成的组件是膜单元111。

1)定影膜

定影膜101是作为发热构件的圆柱形的耐热定影膜，用于将热量传导到记录材料P，所述定影膜101松配合在按压接触构件103周围。定影膜101的定影厚度可以理想地为100μm或更小，优选地50μm或更小且20μm或更大并且具有耐热性能，以便通过减小热容量提高快速启动性能。具体地，可以使用PEEK、PES或FEP的单层膜或聚酰亚胺、聚酰胺、PEEK、PES、PPS或类似物的外周表面涂覆有PTFE、PFA、FEP或类似物构成的复合层膜。此外，还可以使用由金属制成的膜。

2)加热器

100是作为加热器件的加热器。此加热器100具有包括长形薄板状陶瓷基板和形成在基板表面上的通电发热电阻层的基本结构并且是低热容量加热器，所述低热容量加热器通过对发热电阻层通电而以整体急剧温度升高为特征升温。此加热器100由接合槽103a接合和支撑，所述接合槽103a沿着按压接触构件103的纵向方向设置在按压接触构件103的下表面上。

3)按压接触构件

按压接触构件103是耐热隔热构件，所述耐热隔热构件的与记录材料供给方向交叉的方向是纵向方向并且具有截面基本为弓形(半圆形)的形状。按压接触构件103实施以下功能：支持定影膜101；将压力施加到由加压辊106与定影膜101的压接触形成的夹持部N；和在定影膜101旋转期间保持定影膜101的供给稳定性。此外，作为按压接触构件103的材料，使用具有良好隔热和耐热性能的材料，例如，酚醛树脂、聚酰亚胺树脂、聚酰胺树脂、聚酰胺-酰亚胺树脂、PEEK树脂、PES树脂、PPS树脂、PFA树脂、PTFE树脂、LCP树脂或类似物。

4)支架

支架102是用于为按压接触构件103赋予纵向强度的构件，并且所述支架用于通过压抵在由相对软的树脂制成的按压接触构件103的背表面上来矫正按压接触构件103。

5)热敏电阻

作为检测器的热敏电阻105在定影带的内侧上检测在定影带的宽度方向(纵向方向)上的预定位置处的定影带(膜)的温度并且检测定影膜内表面温度，然后将温度反馈给控制器Q(图1)。热敏电阻105包括与定影膜内表面接触的用于检测温度的温度检测元件部分105a并且包括具有弹性的片簧部分105b，所述片簧部分用于以预定接触压力推压抵靠定影膜。此外，热敏电阻105包括保持部分105c，所述保持部分用于通过按压接触构件103固定安装和保持。该片簧部分105b由不锈钢制成而且还构成了温度检测元件部分105a的导电路径。

6)固定凸缘

图3和图1中示出的固定凸缘(防止部)104与按压接触构件103和支架102构成的组件的两个端部接合，并且不仅引导定影膜101的旋转，而且还防止定影膜101滑出。在实施例1中，由可旋转地附接到固定框架112的按压板(未示出)将压力(按压力)施加到布置在定影膜101的两个端部处的固定凸缘104上，使得膜单元111和加压辊106在图1的箭头P方向上被按压。

(加压构件)

在图3中，安装在成像设备500中的未示出的定影马达通过将驱动传递到作为加压构件(可旋转构件)的加压辊106而旋转地驱动所述加压辊，使得定影膜101由加压辊106驱动并且因此沿着图3的箭头E方向旋转。

加压辊106由芯部金属106a构成，所述芯部金属106a由金属和耐热弹性材料层制成，所述耐热弹性材料层围绕芯部金属以辊状模制和覆盖，以便与芯部金属同心地成一体并且由硅橡胶、含氟橡胶、含氟树脂或类似物制成，并且提供了离型层作为表面层。例如，作为离型层的材料，可以选择具有良好的离型性能和耐热性能的材料，例如，含氟树脂、硅树脂、氟硅橡胶、含氟橡胶、硅橡胶、PFA、PTFE、FEP或类似物。

在芯部金属106a的两个端部部分处，由例如PEEK、PPS、液晶聚合物或类似物的耐热树脂制成的承载构件113(图1)被安装、可旋转地保持并设置在固定框架112的侧板上。

(热敏电阻布置方案)

在此实施例中，沿着由图1中的虚线示出的定影膜101的纵向方向布置三个热敏电阻105，并且纵向F侧是105F，中央侧为105C，纵向R侧是105R。热敏电阻105C是具有控制定影装置40的温度(温控)的功能的热敏电阻并且通过检测温度来控制对加热器100的通电。热敏电阻105F和热敏电阻105R相对于纵向中央部分对称布置在定影膜101的纵向端部侧。具体地，热敏电阻105F和热敏电阻105R分别相对于纵向方向对称布置在与中央部分相距153mm的位置处。

在以中央(线)基准实施片材供给的情况中，当最大尺寸的片材通过定影夹持部N时，如果片材通过中央基准位置，则端部部分热敏电阻的检测温度都保持在特定温度(170℃)。此外，如果片材通过移位的位置，则仅其中一个热敏电阻的检测温度逐渐升高。

(破裂检测控制构成)

接下来，将描述这样的控制构成，在所述控制构成中，在片材通过此实施例中的定影装置40期间在定影膜101中产生的破裂的情况下，与热敏电阻105F和105R的检测温度相关联地检测破裂产生。在此实施例中，将描述以中央基准实施片材供给并且如图4所示破裂仅产生在定影膜101的F侧端部部分处的情况作为示例。在定影膜的纵向方向上的破裂长度是W并且在定影膜的周向方向上的破裂长度为L。

将描述这样的情况，在所述情况中，在片材(在该实施例中，为105gsm的A4尺寸)通过期间，在定影膜101中产生破裂并且在纵向方向上的破裂长度W到达热敏电阻105F的位置。然后，造成热敏电阻105F与定影膜101的内表面接触不良或者从定影膜露出，结果热敏电阻105F的检测温度急剧降低。

另一方面，设置在与热敏电阻105F在纵向上对称的位置处的热敏电阻105R连续检测由温度控制持续温控的定影膜内表面的温度，并且因此检测温度保持在基本恒定的温度(在此实施例中为大约190℃)。

此时，热敏电阻105F和热敏电阻105R之间的温差增大。此外，在此实施例中，在此温差增大的时间变化率大于预定值的情况中，破裂被检测到。通过温差的时间变化率检测破裂的原因在于从检测的即时性和防止错误检测的观点来看其非常优秀，这将在下文具体描述。

关于具体检测控制的内容，热敏电阻105F和热敏电阻105R之间的温差为ΔT，并且每(一)秒ΔT的波动(增加或减小)为ΔT/s，并且当满足ΔT/s>10℃时，识别出发生了破裂。

(检测控制流程)

接下来，将使用图5的流程图描述此实施例中检测定影膜101的破裂的控制。顺便提及，在此实施例中，将省略在此实施例中除了定影装置40的控制之外的其它控制。

在图5中，首先，任务开始(A)。然后，实施对定影装置40的加热器100通电，使定影马达旋转，从而实施定影装置40的升温(致动)(B)。接下来，检查热敏电阻105F、C、R是否正常运行(C)。在热敏电阻105F、C、R没有正常运行的情况中，定影装置40或热敏电阻105F、C、R导致异常，并且因此停止成像设备(停机)(O)。在热敏电阻105F、C、R正常运行的情况中，开始使片材通过定影装置40(D)。

在此，关于此实施例中对检测定影膜101的破裂产生的控制，每(一)秒实施是否存在破裂(破裂产生)的识别(每0.1秒实施温差ΔT的数据采集，并且因此，每秒实施10次数据采集，在所述10次的数据采集中实施识别)。

在图5中，在片材通过开始的情况中，热敏电阻105F和热敏电阻105R之间的初始温差变量被定义为T’，并且将初始值0分配给T’，所述初始温差变量是识别1秒间破裂产生(在1秒间识别是否存在破裂)的基准值。此外，经过时间计数器(值)被定义为t，并且初始值0被分配给t(E)。在此，在经过时间超过1秒的情况下，序列进行到(E)，在经过时间小于1秒的情况中，序列进行到(G)(F)。

然后，每隔0.1秒，分别记录此时的热敏电阻105F和105R的检测温度(G)。此外，计算(G)中检测到的相应温度之间的差的绝对值并且将其分配给温差ΔT(H)。仅在检测定时是启动定时(t＝0)的情况中，在(H)中计算的ΔT被分配给T’。该T’是用于进行比较以确定1秒间ΔT增加或减小的程度的基准值。在除了初始1秒检测回路之外的1秒检测回路中，不必更新T’的值并且其为固定值(在(H)中计算的ΔT)，并且序列进行到后续步骤(I)(J)。

然后，作为1秒破裂产生的识别(识别1秒间是否发生破裂)，识别ΔT是否超过T’10℃。在ΔT超过T’10℃的情况中(在1秒间经历数据采集的10次中的温差ΔT的值中的任一个值处于该条件下的情况中)，识别1秒中在定影膜101中产生了破裂，并且立即使成像设备停止(O)。

另一方面，在ΔT没有超过T’10℃的情况中(在1秒间经历数据采集的10次中的温差ΔT的值中的任何一个值都没有处于这个条件下的情况中)，识别在1秒间在定影膜101中没有产生破裂。然后，经过时间计数器t增加0.1秒(由此，添加温差ΔT的一个新数据)并且序列进行到后续步骤(L)。然后，重复步骤E至L直到片材通过结束(M)。

在此，在序列导向成像设备停止的步骤(O)的情况中，在安装在成像设备或与成像设备相连的监测器(未示出)上的面板(未示出)上进行显示(如图6所示)，使得通知用户成像设备出现异常。即，在步骤(K)中，在ΔT超过T’10℃或更多的情况中，识别在定影膜中产生了破裂，并且向用户发出警报。

(本实施例中的检测控制中热敏电阻检测温度变化)

在此实施例中，将使用图7中的U、V和W状态描述从在片材通过期间产生破裂直到检测出定影膜101异常期间热敏电阻的检测温度。图7是示出了热敏电阻105F、105R和105C的检测温度、热敏电阻105F和105R之间的检测温差ΔT和ΔT的时间变化率ΔT/s的曲线图。横轴表示时间t[s]，第一坐标(图7的左侧)代表热敏电阻105F、105R和105C和ΔT的检测温度Th[℃]，并且第二坐标(图7的右侧)代表ΔT的时间变化率ΔT/s的检测温度[℃]。

首先，将描述U。U代表在定影膜101中没有产生破裂的状态并且示出了定影装置40处于片材通过期间的状态。热敏电阻105C的检测温度在作为控制温度的170℃附近发展，并且热敏电阻105F和105R的检测温度在190℃附近发展。此外，在这种状态中检测温差ΔT处于5℃内，并且ΔT/s处于1℃/s内。

接下来，将描述V。V示出了从U状态变化的状态，在所述V状态中，在片材通过期间在定影膜101中产生破裂。热敏电阻105F的检测温度急剧降低而ΔT和ΔT/s急剧升高。最后，将描述W。在从V状态ΔT/s超过10℃/s的定时，通知定影膜101处于具有破裂产生的状态，并且成像设备停机。

(此实施例中检测控制的有效性测试)

作为片材通过期间检测定影装置异常的传统控制的定时，存在在温度控制(对应于图7的U)期间热敏电阻的检测温度是异常偏低温度(在此实施例中为大约80℃)的定时。此外，可以引用热敏电阻的检测温差(微分温差ΔT)异常增加(例如图7中示出的温差ΔT大约为50℃)的情况。在以下项目中检查这种传统控制和此实施例中的控制之间的比较(图7的温差时间变化率ΔT/s)。

(1)检测的即时性

在在定影膜中产生破裂的状态中连续操作涉及产生各种不利影响，并且因此理想的是在检测(到破裂)之后立即停止设备。从这个观点来看，比较上述三种控制中的有效性。当检查图7中所示的破裂产生之后的相应温度变化时，在此实施例的控制中破裂的最快速检测为大约3秒，而在检测微分温差ΔT达到50℃的传统控制中，破裂的后续检测为大约7秒。此外，在检测热敏电阻105F的检测温度低于80℃的传统控制中破裂的检测最慢，从而确定其较之上述两种控制耗费更长时间。

(2)错误检测的防止性能

接下来，在使用相应热敏电阻的温差本身的传统控制和使用相应热敏电阻的温差的时间变化率的本实施例的控制之间执行以下情况中的错误检测性能的比较测试。在此比较测试中，在片材在定影膜纵向方向上连续通过的任务中，记录材料(记录纸)移动到一侧并且经历片材通过(一侧移动的片材通过)。顺便提及，在此实施例中使用的片材为105gsm的A4片材。

图8是这样的曲线图，其示出了在一侧移动的片材通过期间热敏电阻105F、105R和105C的检测温度的相应变化、热敏电阻105F和105R的检测温差ΔT和ΔT的时间变化率ΔT/s。

当记录材料(记录纸)通过定影装置时，记录材料在定影膜中的记录材料(记录纸)的通过区域(片材通过区域)中取热，但是不在记录材料的未通过区域(无片材通过区域)中取热，并且因此无片材通过区域中的温度高于片材通过区域中的温度(无片材通过部分温度升高)。在此，在记录材料(记录纸)移动向热敏电阻105R侧并且通过定影装置时，无片材通过部分温度升高的最高温度部分相对于纵向方向不对称，使得热敏电阻105F和105R之间的检测温度产生差异。因此产生图8中的热敏电阻105F和105R之间检测上的差异。

在因这种单侧移动的片材通过而产生检测温差的情况中，在使用相应热敏电阻之间的温差本身的传统控制中，在在定影膜中没有产生破裂的情况中，在某些情况中温差达到50℃(图8)。即，在这种情况中，作出了在定影膜中产生破裂的错误检测。然而，可以确认的是，在使用相应热敏电阻之间的温差的时间变化率的本实施例的控制中没有产生这种错误检测。

(3)总检测性能

从上文可见，当使用热敏电阻105F和105R之间的温差ΔT的每1秒的波动ΔT/s的此实施例被应用于成像设备500时，可以确定的是，定影膜的破裂检测的即时性优异而且错误检测防止性能优异。

(此实施例的效果)

当使用采用本实施例的定影装置时，在在定影膜中产生的破裂对另一个零部件造成损坏之前，可以快速检测定影膜的破裂而不会发生错误检测。因此，在在定影膜中产生破裂的情况中，其可以通过仅仅更换定影膜或接触定影膜的零部件(例如加压辊)来解决，从而可以实现缩短停机时间并且提高设备可靠性。

(修改实施例)

在上述实施例中，描述了本发明的优选实施例，但是本发明并不局限于此，而是也可以在其范围内进行各种修改。

(修改实施例1)

在上述实施例中，将描述在片材通过期间在定影膜中产生破裂并且在纵向方向上的破裂长度W达到热敏电阻105F的位置的情况，但是即使在破裂长度W没有达到热敏电阻105F的位置时也可以实施类似检测。即，当如图7所示产生破裂时，热敏电阻105F的检测温度比热敏电阻105R的检测温度更加急剧地降低。然后，当温差ΔT的时间变化率ΔT/s超过10℃时，能够检测到破裂。

顺便提及，在上述实施例中，作为示例描述了在定影膜101的F侧上产生破裂的情况，但是即使在在R侧上产生破裂的情况中，与在F侧上产生破裂的情况类似，也可以由热敏电阻105R检测到破裂。

(修改实施例2)

在上述实施例中，计算第一和第二温度检测构件的相应检测温度之间的温差，并且控制器基于计算的温差的时间变化率提供表示定影膜异常的通知(产生破裂)，但是本发明并不局限于此。控制器也可基于第一和第二检测构件的相应检测温度中的至少一个检测温度的时间变化率提供定影膜异常(产生破裂)的通知。

此外，提供单个温度检测构件，而非多个温度检测构件(例如第一和第二温度检测构件)，并且控制器也可以基于检测温度的时间变化率提供定影膜异常(产生破裂)的通知。然而，当基于多个温度检测构件的检测温度的时间变化率通知定影膜的异常(产生破裂)时，可以不受产生破裂的位置的影响并且通过使用多个温度检测构件的检测温度之间的温差的时间变化率更加快速地检测破裂，并且因此优选地使用多个温度检测构件。

(修改实施例3)

在上述实施例中，示出了根据在宽度方向上的一个端部部分侧上的热敏电阻105F和在宽度方向上的另一个端部部分侧上的热敏电阻105R之间的温差的时间变化率的控制，但是本发明并不局限于此。例如，还可以采用根据在宽度方向上的中央部分处的热敏电阻105F(或热敏电阻105R)和热敏电阻105C之间的温差的时间变化率的控制。此外，在多个温度检测构件的数量大于本实施例中的温度检测构件的数量的定影装置构造中，即使使用成对提供使得至少一个温度检测构件处于无片材通过部分附近的组合，也可以根据热敏电阻对的温差的时间变化率实施控制。

(修改实施例4)

根据本发明的图像加热设备包括控制器，所述控制器基于检测温度的时间变化率提供定影膜异常的通知，并且该控制器并不局限于实施关于成像的控制和关于图像加热(定影)的控制这两者的控制器(设置在成像设备中的CPU)。即，控制器也可以是专门实施关于定影的控制的控制器。

此外，根据本发明的图像加热设备并不局限于固定地设置在成像设备中的图像加热设备，而是也可以是组装成一体并且可以拆卸到成像设备的外部然后可以被更换的图像加热设备。在这种情况中，包括控制器在内的图像加热设备可以拆卸和更换，也可以是除了控制器之外的图像加热设备可以拆卸和更换。此外，根据本发明的图像加热设备也可以独立于成像设备单独用作图像加热设备。

(修改实施例5)

在上述实施例中，描述了环形带设置在第一可旋转构件上，但是环形带也可以设置在第二可旋转构件上。此外，环形带还可以设置在第一可旋转构件和第二可旋转构件二者上。

此外，在上述实施例中，描述了这样的情况，在所述情况中，作为可旋转构件和加压构件的可旋转加压构件对可旋转定影构件加压。然而，本发明并不局限于此，而是类似地还可以应用于这样的情况，在所述情况中，由作为可旋转定影构件的定影带(膜)对作为对置构件的第二可旋转构件而不是对加压构件加压。在此，对置构件是与可旋转定影构件相对的构件，并且所述对置构件与可旋转定影构件压接触地形成定影夹持部，所述定影夹持部用于在定影夹持部处夹持移动的记录材料。

在上述实施例中，使用与可旋转定影构件一起旋转的可旋转加压辊构件作为加压构件，但是本发明并不局限于此，而是还可以应用于平板状加压垫，所述平板状加压垫被固定作为加压构件。

此外，在上述实施例中，描述了记录纸作为记录材料，但是本发明中的记录材料并不局限于记录纸。通常，记录材料是在其上由成像设备形成有调色剂图像的片状构件并且包括例如普通纸、厚纸、薄纸、信封、明信片、密封件、树脂片材、OHP片材，光面纸等规则或不规则构件。在上述实施例中，为了方便，使用例如片材通过、片材通过部分、无片材通过部分等术语描述了记录材料(片材)P的处理，但是由此，本发明中的记录材料并不局限于纸。

此外，在上述实施例中，将用于定影片材上的未定影的调色剂图像的定影装置描述为示例，但是本发明并不局限于此，而是类似地还可以应用在用于对暂时定影在片材上的调色剂图像加热和加压的设备上，以便改进图像的光泽度。

[工业可应用性]

提供了一种能够恰当地检测成像设备的定影装置的定影带(膜)的异常的图像加热设备。

Claims (11)

1.一种图像加热设备，包括：

用于加热片材上的调色剂图像的环形带；

第一检测器，其用于检测所述环形带的一个纵向端部部分的温度；

第二检测器，其用于检测所述环形带的另一个纵向端部部分的温度；和

控制器，其用于基于第一检测器和第二检测器之间的检测温度的温差的每单位时间的变化量来控制是否提供产生错误的通知。

2.根据权利要求1所述的图像加热设备，其中，当每单位时间的变化量超过预定值时，所述控制器提供产生错误的通知。

3.根据权利要求2所述的图像加热设备，其中，当每单位时间的变化量没有超过预定值时，所述控制器不提供产生错误的通知。

4.根据权利要求1所述的图像加热设备，其中，当每单位时间的变化量超过预定值时，所述控制器不仅提供产生错误的通知而且还阻止执行图像加热处理。

5.根据权利要求4所述的图像加热设备，其中，当每单位时间的变化量没有超过预定值时，所述控制器不提供产生错误的通知并且允许执行图像加热处理。

6.根据权利要求1所述的图像加热设备，其中，当在执行图像加热处理期间每单位时间的变化量超过预定值时，所述控制器不仅提供产生错误的通知而且还中断执行图像加热处理。

7.根据权利要求6所述的图像加热设备，其中，当在执行图像加热处理期间每单位时间的变化量没有超过预定值时，所述控制器不提供产生错误的通知并且继续执行所述图像加热处理。

8.根据权利要求2所述的图像加热设备，所述图像加热设备包括板状加热器，所述板状加热器在所述环形带的纵向方向上伸长，以便加热所述环形带，

其中，所述第一检测器和所述第二检测器设置在所述板状加热器上。

9.根据权利要求1所述的成像设备，其中，所述错误是所述环形带破裂。

10.根据权利要求1所述的成像设备，所述成像设备还包括可旋转构件，所述可旋转构件是用于夹持并供给在其自身和所述环形带之间的片材的可旋转构件，所述可旋转构件用于旋转地驱动所述环形带。

11.根据权利要求10所述的图像加热设备，所述图像加热设备还包括：

第一防止部分，所述第一防止部分设置成能够抵接在所述环形带的一个纵向端部上，用于防止所述环形带从所述环形带的另一个纵向端部朝向所述一个纵向端部运动，和

第二防止部分，所述第二防止部分设置成能够抵接在所述环形带的所述另一个纵向端部上，用于防止所述环形带从所述一个纵向端部朝向所述另一个纵向端部运动。