CN107561787A - 摩擦配向方法及其装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种摩擦配向方法及其装置。摩擦配向方法包括：在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。本发明通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力获得基板的摩擦痕迹，不仅实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量，而且实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦布缺陷。与现有技术相比，本发明由于是在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量和摩擦布缺陷，因而可以及时发现摩擦缺陷并进行相应的处理，减小了存在摩擦缺陷的基板的数量，最大限度地避免了浪费。

Description

摩擦配向方法及其装置

技术领域

本发明涉及显示技术生产技术领域，具体涉及一种摩擦配向方法及其装置。

背景技术

液晶显示(Liquid Crystal Display，LCD)面板由阵列基板和彩膜基板对盒形成，在阵列基板和彩膜基板之间滴注有液晶。为了使液晶分子在没有电场的情况下按照一定的方向规则排列，阵列基板和彩膜基板的相对面上分别设置有配向膜，配向膜上设置有沿一定方向规则排列的沟槽，沟槽能使液晶分子在无电场的情况下，沿着沟槽按照设定的方向均匀的排列在基板表面，实现多个液晶分子的配向。通常，配向膜上的沟槽通过包裹在摩擦辊(Roller)上的摩擦布(Rubbing Cloth)以一定方向和压入量对涂覆并固化在基板上的配向膜进行摩擦形成。因此，摩擦配向工艺是制造液晶显示面板的一道重要工序，摩擦配向质量直接影响到液晶显示面板的品质。

通常，阵列基板和彩膜基板的表面存在段差，段差是指基板经过多道工艺而形成的表面结构高低不平的状态。例如，每次干刻和湿刻后，因部分区域的图案被刻蚀掉会形成表面的高低不平。在摩擦配向过程中，当摩擦辊在基板表面沿设定的方向滚动时，基板表面段差会导致摩擦布出现局部多毛、少毛或损伤等缺陷，这些缺陷在后续摩擦中，会造成其处理的区域配向能力与正常区域存在差异，形成局部区域液晶配向的预倾角的不同或反转，即出现摩擦缺陷(Rubbing Mura)，导致显示不良。

目前，针对摩擦配向这种微观的过程，现有技术无法在摩擦配向过程中对配向质量进行有效的监控，仅能实现在摩擦配向完成后通过检测基板得知摩擦缺陷，但这种后续检测即使检测到摩擦缺陷时，已经有大量的基板配向完成，造成较大的浪费。因此，如何在摩擦配向过程有效的监控配向质量，是本领域亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明实施例所要解决的技术问题是，提供一种摩擦配向方法及其装置，实现在摩擦配向过程有效监控配向质量。

为了解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种摩擦配向方法，包括：

在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

可选地，所述测量摩擦布的回弹力包括：

采用回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。

可选地，所述根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹包括：

数据处理装置根据所述测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据所述摩擦布的回弹力获得所述摩擦位置的摩擦痕迹。

可选地，还包括：

根据所述摩擦痕迹判断摩擦配向的质量。

可选地，还包括：

判断所述回弹力超出预先设置的标准阈值时，对摩擦痕迹进行标记；

根据所述标记确定摩擦布的缺陷点。

可选地，在对基板进行摩擦配向之前，还包括：

测量摩擦布绒毛的特征长度；

计算所述特征长度的均值和偏差值；

判断所述偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值，是则根据所述均值设置摩擦布的压入量，根据所述压入量控制摩擦布压入基板，开始摩擦配向；否则对摩擦布进行检查。

为了解决上述技术问题，本发明实施例还提供了一种摩擦配向装置，包括对基板进行摩擦配向处理的摩擦辊，还包括回弹力测量装置和数据处理装置，所述回弹力测量装置用于在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，所述数据处理装置与所述回弹力测量装置电连接，用于根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

可选地，还包括显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置电连接，用于显示所述基板的摩擦痕迹。

可选地，所述数据处理装置包括接收单元、判断单元、生成单元和存储单元；其中，

所述接收单元与所述回弹力测量装置连接，用于从所述回弹力测量装置接收测量结果，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力；

所述存储单元，用于存储预先设置的标准回弹力和标准阈值；

所述判断单元分别与所述接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收所述测量结果，根据所述测量位置从存储单元中读取相应位置的标准回弹力和标准阈值，计算所述摩擦布的回弹力与标准回弹力的差值，并判断所述差值大于所述标准阈值时，向生成单元发送标记指令；

所述生成单元分别与接收单元和判断单元连接，用于从接收单元接收测量结果，根据测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据摩擦布的回弹力获得摩擦布摩擦基板上该摩擦位置的摩擦痕迹；还用于从判断单元接收标记指令，根据标记指令对摩擦痕迹位置进行标记。

可选地，还包括特征长度测量装置，所述特征长度测量装置用于测量摩擦辊上多个位置的摩擦布绒毛的特征长度，并对测量得到的多个位置的摩擦布绒毛的特征长度进行统计处理，获得特征长度的均值和偏差值；所述数据处理装置包括接收单元、判断单元、设置单元、存储单元和报警单元；其中，

所述接收单元与所述特征长度测量装置连接，用于从所述特征长度测量装置接收特征长度的均值和偏差值；

所述存储单元，用于存储预先设置的标准偏差值；

所述判断单元分别与所述接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收特征长度的均值和偏差值，从存储单元中读取标准偏差值，判断所述偏差值是否小于或等于所述标准偏差值，是则将所述特征长度的均值发送给设置单元，否则向报警单元输出报警信号；

所述设置单元与所述判断单元连接，用于接收判断单元发送的特征长度的均值，根据所述特征长度的均值设置摩擦布的压入量，并将压入量发送给摩擦辊控制装置；

所述报警单元与所述判断单元连接，用于接收判断单元发送的报警信号进行报警处理。

本发明实施例所提供的摩擦配向方法及其装置，通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力获得基板的摩擦痕迹，不仅实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量，而且实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦布缺陷。与现有技术相比，本发明实施例由于是在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量和摩擦布缺陷，因而可以及时发现摩擦缺陷并进行相应的处理，减小了存在摩擦缺陷的基板的数量，最大限度地避免了浪费。进一步地，通过在摩擦配向之前判断摩擦布是否存在缺陷，且根据摩擦布的实际特性确定压入量，不仅保证了使用符合要求的摩擦布，而且可保持摩擦配向质量的一致性，最大限度地提高了摩擦配向工艺的生产质量和正品率。

当然，实施本发明的任一产品或方法并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。本发明的其它特征和优点将在随后的说明书实施例中阐述，并且，部分地从说明书实施例中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。附图中各部件的形状和大小不反映真实比例，目的只是示意说明本发明内容。

图1为本发明实施例摩擦配向方法的流程图；

图2为本发明摩擦配向方法第一实施例的流程图；

图3为本发明摩擦配向方法第二实施例的流程图；

图4为本发明摩擦配向方法第三实施例的流程图；

图5为本发明摩擦配向装置的结构示意图；

图6为本发明摩擦配向装置第一实施例的结构示意图；

图7为本发明摩擦配向装置第二实施例的结构示意图；

图8为本发明阵列压面传感成像装置的结构示意图；

图9为本发明摩擦配向装置第三实施例的结构示意图。

附图标记说明:

1—基台； 2—机架； 3—摩擦辊；

4—支架； 5—回弹力测量装置； 6—基板；

7—数据处理装置； 8—显示装置； 51—压力调整层；

52—三维压力感知层； 53—压力感知层； 54—柔性表面感知层。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。

图1为本发明实施例摩擦配向方法的流程图。如图1所示，本发明实施例摩擦配向方法包括：

S1、对基板进行摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

S2、根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

其中，步骤S1中“测量摩擦布的回弹力”包括：

采用回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。

其中，步骤S2包括：

数据处理装置根据所述测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据所述摩擦布的回弹力获得所述摩擦位置的摩擦痕迹。

本发明实施例提供了一种摩擦配向方法，针对摩擦配向这种微观的过程，可以实时地反映摩擦配向效果。本发明实施例的技术思路是，对于正常的摩擦配向过程，相同的压入量和摩擦压力下，摩擦布会产生相同的回弹力。同时，相同的压入量和摩擦压力下，摩擦布会在基板上形成相同的摩擦痕迹，即形成相同的沟槽。因此，摩擦布的回弹力与基板上的摩擦痕迹存在对应关系，通过测量摩擦布的回弹力，可以获得相应的摩擦痕迹，因而可以根据摩擦痕迹判断摩擦配向效果。

具体地，可以将包裹在摩擦辊上的摩擦布理解成一个弹性柱体，在弹性柱体压入基板表面时，弹性柱体的接触点(或线)会产生弹性变形。当弹性柱体与基板表面脱离接触时，弹性柱体因受力消失，接触点将产生回弹力，并在回弹力的作用下逐渐回复原来的形状。因此，回弹力可以理解为摩擦布因为受力消失而恢复到原来位置所产生的力，回弹力大小可以反映摩擦布是否能够恢复到正常形状。如果摩擦布摩擦后没有恢复到原来的位置，则这个位置会造成缺陷，在后续摩擦配向时，会造成摩擦不良。基于此，本实施例在摩擦布对基板进行摩擦时，采用回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果至少包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。数据处理装置接收到回弹力测量装置发送的测量结果后，根据测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据摩擦布的回弹力获得摩擦布摩擦基板上该摩擦位置的摩擦痕迹，即获得基板上该摩擦位置的摩擦痕迹。在摩擦配向过程中，通过多点和多时刻测量，数据处理装置可以获得整个基板的摩擦痕迹。可以理解的是，虽然摩擦布摩擦基板的摩擦时刻与测量回弹力的测量时刻不同，但由于包裹在摩擦辊上的摩擦布以恒定的转速和移动速度对基板进行摩擦，因此对于摩擦布来说，测量时刻的测量位置可以转化为摩擦时刻的摩擦位置。同样，由于摩擦辊的转速和移动速度恒定，因此摩擦布的摩擦位置与基板上的摩擦位置是一一对应的。也就是说，在某一摩擦时刻，摩擦布的摩擦位置与基板上的摩擦痕迹的位置一一对应，进而在某一测量时刻，摩擦布的测量位置与基板上的摩擦痕迹的位置一一对应。

下面通过具体实施例详细说明本发明实施例的技术方案。

第一实施例

图2为本发明摩擦配向方法第一实施例的流程图。如图2所示，本实施例摩擦配向方法包括：

S11、对基板进行摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

S12、根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹；

S13、根据所述摩擦痕迹判断摩擦配向的质量。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，实现了在摩擦配向过程中对配向质量进行有效的监控。本实施例的技术思路是，对于摩擦配向，配向能力是指配向膜使液晶分子沿某一方向排列能力的强弱，可以通过测量配向膜的光学各向异性值DΔ来表征。DΔ越大，配向能力越强，若配向能力弱，一方面会使液晶分子排列不均一，从而发生漏光，另一方面会使液晶分子排列易受横向电场和基板段差的影响，从而造成预倾角反转。例如，配向设计是控制液晶分子以正5度方向排列，结果却是液晶分子以负5度方向排列。研究表明，配向膜的光学各向异性值DΔ与摩擦痕迹相关，因此通过摩擦痕迹可以判断配向膜的配向能力，进而判断摩擦配向的质量。

本实施例中，整个基板的摩擦痕迹可以采用显示装置的人机交互界面通过图形、图像或表格等方式显示出来。步骤S11和S12的技术思路和技术手段与前述步骤S1和S2相同，这里不再赘述。在步骤13判断摩擦配向质量中，本实施例可以通过对整个基板的摩擦痕迹进行分析，获得基板上的摩擦缺陷(Rubbing Mura)。通常，按照摩擦缺陷的产生机理不同，摩擦缺陷可分为摩擦缺陷A和摩擦缺陷B两大类。摩擦缺陷A的产生机理是，基板表面段差会导致摩擦布出现局部多毛、少毛或损伤等缺陷，这些缺陷造成其经过的区域配向能力与正常区域存在差异。摩擦缺陷B的产生机理是，将摩擦布卷设在摩擦辊的过程中，因操作失误使摩擦布之间存在布缝，而该布缝所经过的区域会在配向膜上形成有固定宽度的纹路。例如，当摩擦辊转速20转/秒、摩擦辊移动速度25毫米/秒时，布缝所形成纹路宽度为25/20＝1.25毫米。由此可见，将整个基板的摩擦痕迹直观显示出来，显示装置上显示界面的坐标与基台坐标相对应，通过坐标比对即可确定摩擦缺陷区域，因而可以快速地识别出基板上的摩擦缺陷。实际实施时，还可以借助图像识别、数据统计等手段，进一步对整个基板的摩擦痕迹进行分析，获得精确的配向能力参数。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力获得基板的摩擦痕迹，从而实现了在摩擦配向过程中对摩擦配向质量的判断。与后续检测摩擦缺陷的现有技术相比，本实施例由于是在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量，因而可以及时发现摩擦缺陷并进行相应的处理，减小了存在摩擦缺陷的基板的数量，最大限度地避免了浪费。

第二实施例

图3为本发明摩擦配向方法第二实施例的流程图。如图3所示，本实施例摩擦配向方法包括：

S21、对基板进行摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

S22、根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹；

S23、判断所述回弹力超出预先设置的标准阈值时，对所述回弹力所对应的摩擦痕迹进行标记；

S24、根据所述标记确定摩擦布的缺陷点。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，实现了在摩擦配向过程中对摩擦布的缺陷进行有效的监控。本实施例的技术思路是，对于正常的摩擦配向过程，相同的压入量和摩擦压力下，摩擦布会产生相同的回弹力，当摩擦布异常时，摩擦布与基板之间的摩擦力会发生变化，因而会导致回弹力发生变化。因此，摩擦布的回弹力与摩擦布的摩擦状态存在对应关系，通过测量摩擦布的回弹力，可以获得摩擦布的摩擦状态，因而可以根据摩擦布的摩擦状态判断摩擦布的缺陷。

摩擦配向工艺中，在量产前通常会根据所处理的基板以及相应处理要求选定相应规格的摩擦布。选定摩擦布后进行摩擦测试，使用该摩擦布对标准基板进行摩擦，并记录标准基板的摩擦痕迹。当摩擦配向质量满足要求时，数据处理装置对标准基板的摩擦痕迹进行处理，将标准基板的摩擦痕迹转换为摩擦布多个位置的回弹力，将这些回弹力作为摩擦布多个位置的标准回弹力并存储在数据处理装置中。实际实施时，摩擦测试可以进行多次，数据处理装置可以得到摩擦布某一个位置的多个回弹力，通过数据处理得到该位置的平均回弹力，作为该位置的标准回弹力。

考虑到量产时每次摩擦辊的压入量、摩擦辊的转速、移动速度以及基板段差会有不同，本实施例在标准回弹力基础上，设置一个标准阈值，并由标准回弹力和标准阈值组成标准回弹力区间，作为摩擦布正常摩擦时相应位置所应具有的回弹力的范围。例如，标准回弹力A，标准阈值为ΔA，则标准回弹力区间为[A-ΔA，A+ΔA]。

在摩擦布对基板进行摩擦配向过程中，回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，将测量结果发送给数据处理装置，测量结果至少包括测量时刻、测量位置和所测量的回弹力。数据处理装置接收到回弹力测量装置发送的测量结果后，根据测量位置读取所存储的相应位置的标准回弹力，计算所测量的回弹力与标准回弹力的差值，并判断该差值是否大于预先设置的标准阈值。当差值小于或等于标准阈值时，即所测量的回弹力位于标准回弹力区间之内，说明回弹力变化量小，摩擦布与基板之间的摩擦力变化小，摩擦布的摩擦状态正常。当差值大于标准阈值时，即所测量的回弹力位于标准回弹力区间之外，说明回弹力变化量大，摩擦布与基板之间的摩擦力发生较大变化，摩擦布的摩擦状态异常，摩擦布可能存在缺陷点。当判断出摩擦布摩擦状态异常时，数据处理装置记录摩擦状态异常的测量位置，根据测量时刻和测量位置获得基板上对应的摩擦痕迹位置，对该摩擦痕迹位置进行标记。

本实施例中，由于基板上摩擦痕迹的位置与摩擦布的位置一一对应，因此当判断摩擦配向质量不符合要求时，可以通过标记的位置确定摩擦布的缺陷点。当摩擦布出现缺陷点时，摩擦布上缺陷点所经过区域的配向能力可能与正常区域存在差异，正常区域是指配向能力符合要求的区域。摩擦布的缺陷可能是因摩擦布绒毛粘连导致的局部多毛，也可能是因基板表面段差导致的局部少毛或损伤，可以根据实际情况进行相应处理，如梳理或更换摩擦布。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力变化判断摩擦布的摩擦状态，从而实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦布缺陷。由于本实施例是在摩擦配向过程中判断摩擦布是否存在缺陷，且可以获得摩擦布的缺陷点，因而可以及时对摩擦布进行相应处理，消除缺陷点，提高了摩擦配向工艺的生产质量和正品率。

第三实施例

图4为本发明摩擦配向方法第三实施例的流程图。如图4所示，本实施例摩擦配向方法包括：

S31、测量摩擦布绒毛的特征长度；

S32、计算所述特征长度的均值和偏差值；

S33、判断所述偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值，是则执行步骤34，否则执行步骤38；

S34、根据所述均值设置摩擦布的压入量；

S35、根据所述压入量控制摩擦布压入基板，开始摩擦配向；

S36、对基板进行摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

S37、根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹；

S38、对摩擦布进行检查。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，实现了在摩擦配向之前检查摩擦布的质量，从而可保持摩擦配向质量的一致性，提高了摩擦配向工艺的生产质量和正品率。本实施例的技术思路是，由于回弹力可以理解为摩擦布绒毛恢复到原来位置所产生的力，因此绒毛恢复到原来位置，说明摩擦布回弹力正常，进而说明摩擦布的摩擦状态正常，而绒毛未恢复到原来位置，说明摩擦布回弹力不正常，进而说明摩擦布的摩擦状态异常。因此，摩擦布绒毛的特性与摩擦布的回弹力存在对应关系，通过测量摩擦布绒毛的特征长度，可以获得摩擦布回弹力的情况，进而获得摩擦布的摩擦状态。

本实施例中，摩擦布绒毛的特征长度是指，摩擦布绒毛端部距离摩擦辊中心的距离。摩擦布正常状态时，在回弹力的作用下，绒毛应该恢复到原来的位置，因此在绒毛位于自然下垂的位置时，绒毛应该具有相应的长度。如果在自然下垂位置，绒毛的长度过长或过短，说明摩擦布回弹力不正常，进而可以推断出摩擦布或绒毛可能有损伤。为此，本实施例提出了在摩擦配向之前的摩擦辊下降过程中，通过测量摩擦布绒毛的特征长度判断摩擦布摩擦状态的方案。具体地，先在摩擦辊下降路径上设置一个预设基准线，该基准线与摩擦辊中心轴平行。然后摩擦辊从起始位置开始下降，下降过程中，测量摩擦布绒毛到达该预设基准线时摩擦辊的下降距离。由于摩擦辊起始位置与预设基准线之间的距离是已知的，因此根据摩擦辊的下降距离可以得到摩擦布绒毛的特征长度，即摩擦布绒毛端部距离摩擦辊中心的距离。实际上，摩擦辊一次下降过程中，可以测量摩擦辊上多个位置的摩擦布绒毛的特征长度。摩擦辊回到起始位置后转动一个角度，重复下降过程，可以测量摩擦辊上所有位置的摩擦布绒毛的特征长度。之后，对测量得到的所有位置的摩擦布绒毛的特征长度进行统计处理，获得特征长度的均值和偏差值。实际实施时，均值可以是算数平均值，偏差值可以是测量值与算数平均值之差，也可以采用几何平均值和方差等。之后，判断各个位置的偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值。同样，摩擦配向工艺中，在量产前通常会根据所处理的基板以及相应处理要求选定相应规格的摩擦布。选定摩擦布后进行摩擦布绒毛的特征长度测量，将这些摩擦布绒毛的特征长度作为标准特征长度，在标准特征长度基础上，设置一个标准偏差值，并由标准特征长度和标准偏差值组成标准特征长度区间，作为摩擦布状态正常时摩擦布绒毛应具有的长度范围。当所有位置的偏差值均小于或等于标准偏差值时，说明摩擦布绒毛尺寸均一，摩擦布的摩擦状态正常，可以保证摩擦配向质量的一致性。当某个或某几个位置的偏差值大于标准偏差值时，说明摩擦布或绒毛可能有损伤，摩擦布的摩擦状态异常，需要停止生产，对摩擦布进行检查。

当判断出所有位置的偏差值均小于或等于标准偏差值时，则根据特征长度的均值设置摩擦布的压入量。通常，绒毛的长度(绒毛端部与摩擦布表面的距离)与摩擦痕迹存在对应关系。例如，在相同的压入量下，绒毛越长，摩擦痕迹越深，绒毛越短，摩擦痕迹越浅。因此，为了保证摩擦痕迹的一致性，本实施例提出了根据摩擦布绒毛的特征长度调整压入量的方案。例如，当摩擦布绒毛的特征长度较大时，设置较小的摩擦布压入量，当摩擦布绒毛的特征长度较小时，设置较大的摩擦布压入量，可以保证摩擦配向过程中摩擦痕迹的一致性。随后，根据所设置的压入量控制摩擦布压入基板(即压入基板表面的配向层)，开始摩擦配向处理。摩擦配向处理过程中，步骤S36和S37的技术思路和技术手段与前述步骤S1和S2相同，这里不再赘述。

实际实施时，本实施例根据摩擦布绒毛的特征长度调整压入量的方案，也可以扩展为根据摩擦布绒毛的特征长度调整压入量和旋转速度、调整压入量和移动速度、或调整压入量、旋转速度和移动速度的方案。进一步地，本实施例检查摩擦布质量的方案，也可以应用到选择摩擦布的处理中，通过选用回弹性符合要求的摩擦布进行摩擦配向处理，最大限度地提高摩擦配向的质量。

本实施例提供了一种摩擦配向方法，实现了在摩擦配向之前检查摩擦布的质量。由于本实施例是在摩擦配向之前判断摩擦布是否存在缺陷，且根据摩擦布的实际特性确定压入量，因此不仅保证了使用符合要求的摩擦布，而且可保持摩擦配向质量的一致性，最大限度地提高了摩擦配向工艺的生产质量和正品率。

实际实施时，前述第一、第二和第三实施例可以相互组合。

第四实施例

图5为本发明摩擦配向装置的结构示意图。如图5所示，本实施例摩擦配向装置的主体结构包括基台1、机架2、摩擦辊3、支架4、回弹力测量装置5和数据处理装置，基台1用于承载待摩擦配向处理的基板6，用于对基板6进行摩擦配向处理的摩擦辊3滑动连接在基架2上，回弹力测量装置5设置在支架4上，支架4与基架2连接，同时回弹力测量装置5与数据处理装置(未示出)电连接。其中，基台1、机架2和摩擦辊3可以采用现有摩擦配向装置的结构形式，基板6放置在基台1上后，摩擦辊3在摩擦辊控制装置的控制下沿着基架2向下运动，根据设定的压入量压入基板后开始摩擦配向处理，使包裹在摩擦辊上的摩擦布以设定方向和压入量对基板6表面的配向膜进行摩擦。为了在摩擦配向过程中实时反映摩擦配向效果，本实施例设置了支架4、回弹力测量装置5和数据处理装置，支架4连接在机架2上，回弹力测量装置5设置在支架4，并与数据处理装置电连接。在摩擦布对基板6进行摩擦过程中，回弹力测量装置5对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果至少包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。数据处理装置接收到回弹力测量装置发送的测量结果后，根据测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据摩擦布的回弹力获得摩擦布摩擦基板上该摩擦位置的摩擦痕迹，从而获得整个基板的摩擦痕迹。

图6为本发明摩擦配向装置第一实施例的结构示意图。如图6所示，本实施例摩擦配向装置是在图5所示结构基础上，还包括显示装置8，显示装置8与数据处理装置7电连接，用于接收数据处理装置7发送的整个基板的摩擦痕迹，并通过人机交互界面以图形、图像或表格等方式显示整个基板的摩擦痕迹。

本实施例中，回弹力测量装置可以采用压电超声传感器，进行非接触式的回弹力测量。压电超声传感器通常包括压电式超声波发送器和超声波接收器，压电式超声波发送器利用压电晶体的逆向压电效应，超声波接收器利用正向压电效应，本实施例作为回弹力测量装置的压电超声传感器可以采用现有成熟产品。

图7为本发明摩擦配向装置第二实施例的结构示意图。如图7所示，本实施例摩擦配向装置是在图5所示结构基础上，还包括显示装置8，数据处理装置7包括接收单元、判断单元、生成单元和存储单元。其中，接收单元与回弹力测量装置5连接，用于接收回弹力测量装置5发送的测量结果。存储单元用于存储预先设置的标准回弹力和标准阈值。判断单元分别与接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收测量结果，根据测量结果中的测量位置从存储单元中读取相应位置的标准回弹力和标准阈值，计算测量结果中摩擦布的回弹力与标准回弹力的差值，并判断该差值大于预先设置的标准阈值时，向生成单元发送标记指令。生成单元分别与接收单元和判断单元连接，一方面用于从接收单元接收测量结果，根据测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据摩擦布的回弹力获得摩擦布摩擦基板上该摩擦位置的摩擦痕迹，另一方面用于从判断单元接收标记指令，根据标记指令对摩擦痕迹位置进行标记。显示装置8与数据处理装置7的生成单元连接，用于接收生成单元发送的整个基板的摩擦痕迹以及标记，通过人机交互界面进行显示。

本实施例中，回弹力测量装置可以采用阵列压面传感成像装置，通过接触方式进行回弹力测量。图8为本发明阵列压面传感成像装置的结构示意图。如图8所示，阵列压面传感成像装置的主体结构包括依次叠设的压力调整层51、三维压力感知层52、压力感知层53和柔性表面感知层54，其中，柔性表面感知层54用于感知摩擦布表面的表面平整信息，压力感知层53用于感知摩擦布与阵列压面传感成像装置间的竖直方向作用力信息，三维压力感知层52用于感知摩擦布与阵列压面传感成像装置间的水平方向作用力信息，控制单元根据接收的上述信息向压力调整层51发送控制命令，调整阵列压面传感成像装置向摩擦施加的力。通常，柔性表面感知层54采用柔性导电复合材料作为静态凹凸平面压力感知的贴合材料，压力感知层53包括由压电材料制成的若干个压电子结构和对应的处理电路，每一个压电子结构与被压物的一个子区域位置相对应，三维压力感知层52包括压感面上的三维压敏感知单元，压力调整层51包括平整度调节机构和预置连接的控制，本实施例作为回弹力测量装置的阵列压面传感成像装置可以采用现有已知的结构。

图9为本发明摩擦配向装置第三实施例的结构示意图。如图9所示，本实施例摩擦配向装置是在图5所示结构基础上，还包括特征长度测量装置，特征长度测量装置用于测量摩擦辊上多个位置的摩擦布绒毛的特征长度，并对测量得到的所有位置的摩擦布绒毛的特征长度进行统计处理，获得特征长度的均值和偏差值。本实施例中，数据处理装置7包括接收单元、判断单元、设置单元、存储单元和报警单元。其中，接收单元与特征长度测量装置连接，用于接收特征长度测量装置发送的特征长度的均值和偏差值。存储单元用于存储预先设置的标准偏差值。判断单元分别与接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收特征长度的均值和偏差值，从存储单元中读取标准偏差值，判断偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值，当判断出偏差值小于或等于标准偏差值时，将特征长度的均值发送给设置单元，当判断出偏差值大于标准偏差值时，向报警单元输出报警信号。设置单元与判断单元连接，用于接收判断单元发送的特征长度的均值，根据特征长度的均值设置摩擦布的压入量，并将压入量发送给摩擦辊控制装置。报警单元与判断单元连接，用于接收判断单元发送的报警信号进行报警处理，提示生产人员需要停止生产，对摩擦布进行检查。

实际实施时，前述图5～图9所示结构可以相互组合。

本发明实施例提供了一种摩擦配向装置，通过在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，并根据回弹力获得基板的摩擦痕迹，不仅实现了在摩擦配向过程中对摩擦配向质量的判断，而且实现了在摩擦配向过程中有效监控摩擦布缺陷。与现有技术相比，本发明实施例由于是在摩擦配向过程中有效监控摩擦配向质量和摩擦布缺陷，因而可以及时发现摩擦缺陷并进行相应的处理，减小了存在摩擦缺陷的基板的数量，最大限度地避免了浪费。进一步地，通过在摩擦配向之前判断摩擦布是否存在缺陷，且根据摩擦布的实际特性确定压入量，不仅保证了使用符合要求的摩擦布，而且可保持摩擦配向质量的一致性，最大限度地提高了摩擦配向工艺的生产质量和正品率。

在本发明实施例的描述中，需要理解的是，术语“中部”、“上”、“下”、“前”、“后”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

虽然本发明所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。任何本发明所属领域内的技术人员，在不脱离本发明所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (10)

1.一种摩擦配向方法，其特征在于，包括：

在摩擦配向过程中，测量摩擦布的回弹力；

根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

2.根据权利要求1所述的摩擦配向方法，其特征在于，所述测量摩擦布的回弹力包括：

采用回弹力测量装置对摩擦布的回弹力进行测量，并将测量结果发送给数据处理装置，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力。

3.根据权利要求2所述的摩擦配向方法，其特征在于，所述根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹包括：

数据处理装置根据所述测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据所述摩擦布的回弹力获得所述摩擦位置的摩擦痕迹。

4.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，还包括：

根据所述摩擦痕迹判断摩擦配向的质量。

5.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，还包括：

判断所述回弹力超出预先设置的标准阈值时，对摩擦痕迹进行标记；

根据所述标记确定摩擦布的缺陷点。

6.根据权利要求1～3任一所述的摩擦配向方法，其特征在于，在对基板进行摩擦配向之前，还包括：

测量摩擦布绒毛的特征长度；

计算所述特征长度的均值和偏差值；

判断所述偏差值是否小于或等于预先设置的标准偏差值，是则根据所述均值设置摩擦布的压入量，根据所述压入量控制摩擦布压入基板，开始摩擦配向；否则对摩擦布进行检查。

7.一种摩擦配向装置，包括对基板进行摩擦配向处理的摩擦辊，其特征在于，还包括回弹力测量装置和数据处理装置，所述回弹力测量装置用于在摩擦配向过程中测量摩擦布的回弹力，所述数据处理装置与所述回弹力测量装置电连接，用于根据所述回弹力生成基板的摩擦痕迹。

8.根据权利要求7所述的摩擦配向装置，其特征在于，还包括显示装置，所述显示装置与所述数据处理装置电连接，用于显示所述基板的摩擦痕迹。

9.根据权利要求7或8所述的摩擦配向装置，其特征在于，所述数据处理装置包括接收单元、判断单元、生成单元和存储单元；其中，

所述接收单元与所述回弹力测量装置连接，用于从所述回弹力测量装置接收测量结果，测量结果包括测量时刻、测量位置和摩擦布的回弹力；

所述存储单元，用于存储预先设置的标准回弹力和标准阈值；

所述判断单元分别与所述接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收所述测量结果，根据所述测量位置从存储单元中读取相应位置的标准回弹力和标准阈值，计算所述摩擦布的回弹力与标准回弹力的差值，并判断所述差值大于所述标准阈值时，向生成单元发送标记指令；

所述生成单元分别与接收单元和判断单元连接，用于从接收单元接收测量结果，根据测量时刻和测量位置获得基板上的摩擦位置，根据摩擦布的回弹力获得摩擦布摩擦基板上该摩擦位置的摩擦痕迹；还用于从判断单元接收标记指令，根据标记指令对摩擦痕迹位置进行标记。

10.根据权利要求7或8所述的摩擦配向装置，其特征在于，还包括特征长度测量装置，所述特征长度测量装置用于测量摩擦辊上多个位置的摩擦布绒毛的特征长度，并对测量得到的多个位置的摩擦布绒毛的特征长度进行统计处理，获得特征长度的均值和偏差值；所述数据处理装置包括接收单元、判断单元、设置单元、存储单元和报警单元；其中，

所述接收单元与所述特征长度测量装置连接，用于从所述特征长度测量装置接收特征长度的均值和偏差值；

所述存储单元，用于存储预先设置的标准偏差值；

所述判断单元分别与所述接收单元和存储单元连接，用于从接收单元接收特征长度的均值和偏差值，从存储单元中读取标准偏差值，判断所述偏差值是否小于或等于所述标准偏差值，是则将所述特征长度的均值发送给设置单元，否则向报警单元输出报警信号；

所述设置单元与所述判断单元连接，用于接收判断单元发送的特征长度的均值，根据所述特征长度的均值设置摩擦布的压入量，并将压入量发送给摩擦辊控制装置；

所述报警单元与所述判断单元连接，用于接收判断单元发送的报警信号进行报警处理。