CN107419239A - 用于镀膜的喷头、设备和相应方法 - Google Patents

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Abstract

本公开提出了用于镀膜的喷头、设备和相应方法。该喷头包括：第一反应物喷口，用于喷射第一反应物；第二反应物喷口，用于喷射第二反应物；以及第一气帘喷口，用于喷射保护气，使得所喷射的保护气形成的气帘将所述第一反应物和所述第二反应物隔离。该设备包括：一个或多个前述喷头；以及传送机构，用于传送待镀膜的镀膜对象，使得所述镀膜对象顺序通过每个喷头的第一反应物的第一反应区域和第二反应物的第二反应区域。

Description

用于镀膜的喷头、设备和相应方法
技术领域
本公开涉及薄膜封装领域，更具体地涉及用于镀膜的喷头、设备和相应方法。
背景技术
有机电致发光器件(Organic Light Emitting Diode或简称为OLED)因其对水汽和氧气的敏感性，易受水氧侵蚀而使寿命下降。封装是提升其寿命的关键技术。近几年在柔性OLED器件的制备工艺中，多采用薄膜封装(Thin Film Encapsulation或简称为TFE)的方法。TFE是由多层薄膜堆叠成的组合，其功能主要包含两种，阻水层和平坦层。这些薄膜可通过例如等离子增强化学气相沉积(Plasma-Enhanced Chemical Vapor Deposition，或简称为PECVD)、物理气相沉积(Physical Vapor Deposition，或简称为PVD)、真空热蒸镀(Vacuum Thermal Evaporation，或简称为VTE)、喷墨打印(InkJet Printing，或简称为IJP)、丝网打印(Screen Printing)等技术来制备。
然而，消费者期望的可如纸张一样折叠的显示产品，不是一蹴而就，这需要通过克服技术瓶颈或者改变技术路线来实现。随着柔性OLED器件的可弯曲形态目前从弯曲、卷曲到折叠发展，其曲率半径越来越小，导致相应封装工艺也变得越来越难，尤其是阻水层技术。因此，需要开发满足更小曲率半径的技术。
发明内容
为了至少部分解决或减轻上述需要更薄的封装薄膜的问题，提供了根据本公开实施例的用于镀膜的喷头、设备和相应方法。
根据本公开的第一方面，提供了一种用于镀膜的喷头。该喷头包括：第一反应物喷口，用于喷射第一反应物；第二反应物喷口，用于喷射第二反应物；以及第一气帘喷口，用于喷射保护气，使得所喷射的保护气形成的气帘将所述第一反应物和所述第二反应物隔离。
在一些实施例中，喷头还包括：第二气帘喷口，用于喷射保护气，与所述第一气帘喷口所喷射的保护气一起形成用于限定所述第一反应物的反应区域的气帘。在一些实施例中，喷头还包括：第一排气口，用于排出多余的第一反应物；以及第二排气口，用于排出多余的第二反应物和/或反应副产品。在一些实施例中，喷头还包括：反应介质喷口，用于喷射催化所述第一反应物和所述第二反应物发生反应的反应介质。在一些实施例中，所述反应介质为等离子。在一些实施例中，所述喷头具有串联的多组喷口，每组喷口至少包括第一反应物喷口、第二反应物喷口、第一气帘喷口和第二气帘喷口。在一些实施例中，所述第一气帘喷口设置在“所述第一反应物喷口和所述第一排气口”与“所述第二反应物喷口和所述第二排气口”之间；以及所述第二气帘喷口设置在“所述第一反应物喷口和所述第一排气口”与前一组喷口之间。在一些实施例中，所述第一气帘喷口和/或所述第二气帘喷头的喷射压力大于所述第一反应物喷口和/或所述第二反应物喷口的喷射压力。
根据本公开的第二方面，提供了一种用于镀膜的设备。该设备包括：一个或多个根据本公开第一方面所述的喷头；以及传送机构，用于传送待镀膜的镀膜对象，使得所述镀膜对象顺序通过每个喷头的第一反应物的第一反应区域和第二反应物的第二反应区域。
在一些实施例中，所述传送机构以直线往复运动方式来传送所述镀膜对象。
根据本公开的第三方面，提供了一种用于镀膜的方法。该方法包括：喷射保护气并形成气帘，以限定第一反应区域；在所述第一反应区域中向通过所述第一反应区域的所述镀膜对象喷射第一反应物，以在所述镀膜对象的指定区域上形成第一反应物层；以及在所述第一反应区域之外向形成有所述第一反应物层的所述镀膜对象喷射第二反应物，使得所述第一反应物层和所述第二反应物发生反应并在所述镀膜对象上形成所需膜层。
在一些实施例中，所述镀膜对象以直线往复运动方式通过所述第一反应区域。在一些实施例中，方法还包括：排出所述第一反应区域中多余的第一反应物；以及排出所述第一反应区域之外的多余的第二反应物和/或反应副产品。在一些实施例中，方法还包括：喷射供所述第一反应物和所述第二反应物发生反应的反应介质。在一些实施例中，所述反应介质为等离子。
通过使用根据本公开实施例的镀膜喷头、设备和相应方法，可以在对镀膜对象进行镀膜的同时，避免在设备内不必要的位置(例如，设备内壁或基板的非镀膜区)上形成镀膜，减少了清洗设备的时间，提升了设备稼动率。
附图说明
通过下面结合附图说明本公开的优选实施例，将使本公开的上述及其它目的、特征和优点更加清楚，其中：
图1是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备的剖面图，其中示出了正在喷射第一反应物。
图2是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备的另一剖面图，其中示出了正在排出多余的第一反应物。
图3是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备的又一剖面图，其中示出了正在喷射第二反应物和反应介质并形成了最终膜层。
图4是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备的平面图。
图5是示出了根据本公开实施例的经镀膜的示例器件的剖面图。
图6是示出了根据本公开实施例的经镀膜的示例器件的平面图。
图7是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备的剖面图，其中示出了正在喷射第一反应物。
图8是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备的另一剖面图，其中示出了在喷射第一反应物的同时喷射第二反应物。
图9是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备的又一剖面图，其中示出了正在排出多余的第一反应物，且在喷射第二反应物的同时喷射反应介质。
图10是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备的再一剖面图，其中示出了正在排出多余的第二反应物和/或反应副产品并形成了最终膜层，且同时开始下一轮的第一反应物喷射。
图11是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备的平面图。
图12是示出了根据本公开又一实施例的用于镀膜的示例设备的平面图。
图13是示出了根据本公开另一实施例的经镀膜的示例器件的平面图。
图14是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例方法的流程图。
具体实施方式
下面参照附图对本公开的部分实施例进行详细说明，在描述过程中省略了对于本公开来说是不必要的细节和功能，以防止对本公开的理解造成混淆。在本说明书中，下述用于描述本公开原理的各种实施例只是说明，不应该以任何方式解释为限制公开的范围。参照附图的下述描述用于帮助全面理解由权利要求及其等同物限定的本公开的示例性实施例。下述描述包括多种具体细节来帮助理解，但这些细节应认为仅仅是示例性的。因此，本领域普通技术人员应认识到，在不脱离本公开的范围和精神的情况下，可以对本文中描述的实施例进行多种改变和修改。此外，为了清楚和简洁起见，省略了公知功能和结构的描述。此外，贯穿附图，相同的附图标记用于相同或相似的功能、器件和/或操作。此外，在附图中，各部分并不一定按比例来绘制。换言之，附图中的各部分的相对大小、长度等并不一定与实际比例相对应。
在本公开中，术语“包括”和“含有”及其派生词意为包括而非限制；术语“或”是包含性的，意为和/或。此外，在本公开的以下描述中，所使用的方位术语，例如“上”、“下”、“左”、“右”等均用于指示相对位置关系，以辅助本领域技术人员理解本公开实施例，且因此本领域技术人员应当理解：在一个方向上的“上”/“下”，在相反方向上可变为“下”/“上”，且在另一方向上，可能变为其他位置关系，例如“左”/“右”等。
以下，以本公开应用于OLED器件的薄膜封装为例来详细说明。然而本领域技术人员应当理解本公开的应用领域不限于此。事实上，根据本公开实施例的喷头、设备和/或方法可以应用于其它需要镀膜的领域。
如前所述，在生产柔性OLED器件时，由于OLED器件中的有机发光层在遇到水或氧时会受损，因此需要对其进行薄膜封装。作为新兴的薄膜封装技术，原子层沉积(AtomicLayer Deposition，或简称为ALD)技术可精准地控制封装膜层的厚度，并具有良好的阶梯覆盖(Step Coverage)特性和膜厚均匀性，膜厚只有几十纳米，被认为是很有潜力的封装技术。
首先，将大致介绍下ALD技术的原理。ALD是一种薄膜沉积方法，其中，通过将衬底的表面交替暴露于两种气相化学物质(例如，下文中分别称为第一反应物和第二反应物)，可以在衬底上生长出一层极薄的均匀薄膜。与化学气相沉积(CVD)相比，这两种反应物不会同时出现在反应室内，而是会交替地顺序出现在反应室内。在每种反应物的反应阶段中，该反应物分子会以自限方式与衬底表面发生反应，使得一旦衬底表面上所有可供反应的位置都发生过反应之后，反应将不再进行。换言之，在反应结束后，在衬底表面上应该形成的是一层均匀厚度的前驱体薄膜或最终产物薄膜。在每个反应物的反应阶段末期，可以通过排气口(抽气口)将多余的反应物排除(例如，抽出)。然后通入另一种反应物，从而进入下一阶段。通过重复该过程，可以在衬底表面上形成指定厚度的均匀的多层薄膜。
接下来以用ALD技术来形成氧化铝(AL2O3)薄膜为例，来详细说明ALD技术的流程。由于在空气中存在水蒸气，因此衬底上会形成有羟基(hydroxyl group)，该羟基与衬底中的硅原子键合形成Si-O-H(s)。然后将衬底放入反应室内，并通入第一反应物或前驱体TMA(Trimethyl Aluminum，即三甲基铝)气体。此时，TMA与衬底上所形成的羟基反应，并生成甲烷(CH4)作为反应副产品，反应式(1)如下：
Al(CH3)3(g)+：Si-O-H(s)→：Si-O-Al(CH3)2(s)+CH4 (1)
此时，由于TMA并不与自身反应，使得在衬底表面上形成了一层极度均匀的：Si-O-Al(CH3)2(s)薄膜之后，反应就停止了。接下来，将多余的TMA与反应副产品甲烷排出。然后，在反应室中没有TMA和甲烷的情况下，可以向反应室通入第二反应物(或反应气)水或水蒸气(H2O)。此外，还可以可选地通入反应介质(例如，等离子)来催化反应进行。备选地，也可以不通过等离子来催化，而是通过加热来催化反应进行。此时，反应式(2)如下：
2H2O(g)+：Si-O-Al(CH3)2(s)→：Si-O-Al(OH)2(s)+2CH4 (2)
此时，与前一阶段一样，排出反应副产品甲烷和多余的水蒸气。然后可以顺序重复前述TMA阶段和H2O阶段，反应式如下：
Al(CH3)3(g)+：Al-O-H(s)→：Al-O-Al(CH3)2(s)+CH4 (3)
2H2O(g)+：Al-O-Al(CH3)2(s)→：Al-O-Al(OH)2(s)+2CH4 (4)
最终，可得到多层Al2O3薄膜，每层的厚度非常均匀，约为1埃(Angstrom)。
接下来，将结合图1～4来更详细地说明根据本公开一些实施例的ALD镀膜方案。
图1是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备1的剖面图，其中示出了正在喷射第一反应物。如图1以及图4所示，镀膜设备1可以包括一个或多个喷头，每个喷头可以包括：第一反应物(或前驱体)喷口10、第二反应物(或反应气)喷口20、一个或多个排气口30、以及反应介质喷口40。
请注意：反应介质喷口40是可选的。例如在使用加热而不是等离子来促进反应进行的情况下，可以没有反应介质喷口40。
在上述形成三氧化二铝薄膜的示例中，第一反应物或前驱体可以是例如TMA，而第二反应物或反应气可以是例如水或水蒸气。此外，反应介质可以是等离子。然而，本公开不限于此，事实上本公开实施例同样也适用于制备其它薄膜的方案，例如SixOy、TixOy等。
此外，如图1所示，作为镀膜对象的基板50从各个喷头/喷口下方依次通过。例如，其可以通过传送机构的直线往复式传送，顺序通过每个喷头的第一反应物的第一反应区域(如图1的点状区域所示)和第二反应物的第二反应区域(如图3的点状区域所示)。在图1所示实施例中，传送的方向为衬底50从左向右运动，然而本公开不限于此。
此外，如图1和图5所示，基板50上设置有镀膜区域60和非镀膜区域65。在一些实施例中，镀膜区域60可以是例如上述OLED器件的待密封区域，而非镀膜区域65可以是例如基板的邦定(bonding)区。因此，为了避免在非镀膜区域65上形成例如Al2O3膜层，可以使用掩模70盖住非镀膜区域65。
在图1所示实施例中，正处于第一反应物或前驱体喷射阶段。在该阶段中，第一反应物喷口10向外喷射出第一反应物，例如前述TMA，并在镀膜区域60和掩模70上形成第一反应物层或前驱体层75。请注意：这里的第一反应物层75并不一定是由第一反应物构成的，而指的是由第一反应物与衬底50表面进行物理/化学反应之后所形成的膜层，仅出于方便起见，将其称为第一反应物层75。此外，第一反应物也不限于TMA，而是可以包括(但不限于)：DIPAS(双二乙基氨基硅烷)、BEMAS(氨基硅烷)、TMSA(三甲基硅基乙炔)、TDMAS(三甲胺基硅烷)等。
此外，在喷射第一反应物(例如，氢氧化铝(Al(OH)3))时，其可以利用可选的载气来通入反应室。在本实施例中，载气可以是例如氮气、氦气、氩气等保护气或惰性气体。
图2是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备1的另一示例剖面图，其中示出了正在排出多余的第一反应物。如前所述，在图1中喷射第一反应物并形成第一反应物层75之后，需要通过第一排气口30将多余的第一反应物和/或可能的副产品从反应室中排出，以避免影响后续步骤。
例如，在一些实施例中，可以通过保护气(例如，氮气、氩气等惰性气体)吹扫，将多余的第一反应物和/或反应副产品吹出。在另一些实施例中，也可以通过真空抽取，将多余的第一反应物和/或反应副产品抽出。此外，在图2所示实施例中，通过最左侧的第一排气口30排出了多余的第一反应物和/或可能的副产品。然而本公开不限于此，事实上也可以采用多个排气口30来进行排气。例如，可以将左侧两个或者两个以上排气口30都用于排气。
图3是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例设备1的又一示例剖面图，其中示出了正在喷射第二反应物和反应介质并形成了最终膜层77。如图3所示，当如前所述将反应室中的第一反应物和/或其他副产品排光之后，可以通过第二反应物(或反应气)喷口20和反应介质喷口40分别喷射第二反应物(或反应气)和反应介质(例如，等离子)。在本公开中这二者喷射的顺序并不作限制，例如可以同时喷射或者先后喷射等。
如上面结合三氧化二铝薄膜示例所描述的，此时在镀膜区域60上形成了最终所需的膜层77，而由于掩模70的遮挡，在非镀膜区域65上并没有形成任何膜层，例如如图6所示。此外，如图1～3所示，由于设备1可具有多个喷头，且因此可以对基板50上的镀膜区域60重复上述过程，以形成所需的多个膜层。
最后，可以通过另一排气口(例如，左数第二个排气口30)以与上述排出第一反应物相类似的方式排出多余的第二反应物和/或可能的反应副产品，以为下一轮镀膜或者最终产品做好准备。
通过这种工艺流程，可以在镀膜对象(例如，衬底50的镀膜区域60)上形成厚度均匀的非常薄的封装薄膜，从而使得例如OLED器件能够做得更薄、更柔软，同时避免水汽和空气进入OLED器件内部。
然而，需要注意的是，如图1～3所示，特别地如图4所示，在设备1的设备内壁80上同样形成了封装膜层(例如，前期形成了第一反应物层75，后期形成了最终膜层77)。这样形成的膜层无法进行自清洗，从而导致需要对设备1进行周期性手动清洗，严重影响了设备稼动率。
为此，提出了根据本公开另一实施例的镀膜设备2。以下，将结合图7～图11来详细描述根据本公开另一实施例的镀膜设备2。
图7是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备2的剖面图，其中示出了正在喷射第一反应物。如图7所示，镀膜设备2可以包括一个或多个喷头，每个喷头可以包括：第一反应物(或前驱体)喷口10、第二反应物(或反应气)喷口20、一个或多个排气口30、反应介质喷口40、以及一个或多个气帘喷口15。与前面结合图1～4描述的实施例的不同之处主要在于：在第一反应物喷口10和第一排气口30外侧增加了一个或多个气帘喷口15。
气帘喷口15可以用于喷射保护气(例如，氮气、氦气、氩气等)，并形成气帘，将第一反应物喷口10所喷出的第一反应物限定在第一反应区域内，如图7所示。从而，可以避免或至少减少在设备2的内壁80上形成的第一反应物层。然而，需要注意的是，气帘喷口15并不一定是如图7所示的两个喷口或者如图7所示的置于第一反应物喷口10的两侧的喷口，而是可以用任何恰当的数量和/或恰当的布置方式来布置。如后面将要详细描述的，气帘喷口15的数量也可以是一个、三个或以上，且可能具有其他构造，从而同样可以将第一反应物限定在第一反应区域内。
与图1所示实施例类似，作为镀膜对象的基板50可以从各个喷头/喷口下方依次通过。例如，其可以通过传送机构的直线往复式传送，顺序和/或反复通过每个喷头的第一反应物的第一反应区域和第二反应物的第二反应区域。与图1所示实施例类似，基板50上同样设置有镀膜区域60和非镀膜区域65。然而，由于采用了气帘喷口15的设计，因此无需在衬底50的非镀膜区域65上设置掩模70。例如，可以通过控制传送机构，使得当非镀膜区域65要通过第一反应区域时，衬底50可以停止运动，并等待第一排气口30将多余的第一反应物和/或反应副产品排光之后，再让非镀膜区域65通过第一反应区域。从而，避免了非镀膜区域65上形成膜层75和/或77。
在图7所示实施例中，与图1相类似，同样正处于第一反应物或前驱体喷射阶段。在该阶段中，第一反应物喷口10向外喷射出第一反应物，例如前述TMA，并仅在镀膜区域60上形成第一反应物层或前驱体层75。类似地，其可以利用可选的载气将第一反应物通入反应室。
图8是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备2的另一剖面图，其中示出了在喷射第一反应物的同时喷射第二反应物。与图1所示实施例不同的是，由于气帘的存在，可以在第一反应物喷头10喷射第一反应物的同时，由第二反应物喷头20喷射第二反应物(例如，水或水蒸气)在形成有第一反应物层75的衬底50上。这样，可以节约设备的工作周期，避免等待排气时间，提高了生产效率。此外，第二反应物也不限于水或水蒸气，而是可以包括(但不限于)：氧气、N2O(一氧化二氮)等。
在图8所示实施例中，第二反应物喷头20喷射出的第二反应物在第一反应物层75上形成了临时的第二反应物层76。然而，这不是必须的。事实上，第一反应物层75可以与第二反应物直接反应，而无需等待后续或同时喷射的反应介质。换言之，在另一些实施例中，不一定形成有第二反应物层76。
图9是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备2的又一剖面图，其中示出了正在排出多余的第一反应物，且在喷射第二反应物的同时喷射反应介质。与图2所示实施例类似地，在全部镀膜区域60上形成了第一反应物层75之后，需要通过第一排气口30将多余的第一反应物和/或可能的副产品从反应室(或更具体地，第一反应区域)中排出，以避免在非镀膜区域65上形成不需要的膜层。例如，在一些实施例中，可以通过保护气(例如，氮气、氩气等惰性气体)吹扫，将多余的第一反应物、反应副产品、和/或气帘保护气等排出。此外，也可以通过真空抽气等将第一反应区域中的多余第一反应物、反应副产品、和/或气帘保护气等排出。与图2所示实施例类似地，也可以采用多个排气口30来进行排气。例如，可以在两个气帘喷口15之间设置多个排气口或设置不同的排气口构造。
与此同时或以其他恰当先后顺序，反应介质喷口40可以喷射反应介质，以催化第一反应物和第二反应物发生反应，并在部分镀膜区域60上形成最终所需的膜层77。注意到：由于采用了气帘设计，此时可能还有部分镀膜区域60尚未形成膜层77。此时，传送结构继续工作，在保持非镀膜区域65不进入尚未排光第一反应物的第一反应区域的情况下，将镀膜区域60最终都送入具有第二反应物和/或反应介质的第二反应区域中，并使得最终在第二反应区域中在全部镀膜区域60上形成所需膜层77。
图10是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备2的再一剖面图，其中示出了正在排出多余的第二反应物和/或反应副产品并形成了最终膜层，且同时开始下一轮的第一反应物喷射。如图10所示，当在全部镀膜区域60上形成了所需膜层77之后，传送机构可以将衬底50送入下一个喷头的喷射范围中，以沉积下一个所需膜层。最终，可以形成全部所需的膜层。例如，在玻璃衬底上形成的最终镀膜效果可以如图13所示。
需要注意的是：在图7～10所示实施例中，在第二反应物喷口20和反应介质喷口40外围并未专门设置气帘喷口15。这样做的原因是由于在本实施例中，第二反应物不与除了第一反应物之外的其他物质发生反应。例如，即便第二反应物扩散到设备2的内壁80上，然而由于第二反应物仅与第一反应物发生反应，因此并不会在内壁80上形成任何不想要的膜层。然而，本公开不限于此。在例如第二反应物同样也与内壁或除镀膜区域60之外的其他位置处的物质发生反应的情况下，也可以在第二反应物喷口20、反应介质喷口40、和/或第二排气口30的外围设置气帘15。例如，可以在第二排气口30的右侧再设置一个气帘喷口15，从而使得三个气帘喷口15形成两个限定的反应区域：第一反应区域和第二反应区域，分别用于第一反应物和第二反应物反应。
此外，在例如多个喷头为一体化设置的情况下，由于下一个喷头的左侧气帘和前一个喷头的右侧气帘之间同样形成了限定区域(例如，第二反应区域)，因此也可以实现同样的效果。
图11是示出了根据本公开另一实施例的用于镀膜的示例设备2的平面图。如图11所示，两个气帘喷口15将第一反应物喷口10和第一排气口30夹在中间，使得第一反应物喷口10所喷射的第一反应物大部分被第一排气口30所排出。然而需要注意的是，由于气帘喷口15所喷射的气帘并未完全封闭第一反应物的第一反应区域，因此依然会有少量第一反应物逸散至设备2的内壁80上，并最终与第二反应物一起形成膜层77。
为此，提出了根据本公开又一实施例的镀膜设备3。以下，将结合图12来详细描述根据本公开另一实施例的镀膜设备3。
图12是示出了根据本公开又一实施例的用于镀膜的示例设备3的平面图。如图12所示，气帘喷口15被形成为单一一个气帘喷口15，并具有环绕第一反应物喷口10和第一排气口30的封闭构造。由于其将第一反应物完全限定在第一反应区域中，没有第一反应物可以逸散到设备3的内壁80上，且因此完全避免了对设备内壁80手动清洗的需要。
然而需要注意的是：尽管在上文中结合各附图所说明的喷口均为矩形喷口，然而这仅仅是为了描绘和说明的方便。事实上，喷口完全可以具有不同的形状和/或构造。例如，喷头上的各个喷口可以是同心圆形的，例如从内到外为第一反应物喷口、第一排气口、第一气帘喷口、第二反应物喷口、反应介质喷口、第二排气口、和/或可能的第二气帘喷口。又例如，喷口可以是圆形、矩形、正方形、梯形、菱形、三角形等任何规则或不规则的形状。此外，在一些实施例中，气帘喷口可以与其他各喷口平行或大体平行，且长度相等或大体相等。
此外，在本公开的一些实施例中，气帘喷口15所喷射的压力要高于第一反应物或前驱体喷口10的喷射压力，而第一反应物或前驱体喷口10的喷射压力高于设备腔体内的压力。然而，本公开不限于此。
图14是示出了根据本公开实施例的用于镀膜的示例方法1400的流程图。图14中的方法开始于步骤S1410。
在步骤S1410中，可以喷射保护气并形成气帘，以限定第一反应区域。
在步骤S1420中，可以在第一反应区域中向通过第一反应区域的镀膜对象喷射第一反应物，以在镀膜对象的指定区域上形成第一反应物层。
在步骤S1430中，可以在第一反应区域之外向形成有第一反应物层的镀膜对象喷射第二反应物，使得第一反应物层和第二反应物发生反应并在镀膜对象上形成所需膜层。
在一些实施例中，镀膜对象可以以直线往复运动方式通过第一反应区域。在一些实施例中，方法1400还可以包括：排出第一反应区域中多余的第一反应物；以及排出第一反应区域之外的多余的第二反应物和/或反应副产品。在一些实施例中，方法1400还可以包括：喷射供第一反应物和第二反应物发生反应的反应介质。在一些实施例中，反应介质可以为等离子。
至此已经结合优选实施例对本公开进行了描述。应该理解，本领域技术人员在不脱离本公开的精神和范围的情况下，可以进行各种其它的改变、替换和添加。因此，本公开的范围不局限于上述特定实施例，而应由所附权利要求所限定。
此外，在本文中被描述为通过纯硬件、纯软件和/或固件来实现的功能，也可以通过专用硬件、通用硬件与软件的结合等方式来实现。例如，被描述为通过专用硬件(例如，现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)等)来实现的功能，可以由通用硬件(例如，中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP))与软件的结合的方式来实现，反之亦然。

Claims (15)

1.一种用于镀膜的喷头，包括：
第一反应物喷口，用于喷射第一反应物；
第二反应物喷口，用于喷射第二反应物；以及
第一气帘喷口，用于喷射保护气，使得所喷射的保护气形成的气帘将所述第一反应物和所述第二反应物隔离。
2.根据权利要求1所述的喷头，还包括：
第二气帘喷口，用于喷射保护气，与所述第一气帘喷口所喷射的保护气一起形成用于限定所述第一反应物的反应区域的气帘。
3.根据权利要求1所述的喷头，还包括：
第一排气口，用于排出多余的第一反应物；以及
第二排气口，用于排出多余的第二反应物和/或反应副产品。
4.根据权利要求1所述的喷头，还包括：
反应介质喷口，用于喷射催化所述第一反应物和所述第二反应物发生反应的反应介质。
5.根据权利要求4所述的喷头，其中，所述反应介质为等离子。
6.根据权利要求2所述的喷头，其中，所述喷头具有串联的多组喷口，每组喷口至少包括第一反应物喷口、第二反应物喷口、第一气帘喷口和第二气帘喷口。
7.根据权利要求6所述的喷头，其中，所述喷头还包括：第一排气口，用于排出多余的第一反应物；以及第二排气口，用于排出多余的第二反应物和/或反应副产品；
所述第一气帘喷口设置在“所述第一反应物喷口和所述第一排气口”与“所述第二反应物喷口和所述第二排气口”之间；以及
所述第二气帘喷口设置在“所述第一反应物喷口和所述第一排气口”与前一组喷口之间。
8.根据权利要求2所述的喷头，其中，所述第一气帘喷口和/或所述第二气帘喷头的喷射压力大于所述第一反应物喷口和/或所述第二反应物喷口的喷射压力。
9.一种用于镀膜的设备，包括：
一个或多个根据权利要求1～8中任一项所述的喷头；以及
传送机构，用于传送待镀膜的镀膜对象，使得所述镀膜对象顺序通过每个喷头的第一反应物的第一反应区域和第二反应物的第二反应区域。
10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述传送机构以直线往复运动方式来传送所述镀膜对象。
11.一种用于镀膜的方法，包括：
喷射保护气并形成气帘，以限定第一反应区域；
在所述第一反应区域中向通过所述第一反应区域的所述镀膜对象喷射第一反应物，以在所述镀膜对象的指定区域上形成第一反应物层；以及
在所述第一反应区域之外向形成有所述第一反应物层的所述镀膜对象喷射第二反应物，使得所述第一反应物层和所述第二反应物发生反应并在所述镀膜对象上形成所需膜层。
12.根据权利要求11所述的方法，其中，所述镀膜对象以直线往复运动方式通过所述第一反应区域。
13.根据权利要求11所述的方法，还包括：
排出所述第一反应区域中多余的第一反应物；以及
排出所述第一反应区域之外的多余的第二反应物和/或反应副产品。
14.根据权利要求11所述的方法，还包括：
喷射供所述第一反应物和所述第二反应物发生反应的反应介质。
15.根据权利要求14所述的方法，其中，所述反应介质为等离子。
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