CN107241160A - 确定参数的方法和装置 - Google Patents

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CN107241160A CN201610181335.7A CN201610181335A CN107241160A CN 107241160 A CN107241160 A CN 107241160A CN 201610181335 A CN201610181335 A CN 201610181335A CN 107241160 A CN107241160 A CN 107241160A
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Abstract

本发明实施例提供了确定参数的方法和装置。该方法包括：确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；根据所述第一补偿值，确定所述发送电路在发送所述信号时需要使用的预加重参数。相比于现有技术，本发明实施例提供的技术方案能够灵活地确定预加重参数。

Description

确定参数的方法和装置
技术领域
本发明涉及通信领域，并且更具体的，涉及通信领域中确定参数的方法和装置。
背景技术
发送电路和接收电路是网络装置中的部件。网络装置通过发送电路和接收电路进行通信。例如路由器1通过发送电路向路由器2发送报文。路由器2通过接收电路接收路由器1发送的报文。串行器/解串器(Serializer/Deserializer，Serdes)是一种用于实现高速通信的接口。Serdes可以应用在路由器、交换机等网络装置中。例如，串行器可以被包含在路由器1的发送电路中。解串器可以被包含在路由器2的接收电路中。
为提高传输的信号的信噪比，发送电路可以采用预加重机制。发送电路可以先对信号进行预加重处理，然后向接收电路发送经预加重处理的信号。例如，发送电路可以通过访问预先保存的预加重参数，确定预加重参数。然后，发送电路根据预加重参数对待发送的信号进行预加重处理。上述方案中，预加重参数的确定方式不够灵活。
发明内容
本发明实施例提供了确定参数的方法和装置，能够灵活地确定预加重参数。
第一方面，本发明实施例提供了一种确定参数的方法，包括：
电路确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
所述电路根据所述第一补偿值，确定所述发送电路在发送所述信号时需要使用的预加重参数。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
可选的，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值包括：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
作为一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述发送电路的补偿能力的关系，确定该发送电路的第一分配比β；根据该发送电路的第一分配比β，确定该发送电路的第一补偿值。
作为另一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述接收电路的补偿能力的关系，确定该接收电路的第二分配比(1-β)和发送电路的第一分配比β；根据该发送电路的第一分配比β，确定该发送电路的第一补偿值。
例如，发送电路的补偿能力表示为Ek，所述第一插损值表示为ILk，若Ek>ILk，β可以取20％～30％；若Ek<ILk，β可以取70％～80％。
这里，上述第一补偿值为上述第一分配比与第一插损值的乘积，上述第二补偿值为上述第二分配比与第一插损值的乘积。
本发明实施例能够根据具体的发送电路或接收电路的补偿能力，灵活地确定合适的分配比，进而可以根据该分配比，分别确定发送电路和接收电路的对上述链路的补偿值。
可选的，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和第一温度修正系数，确定所述第一补偿值。
例如，在高温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1+ζ％)倍；在低温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1-ζ％)倍，其中，ζ为上述第一温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
可选的，所述确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值之前，还包括：
获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；
根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，对于同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样接收电路可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
本发明实施例中，该函数关系具体可以为插损拟合曲线。并且，一般情况下，该插损拟合曲线近似线性，因此可以采用直线拟合，设定：
IL＝a1×F+a2
根据获得的每个测试信号的插损值和频率，可以确定上式中的系数a1和a2。
可选的，所述根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系，包括：根据所述每个测试信号的插损值、所述每个测试信号的频率和第二温度修正系数，确定所述链路的所述函数关系。
此时，可以设定：
IL＝t1×a1×F+a2+t0
其中，t1和t0为上述第二温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
或者，在高温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1+ζ％)倍；在低温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1-ζ％)倍。
本发明实施例在确定链路的插损拟合曲线时，通过引入第一温度修正系数或第二温度修正系数，对链路的频率和插损值的曲线进行修正，使曲线能够在不同的温度条件自适应，减小或者避免链路的误码风险。
可选的，所述方法由控制电路执行，在所述确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，还包括：
向所述发送电路发送第一指令，所述第一指令用于指示所述发送电路向所述接收电路发送所述两个测试信号；
向所述接收电路发送第二指令，所述第二指令用于指示所述接收电路确定所述每个测试信号的振幅；
接收所述接收电路发送的所述每个测试信号的振幅。
可选的，所述方法由所述接收电路执行，所述确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，还包括：接收所述发送电路发送的所述至少两个测试信号。
可选的，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值之后，还包括：
确定所述接收电路的第二补偿值；
根据所述第二补偿值以及所述发送电路发送的经所述发送电路根据所述预加重参数进行预加重处理的所述信号，确定均衡参数。
接收电路可以根据该第二补偿值和接收到的信号，确定均衡参数。例如，接收电路通过计算仿真或者查表，确定均衡参数的参考值，该参考值可以用来判断接收电路自适应获得的均衡参数是否合理。
可选的，所述方法还包括：向所述发送电路发送所述预加重参数。
可选的，所述方法由所述发送电路执行，所述确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，还包括：
向接收电路发送两个测试信号；
所述确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅，包括：
接收所述接收电路发送的所述每个测试信号的振幅。
可选的，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值之后，还包括：
确定所述接收电路的第二补偿值；
向所述接收电路发送所述第二补偿值，以便于所述接收电路根据所述第二补偿值和所述发送电路根据预加重参数发送的所述信号，确定均衡参数。
可选的，所述方法由发送电路执行，所述确定所述发送电路需要发送的信号的第一补偿值包括接收接收电路发送的所述第一补偿值。
可选的，在所述接收接收电路发送的所述第一补偿值之前，还包括：向接收电路发送两个测试信号，以便于所述接收电路根据所述两个测试信号确定所述第一补偿值。
可选的，所述根据所述第一补偿值，确定所述发送电路在发送所述信号时需要配置的预加重参数，包括：根据下述公式确定所述预加重参数：
|pos|＝γ×|pre|
|pre|+|main|+|pos|≤τ
其中，所述EPk表示所述第一补偿值，main，pre和pos分别表示所述预加重参数的三个分量，Log10表示以10为底取对数，|·|表示取模，γ和τ是大于零的预设值。
第二方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，用于执行上述第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法，具体的，该装置包括用于执行上述第一方面或第一方面任意可能的实现方式中的方法的模块。
第三方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，该装置包括：存储器、处理器、收发器和总线系统。其中，该存储器和该处理器通过该总线系统相连，该存储器用于存储指令，该处理器用于执行该存储器存储的指令，并且当该处理器执行该存储器存储的指令时，该执行使得该处理器执行第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法。
第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读介质，用于存储计算机程序，该计算机程序包括用于执行第一方面或第一方面的任意可能的实现方式中的方法的指令。
第五方面，本发明实施例一种确定参数的方法，所述方法由接收电路执行，包括：
确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
向所述发送电路发送所述第一补偿值，以便于所述发送电路根据所述第一补偿值确定预加重参数。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
可选的，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值包括：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
作为一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述发送电路的补偿能力的关系，确定该发送电路的第一分配比β；根据该发送电路的第一分配比β，确定该发送电路的第一补偿值。
作为另一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述接收电路的补偿能力的关系，确定该接收电路的第二分配比(1-β)和发送电路的第一分配比β；根据该发送电路的第一分配比β，确定该发送电路的第一补偿值。
例如，发送电路的补偿能力表示为Ek，所述第一插损值表示为ILk，若Ek>ILk，β可以取20％～30％；若Ek<ILk，β可以取70％～80％。
这里，上述第一补偿值为上述第一分配比与第一插损值的乘积，上述第二补偿值为上述第二分配比与第一插损值的乘积。
本发明实施例能够根据具体的设备的补偿能力，灵活地确定合适的分配比，进而可以根据该分配比，分别确定发送电路和接收电路的对上述链路的补偿值。
可选的，所述根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和第一温度修正系数，确定所述第一补偿值。
例如，在高温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1+ζ％)倍；在低温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1-ζ％)倍，其中，ζ为上述第一温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
可选的，所述确定所述发送电路发送所述信号的插损值之前，还包括：
接收所述发送电路发送的两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
根据所述每个测试信号的振幅，确定所述每个测试信号的插损值；
根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样接收电路可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
本发明实施例中，该函数关系具体可以为插损拟合曲线。并且，一般情况下，该插损拟合曲线近似线性，因此可以采用直线拟合，设定：
IL＝a1×F+a2
根据获得的每个测试信号的插损值和频率，可以确定上式中的系数a1和a2。
可选的，所述根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系，包括：根据所述每个测试信号的插损值、所述每个测试信号的频率和第二温度修正系数，确定所述链路的所述函数关系。
此时，可以设定：
IL＝t1×a1×F+a2+t0
其中，t1和t0为上述第二温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
或者，在高温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1+ζ％)倍；在低温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1-ζ％)倍。
本发明实施例在确定链路的插损拟合曲线时，通过引入第一温度修正系数或第二温度修正系数，对链路的频率和插损值的曲线进行修正，使曲线能够在不同的温度条件自适应，减小或者避免链路的误码风险。
可选的，所述方法还包括：
确定所述接收电路的第二补偿值；
根据所述第二补偿值以及所述发送电路发送的经所述发送电路根据所述预加重参数进行预加重处理的所述信号，确定均衡参数。
接收电路可以根据该第二补偿值和接收到的信号，确定均衡参数。例如，接收电路通过计算仿真或者查表，确定均衡参数的参考值，该参考值可以用来判断接收电路自适应获得的均衡参数是否合理。
第六方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，用于执行上述第五方面或第五方面的任意可能的实现方式中的方法，具体的，该装置包括用于执行上述第五方面或第五方面任意可能的实现方式中的方法的模块。
第七方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，该装置包括：存储器、处理器、收发器和总线系统。其中，该存储器和该处理器通过该总线系统相连，该存储器用于存储指令，该处理器用于执行该存储器存储的指令，并且当该处理器执行该存储器存储的指令时，该执行使得该处理器执行第五方面或第五方面的任意可能的实现方式中的方法。
第八方面，本发明实施例提供了一种计算机可读介质，用于存储计算机程序，该计算机程序包括用于执行第五方面或第五方面的任意可能的实现方式中的方法的指令。
第九方面，本发明实施例提供了一种确定参数的方法，包括：
接收发送电路发送的两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
将所述每个测试信号的振幅发送至第一电路，以便于所述第一电路根据所述振幅确定预加重参数，其中，所述第一电路为所述发送电路或控制电路。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够为灵活地确定预加重参数。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样接收电路可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
可选的，所述第一电路为所述控制电路，所述确定至少两个不同频率的未经预加重的测试信号中的每个测试信号的振幅之前，还包括：
接收所述控制电路发送的第一指令，所述第一指令用于指示所述接收电路确定所述每个测试信号的振幅；
所述确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅，包括：
根据所述第二指令，确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
第十方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，用于执行上述第九方面或第九方面的任意可能的实现方式中的方法，具体的，该装置包括用于执行上述第九方面或第九方面任意可能的实现方式中的方法的模块。
第十一方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，该装置包括：存储器、处理器、收发器和总线系统。其中，该存储器和该处理器通过该总线系统相连，该存储器用于存储指令，该处理器用于执行该存储器存储的指令，并且当该处理器执行该存储器存储的指令时，该执行使得该处理器执行第九方面或第九方面的任意可能的实现方式中的方法。
第十二方面，本发明实施例提供了一种计算机可读介质，用于存储计算机程序，该计算机程序包括用于执行第九方面或第九方面的任意可能的实现方式中的方法的指令。
第十三方面，本发明实施例提供了一种确定参数的方法，其特征在于，所述方法由发送电路执行，包括：
向接收电路发送两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
接收第一电路发送的预加重参数，所述预加重参数是所述第一电路根据所述两个测试信号确定的，其中，所述第一电路为所述接收电路或控制电路。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样接收电路可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
可选的，所述第一电路为所述控制电路，在所述向接收电路发送至少一个不同频率的未经预加重的测试信号之前，还包括：
接收所述控制电路发送的第一指令，所述第一指令用于指示所述发送电路发送所述两个测试信号；
所述向接收电路发送两个测试信号，包括：
根据所述第一指令，向接收电路发送所述两个测试信号。
第十四方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，用于执行上述第十三方面或第十三方面的任意可能的实现方式中的方法，具体的，该装置包括用于执行上述第十三方面或第十三方面任意可能的实现方式中的方法的模块。
第十五方面，本发明实施例提供了一种确定参数的装置，该装置包括：存储器、处理器、收发器和总线系统。其中，该存储器和该处理器通过该总线系统相连，该存储器用于存储指令，该处理器用于执行该存储器存储的指令，并且当该处理器执行该存储器存储的指令时，该执行使得该处理器执行第十三方面或第十三方面的任意可能的实现方式中的方法。
第十六方面，本发明实施例提供了一种计算机可读介质，用于存储计算机程序，该计算机程序包括用于执行第十三方面或第十三方面的任意可能的实现方式中的方法的指令。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例。对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的Serdes链路的结构示意图。
图2是本发明实施例提供的3阶FIR滤波器的结构示意图。
图3是本发明实施例提供的一个配置链路参数的方法的示意性流程图。
图4是本发明实施例的一个确定参数的方法的示意性流程图。
图5是本发明实施例确定参数的装置的示意性框图。
图6是本发明实施例的另一个确定参数的方法的示意性流程图。
图7是本发明实施例的另一个确定参数的方法的示意性流程图。
图8是本发明实施例的另一个确定参数的方法的示意性流程图。
图9是本发明实施例的另一个确定参数的方法的示意性流程图。
图10是本发明实施例的一个确定参数的装置的示意性框图。
图11是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图12是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图13是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图14是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图15是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图16是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
图17是本发明实施例的另一个确定参数的装置的示意性框图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚地描述。显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下可以获得其他实施例。
图1是本发明实施例提供的serdes链路的结构示意图。Serdes链路可以包括串行器104、有限冲激响应(Finite Impulse Response，FIR)滤波器105、发送器106、均衡器111、时钟数据恢复电路(Clock and Data Recovery Circuit，CDR)112和解串器113。图1所示的serdes链路的辅助功能模块还包括多项选择器，例如图1中的多项选择器101、多项选择器103和多项选择器108，包括信号生成器102、信号检验器114、接收器109、自动增益控制器(Automatic Gain Controller，AGC)110和环回电路(如图1中的107和115)等。
多项选择器101和103用于在多个输入信号中选择一个信号输出。例如多项选择器101从信号1和环回电路115输出的信号中选择一个信号输出到多项选择器103。多项选择器103从多项选择器101输出的信号和信号生成器102输出的信号中选择一个或多个信号输出至串行器。输入到该串行器104中的信号为并行信号，串行器104将该输入的并行信号输出为串行信号，FIR滤波器105对该串行信号进行处理，最终通过发送器106将该串行信号发送出去。发送器106发送的信号称为发送器(Transmitter，TX)信号(如图1中的TXp信号和TXn信号)。接收器109可以接收发送器106发送的TX信号，或者接收其他设备发送的接收器(Receiver，RX)信号(如图1中的RXp信号和RXn信号)。接收器109接收的信号经过AGC 110、均衡器111、CDR 112，最终到达解串器113。解串器113将串行信号处理输出并行信号。信号检测器114用于检测解串器输出的并行信号。解串器输出的并行信号还可以经过环回电路115再次输入到多项选择器101。
由于信道衰减频率特性类似于低通滤波器，所以预加重过程首先对输出的TX信号的数据高频部分(0-1或1-0跳变码元)进行识别，通过提升高频部分的高频分量，能够补偿TX信号的线路衰减。预加重过程一般采用FIR滤波器实现。FIR滤波器由延迟电路(Delay)、乘法器、加法器组成，延迟电路的时间延迟正好是1个比特，增益系数(tap level)是每一级乘法器(放大器)的增益，输入信号通过每一级处理后相加得到输出波形。
图2是本发明实施例提供的3阶FIR滤波器的结构示意图。图2所示的3阶FIR滤波器可以用于实现图1所示的FIR滤波器105。图2中的201模块表示延迟电路，202模块表示乘法器。202模块将串行数据与CX相乘。这里CX可以为Ct-1，Ct或者Ct+1。203模块表示加法器。203模块用于将各个串行数据与Cx的乘积相加。当t＝0时，预加重参数的输出公式可以表示为：
H(Z)＝AMP(C0×Z-1+C1×Z0+C2×Z+1)
其中，C0阶系数称为pre分量，主要用于补偿pre-cursor码间串扰(InterSymbol Interference，ISI)。可以理解，C0阶系数用于改善高频信号的上升沿。C2阶系数称为post分量，主要用于补偿post-cursor ISI。可以理解，C2阶系数用于改善高频信号的下降沿。C1阶系数称为main分量，对脉冲高度有影响。
接收侧均衡包括连续时间线性均衡器(Continuous time linearequaliztion，CTLE)和判定反馈均衡器(Decision Feedback Equalization，DFE)。CTLE用于提升RX输入信号的高频分量。CTLE一般用片内模拟滤波器实现。DFE均衡器中包括了延时电路、乘法器和加法器。DFE均衡器用于抵消码间干扰。
现有技术中需要通过工作量很大的参数扫描方法来实现预加重参数和均衡参数的配置。英特网工程任务组(Internet Engineering Task Force，IEEE)802.3ap定义了一种背板Serdes预加重参数自适应的方法，由一条链路的接收端芯片依据接收端采样的效果，向发送端芯片发送调整预加重参数的命令，以获取合适的预加重参数。
图3示出了本发明实施例提供的一种配置预加重参数的方法100的示意性流程图。配置预加重参数的方法100包括：
S110，发送端向接收端发送信号。
这里，该发送端可以为发送电路，可以包括上述图1中的多项选择器101、信号生成器102、多项选择器103、串行器104、FIR滤波器105和发送器106等器件。接收端可以为接收电路，可以包括上述图1中的多项选择器108、接收器109、AGC110、均衡器111、CDR112、解串器113和信号检验器114等器件。该信号为发送端需要向接收端发送的信号，可以包含发送端需要发送的信息，该信号例如可以为伪随机二进制序列(Pseudo-RandomBinary Sequence，PRBS)。该信号可以为具有波形的电信号，因此该信号具有一定的初始振幅，并且该信号具有高频分量和低频分量。这里，发送端向接收端发送的信号的高频分量经过了预加重处理。例如该高频分量可以经过图2中的3阶FIR滤波器的处理。
S120，接收端检测接收到的信号的状态。
具体的，接收端可以利用Serdes链路中的数字眼图功能获取接收到的信号的状态。这里，信号的状态可以是信号的眼图的宽度和高度。具体的，接收端是在均衡和振幅放大条件下检测接收到的信号的状态，也就是说，接收端在检测S110中发送的信号之前，对S110中的信号进行了均衡处理和振幅放大，因此，在S120中检测到的信号的振幅与S110中发送的信号的振幅是不相同的。
S130，按预置策略判断调整方式。
具体的，接收端判断检测到的信号的眼图的宽度与宽度门限的大小关系和眼图的高度与高度门限的大小关系，结合预配置策略调整预加重参数的各个分量。例如，当链路中的FIR滤波器为图2中的3阶FIR滤波器时，S130可以确定如何调整pre、pos和main三个分量。或者，接收端根据预配置策略确定预加重参数的pre、pos和main分量满足链路需求，不需要进一步进行调整。
S140，接收端通知发送端是否更新系数。
该系数为预加重参数或者预加重参数的各个分量。当接收端通知发送端更新系数时，执行S150。当接收端通知发送端不更新系数时，流程结束。
具体的，IEEE 802.3ap协议定义了训练(Training)帧结构。该训练帧结构包括帧标志(Frame marker)、控制信道(control channel)和训练模式。
这里，帧标志占4个字节，值为0xFFFF_0000，在正常数据和训练帧中的其他位域不会出现帧标志。
控制信道包括系数更新(Coefficient update)和现状报告(Status report)。系数更新占16个字节，是接收端发送给发送端的系数更新指令，该指令用于指示发送端调节预加重参数，或者指示发送端不对预加重参数系数进行调整。现状报告占16个字节，是接收端发送给发送端的状态报告，用于告知发送端的发送器的FIR滤波器抽头状态。
训练模式占512字节，是11位的伪随机发生器的输出，最后两比特为2’b00。
接收端通过向发送端发送上述训练帧结构，通知发送端是否需要更新系数。
S150，发送端更新预加重参数。
具体地，发送端根据上述训练帧结构，更新预加重参数。
在发送端更新预加重参数之后，发送端继续向接收端发送PRBS信号，执行S110至S150，直至流程结束。
上述技术方案中，受发送端至接收端之间的响应效率的影响，在链路初始化阶段的逼近效率比较低。训练的收敛时间依赖于初始参数的设定。初始参数是根据经验确定的，可能不准确。
图4是本发明实施例的确定参数的方法200的示意性流程图。本发明实施例中的确定参数的方法可以由第一设备或第二设备执行，也可以由控制模块执行。该第一设备例如为上述图3所示的方法中涉及的发送端。该第二设备例如为上述图3所示的方法中涉及的接收端。控制模块例如为控制电路。该方法200包括：
S210，确定第一设备需要发送的信号的第一补偿值。
该第一设备需要发送的信号可以是Serdes链路中的特定码型，例如BPRS。这里，该信号可以为上述图3中的S110中的信号。具体的，可以参见上述图3中的描述，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，本发明实施例中，可以根据频率与插损值的函数关系，确定所述第一设备发送的上述信号的插损值。然后，根据该插损值，确定上述第一补偿值。具体地，可以根据该函数关系，确定与第一设备发送的信号的第一频率对应的第一插损值。
具体而言，第一设备需要发送的信号具有特定的频率f，根据上述函数关系，能够确定与该频率f对应的第一插损值，进一步可以根据该第一插损值，确定该第一设备发送该信号的第一补偿值。
可选的，根据该第一插损值，确定该第一设备发送该信号的第一补偿值，可以为根据该第一插损值与第一设备的补偿能力的大小关系，确定该第一设备的第一分配比β，再根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
具体的，不同厂家生产的设备的补偿能力不同。可以根据第一设备的对TX信号的补偿能力(该补偿能力可以表示为Ek)与确定的当前链路的插损值(该插损值可以表示为ILk)的关系确定分配策略，例如当Ek>ILK时，β可以取20％～30％；当Ek<ILK时，β可以取70％～80％，β取值偏大可以提高第一设备对TX信号的第一补偿值。
本发明实施例中，该第一补偿值可以为该第一分配比与该第一插损值的乘积。
应注意，本发明实施例中，当确定第一设备的第一分配比为β时，第二设备的第二分配比则为(1-β)。
可选的，根据第一该插损值，确定该第一设备发送该信号的第一补偿值，可以为根据该第一插损值与第二设备对RX信号的补偿能力的关系，确定该第二设备的第二分配比(1-β)和第一设备的第一分配比β，再根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
本发明实施例中，第二设备的补偿值为第二补偿值，该第二补偿值可以为该第二分配比与该第一插损值的乘积。
本发明实施例能够根据具体的设备的补偿能力，灵活地确定合适的分配比，进而可以根据该分配比，分别确定第一设备和第二设备的对上述链路中需要发送的信号的补偿值。
可选的，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和温度修正系数，确定所述第一补偿值。
例如，在高温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1+ζ％)倍；在低温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1-ζ％)倍，其中，ζ为上述温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
S220，根据所述第一补偿值，确定所述第一设备在发送所述信号时需要使用的预加重参数。
具体的，可以通过查表或者根据补偿值与预加重参数之间的公式来仿真确定预加重参数。不同厂家生产的设备对TX信号的补偿值与预加重参数的关系表格可能不一致，或者不同厂家生产的设备对TX信号的补偿值与预加重参数的公式可能不一致，具体的可以参照该第一设备的实际参数确定预加重参数。
可选的，作为一例，可以根据以下公式仿真计算预加重参数：
|pos|＝γ×|pre|
对于常用的系数和模式，预加重参数还满足如下公式：
|pre|+|main|+|pos|≤τ
其中，τ为预加重系数和，γ为pos与pre系数的配比，具体的τ和γ的取值是预先设置的，具体的与第一设备的属性有关。一般的，τ的取值可以为64，经验值一般选γ的取值范围为2到3，选取γ≥2可以改善信号上升沿。
可选地，S220之后，图4所示的方法还可以包括：
所述第一设备根据所述预加重参数对所述信号进行预加重处理，从而生成经预加重处理的信号。
举例来说，所述第一设备可以是发送电路。所述发送电路可以包括图1中的多项选择器101、信号生成器102、多项选择器103、串行器104、FIR滤波器105和发送器106等器件。
可选地，S220之后，以及所述第一设备根据所述预加重参数对所述信号进行预加重处理，从而生成经预加重处理的信号之前，图4所示的方法还可以包括：
第一设备根据所述预加重参数对FIR滤波器进行配置。
具体的，第一设备根据上述S220中确定的预加重参数的各个分量对FIR滤波器进行配置。例如，当第一设备确定了pre、main和pos三个分量之后，可以对图2中的201模块、202模块和203模块的C0阶系数、C1阶系数和C2阶系数进行设置。
可选地，所述第一设备根据所述预加重参数对所述信号进行预加重处理具体包括：第一设备中的FIR滤波器对所述信号进行预加重处理。
所述第一设备发送所述经预加重处理的信号具体包括：
所述第一设备向接收电路发送所述经预加重处理的信号。
例如，接收电路可以包括上述图1中的多项选择器108、接收器109、AGC110、均衡器111、CDR112、解串器113和信号检验器114等器件。
具体的，当第一设备配置了预加重参数之后，可以向第二设备发送S110中第一设备需要向第二设备发送的信号。当该信号经过FIR滤波器时，该信号的高频分量能够被识别，并且FIR滤波器能够对该信号的高频分量进行预加重处理。本发明实施例首先确定出第一设备需要发送的信号的第一补偿值，然后根据该第一补偿值，确定该第一设备发送该信号时需要配置的预加重参数，并且该第一设备能够根据该预加重参数向第二设备发送该信号。本发明实施例能够根据第一补偿值，为Serdes链路配置预加重参数。本发明实施例能够灵活地为链路配置预加重参数，因而能够使Serdes链路中的信号进行可靠、高效的传输。
本发明实施例中的实现上述确定参数的配置，可以设计在第一设备和/或第二设备的芯片中，这时可以使用802.3ap的控制码字通道实现发送和接收信号。
可选的，本发明实施例中，在确定上述第一设备发送上述信号的插损值之前，还可以确定上述频率与插损值的函数关系。
具体的，确定该函数关系，可以包括：确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定上述函数关系。
其中，上述两个测试信号的频率不同。每个测试信号是上述第一设备在关闭加重条件下向上述第二设备发送的。因此，每个信号是未经预加重处理的。并且，每个测试信号的振幅是该第二设备在关闭均衡和关闭振幅放大条件下确定的。
图5示出了本发明一个具体的用于确定参数的第一设备和第二设备的实体装置示意性框图。本发明实施例在第一设备11和第二设备12的物理编码子层(Physical Coding Sublayer，PCS)和Serdes互联网协议核(InternetProtocol Core)之间设计了测试帧收发模块和逻辑状态机。第一设备和第二设备之间通过控制字通道发送或接收信号。本发明实施例通过在第一设备和第二设备中增加测试帧收发模块和逻辑状态机，不需要软件干预，可以自动并且快速地实现链路参数的配置。
本发明实施例中图5中的测试帧收发模块包括测试帧生成模块和测试帧解析模块。
逻辑状态机用于控制测试帧收发模块接收或发送信号，并对收发模块发送或接收的信号进行处理。
当第一设备需要发送信号时，第一设备的逻辑状态机1108控制测试帧生成模块1105生成该信号的数据帧，并通过多项选择器1102的选择，将该数据帧发送至发送器1103。由发送器1103将该数据帧发送出去。
当第一设备需要接收信号时，第一设备接收器1111将接收到的信号的数据帧发送至多项选择器1109。该多项选择器将接收到的信号的数据帧发送给测试帧解析模块1106。测试帧解析模块1106通过对数据帧的解析，获取信号，并将信号发送给逻辑状态机1108。
第二设备与第一设备接收或发送信号的方式相类似。为避免重复，这里不再赘述。
这里，第一设备可以向第二设备发送两个测试信号，也可以发送多个测试信号，第二设备接收该测试信号并检测该测试信号的振幅。同样的，第二设备也可以向第一设备发送测试信号，第一设备接收该测试信号并检测该测试信号的振幅。下文将结合图6、图7和图8，以第一设备发送测试信号、第二设备接收测试信号并检测测试信号的振幅为例对确定预加重参数的技术方案进行说明。
图6示出了本发明一个实施例的确定参数的方法300的示意性流程图。该方法中的S350对应于上述方法200中的S210。S360对应于上述方法200中的S220。该方法300中，S350和S360由图5所示的第一设备11执行。该方法300包括：
S310，第一设备11向第二设备12发送测试信号。
具体的，第一设备和第二设备的收发端通过控制字握手。第一设备的逻辑状态机1108控制该第一设备的测试帧生成模块1105产生至少两个测试信号，该至少两个测试信号的频率不相等，并且未经预加重处理。该测试信号可以为时钟测试码型。
该不同频率的时钟测试码型可以为0101码型、00110011码型、0000011111码型或00000000001111111111码型等，该时钟测试码型为方波信号，不包含第一设备需要向第二设备发送的信息。第一设备可以向第二设备通过发送器1130在无加重条件下(即不使用FIR滤波器1104)发送若干个周期的上述不同频率的时钟测试码型，各个时钟测试码型的周期数可以相同，也可以不同。
可以理解，本发明实施例中，该测试信号可以为多个，该多个测试信号中至少有两个测试信号的频率相同，也就是说，该多个测试信号中也可以包含两个测试信号具有相同的频率。
本发明实施例中，可以使用IEEE802.3ap的保留控制字发送测试信号，也可以定义新的控制字格式发送测试信号。另外，除了使用自定义的码型之外，本发明实施例还可以使用Serdes半速、1/4速等方式确定测试信号的码型。
此时，第一设备的逻辑状态机1108可以记录各个测试信号的频率。例如，可以将各个测试信号的频率记为一个频率序列F＝[F1，F2……FN]，其中，F1为第一个测试信号的频率，F2为第二个测试信号的频率，FN为第N个测试信号的频率。
第一设备在发送测试信号时，逻辑状态机1108还需要记录每个测试信号的初始振幅A0。一个频率的测试信号对应的A0值是固定的，并且A0值在一个频段内可以近似认为相同。
S320，第二设备12确定测试信号的振幅。
具体的，第二设备在关闭均衡条件下(即不使用自适应均衡模块1211)通过接收器1210接收上述测试信号。第二设备的振幅测试模块1207在关闭振幅放大条件下检测第一设备发送的多个测试信号，这里，第二设备可以利用Serdes链路的数字眼图功能获取各个测试信号的振幅，第二设备的逻辑状态机1208根据获取的振幅测试模块1207发送的振幅，将各个测试信号的振幅记为一个振幅序列A＝[A1，A2……AN]，其中，A1为第一个测试信号的振幅，A2为第二个测试信号的振幅，AN为第N个测试信号的振幅。
这里，对于同一频率的至少两个时钟测试码型，第二设备可以检测多个不同的测试信号的振幅，采用多次采样求和取平均值的方式来减少每个测试信号振幅的误差。
S330，第二设备12向第一设备11发送振幅。
这里，第二设备通过控制字将该振幅发送给第一设备。本发明实施例中该控制字可以为802.3ap的保留控制字，也可以为定义的新的控制字格式。具体的，第二设备的逻辑状态机1208通过第二设备的测试帧生成模块1205，生成包含该振幅序列的数据帧，通过第二设备的发送器，将包含该振幅序列的数据帧发送给第一设备。
第一设备通过第一设备的接收器1111，接收包含振幅序列的数据帧，之后第一设备的测试帧解析模块1106获取上述振幅序列，并将获取的振幅序列发送给第一设备的逻辑状态机。
S340，第一设备11确定频率和插损值的函数关系。
首先，第一设备的逻辑状态机1108根据接收的振幅序列A和每个测试信号的初始振幅A0，确定每个测试信号的插损值IL。具体的，可以根据下面的公式确定插损值：
这里，多个测试信号的插损值可以记为插损值序列IL＝[IL1，IL2…….ILN]，其中，IL1为第一个测试信号的插损值，IL2为第二个测试信号的插损值，ILN为第N个测试信号的插损值。
然后，可以确定该链路的频率和插损值的函数关系。本发明实施例中，该函数关系可以表现为插损拟合曲线。在真实情况中，插损拟合曲线在链路的应用频率范围内一般近似呈线性，因此可以采用直线拟合，具体的可以设定插损公式为：
IL＝a1×F+a0
根据最小二乘法即可以求得系数a1和a0。
因为预加重参数会随着链路的长度和温度等条件的变化而变化，现有技术只能在当前的温度条件下自适应，当温度条件变化时，配置参数不会改变，很有可能造成预加重参数和均衡参数无法满足链路要求，使链路存在误码的风险。
本发明实施例在确定链路的插损拟合曲线时，还可以引入温度修正系数，对链路的频率和插损值的曲线进行修正，使曲线能够在不同的温度条件自适应，减小或者避免链路的误码风险。
作为一例，本发明实施例中，可以根据每个测试信号的插损值、频率和第一温度修正系数，确定上述函数关系。
具体而言，在确定函数关系过程中，引入考虑温度等条件变化的第一温度修正系数，可以增加上述方法测算的预加重参数的适应性。这里，以函数关系为插损拟合曲线为例进行说明。
作为一例，可以将上文中的插损公式调整为：
IL＝t1×a1×F+a0+t0
其中，t1和t0为第一温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。例如，在高温时的t1和t0的值可以大与低温时的t1和t0的值。这样，能够得到该链路在高温和低温下的不同的插损拟合曲线。
这里，还可以将温度划分为多个不同的范围，例如高温(90℃-150℃)、中温(10℃-90℃)、和低温(-50℃-10℃)三个范围，其中高温对应的第一温度修正系数为t11和t01，中温对应的第一温度修正系数为t12和t02，低温对应的第一温度修正系数为t13和t03。这样，可以拟合出不同链路的三种不同温度下的插损拟合曲线，可以根据链路的实时温度选择适合的插损拟合曲线，进而使链路能够在不同温度下自适应确定预加重参数。
作为另一例，本发明实施例中，可以根据所述插损值和第二温度修正系数，确定所述第一补偿值。具体的，在工程应用中，还可以将上文中的插损公式调整为：
IL1＝(a1×F+a0)×(1+ζ％)
或IL2＝(a1×F+a0)×(1-ζ％)
其中，ζ为第二温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。IL1表示高温下的插损值增加ζ％，IL2表示低温下插损值减少ζ％。
这样通过在曲线拟合的过程中引入温度修正系数，当温度条件改变时，可以确定适合当前温度的插损拟合曲线，进一步可以根据插损拟合曲线估算出最优的预加重参数，以满足系统在不同温度下的需求，降低链路误码的风险。
应注意，本发明实施例中，可以根据实际情况灵活地选取拟合插损曲线需要扫描的测试信号的个数。
一般情况下，插损曲线近似线性，可以适当减少测试信号的个数，以提高测算效率。例如，当线性度很好时，可以只通过两个测试信号来确定拟合曲线。而对于阻抗连续性不好的链路，其插损拟合曲线在一定频段可能呈现非线性，此时可以调整拟合模型，使用多次多项式的方式拟合插损拟合曲线，同时可以适当增加测试信号的数量，来减小测算的误差，本发明对此不作限定。
S350，第一设备11确定第一补偿值。
第一设备的逻辑状态机1108根据需要发送的信号的频率，确定需要发送的信号的补偿值。这里，第一设备可以根据自身的补偿能力与插损值的关系，确定第一补偿值。具体的，可以参见上述图4中的S210，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，在执行S350时，逻辑状态机1108也可以确定第二设备的第二补偿值。具体的，可以参见上述图4中的S210，为避免重复，这里不再赘述。当在S350中确定了第二设备的第二补偿值时，可以将该第二补偿值通过控制字发送给第二设备。
S360，第一设备11确定预加重参数。
该步骤可以由第一设备的逻辑状态机1108实现。具体的，可以参见上述图4中的S220，为避免重复，这里不再赘述。
S370，第一设备11根据确定的预加重配置参数向第二设备12发送信号。
具体的，第一设备的FIR滤波器1104根据确定的预加重参数更新预加重参数的各个分量，更新完成之后，向第一设备在加重条件下通过发送器1103发送S350中的需要向第二设备发送的信号。
S380，第二设备12根据接收到的信号，配置均衡参数。
具体的，第二设备的接收器1210可以包括自适应均衡模块1211，该自适应均衡模块1211可以采用现有的自适应接收均衡方法对接收端的均衡参数进行调整。
当第二设备接收到第一设备发的第二补偿值时，还可以根据该第二补偿值和接收到的信号，确定均衡参数。例如，第二设备的逻辑状态机1208可以根据第二补偿值，通过计算仿真或者查表，确定均衡参数的参考值，该参考值可以用来判断第二设备自适应获得的均衡参数是否合理。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
图7示出了本发明一个实施例的确定参数的方法400的示意性流程图。这里，第一设备11和第二设备12可以为图5所示的第一设备和第二设备。方法400中第二设备12的逻辑状态机1208确定第一设备11的第一补偿值，并将该第一补偿值发送给第一设备11，第一设备11的逻辑状态1208根据接收的第一补偿值，确定预加重参数。该方法400包括：
S410，第一设备11向第二设备12发送测试信号。
第一设备的逻辑状态机1108可以控制第一设备的收发模块向第二设备发送上述测试信号。具体的，可以参见上述图6中的S310，为避免重复，这里不再赘述。
S420，第二设备12确定测试信号的振幅。
具体的，可以参见上述图6中的S320的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S430，第二设备12确定频率与插损值的函数关系。
第二设备的逻辑状态机1208可以预先存储每个测试信号的初始振幅A0，进而可以确定频率与插损值的函数关系。具体的，可以参见上述图6中的S340的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S440，第二设备12确定第一补偿值。
第二设备根据需要发送的信号的频率，确定需要发送的信号的补偿值。这里，第二设备可以根据自身的补偿能力与第一插损值的关系，确定第一补偿值。具体的，可以参见上述图4中的S210，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，在S440中，第二设备也可以确定第二设备的第二补偿值，具体的可以参见上述图4中S210的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S450，第二设备12将第一补偿值发送给第一设备11。
第二设备通过控制字将该第一补偿值，发送给第一设备。本发明实施例中该控制字可以为802.3ap的保留控制字，也可以为定义的新的控制字格式。
具体的，第二设备可以通过测试针生成模块1205，生成包含第一补偿值的数据帧，然后通过第二设备的发送器1203将该数据帧发送给第一设备。第一设备的接收器1111接收到该数据帧后，通过测试帧解析模块1106，获取该第一补偿值，将该第一补偿值发送至第一设备的逻辑状态机1108。
S460，第一设备11根据第一补偿值，确定预加重参数。
该步骤由第一设备的逻辑状态机1108执行。具体的，可以参见上述图4中的S220，为避免重复，这里不再赘述。
S470，第一设备11根据确定的预加重配置参数向第二设备12发送信号。
具体的，可以参见上述图6中的S370，为避免重复，这里不再赘述。
S480，第二设备12根据接收到的信号，配置均衡参数。
具体的，可以参见上述图6中的S380，为避免重复，这里不再赘述。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
图8示出了本发明一个实施例的确定参数的方法500的示意性流程图。这里，第一设备11和第二设备12可以为图5所示的第一设备和第二设备。该方法500中的S540对应于上述方法200中的S210，S550对应于上述方法200中的S220。该方法500中，S540和S550由图5所示的第二设备12执行。该方法500包括：
S510，第一设备11向第二设备12发送测试信号。
第一设备的逻辑状态机1108可以控制第一设备的收发模块向第二设备发送上述测试信号。具体的，可以参见上述图6中的S310，为避免重复，这里不再赘述。
S520，第二设备12确定测试信号的振幅。
具体的，可以参见上述图6中的S320的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S530，第二设备12确定频率与插损值的函数关系。
第二设备的逻辑状态机1208可以预先存储每个不同的测试信号的初始振幅A0，进而可以确定频率与插损值的函数关系。具体的，可以参见上述图6中的S340的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S540，第二设备12确定第一设备的第一补偿值。
第二设备根据需要发送的信号的频率，确定需要发送的信号的补偿值。这里，第二设备可以根据自身的补偿能力与第一插损值的关系，确定第一补偿值。具体的，可以参见上述图4中的S210，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，在S540中，第二设备也可以确定自身的第二补偿值，具体的可以参见上述图4中S210的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S550，第二设备12根据第一补偿值，确定预加重参数。
具体的，可以参见上述图4中的S220，为避免重复，这里不再赘述。
S560，第二设备12将预加重参数发送给第一设备11。
第二设备可以通过控制字将该振幅发送给第一设备。本发明实施例中该控制字可以为802.3ap的保留控制字，也可以为定义的新的控制字格式。
具体的，第二设备通过测试针生成模块1205，生成包含预加重参数的数据帧，然后通过第二设备的发送器1203将该数据帧发送给第一设备。第一设备的接收器1111接收到该数据帧后，通过测试帧解析模块1106，获取该预加重参数，将该预加重参数发送至第一设备的逻辑状态机1108。
S570，第一设备11根据确定的预加重配置参数向第二设备12发送信号。
具体的，可以参见上述图6中的S370，为避免重复，这里不再赘述。
S580，第二设备12根据接收到的信号，配置均衡参数。
具体的，可以参见上述图6中的S380，为避免重复，这里不再赘述。
本发明实施例通过构造不同频率的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
本发明实施例中的实现上述确定参数的配置，也可以设计在外部系统中，该外部系统例如为控制设备。当采用外部系统实现确定参数时，外部系统可以使用总线和接口标准(Peripheral Component Interface Express，PCIe)、管理数据输入输出(Management Data Input/Output，MDIO)或高级高性能总线(Advanced High Performance Bus，AHB)等控制通道，下发给第一设备和第二设备各类指令。
作为一例，可以使用片外中央处理器(Central Processing Unit，CPU)或主控板等作为控制系统，使用相应的软件灵活的实现配置链路参数。软件实现不依赖于芯片，可扩展性强，可以根据实际需要灵活配置函数关系的修正值。例如，当需要修改分配策略或者温度修正系数时，可以通过软件实现参数的重新配置。
作为另一例，可以使用片内集成微控制单元(Microcontroller Unit，MCU)，使用固件(firmware)实现配置链路参数。当固件程序启动后能够自动完成参数配置，可以减小方案的软件依赖性。
图9示出了本发明实施例的确定参数的方法600的示意性流程图。图9中的第一设备11和第二设备12能够接收并执行控制系统的指令。这里，第一设备11和第二设备12具有测试帧收发模块，第一设备11或第二设备12能够接收外部系统的指令，并且根据该外部系统的指令发送或者接收测试信号。该方法600包括：
S601，外部系统13向第一设备11发送第一控制指令。
具体的，该第一控制指令用于指示第一设备向第二设备发送至少两个测试信号，该至少两个测试信号的频率不相等，并且未经预加重处理。。第一设备的收发模块接收到该第一控制指令后，将会执行该第一控制指令。
S602，外部系统13向第二设备12发送第二控制指令。
具体的，该第二控制指令用于指示第二设备检测接收到的测试信号的振幅。具体的，在本发明实施例中，该第二控制指令还可以指示第二设备将该振幅发送给外部系统。第二设备的收发模块接收到该第二控制指令，将会执行该第二控制指令。
S603，第一设备11向第二设备12发送测试信号。
具体的，第一设备通过第一设备的测试帧收发模块中的测试帧生成模块，向第二设备发送至少两个上述测试信号，第二设备在关闭均衡条件下接收第一设备发送的测试信号。具体的，测试信号的描述可以参见上述图6中的S310，为避免重复，这里不再赘述。
S604，第二设备12确定测试信号的振幅。
具体的，第二设备在接收到第二控制指令和测试信号之后，利用Serdes链路的数字眼图功能在关闭振幅放大条件下确定测试信号的振幅。具体的，第二设备确定的测试信号的振幅可以参见上述图6中的S320的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S605，第二设备12向外部系统13发送振幅。
具体的，可以参见图6中S330的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S606，外部系统13确定频率和插损值函数关系，
外部系统可以预先存储每个测试信号的初始振幅A0，进而可以确定频率与插损值的函数关系。具体的，可以参见上述图6中的S340的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S607，外部系统13确定第一补偿值。
外部系统根据第一设备需要发送的信号的频率，确定第一设备需要发送的信号的补偿值。这里，外部系统可以根据第一设备补偿能力与插损值的关系，确定第一补偿值，也可以根据第二设备的补偿能力与插损值的关系，确定第一补偿值。具体的，可以参见上述图4中的S210，为避免重复，这里不再赘述。
可选的，在S607中，外部系统也可以确定第二设备的第二补偿值，并将该第二补偿值发送给第二设备。具体的可以参见上述图4中S210的描述，为避免重复，这里不再赘述。
S608，外部系统13根据第一补偿值，确定预加重参数。
具体的，可以参见上述图4中的S220，为避免重复，这里不再赘述。
S609，外部系统13将预加重参数发送给第一设备。
具体的，外部系统可以通过控制字将该预加重参数发送给第一设备。本发明实施例中该控制字可以为802.3ap的保留控制字，也可以为定义的新的控制字格式。将预加重参数封装为数据帧的格式发送给第一设备，本发明实施例对此不作限定。
S610，第一设备11根据确定的预加重配置参数向第二设备12发送信号。
具体的，可以参见上述图6中的S370，为避免重复，这里不再赘述。
S611，第二设备12根据接收到的信号，配置均衡参数。
具体的，可以参见上述图6中的S380，为避免重复，这里不再赘述。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
上文结合图4至图9描述了本发明实施例的确定参数的方法，下面将结合图10至图17描述本发明实施的确定参数的装置。
图10为本发明实施例的确定参数的装置700的示意性框图。图10中的第一设备可以为发送电路，第二设备可以为接收电路，控制设备可以为控制电路。该装置700包括：
第一确定单元710，用于确定第一设备需要发送的信号的第一补偿值；
第二确定单元720，用于根据所述第一确定单元710确定的第一补偿值，确定所述第一设备在发送所述信号时需要配置的预加重参数。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
可选的，所述第一确定单元710具体用于根据频率与插损值的函数关系，确定所述第一设备发送所述信号的第一插损值；根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
作为一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述第一设备的补偿能力的关系，确定该第一设备的第一分配比β；根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
作为另一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述第二设备的补偿能力的关系，确定该第二设备的第二分配比(1-β)和第一设备的第一分配比β；根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
例如，第一设备的补偿能力表示为Ek，所述第一插损值表示为ILk，若Ek>ILk，β可以取20％～30％；若Ek<ILK，β可以取70％～80％。
这里，上述第一补偿值为上述第一分配比与第一插损值的乘积，上述第二补偿值为上述第二分配比与第一插损值的乘积。
本发明实施例能够根据具体的设备的补偿能力，灵活地确定合适的分配比，进而可以根据该分配比，分别确定第一设备和第二设备的对上述链路的补偿值。
可选的，所述根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和第一温度修正系数，确定所述第一补偿值。
例如，在高温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1+ζ％)倍；在低温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1-ζ％)倍，其中，ζ为上述第一温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
可选的，所述装置700还可以包括：
获取单元，用于获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
所述第一确定单元710还用于根据所述每个测试信号的振幅，确定所述每个测试信号的插损值；
所述第一确定单元710还用于根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
这里，上述至少两个不同频率的未经预加重的测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样第二设备可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
本发明实施例中，该函数关系具体可以为插损拟合曲线。并且，一般情况下，该插损拟合曲线近似线性，因此可以采用直线拟合，设定：
IL＝a1×F+a2
根据获得的每个测试信号的插损值和频率，可以确定上式中的系数a1和a2。
可选的，所述第一确定单元710具体用于：根据所述每个测试信号的插损值、所述每个测试信号的频率和第二温度修正系数，确定所述链路的所述函数关系。
此时，可以设定：
IL＝t1×a1×F+a2+t0
其中，t1和t0为上述第二温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
或者，在高温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1+ζ％)倍；在低温时，插损值可以为根据函数关系获得的插损值IL的(1-ζ％)倍。
本发明实施例在确定链路的插损拟合曲线时，通过引入第一温度修正系数或第二温度修正系数，对链路的频率和插损值的曲线进行修正，使曲线能够在不同的温度条件自适应，减小或者避免链路的误码风险。
可选的，所述装置700可以为控制设备，所述装置700还可以包括：
第一发送单元，用于向所述第一设备发送第一指令，所述第一指令用于指示所述第一设备向所述第二设备发送所述两个测试信号；
所述第一发送单元还用于向所述第二设备发送第二指令，所述第二指令用于指示所述第二设备确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
所述获取单元具体用于：
接收所述第二设备发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
可选的，所述装置700可以为所述第二设备，所述装置700还可以包括：接收单元，用于接收所述第一设备发送的所述两个测试信号；
所述获取单元具体用于确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
可选的，所述第一确定单元710还用于：确定所述第二设备的第二补偿值；根据所述第二补偿值和所述第一设备根据预加重参数发送的所述信号，确定均衡参数。
可选的，所述装置700还可以包括：第二发送单元，用于向所述第一设备发送所述预加重参数。
可选的，所述装置700可以为所述第一设备，所述装置700还可以包括：第三发送单元，用于向第二设备发送两个测试信号；
所述获取单元具体用于：接收所述第二设备发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
可选的，其特征在于，所述第一确定单元710还用于：确定所述第二设备的第二补偿值；所述装置700还包括第四发送单元，用于向所述第二设备发送所述第二补偿值，以便于所述第二设备根据所述第二补偿值和所述第一设备根据预加重参数发送的所述信号，确定均衡参数。
可选的，所述装置700可以为第一设备，所述第一确定单元710具体用于：接收第二设备发送的所述第一补偿值。
可选的，在装置700还包括：第五发送单元，用于向第二设备发送两个测试信号，以便于所述第二设备根据所述两个测试信号确定所述第一补偿值。
可选的，所述第二确定单元720根据所述第一补偿值，确定所述第一设备在发送所述信号时需要配置的预加重参数，包括：根据下述公式确定所述预加重参数：
|pos|＝γ×|pre|
|pre|+|main|+|pos|≤τ
其中，所述EPk表示所述第一补偿值，main，pre和pos分别表示所述预加重参数的三个分量，Log10表示以10为底取对数，|·|表示取模，γ和τ是大于零的预设值。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
应注意，本发明实施例中，第一确定单元710和第二确定单元720可以由处理器实现，发送单元和接收单元可以由收发器实现。如图11所示，装置800可以包括处理器810、存储器820、收发器830和总线系统840。其中，存储器820可以用于存储处理器810执行的代码等。
装置800中的各个组件通过总线系统840耦合在一起，其中总线系统840除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。
图10所示的装置700或图11所示的装置800能够实现前述图4至图9所示的方法实施例中对应的各个过程，具体的，该装置700或装置800为第一设备时，可以参见上述图4至图9中的第一设备的描述；该装置700或装置800为第二设备时，可以参见上述图4至图9中的第二设备的描述；该装置700或800为控制设备时，可以参见上述图9中的外部系统的描述。
图12为本发明实施例的确定参数的装置900的示意性框图。图12中的第一设备可以为发送电路，第二设备可以为接收电路，控制设备可以为控制电路。该装置900包括：
确定单元910，用于确定第一设备需要发送的信号的第一补偿值；
发送单元920，用于向所述第一设备发送所述第一补偿值，以便于所述第一设备根据所述第一补偿值确定预加重参数。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
可选的，所述确定单元910具体用于：根据频率与插损值的函数关系，确定所述第一设备发送所述信号的第一插损值；根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
作为一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述第一设备的补偿能力的关系，确定该第一设备的第一分配比β；根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
作为另一例，根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和所述第二设备的补偿能力的关系，确定该第二设备的第二分配比(1-β)和第一设备的第一分配比β；根据该第一设备的第一分配比β，确定该第一设备的第一补偿值。
例如，第一设备的补偿能力表示为Ek，所述第一插损值表示为ILk，若Ek>ILk，β可以取20％～30％；若Ek<ILK，β可以取70％～80％。
这里，上述第一补偿值为上述第一分配比与第一插损值的乘积，上述第二补偿值为上述第二分配比与第一插损值的乘积。
可选的，所述根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值，包括：根据所述第一插损值和第一温度修正系数，确定所述第一补偿值。
例如，在高温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1+ζ％)倍；在低温时，第一插损值可以为根据函数关系获得的插损值的(1-ζ％)倍，其中，ζ为上述第一温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
可选的，所述装置900还包括：
接收单元，用于接收所述第一设备发送的所述两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
所述确定单元910还用于确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
所述确定单元910还用于根据所述每个测试信号的振幅，确定所述每个测试信号的插损值；
所述确定单元910还用于根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样第二设备可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
本发明实施例中，该函数关系具体可以为插损拟合曲线。并且，一般情况下，该插损拟合曲线近似线性，因此可以采用直线拟合，设定：
IL＝a1×F+a2
根据获得的每个测试信号的插损值和频率，可以确定上式中的系数a1和a2。
可选的，所述确定单元910具体用于：根据所述每个测试信号的插损值、所述每个测试信号的频率和第二温度修正系数，确定所述链路的所述函数关系。
此时，可以设定：
IL＝t1×a1×F+a2+t0
其中，t1和t0为上述第二温度修正系数，可以根据板材和链路情况估算或者依据实测经验值给出。
本发明实施例在确定链路的插损拟合曲线时，通过引入第一温度修正系数或第二温度修正系数，对链路的频率和插损值的曲线进行修正，使曲线能够在不同的温度条件自适应，减小或者避免链路的误码风险。
可选的，所述确定单元9100还用于：确定所述装置的第二补偿值；根据所述第二补偿值和所述第一设备根据预加重参数发送的所述信号，确定均衡参数。
第二设备可以根据该第二补偿值和接收到的信号，确定均衡参数。例如，第二设备通过计算仿真或者查表，确定均衡参数的参考值，该参考值可以用来判断第二设备自适应获得的均衡参数是否合理。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
应注意，本发明实施例中，确定单元910可以由处理器实现，发送单元920和接收单元可以由收发器实现。如图13所示，装置1000可以包括处理器1010、存储器1020、收发器1030和总线系统1040。其中，存储器1020可以用于存储处理器1010执行的代码等。
装置1000中的各个组件通过总线系统1040耦合在一起，其中总线系统1040除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。
图12所示的装置900或图13所示的装置1000能够实现前述图7所示的方法实施例中对应的各个过程，具体的，该装置900或装置1000可以参见上述图7中的第二设备的描述，为避免重复，这里不再赘述。
图14为本发明实施例的确定参数的装置1100的示意性框图，装置1100包括：
接收单元1110，用于接收第一设备发送的两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
确定单元1120，用于确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
发送单元1130，用于将所述每个测试信号的振幅发送至第二设备，以便于所述第二设备根据所述振幅确定预加重参数，其中，所述第二设备为所述第一设备或控制设备。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数，因而能够使Serdes链路中的信号进行可靠、高效的传输。
这里，上述至少两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样第二设备可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
本发明实施例中，在发送上述至少两个测试信号时，还可以确定每个测试信号的频率。
本发明实施例中，可以根据每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅，确定每个测试信号的插损值。具体的，每个测试信号的振幅和每个测试信号的初始振幅具有如下的函数关系：
可选的，所述第二设备为所述控制设备，所述接收单元1110还用于接收所述控制设备发送的第一指令，所述第一指令用于指示所述第二设备确定所述每个测试信号的振幅；所述确定单元1120具体用于：根据所述第二指令，确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
应注意，本发明实施例中，确定单元1120可以由处理器实现，发送单元1130和接收单元1110可以由收发器实现。如图15所示，装置1200可以包括处理器1210、存储器1220、收发器1230和总线系统1240。其中，存储器1220可以用于存储处理器1210执行的代码等。
装置1200中的各个组件通过总线系统1240耦合在一起，其中总线系统1240除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。
图14所示的装置1100或图15所示的装置1200能够实现前述图6和图9所示的方法实施例对应的的各个过程。具体的，该装置1100或装置1200可以参见上述图6和图9中的第二设备的描述，为避免重复，这里不再赘述。
图16为本发明实施例的确定参数的装置1300的示意性框图。图16中的第一设备可以为发送电路，第二设备可以为接收电路，控制设备可以为控制电路。该装置1300包括：
发送单元1310，用于向第一设备发送两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
接收单元1320，用于接收第二设备发送的预加重参数，所述预加重参数是所述第二设备根据所述两个测试信号确定的，其中，所述第二设备为所述第一设备或控制设备。
本发明实施例能够根据第一补偿值，确定预加重参数。相比于现有技术本发明实施例能够灵活地确定预加重参数。
这里，上述两个测试信号可以为不同频率的时钟测试码型，同一频率的时钟测试码型可以定义不同的发送码元周期，这样第二设备可以通过多次采样求和取平均值减小误差。该测试码型除了使用自定义码型之外，还可以使用Serdes半速、1/4速等方式。
可选的，所述第二设备为所述控制设备，所述接收单元1320还用于：
接收所述控制设备发送的第一指令，所述第一指令用于指示所述第一设备发送所述两个测试信号；
所述发送单元1310具体用于：根据所述第一指令，向第二设备发送所述两个测试信号。
本发明实施例通过构造不同的测试信号，自动测量计算第一设备与第二设备之间的链路的插损拟合曲线，并根据需要发送的信号的频率和该插损拟合曲线，确定第一设备的第一补偿值，进一步根据该第一补偿值确定第一设备的预加重参数。在第一设备配置该预加重参数之后，第二设备根据第一设备发送的信号自适应确定均衡参数。因此，本发明实施例能够根据不同设备的补偿能力，灵活分配补偿值，自动配置链路的预加重参数和均衡参数。并且，本发明实施例引入了温度修正系数，能够在不同温度条件下确定最优的链路参数。
应注意，本发明实施例中，发送单元1310和接收单元1320可以由收发器实现。如图17所示，装置1400可以包括处理器1410、存储器1420、收发器1430和总线系统1440。其中，存储器1420可以用于存储处理器1410执行的代码等。
装置1400中的各个组件通过总线系统1440耦合在一起，其中总线系统1440除包括数据总线之外，还包括电源总线、控制总线和状态信号总线。
图16所示的装置1300或图17所示的装置1400能够实现前述图8至图9所示的方法实施例对应的各个过程，具体的，该装置1300或装置1400可以参见上述图8至图9中的第一设备的描述，为避免重复，这里不再赘述。
应注意，本发明上述方法实施例可以应用于处理器中，或者由处理器实现。处理器可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法实施例的各步骤可以通过处理器中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。上述的处理器可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，ASIC)、现成可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。结合本发明实施例所公开的方法的步骤可以直接体现为硬件译码处理器执行完成，或者用译码处理器中的硬件及软件模块组合执行完成。软件模块可以位于随机存储器，闪存、只读存储器，可编程只读存储器或者电可擦写可编程存储器、寄存器等本领域成熟的存储介质中。该存储介质位于存储器，处理器读取存储器中的信息，结合其硬件完成上述方法的步骤。
可以理解，本发明实施例中的存储器可以是易失性存储器或非易失性存储器，或可包括易失性和非易失性存储器两者。其中，非易失性存储器可以是只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、可编程只读存储器(ProgrammableROM，PROM)、可擦除可编程只读存储器(Erasable PROM，EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(Electrically EPROM，EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)，其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的RAM可用，例如静态随机存取存储器(Static RAM，SRAM)、动态随机存取存储器(DynamicRAM，DRAM)、同步动态随机存取存储器(Synchronous DRAM，SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(Double Data Rate SDRAM，DDRSDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(Enhanced SDRAM，ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(Synchlink DRAM，SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(Direct Rambus RAM，DR RAM)。应注意，本文描述的系统和方法的存储器旨在包括但不限于这些和任意其它适合类型的存储器。
本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例中描述的各方法步骤和单元，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各实施例的步骤及组成。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。本领域普通技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或步骤可以用硬件、处理器执行的软件程序，或者二者的结合来实施。软件程序可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明的可能的实现方式不并不限于上述实施例。本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行修改或替换。

Claims (22)

1.一种确定参数的方法，其特征在于，包括：
电路确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
所述电路根据所述第一补偿值，确定所述发送电路在发送所述信号时需要使用的预加重参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值包括：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值之前，还包括：
获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；
根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个测试信号的插损值和所述每个测试信号的频率，确定所述函数关系，包括：
根据每个测试信号的插损值、每个测试信号的频率和第一温度修正系数，确定所述函数关系。
5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述方法由控制电路执行，所述控制电路包括所述电路，
在所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，所述方法还包括：
向所述发送电路发送第一指令，所述第一指令用于指示所述发送电路向接收电路发送所述两个测试信号；
向所述接收电路发送第二指令，所述第二指令用于指示所述接收电路确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，包括：
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
6.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述方法由接收电路执行，所述接收电路包括所述电路，
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，所述方法还包括：
接收所述发送电路发送的所述两个测试信号；
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，包括：
根据接收的所述两个测试信号，确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
7.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述方法由所述发送电路执行，所述发送电路包括所述电路，
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅之前，还包括：
向接收电路发送所述两个测试信号；
所述获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，包括：
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
8.一种确定参数的方法，其特征在于，所述方法由接收电路执行，包括：
确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
向所述发送电路发送所述第一补偿值，所述第一补偿值用于被所述发送电路用来确定预加重参数。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值包括：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述确定所述发送电路发送所述信号的插损值之前，还包括：
接收所述发送电路发送的两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；
根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系，包括：
根据每个测试信号的插损值、每个测试信号的频率和第一温度修正系数，确定所述函数关系。
12.一种确定参数的装置，其特征在于，包括：
第一确定单元，用于确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
第二确定单元，用于根据所述第一确定单元确定的所述第一补偿值，确定所述发送电路在发送所述信号时需要使用的预加重参数。
13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述第一确定单元具体用于：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
14.根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
获取单元，用于获取两个测试信号中的每个测试信号的振幅，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
所述第一确定单元还用于根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；
所述第一确定单元还用于根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述第一确定单元具体用于：
根据每个测试信号的插损值、每个测试信号的频率和第一温度修正系数，确定所述函数关系。
16.根据权利要求14或15所述的装置，其特征在于，所述装置为控制电路，所述装置还包括：
第一发送单元，用于向所述发送电路发送第一指令，所述第一指令用于指示所述发送电路向接收电路发送所述两个测试信号；
所述第一发送单元还用于向所述接收电路发送第二指令，所述第二指令用于指示所述接收电路确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
所述获取单元具体用于：
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
17.根据权利要求14或15所述的装置，其特征在于，所述装置为接收电路，所述装置还包括：
接收单元，用于接收所述发送电路发送的所述两个测试信号；
所述获取模块具体用于：
根据接收的所述两个测试信号，确定所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
18.根据权利要求14或15所述的装置，其特征在于，所述装置为所述发送电路，所述装置还包括：
第三发送模块，用于向接收电路发送所述两个测试信号；
所述获取模块具体用于：
接收所述接收电路发送的所述两个测试信号中的每个测试信号的振幅。
19.一种确定参数的装置，其特征在于，所述装置为接收电路，包括：
确定单元，用于确定发送电路需要发送的信号的第一补偿值；
发送单元，用于向所述发送电路发送所述第一补偿值，所述第一补偿值用于被所述发送电路用来确定预加重参数。
20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，所述确定单元具体用于：
根据频率与插损值的函数关系，确定所述发送电路发送所述信号的第一插损值；
根据所述第一插损值，确定所述第一补偿值。
21.根据权利要求20所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
接收单元，用于接收所述发送电路发送的两个测试信号，所述两个测试信号的频率不相等，所述两个测试信号未经预加重处理；
所述确定单元还用于确定两个测试信号中的每个测试信号的振幅；
所述确定单元还用于根据每个测试信号的振幅，确定每个测试信号的插损值；
所述确定单元还用于根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系。
22.根据权利要求21所述的装置，其特征在于，所述确定单元根据每个测试信号的插损值和每个测试信号的频率，确定所述函数关系，包括：
根据每个测试信号的插损值、每个测试信号的频率和第一温度修正系数，确定所述函数关系。
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