CN107238763A - 具电荷侦测装置的电子元件测试分类机 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，该测试分类机的机台包括供料装置、收料装置、测试装置、输送装置、控制装置、至少一离子产生器以及至少一电荷侦测装置，该电荷侦测装置包括至少一侦测感知器及微处理器，该侦测感知器架设于机台所属环境空间中，以侦测机台的电荷信号，并通过微处理器分析出机台所属环境空间中是否有电荷不平衡的现象，从而进一步控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，进而有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象，以确保电子元件的测试质量。
Description
技术领域
本发明涉及一种可侦测及分析机台所属环境空间中的电荷信号，并能够进一步控制离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，进而有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象的电子元件测试分类机。
背景技术
自然界中的物质可经由某种过程而获得或失去电子(例如摩擦或感应起电)，这类电荷即称为静电。当这些正电荷或是负电荷逐渐累积时，会与周围环境产生电位差，该具有不同电位的物体经由直接接触或静电感应引起物体间的静电电荷转移，当静电场的能量达到一定的程度后会进行放电，此即称为静电放电现象，简称为ESD(ElectroStatic Discharge)。以电子元件测试分类机而言，其之所以会产生静电，可能是电子元件本身的残电或者是机台上的装置在运动过程中因摩擦而累积的静电，不论如何，当这些静电的正电荷或是负电荷失去平衡而使电位差的能量累积到某种程度后，一旦电子元件在移动的过程中瞬间接近或接触到导体，便会产生所谓的静电放电现象，而这种静电放电现象将会导致该移动中电子元件的毁损。尤其现今的电子元件，追求多功能与小型化，任何静电放电现象都可能导致相当程度的毁损，因此对于静电放电现象的防范显得更加重要。一般而言，机台静电放电现象的防范方法包括装设地线，从而利用地线将机台内的静电传导出去；此外，亦有利用离子风扇消除静电的方式，如图1所示，其为本案申请人所申请的中国台湾第97119211号“机器设备的离子风扇检知装置”发明专利案，该测试分类处理机于机台11上设置有用以执行不同作业的各项装置，例如供料匣、收料匣及测试装置等相关装置，并于机台11上设有一外罩12，该外罩12将各装置罩置于内，以防止灰尘杂屑落入及确保各装置顺畅工作，机台11的内部设有一控制各装置工作的中央处理器13，该中央处理器13可为工业计算机，并通过线路连接装配于外罩12外部的各显示单元，各显示单元可分别为屏幕显示器131或多个警示灯132，使屏幕显示器131或各警示灯132可分别显示各项信息数据及发出警示信息，另于外罩12的内顶面装配有用以消除静电的离子风扇14，该离子风扇14再通过线路连接一检知装置15，该检知装置15用以侦测离子风扇14的各项使用状态，并通过线路连接中央处理器13，从而可将各项侦测信息传输至中央处理器13，使中央处理器13通过屏幕显示器131或警示灯132提示离子风扇14的异常信息。如图2所示，该检知装置15包含第一、二、三侦测单元151、152、153及微处理单元154，第一、二、三侦测单元251、152、153分别通过线路连接于离子风扇14，第一侦测单元151用以侦测离子风扇14的电源未开启、电源插头脱落等状态，第二侦测单元152用以侦测离子风扇14的风扇不转、风扇因异物堵转、风扇保护罩被开启等状态，第三侦测单元153用以侦测离子风扇14的离子不平衡、离子数不足、离子产生器故障等状态，各第一、二、三侦测单元151、152、153再分别将侦测信号传输至微处理单元154，该微处理单元154于接收第一、二、三侦测单元151、152、153传输的侦测信号后，将各侦测信号作一比对判别，再将侦测结果传输至中央处理器13，该中央处理器13可于屏幕显示器131显示侦测数据，第一、二、三警示灯132A、132B、132C用以分别针对各第一、二、三侦测单元151、152、153的侦测结果发出警示，例如，当该第三侦测单元153侦测到离子风扇14的离子不平衡、离子数不足或离子产生器故障并将侦测信号传输至微处理单元154时，该微处理单元154将侦测信号作一比对判别并将侦测结果传输至中央处理器13，若侦测结果为离子风扇14的离子数不足，则中央处理器13通过屏幕显示器131显示离子数不足的字幕，或使第三警示灯132C闪烁以告知工作人员，工作人员可立即获知离子数不足的异常信息。然而，一般而言，离子风扇14释放出的正离子或负离子为各占50％，该检知装置15中的第三侦测单元153也仅侦测离子风扇14本身释放出的正离子及负离子是否维持各占50％的平衡状态，然而，当机台所属环境空间中静电场的正电荷或是负电荷已经失去平衡，从而造成电位差时，离子风扇14即便是维持释放出50％的正离子及负离子，将仍然无法降低电位差以消除静电，因此该检知装置15中的第三侦测单元153在无法侦测出机台所属环境空间中的电荷状态下，并不能根据机台所属环境空间中的电荷状态来调变该离子风扇14释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷，使静电的正电荷或是负电荷保持平衡，从而降低电位差以消除静电，进而避免机台在测试过程中发生静电放电现象。
有鉴于此，本案发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种可侦测及分析机台所属环境空间中的电荷信号，并能够进一步控制离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，进而有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象，此即为本发明的设计宗旨。
发明内容
本发明的目的在于提供一种具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，该测试分类机的机台包括供料装置、收料装置、测试装置、输送装置、控制装置、至少一离子产生器以及至少一电荷侦测装置，该电荷侦测装置包括至少一侦测感知器及微处理器，该侦测感知器架设于机台所属环境空间中，以侦测机台的电荷信号，并通过微处理器分析出机台所属环境空间中是否有电荷不平衡的现象，从而进一步控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，进而有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象，以确保电子元件的测试质量。
为了达到上述目的，本发明提供了一种具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其包括：
机台；
供料装置，设于该机台上，供容纳多个待测电子元件；
收料装置，设于该机台上，供容纳多个不同等级的完成测试后的电子元件；
测试装置，设于该机台上，以供至少一个电子元件执行测试作业；
输送装置，设于该机台上，以于该供料装置、该测试装置及该收料装置之间移载待测电子元件及完成测试后的电子元件；
控制装置，用于控制该供料装置、该收料装置、该测试装置及该输送装置工作；
至少一离子产生器，设于该机台上，以释放出正离子及负离子；
至少一电荷侦测装置，包括至少一侦测感知器及微处理器，该侦测感知器架设于机台所属环境空间中并连接至该微处理器，以侦测及分析机台的电荷信号，并控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和该机台所属环境空间中的静电荷。
在本发明的一实施例中，该测试装置设有测试模块，该测试模块上设有至少一个测试座。
在本发明的一实施例中，该输送装置设有至少一具取放器的移料臂、至少一转载台及至少一测试移载臂，该输送装置用以输送待测电子元件及完成测试后的电子元件。
在本发明的一实施例中，该输送装置中的转载台于该机台的第一侧设有入料转载台以及于该机台的第二侧设有出料转载台，该测试移载臂设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，以接续将该入料转载台上的待测电子元件移载至该测试装置执行测试作业，并于完成测试后将该电子元件移载至该出料转载台。
在本发明的一实施例中，该离子产生器为离子风扇。
在本发明的一实施例中，该机台外部设有外罩，该离子产生器装配于该外罩的内部。
在本发明的一实施例中，该电荷侦测装置中的侦测感知器侦测该机台的电荷信号并将该机台的电荷信号传输至该微处理器，该微处理器分析出该机台所属环境空间中是否有电荷不平衡的现象。
在本发明的一实施例中，该电荷侦测装置于该机台所属环境空间中配置有多个侦测感知器，并将该多个侦测感知器连接于该微处理器，通过该多个侦测感知器侦测该机台各位置产生的电荷信号。
在本发明的一实施例中，该电荷侦测装置中的微处理器连接于该离子产生器，该微处理器控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子。
在本发明的一实施例中，该电荷侦测装置中的微处理器连接于该控制装置，该控制装置控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子。
附图说明
图1为中国台湾第97119211号发明专利案中的机台的示意图；
图2为中国台湾第97119211号发明专利案中的检知装置的示意图；
图3为本发明中的机台的架构示意图；
图4为本发明中的机台的示意图；
图5为本发明中的电荷侦测装置第一实施例的示意图；
图6为本发明中的电荷侦测装置第二实施例的示意图；
图7为本发明中的电荷侦测装置第三实施例的示意图。
附图标记说明：10-机台 12-外罩；13-中央处理器；131-屏幕显示器；132-警示灯；132A-第一警示灯；132B-第二警示灯；132C-第三警示灯；14-离子风扇；15-检知装置；151-第一侦测单元；152-第二侦测单元；153-第三侦测单元；154-微处理单元；20-机台；21-供料装置；22-收料装置；23-测试装置；231-测试模块；232-测试座；24-输送装置；241：移料臂；2411：取放器；242-入料转载台；2421-第一承座；243-出料转载台；2431-第二承座；244-第一测试移载臂；2441-第一吸嘴；245-第二测试移载臂；2451-第二吸嘴；25-控制装置；26-离子产生器；27-电荷侦测装置；271-侦测感知器；272-微处理器。
具体实施方式
为使审查员对本发明作更进一步的了解，兹举较佳实施例并配合图式，详述如后：
如图3所示，本发明提供的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机中的机台20上配置有供料装置21、收料装置22、测试装置23、输送装置24及控制装置25(如图4所示)，该供料装置21用于容纳多个待测电子元件，收料装置22用于容纳多个不同等级(如合格品或不合格品)的完成测试后的电子元件，该测试装置23设有测试模块231，并于该测试模块231上设有多个测试座232，以供置入多个电子元件并执行测试作业，该输送装置24设有至少一具取放器2411的移料臂241、至少一转载台及至少一测试移载臂，用以输送待测电子元件及完成测试后的电子元件；于本实施例中，该输送装置24中的移料臂241可作X-Y-Z三轴向移动，从而可移载供料装置21中的待测电子元件以及将完成测试后的电子元件移载至收料装置22，并执行分类作业；另于本实施例中，该输送装置24中的转载台于机台20的第一侧设有入料转载台242以及于机台20的第二侧设有出料转载台243，该入料转载台242可作X轴向移动，并于台面上开设多个第一承座2421，进而该入料转载台242可利用多个第一承座2421将移料臂241所移载的待测电子元件移载至测试装置23的第一侧；另外，该出料转载台243同样可作X轴向移动，并于台面上开设多个第二承座2431，进而该出料转载台243可利用多个第二承座2431将完成测试后的电子元件移载至移料臂241；另于本实施例中，该输送装置24中的测试移载臂设有第一测试移载臂244及第二测试移载臂245，以接续的将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完成测试后将电子元件移载至出料转载台243；于本实施例中，该第一测试移载臂244设有多个第一吸嘴2441，并可作Y-Z轴向移动，以将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完成测试后将电子元件移载至出料转载台243；该第二测试移载臂245同样设有多个第二吸嘴2451，并可作Y-Z轴向移动，以接续将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完测后将电子元件移载至出料转载台243。
如图4所示，本发明中的机台20外部设有外罩30，该外罩30将各装置罩置于内，以防止附着灰尘及确保各装置正常工作，该机台20设有一可控制各装置工作的控制装置25(如工业计算机)，该控制装置25通过线路连接一装配于外罩30外部的屏幕显示器31，从而可将各装置的工作信息数据传输至屏幕显示器31，使得工作人员可于屏幕显示器31上获知各装置的使用状态，另外，本发明中的机台20设有至少一离子产生器26以及至少一电荷侦测装置27，于本实施例中，该离子产生器26为离子风扇并装配于外罩30的内部，该离子产生器26于运转时，利用尖端放电原理释放出正离子及负离子，该电荷侦测装置27用以侦测及分析机台20所属环境空间中的电荷信号。
如图5所示，本发明中的电荷侦测装置27包括至少一侦测感知器271及微处理器272，该侦测感知器271架设于机台所属环境空间中并连接至微处理器272，以侦测机台的电荷信号，从而可将机台的电荷信号传输至该微处理器272，通过该微处理器272分析出机台所属环境空间中是否有电荷不平衡的现象，另外，该微处理器272连接于离子产生器26，使得该微处理器272分析出机台所属环境空间中有电荷不平衡的现象时，能够进一步控制该离子产生器26调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，例如，当该微处理器272分析出机台所属环境空间中正电荷过多时，则控制该离子产生器26调变释放出更多的负离子，而当该微处理器272分析出机台所属环境空间中负电荷过多时，则控制该离子产生器26调变释放出更多的正离子，进而藉以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，以有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象，以确保电子元件的测试质量。
如图6所示，本发明中的电荷侦测装置27可于机台所属环境空间中配置有多个侦测感知器271，并将该多个侦测感知器271连接于微处理器272，从而利用该多个侦测感知器271侦测机台所属环境空间中各位置所产生的电荷信号，并通过微处理器272分析出机台所属环境空间中各位置是否有电荷不平衡的现象，以进一步控制该离子产生器26调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电。
如图7所示，本发明中的电荷侦测装置27中的微处理器272可连接于控制各装置工作的控制装置25，从而由微处理器272将分析的结果传输至控制装置25，由该控制装置25进一步控制该离子产生器26调变释放出更多的正离子或负离子，以中和机台所属环境空间中的静电荷而消除静电，同样可以有效避免机台在测试过程中发生静电放电现象，以确保电子元件的测试质量。
Claims (10)
1.一种具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，包括：
机台；
供料装置，设于该机台上，供容纳多个待测电子元件；
收料装置，设于该机台上，供容纳多个不同等级的完成测试后的电子元件；
测试装置，设于该机台上，以供至少一个电子元件执行测试作业；
输送装置，设于该机台上，以于该供料装置、该测试装置及该收料装置之间移载待测电子元件及完成测试后的电子元件；
控制装置，用于控制该供料装置、该收料装置、该测试装置及该输送装置工作；
至少一离子产生器，设于该机台上，以释放出正离子及负离子；
至少一电荷侦测装置，包括至少一侦测感知器及微处理器，该侦测感知器架设于机台所属环境空间中并连接至该微处理器，以侦测及分析机台的电荷信号，并控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子，以中和该机台所属环境空间中的静电荷。
2.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该测试装置设有测试模块，该测试模块上设有至少一个测试座。
3.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该输送装置设有至少一具取放器的移料臂、至少一转载台及至少一测试移载臂，该输送装置用以输送待测电子元件及完成测试后的电子元件。
4.根据权利要求3所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该输送装置中的转载台于该机台的第一侧设有入料转载台以及于该机台的第二侧设有出料转载台，该测试移载臂设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，以接续将该入料转载台上的待测电子元件移载至该测试装置执行测试作业，并于完成测试后将该电子元件移载至该出料转载台。
5.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该离子产生器为离子风扇。
6.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该机台外部设有外罩，该离子产生器装配于该外罩的内部。
7.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该电荷侦测装置中的侦测感知器侦测该机台的电荷信号并将该机台的电荷信号传输至该微处理器，该微处理器分析出该机台所属环境空间中是否有电荷不平衡的现象。
8.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该电荷侦测装置于该机台所属环境空间中配置有多个侦测感知器，并将该多个侦测感知器连接于该微处理器，通过该多个侦测感知器侦测该机台各位置产生的电荷信号。
9.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该电荷侦测装置中的微处理器连接于该离子产生器，该微处理器控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子。
10.根据权利要求1所述的具电荷侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该电荷侦测装置中的微处理器连接于该控制装置，该控制装置控制该离子产生器调变释放出更多的正离子或负离子。
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