CN107238760A - 具放电侦测装置的电子元件测试分类机 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 137
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 45
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 25
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 17
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 12
- 230000035611 feeding Effects 0.000 description 17
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 13
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 6
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 5
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000013102 re-test Methods 0.000 description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005686 electrostatic field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 1
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
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Abstract
本发明公开了一种具放电侦测装置的电子元件测试分类机，该测试分类机包括供料装置、收料装置、测试装置、输送装置、控制装置以及配置有至少一放电侦测装置，该放电侦测装置包括侦测感知器及处理单元，该处理单元至少设有信号转换器及处理器，该侦测感知器通过空气的传导侦测机台上产生的电磁信号，并通过处理单元中的信号转换器将该电磁信号转换成数字信号并传输至处理器，该处理器再将该数字信号进行演算，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象，进而为封测人员提供机台发生放电时的处理依据，以确保电子元件的测试质量。
Description
技术领域
本发明涉及一种可侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象，进而为封测人员提供机台发生放电时的处理依据，以确保电子元件测试质量的电子元件测试分类机。
背景技术
自然界中的物质可经由某种过程而获得或失去电子(例如摩擦或感应起电)，这类电荷即称为静电。当这些正电荷或是负电荷逐渐累积时，会与周围环境产生电位差，该具有不同电位的物体经由直接接触或静电感应引起物体间的静电电荷转移，当静电场的能量达到一定的程度后会进行放电，此即称为静电放电现象，简称为ESD(ElectroStatic Discharge)。对电子产品来说，静电放电的破坏是一种很难避免的问题。一旦电子产品受到ESD的作用后，往往会产生不可预期的不稳定现象，例如电子产品功能突然失常，必需重开电源开关才能恢复正常，或是电子产品内部的电子元件不堪受到静电的电压或电流破坏，从而造成电器内部的电子元件损坏等。以电子元件测试分类机而言，其之所以会产生静电，可能是电子元件本身的残电或者是机台上的装置在运动过程中因摩擦而累积的静电，不论如何，当这些静电的能量累积到某种程度后，一旦电子元件在移动的过程中瞬间接近或接触到导体，便会产生所谓的静电放电现象，而这种静电放电现象将会导致该移动中电子元件的毁损。以电子元件测试分类机的移动过程来区分为测试前及测试后两个阶段做说明，如果移动过程中的电子元件在测试前发生静电放电现象，因该移动过程中的电子元件已经毁损，因此于进行测试时可以很容易的测试出为不合格品，进而将其收置于收料装置的不合格品区；至于完成测试后的电子元件，由于在完成测试后还必须由输送装置移载至收料装置，因此在移载至收料装置的移动过程中仍可能会发生静电放电现象，当该电子元件已经完成测试且测试结果为合格品时，即便在移载至收料装置的移动过程中发生了静电放电现象而导致毁损，但因已经完成测试，从而仍将会被收置于收料装置的合格品区，进而导致无法确保电子元件的测试质量，这种完成测试后移载至收料装置的移动过程中因静电放电现象所导致误测的情形，事实上并无法在测试的过程中被发现，使得封测人员常究责于设备厂商所生产的测试设备未能真实测试出不合格品，而设备厂商则认为所生产的测试设备并无异状，导致封测人员与设备厂商之间难以理清责任归属问题。尤其现今的电子元件，追求多功能与小型化，任何静电放电现象都可能导致相当程度的毁损，因此对于静电放电现象的防范与侦测显得更加重要。一般而言，机台静电放电现象的防范方法包括装设地线，从而利用地线将机台内的静电传导出去；此外，亦有利用离子风扇来消除机台内静电的方式，如图1所示，其为本案申请人所申请的中国台湾第97119211号“机器设备的离子风扇检知装置”发明专利案，该测试分类处理机于机台11上设置有用以执行不同作业的各项装置，例如供料匣、收料匣及测试装置等相关装置，并于机台11上设有一外罩12，该外罩12将各装置罩置于内，以防止灰尘杂屑落入及确保各装置顺畅工作，机台11的内部设有一控制各装置工作的中央处理器13，该中央处理器13可为工业计算机，并通过线路连接装配于外罩12外部的各显示单元，各显示单元可分别为屏幕显示器131或多个警示灯132，使屏幕显示器131或各警示灯132可分别显示各项信息数据及发出警示信息，另于外罩12的内顶面装配有用以消除静电的离子风扇14，该离子风扇14再通过线路连接一检知装置15，该检知装置15用以侦测离子风扇14的各项使用状态，并通过线路连接中央处理器13，从而可将各项侦测信息传输至中央处理器13，使中央处理器13以屏幕显示器131或警示灯132提示离子风扇14的异常信息。然而，不论是以装设地线还是离子风扇来防范机台的静电放电现象，都只是尽可能地降低发生几率，并不足以完全确保机台绝对不会发生静电放电现象，因此，除了尽可能装设地线或是离子风扇来防范外，对于可能发生静电放电现象的侦测更加必要，因为当侦测到机台发生静电放电现象时，可以记录并通知封测人员作为处理依据，从而由封测人员决定停机或者将该批完成测试而正移载至收料装置过程中的电子元件重新测试或是依据原先测试结果继续执行分类，如此即可确保电子元件的测试质量并且避免归责于设备厂商。然而，直至今日，电子元件测试分类机仍尚无侦测静电放电现象的机制，导致无法确保电子元件的测试质量，也造成封测容易与设备厂商间难以理清责任归属问题。
有鉴于此，本案发明人遂以其多年从事相关行业的研发与制作经验，针对目前所面临的问题深入研究，经过长期努力的研究与试作，终究研创出一种可侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电的现象，进而为封测人员提供机台发生静电放电时的处理依据，以确保电子元件的测试质量，此即为本发明的设计宗旨。
发明内容
本发明的一个目的在于提供一种具放电侦测装置的电子元件测试分类机，该测试分类机包括供料装置、收料装置、测试装置、输送装置、控制装置以及配置有至少一放电侦测装置，该放电侦测装置包括侦测感知器及处理单元，该处理单元至少设有信号转换器及处理器，该侦测感知器通过空气的传导侦测机台上产生的电磁信号，并通过处理单元中的信号转换器将该电磁信号转换成数字信号并传输至处理器，该处理器再将该数字讯信号进行演算，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象，进而为封测人员提供机台发生放电现象时的处理依据，以确保电子元件的测试质量。
本发明的另一个目的在于提供一种具放电侦测装置的电子元件测试分类机，当该放电侦测装置侦测出机台在电子元件测试过程中发生放电情形时，可作成记录并通知封测人员作为处理依据，从而由封测人员决定停机或者将该批完成测试而正移载至收料装置过程中的电子元件重新测试或是依据原先测试结果继续执行分类，进而可确保电子元件的测试质量，并且避免因放电现象所导致误测的责任归责于设备厂商。
为了达到上述目的，本发明提供了一种具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其包括：
机台；
供料装置，设于该机台上，供容纳多个待测电子元件；
收料装置，设于该机台上，供容纳多个不同等级的完成测试后的电子元件；
测试装置，设于该机台上，以供至少一个电子元件执行测试作业；
输送装置，设于该机台上，以于该供料装置、该测试装置及该收料装置之间移载待测电子元件及完成测试后的电子元件；
控制装置，用于控制该供料装置、该收料装置、该测试装置及该输送装置工作；
至少一放电侦测装置，包括侦测感知器及处理单元，该处理单元至少设有信号转换器及处理器，该侦测感知器侦测该机台产生的信号并通过该信号转换器将该信号传输至该处理器，以侦测出该机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
在本发明的一实施例中，该测试装置设有测试模块，该测试模块上设有至少一个测试座，该输送装置设有至少一具取放器的移料臂、至少一转载台及至少一测试移载臂，该输送装置用以输送待测电子元件及完成测试后的电子元件。
在本发明的一实施例中，该转载台于该机台的第一侧设有入料转载台以及于该机台的第二侧设有出料转载台，该测试移载臂设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，以接续将该入料转载台上的待测电子元件移载至该测试装置执行测试作业，并于完成测试后将该电子元件移载至该出料转载台。
在本发明的一实施例中，该机台外部设有外罩，该外罩的内部装配有离子风扇。
在本发明的一实施例中，该放电侦测装置中的信号转换器将侦测感知器所侦测的电磁信号转换成数字信号并传输至该处理器，该处理器再将该数字信号进行演算，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
在本发明的一实施例中，该放电侦测装置中的处理单元还包含数据库，该信号转换器将侦测感知器所侦测的电磁信号转换成数字信号并传输至该处理器，该处理器再将该数字信号与该数据库中内建的放电数据进行比对，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
在本发明的一实施例中，该放电侦测装置先通过静电棒于该机台各装置位置处分别放电，以取得该机台各装置位置处放电样本的波形并将放电样本的波形内建于该数据库中，以供该处理器将该信号转换器所传输的数字信号与该数据库内建的放电样本的波形进行比对。
在本发明的一实施例中，该放电侦测装置设有记录显示器，通过该记录显示器将该处理器的侦测结果作成记录并通知封测人员作为处理的依据。
在本发明的一实施例中，该放电侦测装置中的处理器接连接于该控制装置，该控制装置将该处理器的侦测结果作成记录并通知封测人员作为处理的依据。
在本发明的一实施例中，该控制装置通过线路连接一屏幕显示器，该控制装置将该处理器的侦测结果传输并显示于该屏幕显示器上。
附图说明
图1为中国台湾第97119211号发明专利案中的机台示意图；
图2为本发明中的机台的架构示意图；
图3为本发明中的机台的示意图；
图4为本发明第一实施例的放电侦测装置的示意图；
图5为本发明第二实施例的放电侦测装置的示意图；
图6为本发明第一实施例的放电侦测装置的使用示意图(一)；
图7为本发明第一实施例的放电侦测装置的使用示意图(二)。
附图标记说明：10-机台；12-外罩；13-中央处理器；131-屏幕显示器；132-警示灯；14-离子风扇；15-检知装置；20-机台；21-供料装置；22-收料装置；23-测试装置；231-测试模块；232-测试座；24-输送装置；241-移料臂；2411-取放器；242-入料转载台；2421-第一承座；243-出料转载台；2431-第二承座；244-第一测试移载臂；2441-第一吸嘴；245-第二测试移载臂；2451-第二吸嘴；25-控制装置；26-放电侦测装置；261-侦测感知器；262-信号转换器；263-处理器；264-记录显示器；27-放电侦测装置；271-侦测感知器；272-信号转换器；273-处理器；274-数据库；275-记录显示器；30-外罩；31-屏幕显示器；32-离子风扇。
具体实施方式
为使审查员对本发明作更进一步的了解，兹举较佳实施例并配合图式，详述如后：
如图2所示，本发明提供的具放电侦测装置的电子元件测试分类机的机台20上配置有供料装置21、收料装置22、测试装置23、输送装置24及控制装置25(如图3所示)，该供料装置21用于容纳多个待测电子元件，收料装置22用于容纳多个不同等级(如合格品或不合格品)的完成测试后的电子元件，该测试装置23设有测试模块231，并于该测试模块231上设有多个测试座232，以供置入多个电子元件并执行测试作业，该输送装置24设有至少一具取放器2411的移料臂241、至少一转载台及至少一测试移载臂，用以输送待测及完测电子元件；于本实施例中，该输送装置24中的移料臂241可作X-Y-Z三轴向移动，从而可移载供料装置21中的待测电子元件以及将完成测试后的电子元件移载至收料装置22，并执行分类作业；另于本实施例中，该输送装置24中的转载台于机台20的第一侧设有入料转载台242以及于机台20的第二侧设有出料转载台243，该入料转载台242可作X轴向移动，并于台面上开设多个第一承座2421，进而该入料转载台242可利用多个第一承座2421将移料臂241所移载的待测电子元件移载至测试装置23的第一侧；另外，该出料转载台243也可作X轴向移动，并于台面上开设多个第二承座2431，进而该出料转载台243可利用多个第二承座2431将完成测试后的电子元件移载至移料臂241；另于本实施例中，该输送装置24中的测试移载臂设有第一测试移载臂244及第二测试移载臂245，以接续的将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完成测试后将电子元件移载至出料转载台243；于本实施例中，该第一测试移载臂244设有多个第一吸嘴2441，并可作Y-Z轴向移动，以将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完成测试后将电子元件移载至出料转载台243；该第二测试移载臂245同样设有多个第二吸嘴2451，并可作Y-Z轴向移动，以接续将入料转载台242上的待测电子元件移载至测试模块231上的多个测试座232执行测试作业，并于完成测试后将电子元件移载至出料转载台243。
如图3所示，本发明中的机台20外部设有外罩30，该外罩30将各装置罩置于内，以防止附着灰尘及确保各装置正常工作，该机台20设有一可控制各装置工作的控制装置25(如工业计算机)，该控制装置25通过线路连接一装配于外罩30外部的屏幕显示器31，从而可将各装置的工作信息数据传输至屏幕显示器31，使得工作人员可于屏幕显示器31上获知各装置的使用状态，于本实施例中，该外罩30的内部装配有用以消除静电的离子风扇32，该离子风扇32于运转时，利用尖端放电原理释放出正离子或负离子，以中和静电荷，进而消除静电；另外，本发明于该机台20上装设有至少一放电侦测装置26，用以侦测机台20在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
如图4所示，本发明第一实施例的放电侦测装置26包括侦测感知器261及处理单元，该处理单元至少设有信号转换器262及处理器263，于本实施例中，该信号转换器262为撷取卡；该侦测感知器261通过空气的传导侦测机台产生的电磁信号，并通过处理单元中的信号转换器262将该电磁信号转换成数字信号并传输至处理器263，该处理器263再将该数字信号进行演算，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象或是为一般的电磁干扰，当处理器263侦测出机台在电子元件测试过程中发生放电现象时，该放电侦测装置26可作成记录并通知封测人员作为处理的依据，从而由封测人员决定停机或者将该批完成测试而正移载至收料装置过程中的电子元件重新测试或是依据原先测试结果继续执行分类，进而可确保电子元件的测试质量，并且避免因放电现象所导致误测的责任归责于设备厂商，于本实施例中，该处理单元设有记录显示器264，该记录显示器264可将处理器263侦测的结果作成记录并通知封测人员，以作为处理的依据。
如图5所示，本发明第二实施例的放电侦测装置27，同样包括侦测感知器271及处理单元，该处理单元设有信号转换器272、处理器273及数据库274，于本实施例中，该信号转换器272为撷取卡；该侦测感知器271通过空气的传导侦测机台产生的电磁信号，并通过处理单元中的信号转换器272将该电磁信号转换成数字信号并传输至处理器273，该处理器273再将该数字信号与数据库274内建的放电数据进行比对，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否有发生放电现象或是为一般的电磁干扰，于本实施例中，先通过静电棒于各装置位置处分别放电，以取得各装置位置处放电样本的波形并将放电样本的波形内建于该数据库274中，以供处理器273将信号转换器272传输的数字信号与该数据库274内建的放电样本的波形进行比对，由于放电的波形变化较为剧烈，显然不同于一般空气中电磁干扰产生的波形，因此处理器273很快的可以侦测出机台在电子元件测试过程中是否有发生放电现象，若侦测出机台在电子元件测试过程中发生放电现象，该放电侦测装置27可作成记录并通知封测人员作为处理的依据，从而由封测人员决定停机或者将该批完成测试而正移载至收料装置过程中的电子元件重新测试或是依据原先测试结果继续执行分类，进而可确保电子元件的测试质量，并且避免因放电现象所导致误测的责任归责于设备厂商，于本实施例中，该处理单元设有记录显示器275，该记录显示器275可将处理器273侦测的结果作成记录并通知封测人员，以作为处理的依据。
如图6所示，本发明第一实施例的放电侦测装置26可于机台上配置有多个侦测感知器261，并将该多个侦测感知器261连接于处理单元中的信号转换器262，从而利用该多个侦测感知器261侦测机台各位置产生的电磁信号，并通过处理单元中的信号转换器262将该电磁信号转换成数字信号并传输至处理器263，该处理器263再将该数字信号进行演算，以侦测出机台各位置在电子元件测试过程中是否发生放电现象或是为一般的电磁干扰，以作成记录并通知封测人员作为处理的依据。
如图7所示，本发明第一实施例的放电侦测装置26中的处理器263可直接连接于控制各装置工作的控制装置25，从而由处理器263将侦测的结果传输至控制装置25，由该控制装置25作成记录并通知封测人员作为处理的依据，或由该控制装置25传输并显示于机台外部的屏幕显示器31上，同样可确保电子元件的测试质量，并且避免因放电现象所导致误测的责任归责于设备厂商。
Claims (10)
1.一种具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，包括：
机台；
供料装置，设于该机台上，供容纳多个待测电子元件；
收料装置，设于该机台上，供容纳多个不同等级的完成测试后的电子元件；
测试装置，设于该机台上，以供至少一个电子元件执行测试作业；
输送装置，设于该机台上，以于该供料装置、该测试装置及该收料装置之间移载待测电子元件及完成测试后的电子元件；
控制装置，用于控制该供料装置、该收料装置、该测试装置及该输送装置工作；
至少一放电侦测装置，包括侦测感知器及处理单元，该处理单元至少设有信号转换器及处理器，该侦测感知器侦测该机台产生的信号并通过该信号转换器将该信号传输至该处理器，以侦测出该机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
2.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该测试装置设有测试模块，该测试模块上设有至少一个测试座，该输送装置设有至少一具取放器的移料臂、至少一转载台及至少一测试移载臂，该输送装置用以输送待测电子元件及完成测试后的电子元件。
3.根据权利要求2所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该转载台于该机台的第一侧设有入料转载台以及于该机台的第二侧设有出料转载台，该测试移载臂设有第一测试移载臂及第二测试移载臂，以接续将该入料转载台上的待测电子元件移载至该测试装置执行测试作业，并于完成测试后将该电子元件移载至该出料转载台。
4.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该机台外部设有外罩，该外罩的内部装配有离子风扇。
5.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该放电侦测装置中的信号转换器将侦测感知器所侦测的电磁信号转换成数字信号并传输至该处理器，该处理器再将该数字信号进行演算，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
6.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该放电侦测装置中的处理单元还包含数据库，该信号转换器将侦测感知器所侦测的电磁信号转换成数字信号并传输至该处理器，该处理器再将该数字信号与该数据库中内建的放电数据进行比对，以侦测出机台在电子元件测试过程中是否发生放电现象。
7.根据权利要求6所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该放电侦测装置先通过静电棒于该机台各装置位置处分别放电，以取得该机台各装置位置处放电样本的波形并将放电样本的波形内建于该数据库中，以供该处理器将该信号转换器所传输的数字信号与该数据库内建的放电样本的波形进行比对。
8.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该放电侦测装置设有记录显示器，通过该记录显示器将该处理器的侦测结果作成记录并通知封测人员作为处理的依据。
9.根据权利要求1所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该放电侦测装置中的处理器接连接于该控制装置，该控制装置将该处理器的侦测结果作成记录并通知封测人员作为处理的依据。
10.根据权利要求9所述的具放电侦测装置的电子元件测试分类机，其特征在于，该控制装置通过线路连接一屏幕显示器，该控制装置将该处理器的侦测结果传输并显示于该屏幕显示器上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610183235.8A CN107238760B (zh) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | 具放电侦测装置的电子元件测试分类机 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610183235.8A CN107238760B (zh) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | 具放电侦测装置的电子元件测试分类机 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN107238760A true CN107238760A (zh) | 2017-10-10 |
| CN107238760B CN107238760B (zh) | 2022-04-01 |
Family
ID=59983580
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201610183235.8A Active CN107238760B (zh) | 2016-03-28 | 2016-03-28 | 具放电侦测装置的电子元件测试分类机 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107238760B (zh) |
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