CN107015135B - 自动测试通道配置装置及其控制方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种自动测试通道配置装置及其控制方法，具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块具有测试通道其中之一的多个导通状态值。每一个导通状态值关连于一个测试环境。第一逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一控制信号。第二逻辑运算模块依据一个记忆区块中的导通状态值和测试环境维持数据，产生第二控制信号。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。

Description

自动测试通道配置装置及其控制方法

技术领域

本发明关于一种自动测试通道配置装置及其控制方法，特别是一种应用于自动测试设备的自动测试设备资源配置方法及其控制方法。

背景技术

在测试集成电路的领域中，自动测试设备(automated test equipment, ATE)被广泛地运用来对受检测的集成电路送出信号，并接收和分析从受测集成电路反馈的信号，来决定受测的集成电路有没有发生功能错误(malfunction) 的状况。

为了增加集成电路的测试效率和降低测试成本，目前的集成电路测试厂商积极地研究如何能在同一时段中测试更多个待测物(device under test，DUT)，使得自动测试设备分配测试通道的方式越来越重要。此外，当自动测试设备对待测集成电路进行测试时，同一批进行测试的集成电路中，可能会有部分的集成电路需要进行微调。而目前的自动测试设备不具有微调部分或全部集成电路的功能，因此亦增加了集成电路的测试成本。

发明内容

本发明在于提供一种自动测试通道配置装置及其控制方法，藉以解决现有自动测试设备不具有微调部分或全部待测集成电路的问题。

本发明所公开的自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，自动测试通道配置装置具有多个测试通道、记忆模块、第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块。记忆模块具有多个记忆区块，每一个记忆区块关连于多个测试通道其中之一。每一个记忆区块具有多个导通状态值，每一个导通状态值关连于多个测试环境其中之一。第一逻辑运算模块电性连接记忆模块，用以依据其中一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一测试通道的第一控制信号。测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一个选择状态值关连于其中一个测试环境。第二逻辑运算模块电性连接第一逻辑运算模块，用以依据一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境维持数据，产生第一测试通道的第二控制信号。测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一个状态维持值关连于测试环境其中之一。第二逻辑运算模块依据第一控制信号及第二控制信号，产生第一测试通道控制信号，以选择性地导通第一测试通道。

本发明所公开的自动测试通道配置装置的控制方法，具有设定关系表。关系表用以记录多个测试通道中每一个测试通道对应多个测试环境的操作关联性。自测试环境中，选择部分的测试环境来进行测试。依据关系表中，判断被选择进行测试的测试环境的通道状态。依据被选择进行测试的每一个测试环境的通道状态，计算第一测试通道的第一控制信号。自测试环境中，选择部分的测试环境来进行状态维持。依据关系表中，判断被选择进行状态维持的测试环境的通道状态。依据被选择状态维持的测试环境的通道状态，计算第一测试通道的第二控制信号。依据第一控制信号及第二控制信号，判断第一测试通道是否要导通。

根据上述本发明所公开的自动测试通道配置装置及其控制方法，可以依据每个测试环境被选择进行测试的状态和被选择进行状态维持的状态，来决定在一个批次的测试中前述多个测试通道中的每个通道是否该被导通，进而使得自动测试设备可以对部分或全部集成电路的进行微调参数的程序。

以上的关于本公开内容的说明及以下的实施方式的说明用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求保护范围更进一步的解释。

附图说明

图1为根据本发明一实施例所绘示的自动测试设备、自动测试通道配置装置和待测装置的功能方块图。

图2为根据本发明一实施例所绘示的自动测试通道配置装置中的功能方块图。

图3是根据本发明另一实施例所绘示的第一测试通道的时序图。

图4为根据本发明再一实施例所绘示的第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块中的的电路示意图。

图5为根据本发明一实施例所绘示的自动测试通道配置装置的控制方法的步骤流程图。

其中，附图标记：

10 自动测试通道配置装置

11 通道模块

13 记忆模块

15 第一逻辑运算模块

151 控制单元

152 第三逻辑单元

153 第四逻辑单元

154 缓冲器

17 第二逻辑运算模块

171 第一逻辑单元

172 第二逻辑单元

173 第五逻辑单元

174 缓冲器

20 自动测试设备

30 待测装置

具体实施方式

以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使任何本领域的技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所公开的内容、权利要求保护范围及附图，任何本领域的技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。

请参照图1，图1为根据本发明一实施例所绘示的自动测试设备、自动测试通道配置装置和待测装置的功能方块图，如图1所示，自动测试通道配置装置10电性连接自动测试设备20与一个或多个待测装置30，待测装置30具有至少一待测物，待测物例如集成电路或其他合适的半导体元件。自动测试设备 20藉由自动测试通道配置装置10将一组或多组测试信号提供给一个或多个待测装置30，并分析来自待测装置30依据测试信号回馈的信号，以检测待测物的各种特性，例如电源引脚及/或接地引脚的电压特性、电流特性、阻抗特性。

于一个实施例中，请参照图2，图2为根据本发明一实施例所绘示的自动测试通道配置装置中的功能方块图，如图2所示，自动测试通道配置装置10 具有通道模块11、记忆模块13、第一逻辑运算模块15及第二逻辑运算模块 17，其中通道模块11电性连接第二逻辑运算模块17，第一逻辑运算模块15 电性连接记忆模块13及第二逻辑运算模块17。

通道模块11具有多个测试通道，每个测试通道导通以传递自动测试设备 20和待测装置30之间的信号。于一个实施例中，每一个测试通道上具有一个开关。每一个开关受控于第二逻辑运算模块17，以选择性地导通，使测试通道可传递自动测试设备20和待测装置30之间的信号。当开关截止时，信号无法经由第一测试通道往来于自动测试设备20与待测装置30之间。

记忆模块13具有多个记忆区块，每一个记忆区块关连于多个测试通道其中之一，每一个记忆区块储存多个导通状态值，每一个导通状态值关连于多个测试环境其中之一。举例来说，当通道模块11中有4个测试通道时，记忆模块13中具有分别对应4个测试通道的4个记忆区块，且第一记忆区块储存第一测试通道的多个导通状态值，第二记忆区块储存第二测试通道的多个导通状态值，以此类推。每一个记忆区块储存的每一个导通状态值关连于一个测试环境，也就是说当测试环境有8个时，第一记忆区块储存8个导通状态值，且每个导通状态值代表第一测试通道于一个测试环境被选择时是否导通。同理地，第二记忆区块亦储存8个导通状态值。测试环境例如为一个待测物的多种测试，也可以是指一个用以设置待测物的插座。当测试环境为一个用以设置待测物的插座时，8个测试环境可以提供8个待测物设置，意即自动测试设备20 可以在单次测试中，对8个待测物进行测试。

第一逻辑运算模块15电性连接记忆模块13，用以依据其中一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境选择数据，产生第一控制信号，其中测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一个选择状态值关连于其中一个测试环境。以第一测试通道的导通状态值和测试环境选择数据举例来说，请参照下列表1。

表1

如表1所示，以第一行中的第一测试环境来说，第一测试通道的导通状态值为“是”，表示第一测试环境被选择进行测试时，第一测试通道需要导通。而第一测试通道的测试环境选择数据为“否”，表示于这一次的测试程序中，第一测试环境并未被选择进行测试。

因此，根据表1所示，于这一次的测试程序中，第二、第三、第五、第六及第八测试环境被选择进行测试，第一逻辑运算模块15则依据第一测试通道在第二、第三、第五、第六及第八测试环境下的导通状态值，进行逻辑或(logic or)运算，计算出第一测试通道的第一控制信号为“是”。

第二逻辑运算模块17电性连接第一逻辑运算模块15，用以依据一个记忆区块储存的导通状态值和测试环境维持数据，产生第二控制信号。测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一个状态维持值关连于测试环境其中之一。同样以第一测试通道的导通状态值和测试环境选择数据举例来说，请参照下列表 2。

测试环境

1<sup>st</sup>

2<sup>nd</sup>

3<sup>rd</sup>

4<sup>th</sup>

5<sup>th</sup>

6<sup>th</sup>

7<sup>th</sup>

8<sup>th</sup>

导通状态值

是

是

否

是

否

否

否

是

测试环境维持数据

是

是

是

是

是

是

是

否

表2

如表2所示，以第一行中的第一测试环境来说，第一测试通道的导通状态值为“是”，表示第一测试环境被选择进行测试时，第一测试通道需要导通。而第一测试通道的测试环境维持数据为“是”，表示于这一次的测试中，第一测试环境被选择进行状态维持，意即第一测试环境上的待测物未被选择进行微调(trim)程序。表2所示的实施例中，于这一次的测试里，第八测试环境上的待测物被选择进行微调程序。

于这一次的测试中，第一测试环境至第七测试环境被选择进行状态维持，第二逻辑运算模块则依据第一测试通道在第一测试环境至第七测试环境下的导通状态值，进行逻辑或(logic or)运算，计算出第二控制信号为“是”。

接着，第二逻辑运算模块17依据第一控制信号为“是”及第二控制信号为“是”，选择性地导通测试通道，亦即控制测试通道上的开关选择性地导通。于一个实施例中，第二逻辑运算模块可以对第一控制信号和第二控制信号进行逻辑或(logic or)运算，并依据第一控制信号和第二控制信号的运算，选择性地导通第一测试通道。换言之，于前述的实施例中，第二逻辑运算模块17依据第一控制信号为“是”和第二控制信号为“是”，逻辑或(logicor)计算出“是”，故产生第一测试通道控制信号，以控制第一测试通道上的开关导通。

于另一个实施例中，第二逻辑运算模块17将第一控制信号及第二控制信号输出至自动测试设备20，自动测试设备20依据第一控制信号及第二控制信号选择性地维持第一测试通道输出的信号。具体而言，当第一测试通道上的开关导通时，自动测试设备20更依据第一控制信号及第二控制信号决定从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号。

更详细来说，当第一控制信号为“否”且第二控制信号为“否”时，第一测试通道不导通，自动测试设备20不从第一测试通道输出测试信号至待测装置30。当第一控制信号为“是”、第二控制信号为“是”时，第一测试通道导通，且自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号跟着自动测试设备20中暂存器的设定而输出(Depend onregister)，抑或是自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号为可被控制 (controllable)。当第一控制信号为“是”、第二控制信号为“否”时，自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号同样地跟着自动测试设备20中暂存器的设定而输出，抑或是自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号为可被控制。当第一控制信号为“否”、第二控制信号为“是”时，自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号为保持状态(keep)，亦即原本从第一测试通道输出高电压位准的信号，就保持原高电压位准继续输出。

于一个实施例中，自动测试设备20从第一测试通道输出的信号可以依据第一控制信号和第二控制信号的改变而改变，举例来说，当第一控制信号为“是”且第二控制信号为“是”时，自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号跟着暂存器的设定输出，当第一控制信号改变为“否”而第二控制信号为“是”时，自动测试设备20从第一测试通道输出至待测装置30的测试信号为保持状态(keep)，而不会再跟着暂存器的设定改变。当第一控制信号为“否”且第二控制信号改变为“否”时，自动测试设备20会停止从第一测试通道输出测试信号至待测装置30。

换言之，如图3所示，图3是根据本发明另一实施例所绘示的第一测试通道的时序图，当第一测试环境及第二测试环境共享第一测试通道的资源时，若第二测试环境中的待测物需要被微调时，第一测试通道在第一时间点t1到第二时间点t2之间会持续导通。原本应该在第一时间点t1结束测试的第一测试环境则保留状态到第二时间点t2。于一个实施例中，第二测试环境中的待测物可以由其他分享资源给第二测试环境的测试通道来进行微调。于其他实施例中，第一时间点t1到第二时间点t2中，亦可以指第一测试环境结束测试，而第二测试环境中的待测物仍继续进行测试的时段，本实施例不予限制。

请参照图4，图4为根据本发明再一实施例所绘示的第一逻辑运算模块及第二逻辑运算模块中的电路示意图，如图4所示，第二逻辑运算模块17具有多个第一逻辑单元171、一个第二逻辑单元172及多个第五逻辑单元173。第一逻辑运算模块15具有控制单元151、多个第三逻辑单元152以及一个第四逻辑单元153，其中控制单元151电性连接至自动测试设备20与记忆模块13。多个第一逻辑单元171和多个第三逻辑单元152电性连接至记忆模块13。第二逻辑单元172电性连接至第一逻辑单元171与第五逻辑单元173。第四逻辑单元153电性连接至第三逻辑单元152与第五逻辑单元173。第五逻辑单元173 电性连接至通道模块11。于一个实施例中，第一逻辑运算模块15更具有缓冲器154电性连接第四逻辑单元153和第五逻辑单元173，第二逻辑运算模块17 更具有缓冲器174电性连接第二逻辑单元172和第五逻辑单元173，为了方便说明，将缓冲器154和缓冲器174一并绘示于图式中，但并非用以限制缓冲器 154和缓冲器174的设置与否。

控制单元151用以从记忆模块13的多个记忆区块中读取一个记忆区块中对应于一个测试通道与多个测试环境的多个导通状态值。实作上，控制单元 151可以包含一个有限状态机与一个多工器。有限状态机电性连接至自动测试设备20，而多工器电性连接至有限状态机与记忆模块13。

有限状态机可用以依据自动测试设备20所送来的指令选择性地将对应于每一个测试通道的多笔通道状态数据写入记忆模块13的记忆区块中或依序地读出记忆模块13中所储存的通道状态数据。而多工器受到有限状态机的控制，将通道状态数据写入记忆模块133或是从记忆模块133中读取特定位址范围中储存的通道状态数据。

当自动测试设备20并未指示进行自动测试时，有限状态机可以接收来自于自动测试设备20的通道状态数据，并控制多工器与记忆模块13，以将所接收到的通道状态数据写入记忆模块13。反之，当自动测试设备20准备开始进行自动测试时，自动测试设备会发出一个启动信号，有限状态机接收到这个启动信号后会依据启动信号的指示，开始从记忆模块13中的第一个记忆区块读取。为了加强说明具体的实施例，并避免与前述实施例混淆，以下兹以第三个记忆区块为例，但并非用以限制启动信号指定开始读取的记忆区块顺序。

以第三测试通道来说，控制单元151从第三记忆区块中读取第三测试通道对应多个测试环境的导通状态值。第三逻辑单元152依据导通状态值与测试环境选择数据中的选择状态值，产生测试环境致能信号。第三逻辑单元152例如为一个与门(and gate)，依据导通状态值与选择状态值的逻辑及(logic and) 运算，得而产生表3。

测试环境

1<sup>st</sup>

2<sup>nd</sup>

3<sup>rd</sup>

4<sup>th</sup>

5<sup>th</sup>

6<sup>th</sup>

7<sup>th</sup>

8<sup>th</sup>

导通状态值

否

是

否

是

否

是

否

是

测试环境选择数据

是

否

是

否

是

否

否

否

测试环境致能信号

否

否

否

否

否

否

否

否

表3

接下来，第四逻辑单元153例如为一个或门(or gate)，电性连接至第三逻辑单元152，用以对每一个第三逻辑单元152产生的测试环境致能信号进行逻辑或(logic or)运算，以产生第三测试通道的第一控制信号。如表3所示的实施例，第三测试通道的第一控制信号为“否”，且第三测试通道的第一控制信号暂存于缓冲器154中。同理地，第四逻辑单元153之后再依据第四记忆区块的多个导通状态值和测试环境选择数据中的选择状态值，产生第四测试通道的第一控制信号，并暂存于缓冲器154中，以此类推产生所有测试通道的第一控制信号，并将所有的控制信号暂存于缓冲器154中。

同样地，第一逻辑单元171依据控制单元151从第一记忆区块中读取到的导通状态值与测试环境维持数据中的一个状态维持值，产生一个测试环境维持信号。第一逻辑单元171亦例如为一个与门(and gate)，依据导通状态值与状态维持值的逻辑及(logic and)运算，得到测试环境维持信号的结果如表4。

测试环境

1<sup>st</sup>

2<sup>nd</sup>

3<sup>rd</sup>

4<sup>th</sup>

5<sup>th</sup>

6<sup>th</sup>

7<sup>th</sup>

8<sup>th</sup>

导通状态值

否

是

否

是

否

是

否

是

测试环境维持数据

否

是

否

是

是

否

否

否

测试环境维持信号

否

是

否

是

否

否

否

否

表4

接下来，第二逻辑单元172例如为一个或门(or gate)，电性连接至第一逻辑单元171，用以对每一个第一逻辑单元171产生的测试环境维持信号进行逻辑或(logic or)运算，以产生第三测试通道的第二控制信号。表4所示的实施例中，第三测试通道的第二控制信号为“是”，且第三测试通道的第二控制信号亦暂存于缓冲器174中。同理地，之后再依据第四记忆区块的多个导通状态值和测试环境维持数据中的状态维持值，产生第四测试通道的第二控制信号，以此类推来产生所有测试通道的第二控制信号，并将所有的控制信号暂存于缓冲器174中。

多个第五逻辑单元173电性连接缓冲器154及缓冲器174，以分别接收每一个测试通道的第一控制信号和第二控制信号。第五逻辑单元173例如或门(or gate)，第一个或门(or gate)用以对第一测试通道的第一控制信号及第二控制信号进行逻辑或(logic or)运算，以产生第一测试通道控制信号，并依据第一测试通道控制信号选择性地导通第一测试通道。以前述第三测试通道的例子来说，第三测试通道的第一控制信号为“否”及第三测试通道的第二控制信号为“是”，进行或(logic or)运算后得到指示“是”的第一测试通道控制信号。第三测试通道上的开关则依据第一测试通道控制信号导通，并用以传递自动测试设备20和待测装置30之间的信号。

于其他实施例中，自动测试设备20接收第三测试通道的第一控制信号为“否”及第三测试通道的第二控制信号为“是”，依据第一控制信号和第二控制信号关系的真值表，判断第三测试通道的状态为“keep”，则自动测试设备 20控制从第三测试通道输出的测试信号保持状态，亦即测试状态不改变。

为了更清楚地说明自动测试通道配置装置10的控制方法，请一并参照图 2与图5，图5为根据本发明一实施例所绘示的自动测试通道配置装置的控制方法的步骤流程图。如图所示，于步骤S401中，设定关系表。关系表用以记录多个测试通道中每一个测试通道对应多个测试环境的操作关联性。例如下表 5所示。

表5

接着于步骤S403中，自测试环境中，选择部分的测试环境来进行测试。例如选择第二、第三、第五、第六及第八测试环境被选择进行测试，如下表6 的测试环境选择数据。

表6

接着，于步骤S405中，依据关系表中，判断被选择进行测试的测试环境的通道状态。于步骤S407中，依据被选择进行测试的每一个测试环境的通道状态，计算每一个测试通道的第一控制信号。前述表6所示的实施例中，对第一测试通道于第二、第三、第五、第六及第八测试环境的导通状态值进行逻辑或(logic or)运算，得到第一测试通道的第一控制信号指示为“是”。对第二测试通道于第二、第三、第五、第六及第八测试环境的导通状态值进行逻辑或 (logic or)运算，得到第二测试通道的第一控制信号指示为“否”。

于步骤S409中，自测试环境中，选择部分的测试环境来进行状态维持。例如第一至第三测试环境和第五至第八测试环境被选择进行状态维持，如下表 7的测试环境维持数据。

表7

于步骤S411中，依据关系表中，判断被选择进行状态维持的测试环境的通道状态。于步骤S413中，依据被选择状态维持的测试环境的通道状态，计算每一个测试通道的第二控制信号。前述表7所示的实施例中，对第一测试通道于第一至第三测试环境和第五至第八测试环境的导通状态值进行逻辑或 (logic or)运算，得到第一测试通道的第二控制信号指示为“是”。对第二测试通道于第一至第三测试环境和第五至第八测试环境的导通状态值进行逻辑或(logic or)运算，得到第二测试通道的第二控制信号指示为“否”。

于步骤S411中，依据第一控制信号及第二控制信号，判断第一测试通道是否要导通。换言之，对第一测试通道的第一控制信号为“是”和第二控制信号为“是”进行逻辑或(logic or)运算，产生指示为“是”的第一测试通道控制信号，第一测试通道控制信号则导通第一测试通道上的开关，使自动测试设备20透过第一测试通道输出信号至待测装置30。对第一测试通道的第一控制信号为“是”和第二控制信号为“否”进行逻辑或(logic or)运算，产生指示为“是”的第二测试通道控制信号，第二测试通道控制信号亦导通第二测试通道上的开关，使自动测试设备20亦透过第二测试通道输出信号至待测装置30。

于其他实施例中，自动测试设备20更透过第一控制信号和第二控制信号选择性地维持自测试通道输出的信号。以前述的实施例来说，当第一测试通道的第一控制信号为“是”和第二控制信号为“是”时，自动测试设备20从第一测试通道输出的信号跟着设定而改变。当第二测试通道的第一控制信号为“否”和第二控制信号为“否”时，自动测试设备20从第一测试通道输出的信号跟着设定而改变。本发明所述的自动测试通道配置装置10的控制方法实际上均已经公开在前述记载的实施例中，本实施例在此不重复说明。

综合以上所述，本发明实施例提供一种自动测试通道配置装置及其控制方法，可以依据每个测试环境被选择进行测试的状态和被选择进行状态维持的状态，来决定在一个测试程序中前述多个测试通道中的每个通道是否该被导通，进而使得自动测试设备可以对部分或全部集成电路的进行微调参数的程序。

Claims (10)

1.一种自动测试通道配置装置，电性连接一自动测试设备与至少一待测物，该自动测试通道配置装置包括：

多个测试通道；

一记忆模块，包括对应于该些测试通道的多个记忆区块，每一该记忆区块关连于该些测试通道其中之一，每一该记忆区块包括多个导通状态值，每一该导通状态值关连于多个测试环境其中之一；以及

一第一逻辑运算模块，电性连接该记忆模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境选择数据，产生该些测试通道中的一第一测试通道的一第一控制信号，该测试环境选择数据具有多个选择状态值，每一该选择状态值关连于该些测试环境其中之一；

一第二逻辑运算模块，电性连接该第一逻辑运算模块，用以依据该些记忆区块其中之一储存的该些导通状态值和一测试环境维持数据，产生该第一测试通道的一第二控制信号，该测试环境维持数据具有多个状态维持值，每一该状态维持值关连于该些测试环境其中之一；

其特征在于，该第二逻辑运算模块依据该第一控制信号及该第二控制信号，产生一第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。

2.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块还输出该第一控制信号及该第二控制信号至该自动测试设备，使该自动测试设备依据该第一控制信号及该第二控制信号选择性地维持自该第一测试通道输出的信号。

3.如权利要求1所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块包括：

多个第一逻辑单元，电性连接至该第一逻辑运算模块，每一该第一逻辑单元用以依据该些导通状态值其中之一与该些状态维持值其中之一决定一测试环境维持信号；以及

一第二逻辑单元，电性连接至该些第一逻辑单元，用以依据每一该第一逻辑单元决定的该测试环境维持信号以产生该第一测试通道的该第二控制信号。

4.如权利要求3所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第一逻辑运算模块包括：

一控制单元，电性连接至该记忆模块，用以从该些记忆区块中读取一第一记忆区块中的该些导通状态值；

多个第三逻辑单元，电性连接至该记忆模块，每一该第三逻辑单元用以依据被读取的该些导通状态值其中之一与该些选择状态值其中之一决定一测试环境致能信号；以及

一第四逻辑单元，电性连接至该些第三逻辑单元，用以依据每一该第三逻辑单元决定的该测试环境致能信号以产生该些测试通道中该第一测试通道的该第一控制信号。

5.如权利要求4所述的自动测试通道配置装置，其特征在于，该第二逻辑运算模块还包括：

多个第五逻辑单元，该些第五逻辑单元其中之一依据该第一测试通道的该第一控制信号及该第二控制信号，产生该第一测试通道控制信号，以选择性地导通该第一测试通道。

6.一种自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，包括：

设定一关系表，该关系表用以记录多个测试通道中每一该测试通道对应多个测试环境的操作关联性；

自该些测试环境中，选择部分的该些测试环境来进行测试；

依据该关系表中，判断被选择进行测试的该些测试环境中每一该测试环境的一通道状态；

依据被选择进行测试的每一该测试环境的该通道状态，计算该些测试通道中一第一测试通道的一第一控制信号；

自该些测试环境中，选择部分的该些测试环境来进行状态维持；

依据该关系表中，判断被选择进行状态维持的该些测试环境中每一该测试环境的该通道状态；

依据被选择状态维持的每一该测试环境的该通道状态，计算该第一测试通道的一第二控制信号；以及

依据该第一控制信号及该第二控制信号，判断该第一测试通道是否要导通。

7.如权利要求6所述的自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，还包括依据该第一控制信号及该第二控制信号，选择性地维持该第一测试通道输出的信号。

8.如权利要求6所述的自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，于判断被选择进行测试的每一该测试环境的该通道状态的步骤，以及于判断被选择进行状态维持的每一该测试环境的该通道状态的步骤中，依据该第一测试通道于每一该测试环境下是否被导通来决定该通道状态。

9.如权利要求6所述的自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，于判断该第一测试通道是否要导通的步骤中，依据被选择进行测试和被选择进行状态维持的该些测试环境的该通道状态进行一逻辑或计算，以决定该第一测试通道是否要导通。

10.如权利要求6所述的自动测试通道配置装置的控制方法，其特征在于，还包含依据一启动信号从该些测试通道中选择该些测试通道其中之一，该启动信号指示该些测试通道其中之一开始进行。