CN106771614A - 一种平板探测器电阻测试治具 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种平板探测器电阻测试治具，其中，所述平板探测器电阻测试治具至少包括：连接支架；相互对称设置在所述连接支架内的第一接触杆和第二接触杆；相互对称设置在所述连接支架两侧的第一砝码和第二砝码；其中，所述第一接触杆和所述第二接触杆的底部均从所述第一砝码和所述第二砝码之间伸出，用以分别接触所述平板探测器的零部件。通过本发明的平板探测器电阻测试治具，能够快捷准确地测试平板探测器的零部件之间或者零部件本体的表面接触电阻，为图纸定义表面阻值提供权威数据且同时可逆向验证图纸是否合理，同时为IQC检测和生产提供一种阻值测试方法，有效管控零部件的生产制作工艺和组装水平。

Description

一种平板探测器电阻测试治具

技术领域

本发明涉及探测器技术领域，特别是涉及一种平板探测器电阻测试治具。

背景技术

目前，并没有一种合适的方法及仪器，来测试组成平板探测器的零部件及各零部件之间的电阻阻值，从而无法知晓平板探测器内零部件本身的阻值或者组装之后的零部件之间的阻值，这样一来，在图纸定义及IQC(Incoming Quality Control，来料质量控制)检测阻值时，将会缺乏实际验证基础，不利于管控零部件的生产制备工艺和组装水平。

因此，如何快速有效地测试平板探测器的零部件及各零部件之间的电阻阻值，是亟待解决的问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种平板探测器电阻测试治具，用于解决现有技术中没有合适的方法及仪器，来测试组成平板探测器的零部件及各零部件之间的电阻阻值，从而导致图纸定义及IQC检测阻值缺乏实际验证基础的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种平板探测器电阻测试治具，其中，所述平板探测器电阻测试治具至少包括：

连接支架；

相互对称设置在所述连接支架内的第一接触杆和第二接触杆；

相互对称设置在所述连接支架两侧的第一砝码和第二砝码；

其中，所述第一接触杆和所述第二接触杆的底部均从所述第一砝码和所述第二砝码之间伸出，用以分别接触所述平板探测器的零部件。

优选地，所述平板探测器电阻测试治具还包括：第一连接线和第二连接线，所述第一连接线的一端连接在所述第一接触杆的顶部，所述第二连接线的一端连接在所述第二接触杆的顶部，所述第一连接线的另一端和所述第二连接线的另一端用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。

优选地，所述第一接触杆的顶部开设有第一接触槽，所述第二接触杆的顶部开设有第二接触槽；其中，所述第一接触槽和所述第二接触槽用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。

优选地，所述第一接触杆和所述第二接触杆均至少包括：第一接触部，与所述第一接触部连接的第二接触部，所述第一接触杆和所述第二接触杆均为由所述第一接触部和所述第二接触部一体成型折弯而成的倒L型结构，所述第二接触部的底部从所述第一砝码和所述第二砝码之间伸出，用以接触所述平板探测器的零部件，所述第一接触部用以连接外部电阻测试仪。

优选地，所述第一接触杆和所述第二接触杆的外表面均设有金属镀层，或者所述第一接触杆和所述第二接触杆的用以接触所述平板探测器的零部件的底面设有金属镀层。

优选地，所述连接支架至少包括：相对固定连接的第一支架主体和第二支架主体，所述第一支架主体和所述第二支架主体相对各开设有两个安装槽，以分别形成第一安装口和第二安装口，所述第一接触杆固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆固定于所述第二安装口内。

优选地，所述连接支架至少包括：支架主体，所述支架主体上对称开设有第一安装口和第二安装口，所述第一接触杆固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆固定于所述第二安装口内。

优选地，所述第一接触杆通过螺纹连接或者过盈配合固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆通过螺纹连接或者过盈配合固定于所述第二安装口内。

优选地，所述第一砝码和所述第二砝码相对各开设有一限制槽，所述限制槽内嵌入部分所述连接支架，用以限制所述连接支架转动。

优选地，所述第一砝码、所述连接支架和所述第二砝码的中心位置均开设有螺纹孔，通过螺纹连接使所述第一砝码、所述连接支架和所述第二砝码固定在一起。

优选地，所述第一砝码的重量为0.1kg～1kg，形状为苯环形状、圆柱形、球形、长方体形状或者不规则形状，所述第二砝码与所述第一砝码的重量相同，形状相同或不同。

如上所述，本发明的平板探测器电阻测试治具，具有以下有益效果：本发明采用连接支架分别连接两个砝码和两个接触杆，通过两个砝码的重力作用，使两个接触杆平稳搭接在平板探测器的零部件表面，然后通过外部电阻测试仪连接两个接触杆，从而在零部件表面和外部电阻测试仪之间形成一个回路，只需读取外部电阻测试仪显示的阻值，就可以测试平板探测器的零部件及各零部件之间的表面接触电阻，结构简单，测量精确。通过本发明的平板探测器电阻测试治具，能够快捷准确地测试平板探测器的零部件之间或者零部件本体的表面接触电阻，为图纸定义表面阻值提供权威数据且同时可逆向验证图纸是否合理，同时为IQC检测和生产提供一种阻值测试方法，有效管控零部件的生产制作工艺和组装水平。

附图说明

图1显示为本发明第一实施方式的一种平板探测器电阻测试治具的装配示意图。

图2显示为本发明第一实施方式的一种平板探测器电阻测试治具装配后的示意图。

图3显示为本发明第二实施方式的一种平板探测器电阻测试治具的装配示意图。

图4显示为本发明第二实施方式的一种平板探测器电阻测试治具中第一接触杆的示意图。

图5显示为本发明第二实施方式的一种平板探测器电阻测试治具中连接支架的示意图。

元件标号说明

1 连接支架

11 第一支架主体

12 第二支架主体

13 第一安装口

14 第二安装口

2 第一接触杆

21 第一接触槽

22 第一接触孔

23 第一接触部

24 第二接触部

25 第一螺纹孔

3 第二接触杆

31 第二接触槽

32 第二接触孔

4 第一砝码

41 第一限制槽

5 第二砝码

51 第二限制槽

6 长螺丝

7 第一连接线

8 第二连接线

9 短螺丝

具体实施方式

以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效。

请参阅图1至图5。须知，本说明书所附图式所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本发明可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。同时，本说明书中所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”及“一”等的用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。

如图1所示，本发明第一实施方式涉及一种平板探测器电阻测试治具，其至少包括：连接支架1；相互对称设置在连接支架1内的第一接触杆2和第二接触杆3；相互对称设置在连接支架1两侧的第一砝码4和第二砝码5。其中，如图2所示，装配后的平板探测器电阻测试治具，第一接触杆2和第二接触杆3的底部均从第一砝码4和第二砝码5之间伸出，用以分别接触平板探测器的零部件。

其中，第一接触杆2和第二接触杆3之间的连线方向与第一砝码4和第二砝码5之间的连线方向可以相互垂直或者相互平行。在本实施方式中，如图1所示，第一接触杆2和第二接触杆3之间的连线方向与第一砝码4和第二砝码5之间的连线方向相互垂直。

请继续参阅图1，在本实施方式中，第一接触杆2的顶部开设有第一接触槽21，第二接触杆3的顶部开设有第二接触槽31；其中，第一接触槽21和第二接触槽31用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。另外，第一接触杆2的顶部还可以开设第一连接孔22，第二接触杆3的顶部还可以开设第二连接孔32，在其他的实施方式中，可以将两根金属连接线的一端分别插入到第一连接孔22和第二连接孔32中，两根金属连接线的另一端用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。另外，第一接触杆2和第二接触杆3均采用SUS不锈钢材料，能够防锈且方便维护。需要说明的是，外部电阻测试仪的两个连接线接头通常为两个固定线夹(或者两个香蕉插头)，将外部电阻测试仪的两个固定线夹分别夹在第一接触槽21和第二接触槽31中，或者分别夹在两根金属连接线的另一端，从而使平板探测器的零部件表面通过第一接触杆2和第二接触杆3，与外部电阻测试仪之间形成一个电流回路，外部电阻测试仪上能够显示出阻值，该阻值就是平板探测器的零部件本身或者各零部件之间的表面接触电阻。

另外，在本实施方式中，第一接触杆2和第二接触杆3的外表面均设有金属镀层，或者第一接触杆2和第二接触杆3的用以接触平板探测器的零部件的底面设有金属镀层。金属镀层能够使两个接触杆和零部件之间具有较小的表面接触电阻，从而作为本实施方式的平板探测器电阻测试治具用以测试电阻的良好导体。对于金属镀层，可以采用现有镀金工艺，镀金厚度为0.1mm～1mm。

请继续参见图1，在本实施方式中，连接支架1至少包括：相对固定连接的第一支架主体11和第二支架主体12，第一支架主体11和第二支架主体12相对各开设有两个安装槽(图中未用元件标号标出)，以分别形成第一安装口和第二安装口，第一接触杆2固定于第一安装口内，第二接触杆3固定于第二安装口内。值得一提的是，第一接触杆2通过过盈配合固定于第一安装口内，第二接触杆3通过过盈配合固定于第二安装口内。另外，第一支架主体11和第二支架主体12均采用POM塑料材料，结构强度大、便于清洁维护。

请继续参见图1，在本实施方式中，第一砝码4和第二砝码5相对各开设有一限制槽，第一砝码4上为第一限制槽41，第二砝码5上为第二限制槽51，第一限制槽41内嵌入部分第二支架主体12，第二限制槽51内嵌入部分第一支架主体11，用以限制连接支架1转动。并且，在组装时可以限制连接支架1的自由度，便于组装。

请继续参见图1，在本实施方式中，第一砝码4、连接支架1(第一支架主体11、第二支架主体12)和第二砝码5的中心位置均开设有螺纹孔，通过长螺丝6依次贯穿第一砝码4、第二支架主体12、第一支架主体11和第二砝码5的中心位置的螺纹孔，从而通过螺纹连接使第一砝码4、第二支架主体12、第一支架主体11和第二砝码5固定在一起。当然，在其他的实施方式中，可以只在第二砝码5的中心位置开设有螺纹孔，第一砝码4、连接支架1(第一支架主体11、第二支架主体12)和第二砝码5的中心位置只开设通孔，依然可以通过长螺丝6使第一砝码4、第二支架主体12、第一支架主体11和第二砝码5固定在一起，不影响治具整体的固定连接效果。

另外，第一砝码4的重量为0.1kg～1kg，形状可以为苯环形状、圆柱形、球形、长方体形状或者不规则形状，第二砝码5与第一砝码4的重量相同，形状相同或不同。在本实施方式中，如图1和图2所示，第一砝码4和第二砝码5的重量均为0.5kg，形状均为圆柱形，两个砝码基本完全一致的对称设计，可以使治具整体的稳定性良好。

本实施方式的平板探测器电阻测试治具，采用连接支架分别连接两个砝码和两个接触杆，通过两个砝码的重力作用，使两个接触杆平稳搭接在平板探测器的零部件表面，然后通过外部电阻测试仪连接两个接触杆，从而在零部件表面和电阻测试仪之间形成一个回路，只需读取外部电阻测试仪显示的阻值，就可以测试平板探测器的零部件及各零部件之间的表面接触电阻，结构简单，测量精确。

如图3～图5所示，本发明的第二实施方式涉及一种平板探测器电阻测试治具。第二实施方式与第一实施方式大致相同，主要区别之处在于：在第一实施方式中，连接支架1主要由第一支架主体11和第二支架主体12构成，两个砝码均为圆柱形。而在本发明第二实施方式中，连接支架1为一个整体，两个砝码均为苯环形状。具体地说：

请参阅图3和图5，在本实施方式中，连接支架1至少包括：支架主体，支架主体上对称开设有第一安装13和第二安装口14，第一接触杆2固定于第一安装口13内，第二接触杆3固定于第二安装口14内。第一接触杆2通过螺纹连接固定于第一安装口13内，第二接触杆3通过螺纹连接固定于第二安装口14内。如图3～图5所示，第一接触杆2上开设有第一螺纹孔25，第二接触杆3开设有第二螺纹孔(图中未用元件标号标出)，支架主体上位于第一安装口13和第二安装口14处开设有与第一螺纹孔25和第二螺纹孔相应的螺纹孔，从而通过短螺丝9使第一接触杆2固定于第一安装口13内，使第二接触杆3固定于第二安装口14内。

另外，第一安装口13的形状与第一接触杆2相匹配，第二安装口14的形状与第二接触杆3相匹配。在本实施方式中，如图4所示，第一接触杆2至少包括：第一接触部23，与第一接触部23连接的第二接触部24，第一接触杆2为由第一接触部23和第二接触部24一体成型折弯而成的倒L型结构，第二接触部24的底部从第一砝码4和第二砝码5之间伸出，用以接触平板探测器的零部件，第一接触部23用以连接外部电阻测试仪。其中，第一实施方式中提到的第一接触槽21和第一接触孔22，均设置在第一接触部23的顶部。第二接触杆3与第一接触杆2具有相同的结构。当然，在其他实施方式中，两个接触杆也可以为其他形状，如长方体形状等等。

请继续参阅图3，在本实施方式中，平板探测器电阻测试治具还包括：第一连接线7和第二连接线8，第一连接线7的一端连接在第一接触杆2的顶部(也即连接在第一接触杆2的第一接触部23顶部的第一接触孔22中)，第二连接线8的一端连接在第二接触杆3的顶部(也即连接在第二接触杆3的第一接触部顶部的第二接触孔32中)，第一连接线7的另一端和第二连接线8的另一端用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。

请继续参阅图3，在本实施方式中，第一砝码4和第二砝码5的重量均为0.7kg，形状均为苯环形状。

通过本实施方式的平板探测器电阻测试治具，能够快捷准确地测试平板探测器的零部件之间或者零部件本体的表面接触电阻，为图纸定义表面阻值提供权威数据且同时可逆向验证图纸是否合理，同时为IQC检测和生产提供一种阻值测试方法，有效管控零部件的生产制作工艺和组装水平。

综上所述，本发明采用连接支架分别连接两个砝码和两个接触杆，通过两个砝码的重力作用，使两个接触杆平稳搭接在平板探测器的零部件表面，然后通过外部电阻测试仪连接两个接触杆，从而在零部件表面和外部电阻测试仪之间形成一个回路，只需读取外部电阻测试仪显示的阻值，就可以测试平板探测器的零部件及各零部件之间的表面接触电阻，结构简单，测量精确。通过本发明的电阻测试治具，能够快捷准确地测试平板探测器的零部件之间或者零部件本体的表面接触电阻，为图纸定义表面阻值提供权威数据且同时可逆向验证图纸是否合理，同时为IQC检测和生产提供一种阻值测试方法，有效管控零部件的生产制作工艺和组装水平。所以，本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。

上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。

Claims (11)

1.一种平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述平板探测器电阻测试治具至少包括：

连接支架；

相互对称设置在所述连接支架内的第一接触杆和第二接触杆；

相互对称设置在所述连接支架两侧的第一砝码和第二砝码；

其中，所述第一接触杆和所述第二接触杆的底部均从所述第一砝码和所述第二砝码之间伸出，用以分别接触所述平板探测器的零部件。

2.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述平板探测器电阻测试治具还包括：第一连接线和第二连接线，所述第一连接线的一端连接在所述第一接触杆的顶部，所述第二连接线的一端连接在所述第二接触杆的顶部，所述第一连接线的另一端和所述第二连接线的另一端用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。

3.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一接触杆的顶部开设有第一接触槽，所述第二接触杆的顶部开设有第二接触槽；其中，所述第一接触槽和所述第二接触槽用以分别连接外部电阻测试仪的两个连接线接头。

4.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一接触杆和所述第二接触杆均至少包括：第一接触部，与所述第一接触部连接的第二接触部，所述第一接触杆和所述第二接触杆均为由所述第一接触部和所述第二接触部一体成型折弯而成的倒L型结构，所述第二接触部的底部从所述第一砝码和所述第二砝码之间伸出，用以接触所述平板探测器的零部件，所述第一接触部用以连接外部电阻测试仪。

5.根据权利要求1～4任一项所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一接触杆和所述第二接触杆的外表面均设有金属镀层，或者所述第一接触杆和所述第二接触杆的用以接触所述平板探测器的零部件的底面设有金属镀层。

6.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述连接支架至少包括：相对固定连接的第一支架主体和第二支架主体，所述第一支架主体和所述第二支架主体相对各开设有两个安装槽，以分别形成第一安装口和第二安装口，所述第一接触杆固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆固定于所述第二安装口内。

7.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述连接支架至少包括：支架主体，所述支架主体上对称开设有第一安装口和第二安装口，所述第一接触杆固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆固定于所述第二安装口内。

8.根据权利要求6或7所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一接触杆通过螺纹连接或者过盈配合固定于所述第一安装口内，所述第二接触杆通过螺纹连接或者过盈配合固定于所述第二安装口内。

9.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一砝码和所述第二砝码相对各开设有一限制槽，所述限制槽内嵌入部分所述连接支架，用以限制所述连接支架转动。

10.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一砝码、所述连接支架和所述第二砝码的中心位置均开设有螺纹孔，通过螺纹连接使所述第一砝码、所述连接支架和所述第二砝码固定在一起。

11.根据权利要求1所述的平板探测器电阻测试治具，其特征在于，所述第一砝码的重量为0.1kg～1kg，形状为苯环形状、圆柱形、球形、长方体形状或者不规则形状，所述第二砝码与所述第一砝码的重量相同，形状相同或不同。