JP2000230950A - 表面抵抗測定装置 - Google Patents
表面抵抗測定装置Info
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Abstract
きながら、パスライン変動による測定誤差を抑制でき
て、インライン連続測定を精度良く行うことができる表
面抵抗測定装置を提供する。 【解決手段】 導電膜2に設定間隔を空けて対向させる
渦電流発生部3Aと、導電膜2に流れる渦電流を導電膜
2とは離間した状態で検出する渦電流検出部3Bと、渦
電流発生部3Aと導電膜2の間隔を検出する間隔検出部
4とを所定数づつ設け、渦電流発生部3Aに印加する電
圧を一定にした状態で、導電膜2の表面抵抗を算出する
算出手段7を設け、算出手段7は、間隔検出部4の検出
結果が設定間隔から外れていると、設定間隔から外れた
ことに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、渦電
流の増減量を渦電流検出部3Bの検出結果から減じある
いは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づ
いて、導電膜2の表面抵抗を算出するよう構成してあ
る。
Description
関し、詳しくは、導電膜の表面抵抗をインラインで測定
する表面抵抗測定装置に関する。
ルムなどの表面に電気抵抗の低い金属被膜または金属酸
化物被膜を付着させた導電基板は、その導電性を利用し
た用途、たとえば液晶ディスプレイ、ELディスプレ
イ、プラズマディスプレイといったフラットパネルディ
スプレイや、大陽電池などの透明電極、プラウン管の窓
の透明静電シールド板、または透明電磁シールド板、発
熱体などの電気・電子分野の用途に広く使用されてい
る。
過性を有するものは、その赤外光反射特性を利用して、
大陽エネルギ利用のための窓材や、建物・自動車などの
熱線反射用材料として利用されている。
面抵抗は、二端子もしくは二探針または四端子もしくは
四探針などの接触式表面抵抗測定法により測定されるの
が一般的であった。
接触式表面抵抗測定法は破壊測定であり、産業的には製
品の導電膜表面での傷の発生による性能劣化あるいは品
位の劣化が起こるという問題があった。
止するため、電磁誘導コイルと導電膜との結合インダク
タンスを測定する方法(磁界を印加して発生する渦電流
を測定する方法)が知られている。
抵抗値を持つ導電膜を測定するには印加磁界の強度をか
なり上げる必要があるために、磁束の広がりが大きくな
り、インラインの連続測定では製造プロセスでの基板の
パスライン変動(基板面の法線方向の振動)により、セ
ンサ部と測定対象である導電膜との間隔が変動し、結合
インダクタンスが一定とならず、結果として測定誤差が
大きくなるという問題がある。
で、その目的は、導電膜の性能劣化あるいは品位の劣化
を防止できながら、パスライン変動による測定誤差を抑
制できて、インライン連続測定を精度良く行うことがで
きる表面抵抗測定装置を提供する点にある。
成・作用・効果は次の通りである。
せてその導電膜に渦電流を流す渦電流発生部と、前記導
電膜に流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検
出する渦電流検出部と、前記渦電流発生部と導電膜の間
隔を検出する間隔検出部とを所定数づつ設け、前記渦電
流発生部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電
流検出部の検出結果と前記間隔検出部の検出結果とに基
づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段を設
け、前記算出手段は、前記間隔検出部の検出結果が前記
設定間隔から外れていると、前記設定間隔から外れたこ
とに起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦
電流の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあ
るいは加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基
づいて、前記導電膜の表面抵抗を算出するよう構成して
ある。
せた渦電流発生部で導電膜に渦電流を流す。例えば、渦
電流発生部としてのフェライトコアコイルなどのコイル
に高周波電圧を印加し、前記コイルを導電膜に近づける
ことで、導電膜に高周波誘導結合による渦電流を流す。
渦電流と導電膜の表面抵抗が逆比例(反比例)すること
から、渦電流を検出することで、渦電流発生部と導電膜
を前記設定間隔空けた状態(基準点)での表面抵抗を求
めることができる。
について校正曲線(検量線)を作成しておくと、表面抵
抗を求めやすくすることができる。
との間隔が大きくなるにつれて小さくなる傾向がある。
設定間隔から外れていると、算出手段が、前記設定間隔
から外れたことに起因する渦電流の増減量を求めるとと
もに、前記渦電流の増減量を渦電流検出部の検出結果か
ら減じあるいは加える補正を行い、その補正した渦電流
の値に基づいて、導電膜の表面抵抗を算出する。
るから、導電膜と渦電流発生部との間隔が変わっても、
導電膜の表面抵抗の測定値に誤差が生じにくくなる。
ることなく測定するから、導電膜に傷がつくのを防止す
ることができる。
部とを導電膜の製造プロセスの幅方向に複数配置するこ
とで、表面抵抗の前記幅方向における分布や表面抵抗の
流れ方向のトレンド(経時的変化)を求めることができ
る。
は品位の劣化を防止できながら、パスライン変動による
測定誤差を抑制できて、インライン連続測定を精度良く
行うことができる表面抵抗測定装置を提供することがで
きた。
次の通りである。
て、前記間隔検出部の数を前記渦電流発生部の数よりも
少なくしてある。
の作用を奏することができるのに加え、次の作用を奏す
ることができる。
min程度以下の低速では、パスライン変動は幅方向に
ほぼ均等に生じると考えることができる。
も少ない数(例えば1個)の間隔検出部の検出結果と各
渦電流検出部の検出結果とに基づいて、算出手段で導電
膜の表面抵抗を算出する。
ることができて、間隔検出部に要するコストを低廉化す
ることができる。
果と同様の効果を奏することができるのに加え、安価に
製作できる表面抵抗測定装置を提供することができた。
に基づいて説明する。
抗測定装置の構成を示してある。
膜2に設定間隔を空けて対向させてその導電膜2に渦電
流を流す渦電流発生部3Aと、導電膜2に流れる渦電流
を導電膜2とは離間した状態で検出する渦電流検出部3
B(渦電流発生部3Aとは一体である)とから成る複数
(n個)の渦電流センサー3を設け、渦電流発生部3A
と導電膜2の間隔を検出する複数(n個)の変位センサ
ー4(間隔検出部に相当)を前記渦電流センサー3と一
体に設け、渦電流検出部3Bの検出結果と変位センサー
4の検出結果とに基づいて、導電膜2の表面抵抗を算出
するコンピュータ7(算出手段に相当)を設けて構成し
てある。
イルなどのコイルで構成してあり、このコイルに高周波
電圧を印加し、コイルを導電膜2に近づけることで導電
膜2に高周波誘導結合による渦電流を流す。
は、それらに対するセンサーアンプ6にセンサーケーブ
ル5を介して接続してある。また、測定結果を表示する
CRT8と、測定結果を印字出力するプリンタ9と、測
定された表面抵抗値が規定された範囲外になったことや
異常をオペレータに報知する警報装置10とを設けてあ
る。
と、渦電流のアナログ信号をデジタル信号に変換する第
1A/D変換器と、前記間隔に応じたアナログ信号をデ
ジタル信号に変換する第2A/D変換器とを設けてあ
る。
ー4は、導電膜2の製造プロセスにおいて導電膜2の幅
方向に配置して、表面抵抗の幅方向の分布や表面抵抗の
流れ方向のトレンド(経時的な変化)をコンピュータ7
により求めることができるようにしてある。
A/D変換器によって得られたデジタル信号に基づいて
データ処理し、変位センサー4の検出結果が前記設定間
隔から外れていると、設定間隔から外れたことに起因す
る渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流の増減
量を渦電流検出部3Bの検出結果から減じあるいは加え
る補正を行い、その補正した渦電流の値に基づいて、導
電膜2の表面抵抗を算出するよう構成してある。この算
出方法については後で詳しく説明する。
について説明する。
電膜2と数mmの設定間隔を空けて対向する状態に、渦
電流センサー3と変位センサー4を配置する。
3の渦電流発生部3Aに高周波を印加して、高周波誘導
結合により導電膜2に渦電流を発生させる。
していれば、導電膜2に流れる渦電流と導電膜2の表面
抵抗が逆比例(反比例)することから、図2に示すよう
に、予め渦電流と表面抵抗との関係について校正曲線
(検量線)を作成しておくことで、導電膜2と渦電流発
生部3Aとを前記設定間隔空けた状態(基準点)での未
知の導電膜2の表面抵抗を求めることができる。
発生部3Aとの間隔が大きくなるにつれて小さくなる傾
向があるため、予め作成しておいた渦電流と前記間隔
(渦電流発生部3Aと導電膜2の間隔)との関係につい
ての校正曲線(検量線)(図3参照)に基づいて、渦電
流検出部3Bの検出結果を補正する。
する。
合、基準点での渦電流は66%であるが、インラインに
おいてパスライン変動により、前記間隔が−1mm、す
なわち(渦電流センサー3の)渦電流発生部3Aと導電
膜2との間隔が1mm小さくなった場合、渦電流は78
%となって、実際の表面抵抗よりも測定値が12%大き
くなる。
電流検出部3Bが検出した渦電流の値から12%減算す
る補正を行う。
流発生部3Aと導電膜2との間隔が1mm大きくなった
場合、渦電流の値は54%となって実際の表面抵抗より
も測定値が12%小さくなる。
出した渦電流に12%加算する補正を行う。このような
補正をすれば、パスライン変動があっても表面抵抗測定
の誤差を抑制できる。
ついて、図3に示すような校正曲線を予め作成しておく
ことで、補正値を正しく求めやすくすることができる。
抵抗は任意の作成ソフトウエアにより、測定値やグラフ
としてデータ処理を行い、インラインでの表面抵抗連続
測定を行う。
タ7の演算周期により導電膜2の製造プロセスにおいて
連続的に行うことができる。
プロセスにフィードバックすることで、製造の際に表面
抵抗を制御することができ、製造工程における品質の向
上・生産性向上を図ることができる。
一体に設けたことで、導電膜の製造ライン速度が1m/
min程度以上の高速では、ほぼ同一点での渦電流と前
記間隔の測定を行うことができ、測定精度を向上させる
ことができる。
速度が1m/min程度以下の低速では、パスライン変
動は幅方向にほぼ均等に生じると考えることもでき、こ
のような低速で導電膜2を製造する場合、複数の渦電流
センサー3に対して前記変位センサー4を1個だけ設け
た構造に構成することもできる。
電流発生部3Aの数よりも少なく設定する。これによ
り、変位センサー4にかかるコストを低く抑えることが
できる。
がよい方がよく、分解能が10μm、精度が±5%以下
であれば、より正確な測定結果を得ることができる。
を別体に形成してあってもよい。
られないが、3mm以下に設定すると、より正確な測定
結果を得ることができる。
波式・レーザ式・光電式などの変位センサーで構成する
ことができる。
ピュータ・ファクトリーコンピュータ等で構成すること
ができる。
と変位センサー4との数は上記の実施形態における数に
限られるものではなく、適宜変更することができる。
抗測定装置を以下に示す。高周波渦電流センサー(フェ
ライトコアコイル内臓)として、測定範囲1Ω/□〜2
000Ω/□を使用し、高周波発信器で2MHzを印加
した。
ylene Terephthalate)フィルム上
のITO(Indium Tin 0xide)被膜を
付着させたもので、6〜2000Ω/□の範囲で表面抵
抗値の異なるものを数枚使用した。
サーを使用し、仕様として測定範囲は0〜3mm、分解
能10μm、測定精度は±3%である。
器を含めた。表面抵抗の補正演算器としてパーソナルコ
ンピュータを使用した。
評価するため、本実施例にて使用する導電膜について予
めJIS K7194規格の四探針法にて表面抵抗値を
測定した。
と前記JIS K7194規格の四探針法による表面抵
抗測定結果との比較を図4に示す。
定結果との関係を図5に示す。本実施例によるパスライ
ン変動に対する測定精度の向上について図6に示す。
抗値はJIS K7194規格の四探針法により測定し
た表面抵抗値と相関係数0.99以上で一致した。ま
た、パスライン変動が±3mm以内では非接触式表面抵
抗測定を精度±5%以下で測定できる。
(検量線)を示す図
(検量線)を示す図
Claims (2)
- 【請求項1】 導電膜に設定間隔を空けて対向させてそ
の導電膜に渦電流を流す渦電流発生部と、前記導電膜に
流れる渦電流を前記導電膜とは離間した状態で検出する
渦電流検出部と、前記渦電流発生部と導電膜の間隔を検
出する間隔検出部とを所定数づつ設け、前記渦電流発生
部に印加する電圧を一定にした状態で、前記渦電流検出
部の検出結果と前記間隔検出部の検出結果とに基づい
て、前記導電膜の表面抵抗を算出する算出手段を設け、
前記算出手段は、前記間隔検出部の検出結果が前記設定
間隔から外れていると、前記設定間隔から外れたことに
起因する渦電流の増減量を求めるとともに、前記渦電流
の増減量を前記渦電流検出部の検出結果から減じあるい
は加える補正を行い、その補正した渦電流の値に基づい
て、前記導電膜の表面抵抗を算出するよう構成してある
表面抵抗測定装置。 - 【請求項2】 前記間隔検出部の数を前記渦電流発生部
の数よりも少なくしてある請求項1記載の表面抵抗測定
装置。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP03156099A JP4292612B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 表面抵抗測定装置 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP03156099A JP4292612B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 表面抵抗測定装置 |
Publications (2)
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JP2000230950A true JP2000230950A (ja) | 2000-08-22 |
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ID=12334572
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP03156099A Expired - Lifetime JP4292612B2 (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 表面抵抗測定装置 |
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JP (1) | JP4292612B2 (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
1999
- 1999-02-09 JP JP03156099A patent/JP4292612B2/ja not_active Expired - Lifetime
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