CN109655666A - 表面电阻测试治具及测试方法 - Google Patents

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傅妍蓉
陈杰
赵家冬
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    • G—PHYSICS
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    • G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0416—Connectors, terminals

Abstract

本发明公开了一种表面电阻测试治具及测试方法，表面电阻测试治具包括绝缘定位座、相间隔固定在所述绝缘定位件上并用于与导电衬垫接触的两个测试电极、设置在所述绝缘定位座上并对绝缘定位座和测试电极施加压力的施压件、以及两个分别插接或缠绕在所述测试电极上并通过连接线外接低电阻测试仪的接触连接件；两个所述测试电极在所述绝缘定位件上相互绝缘；所述接触连接件与所述测试电极接触电连接。本发明的表面电阻测试治具，设置接触连接件与测试电极通过拔插或缠绕的方式接触电连接，两者的接触面积大，提高测试数据的精确性，保证测试结果的准确性。本发明的测试治具适用于不同环境下对导电衬垫进行表面电阻测试。

Description

表面电阻测试治具及测试方法
技术领域
本发明涉及表面电阻测试技术领域，尤其涉及一种表面电阻测试治具及测试方法。
背景技术
导电橡胶衬垫以其良好的导电性、延展性、弹性、环境密封性和耐介质腐蚀性，在EMI领域得到了广泛应用。导电橡胶衬垫是将导电颗粒分布在橡胶基体中，通过压力使导电颗粒接触，达到良好的导电性能。
表面电阻率是导电衬垫的一个重要参数，是衡量导电衬垫屏蔽性能的重要指标。目前导电衬垫的表面电阻测试方式一般是通过LCR测试仪以其测试线夹的形式与电极连接，但是测试线夹与电极接触面积小，会导致测试结果不准确，且测试线夹外层的塑料耐温性差，不适宜除室温外的其他环境下的表面电阻测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题在于，提供一种提高测试数据的精确性，保证测试结果的准确性的表面电阻测试治具及测试方法。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种表面电阻测试治具，包括绝缘定位座、相间隔固定在所述绝缘定位件上并用于与导电衬垫接触的两个测试电极、设置在所述绝缘定位座上并对绝缘定位座和测试电极施加压力的施压件、以及两个分别插接或缠绕在所述测试电极上并通过连接线外接低电阻测试仪的接触连接件；
两个所述测试电极在所述绝缘定位件上相互绝缘；所述接触连接件与所述测试电极接触电连接。
优选地，所述接触连接件为镀金香蕉插头；
所述测试电极上设有供所述镀金香蕉插头插接的插孔。
优选地，所述接触连接件为铜线或镀金铜线，缠绕在所述测试电极上。
优选地，所述测试电极上设有通孔，所述铜线或镀金铜线穿过所述通孔缠绕在所述测试电极上。
优选地，所述施压件为金属块。
优选地，两个所述测试电极相间隔固定在所述绝缘定位座的同一表面。
优选地，所述绝缘定位座的相对两侧面分别设有定位槽；两个所述测试电极的一端凸出所述绝缘定位座的同一表面，两个所述测试电极的另一端分别延伸并嵌设在所述绝缘定位座相对两侧面的定位槽内。
本发明还提供一种表面电阻测试方法，其特征在于，采用以上任一项所述的表面电阻测试治具，所述测试方法包括以下步骤：
S1、在环境试验箱中，将两个测试电极置于导电衬垫上并与所述导电衬垫接触，施压件施加压力使得所述测试电极与所述导电衬垫中的导电颗粒充分接触；
S2、将插接或缠绕在所述测试电极上的接触连接件通过连接线连接所述环境试验箱外的低电阻测试仪；
S3、使所述环境试验箱内的环境参数达到设定值，读取所述低电阻测试仪的读数，获得导电衬垫的表面电阻值。
优选地，所述环境试验箱包括烘箱、恒温箱、可设温度变化速率的试验箱。
优选地，所述环境试验箱内的环境参数包括温度和/或湿度。
本发明的有益效果：设置接触连接件与测试电极通过拔插或缠绕的方式接触电连接，两者的接触面积大，提高测试数据的精确性，保证测试结果的准确性。本发明的测试治具适用于不同环境(高温、低温、高湿、高低温循等)下对导电衬垫进行表面电阻测试。
附图说明
下面将结合附图及实施例对本发明作进一步说明，附图中：
图1是本发明一实施例的表面电阻测试治具的正面结构示意图；
图2是本发明一实施例的表面电阻测试治具的侧面结构示意图；
图3是本发明一实施例的表面电阻测试治具中镀金香蕉插头的结构示意；
图4是本发明一实施例的表面电阻测试治具在测试表面电阻时的连接示意图。
具体实施方式
为了对本发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本发明的具体实施方式。
如图1、2所示，本发明一实施例的表面电阻测试治具100，包括两个测试电极10、绝缘定位座20、施压件30以及两个接触连接件40。
两个测试电极10相间隔固定在绝缘定位件20上，用于与导电衬垫1接触。施压件30设置在绝缘定位座20上，用于对绝缘定位座20和测试电极10施加压力，以使得测试电极10与导电衬垫1中的导电颗粒充分接触，保证电连接。两个接触连接件40分别插接或缠绕在两个测试电极10上，与测试电极10接触电连接，且还可通过连接线外接低电阻测试仪。
其中，两个测试电极10在绝缘定位件20上相互绝缘。两个测试电极10可以相间隔固定在绝缘定位座20的同一表面，一端与绝缘定位座20的表面固定连接，另一端向远离绝缘定位座20的方向延伸用于接触导电衬垫1。
作为选择，本实施例中，如图2所示，绝缘定位座20的相对两侧面分别设有定位槽(未图示)。两个测试电极10的一端11凸出绝缘定位座20的同一表面，两个测试电极10的另一端12分别延伸并嵌设在绝缘定位座20相对两侧面的定位槽内，从而测试电极10紧固在绝缘定位座20上。
测试电极10为镀金铜块。
进一步地，如图1-3所示，在本实施例中，接触连接件40为镀金香蕉插头，可采用现有的香蕉插头再经过镀金制得。测试电极10上设有供镀金香蕉插头插接的插孔(未图示)。镀金香蕉插头插接在插孔内，插接部的外周与插孔的内周相接触实现大面积接触电连接。
在其他实施例中，接触连接件40可以为铜线或镀金铜线，缠绕在测试电极10上。铜线或镀金铜线以缠绕方式形成多线圈绕覆在测试电极10的外周，增大其与测试电极10的接触面积。测试电极10上还可设有通孔，铜线或镀金铜线穿过通孔缠绕在测试电极10上，增加铜线或镀金铜线在测试电极10上的缠绕紧固性。
接触连接件40还可以是导电性好且可变形耐温材料制成的接触连接件。
绝缘定位座20可以是聚四氟乙烯等耐高温的绝缘材料制成，可以是多边体等各种形状。
施压件30设置在绝缘定位座20上用于施加压力，具有一定的体积和重量，可以是不锈钢等金属制成的金属块。施压件30可以与绝缘定位座20固定连接在一起，也可以是可拆卸方式连接在一起。
本发明一实施例的表面电阻测试方法，采用上述的表面电阻测试治具100实现，结合图1、2、4，该测试方法可包括以下步骤：
S1、在环境试验箱2中，将两个测试电极10置于导电衬垫1上并与导电衬垫1接触，施压件30施加压力使得测试电极10与导电衬垫1中的导电颗粒充分接触。
环境试验箱2包括烘箱、恒温箱、可设温度变化速率的试验箱。
S2、将插接或缠绕在测试电极10上的接触连接件40通过连接线3连接环境试验箱2外的低电阻测试仪4。
S3、使环境试验箱2内的环境参数达到设定值，读取低电阻测试仪4的读数，计算获得导电衬垫1的表面电阻值。
环境试验箱2内的环境参数包括温度和/或湿度等。
下面以具体实施例对本发明作进一步说明。
一、对导电橡胶衬垫进行耐高温性能测试。
测试导电橡胶衬垫在稳定120℃高温中的电阻率。
测试方法：在烘箱中放进导电橡胶衬垫样品，用表面电阻测试治具接触导电橡胶衬垫样品，与外部的低电阻测试仪连接。烘箱升温，稳定保持120℃后，读取低电阻测试仪读数为R。已知导电橡胶衬垫样品的面积S、厚度L，根据电阻率ρ计算公式为ρ＝R*S/L，计算获得导电橡胶衬垫的电阻率。
二、对导电橡胶衬垫进行耐高低温循性能测试。
测试导电橡胶衬垫在-40℃，2H←→100℃，2H温度循环中的表面电阻变化。
测试方法：在高低温试验箱中放进导电橡胶衬垫样品，用表面电阻测试治具接触导电橡胶衬垫样品，与外部的低电阻测试仪连接。设置好温度变化程序，在试验箱分别达到-40℃和100℃下读取低电阻测试仪所显示的表面电阻值。
三、对导电橡胶衬垫进行耐高温高湿性能测试。
采用的恒温试验箱，在恒温试验箱中放进导电橡胶衬垫样品，用表面电阻测试治具接触导电橡胶衬垫样品，与外部的低电阻测试仪连接。设定要求所需的温度和湿度进行测试。
四、温度变化中导电橡胶衬垫电阻的变化情况监控。
采用可编程的试验箱，在试验箱中放进导电橡胶衬垫样品，用表面电阻测试治具接触导电橡胶衬垫样品，与外部的低电阻测试仪连接。设定要求所需的温度变化速率，并在所需的温度点进行读数。
以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种表面电阻测试治具，其特征在于，包括绝缘定位座、相间隔固定在所述绝缘定位件上并用于与导电衬垫接触的两个测试电极、设置在所述绝缘定位座上并对绝缘定位座和测试电极施加压力的施压件、以及两个分别插接或缠绕在所述测试电极上并通过连接线外接低电阻测试仪的接触连接件；
两个所述测试电极在所述绝缘定位件上相互绝缘；所述接触连接件与所述测试电极接触电连接。
2.根据权利要求1所述的表面电阻测试治具，其特征在于，所述接触连接件为镀金香蕉插头；
所述测试电极上设有供所述镀金香蕉插头插接的插孔。
3.根据权利要求1所述的表面电阻测试治具，其特征在于，所述接触连接件为铜线或镀金铜线，缠绕在所述测试电极上。
4.根据权利要求3所述的表面电阻测试治具，其特征在于，所述测试电极上设有通孔，所述铜线或镀金铜线穿过所述通孔缠绕在所述测试电极上。
5.根据权利要求1所述的表面电阻测试治具，其特征在于，所述施压件为金属块。
6.根据权利要求1-5任一项所述的表面电阻测试治具，其特征在于，两个所述测试电极相间隔固定在所述绝缘定位座的同一表面。
7.根据权利要求1-5任一项所述的表面电阻测试治具，其特征在于，所述绝缘定位座的相对两侧面分别设有定位槽；两个所述测试电极的一端凸出所述绝缘定位座的同一表面，两个所述测试电极的另一端分别延伸并嵌设在所述绝缘定位座相对两侧面的定位槽内。
8.一种表面电阻测试方法，其特征在于，采用权利要求1-7任一项所述的表面电阻测试治具，所述测试方法包括以下步骤：
S1、在环境试验箱中，将两个测试电极置于导电衬垫上并与所述导电衬垫接触，施压件施加压力使得所述测试电极与所述导电衬垫中的导电颗粒充分接触；
S2、将插接或缠绕在所述测试电极上的接触连接件通过连接线连接所述环境试验箱外的低电阻测试仪；
S3、使所述环境试验箱内的环境参数达到设定值，读取所述低电阻测试仪的读数，获得导电衬垫的表面电阻值。
9.根据权利要求8所述的表面电阻测试方法，其特征在于，所述环境试验箱包括烘箱、恒温箱、可设温度变化速率的试验箱。
10.根据权利要求8所述的表面电阻测试方法，其特征在于，所述环境试验箱内的环境参数包括温度和/或湿度。
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