CN106716556A - 线束和同轴电线 - Google Patents
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Abstract
一种同轴电线(1),包括内部导体(10)、设置在内部导体(10)的外周上的内部绝缘体(20)、设置在内部绝缘体(20)的外周上用于防止塑化剂的转移的薄膜层(30)、设置在薄膜层(30)上的外部导体(40)和覆盖外部导体(40)的外周的护套(50)。内部绝缘体(20)与薄膜层(30)互相熔合。
Description
技术领域
本发明涉及线束和同轴电线。
背景技术
传统地,已经提出了一种同轴电线,该同轴电线具有:内部导体;内部绝缘体,该内部绝缘体设置在内部导体的外周上;外部导体,该外部导体设置在内部绝缘体的外周上;和护套,该护套覆盖外部导体的外周。在这种类型的同轴电线中,通过利用外部导体遮蔽外部噪音,防止了噪音叠加在经过内部导体传输的数据上(例如,参见专利文献1至4)。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:JP-A-2010-186722
专利文献2:JP-A-2009-146704
专利文献3:JP-A-2012-119231
专利文献4:JP-A-2012-138285
发明内容
本发明要解决的问题
顺便提及,当使用同轴电线和其它电线形成线束时,具有包含塑化剂的绝缘体的电线(例如,PVC电线)作为该其它电线,在将同轴电线布置在这样的其它电线附近的情况下,在一些情况下,包含在PVC电线中的塑化剂可能在高温环境下挥发,并且转移到同轴电线。在该情况下,存在这样的可能性:内部绝缘体的介电常数由于转移到同轴电线的塑化剂而提高,并且同轴电线的屏蔽性能恶化。
另一方面,即使在单独使用同轴电线的情况下,在一些情况下,同轴电线的护套包含塑化剂。该塑化剂在高温环境下以与上述相同的方式转移到同轴电线,并且可能引起同轴电线的屏蔽性能的恶化。
解决问题的方案
已经鉴于上述情况做出了本发明,并且本发明的目的是提供能够抑制屏蔽性能的恶化的线束和同轴电线。
为了实现上述目的,根据本发明的线束和同轴电线的特征在于下面的条目(1)至(5)中所描述的特征。
(1)
一种线束,包括:
电线,该电线具有导体部和绝缘体,所述绝缘体覆盖所述导体部的外周并且包含塑化剂;以及
同轴电线,该同轴电线具有内部导体、内部绝缘体、外部导体和护套,所述内部绝缘体设置在所述内部导体的外周上,所述外部导体设置在所述内部绝缘体的外周上,并且所述护套覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述同轴电线与所述电线相邻地布置,并且
其中,所述同轴电线包括薄膜层,所述薄膜层设置在所述内部绝缘体与所述护套之间,并且防止所述塑化剂的转移。
(2)
如在以上条目(1)中描述的线束,其中,所述薄膜层设置在所述内部绝缘体与所述外部导体之间,并且熔合于所述内部绝缘体。
(3)
如在以上条目(2)中描述的线束,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
(4)
一种同轴电线,包括:
内部导体;
内部绝缘体,该内部绝缘体设置在所述内部导体的外周上;
薄膜层,该薄膜层设置在所述内部绝缘体的外周上,用于防止塑化剂的转移;
外部导体,该外部导体设置在所述薄膜层的外周上;和
绝缘护套,该绝缘护套覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层互相熔合。
(5)
如在以上条目(4)中描述的同轴电线,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
根据具有在以上条目(1)中描述的结构的线束,用于防止塑化剂转移的薄膜层设置在同轴电线的内部绝缘体与护套之间。由于该原因,即使在高温环境下,也能够防止塑化剂转移到同轴电线的内部绝缘体。结果,根据具有该结构的线束,能够抑制由于塑化剂而引起的屏蔽性能的恶化。
根据具有在以上条目(2)中描述的结构的线束,同轴电线的内部绝缘体与薄膜层互相熔合。因此,当使用同轴电线时,即使由于端部加工而在薄膜层中偶然产生损坏等(间隙等),也防止薄膜层从内部绝缘体被剥离(下面将描述详情)。结果,除了如上所述地抑制屏蔽性能的恶化之外,还能够防止由于已经被剥离的薄膜层可能覆盖同轴电线的端部(特别地,要连接于端子等的内部导体)的现象而引起的不良连接。
将简要描述当使用同轴电线时的端部加工。如图4(a)所示,当使用同轴电线时,作为第一步骤,将包括护套50到内部绝缘体20的四个层从内部导体10去除。结果,露出内部导体10。然后,如图4(b)所示,在与内部绝缘体20的端面T距离预定长度L的位置处利用旋转刀具等方法切除包括护套50和外部导体40的两个层,并且从薄膜层30剥离该两个层。以这种方式,使内部导体10与外部导体40在同轴电线1的轴向上互相距离长度L,从而能够防止两个导体之间的接触。
然而,当切除包括护套50和外部导体40的两个层时,在一些情况下,可能由于旋转刀具等而在薄膜层30中产生损坏(间隙G)。在这种情形下,存在这样的可能性:除非将薄膜层30充分固定于内部绝缘体20,否则在间隙G的末端侧处的薄膜部30a可能从内部绝缘体20剥离。于是,在薄膜部30a覆盖露出的内部导体10的情况下,存在这样的可能性:当内部导体10与端子等互相连接(压接)时,可能产生不良连接。
根据具有在以上条目(3)中描述的结构的线束,内部绝缘体与薄膜层之间的接触力是1N以上(将在下面描述定义)。根据发明人进行的试验,在接触力是1N以上的情况下,在薄膜部在电线的纵向上的距离(上述长度L)是大约0.5mm的条件下,在充足数量的样品(样品的数量为50)的全部中均不发生薄膜层的剥除。因此,在接触力是1N以上的情况下,能够更可靠的防止不良连接。
将本发明中的接触力定义为使用将在下面描述的试验方法测量的值。具体地,在露出于外部的内部绝缘体与薄膜层互相熔合的面积(熔合面积)为50mm2的条件下,在用于在内部绝缘体的轴向上牵拉薄膜层的力(用于剥离薄膜层的力)逐渐增大的情况下,将薄膜层从内部绝缘体剥离的时间点的力的大小定义为本发明中的接触力。下面将描述更加详细的试验方法。
根据具有在以上条目(4)中描述的结构的同轴电线,以与在上述条目(2)中相同的方式,内部绝缘体与薄膜层互相熔合。因此,即使由于端部加工等而在薄膜层中产生损坏(间隙等),也防止薄膜层从内部绝缘体被剥离。因此,除了如上所述地抑制屏蔽性能的恶化之外,还能够防止由于已经被剥离的薄膜层覆盖同轴电线的端部(特别地,待连接于端子等的内部导体)的现象引起的不良连接。
根据具有在以上条目(5)中描述的结构的同轴电线,内部绝缘体与薄膜层之间的接触力是1N以上(将在下面描述定义)。根据发明人进行的试验,在接触力是1N以上的情况下,在薄膜部在电线的纵向上的距离(上述长度L)为大约0.5mm的条件下,在充足数量的样品(样品的数量为50)的全部中均不发生薄膜层的去除。因此,在接触力是1N以上的情况下,能够更可靠的防止不良连接。
发明的优点
根据本发明,能够提供能够抑制屏蔽性能恶化的线束和同轴电线。
附图说明
图1是示出根据本发明的实施例的线束的一个实例的立体图。
图2是除了同轴电线之外的其它电线的一个实例的截面图。
图3是示出图1所示的同轴电线的结构图,其中,图3(a)是截面图,并且图3(b)是侧视图。
图4是示出当使用同轴电线时的加工过程的视图,其中,图4(a)示出第一过程,并且图4(b)示出第二过程。
图5是示出接触力的测量方法的视图,其中,图5(a)是第一视图,图5(b)是第二视图,并且图5(c)是第三视图。
参考标记列表
1 同轴电线
2 电线
3 导体
4 绝缘体
10 内部导体
20 内部绝缘体
30 薄膜层
40 外部导体
50 护套
C 连接器
G 间隙
T 端面
W 电线
WH 线束
具体实施方式
下面将描述本发明的优选实施例。然而,本发明不限于如下所述的实施例。
图1是示出根据本发明的实施例的线束的一个实例的立体图。如图1所示,通过捆束多个电线W(将在下面描述的同轴电线1和电线2)而形成线束WH。在该实施例中,多个电线W中的至少一个是将在下面描述的同轴电线1。
图2是示出除了同轴电线1之外的其它电线2的一个实例的截面图。例如,其它电线2是PVC电线,并且包括导体部3以及包含塑化剂且覆盖导体部3的外周的绝缘体4。
在线束WH中,同轴电线1布置在其它电线2的附近(具体地,布置在与其它电线2相邻的位置处)。如图1所示,线束WH可以设置有在电线W的两端处设置的连接器C,并且可以由带(未示出)缠绕以捆束多个电线W。线束WH可以设置有诸如波纹管这样的外装部件(未示出)。
图3是示出同轴电线1的结构图,其中,图3(a)是截面图,并且图3(b)是侧视图。如图3所示,同轴电线1包括内部导体10、内部绝缘体20、薄膜层30、外部导体40和绝缘护套50。
作为内部导体10,例如,能够使用退火铜线、镀银退火铜线、镀锡退火铜线和镀锡铜合金线等。虽然在该实施例中,内部导体10由单个导体构成,但是注意,内部导体10可以由包括已经绞合在一起的两个以上导体(电线)的绞合线形成。
内部绝缘体20设置在内部导体10的外周上。作为内部导体10,例如,能够使用PE(聚乙烯)和PP(聚丙烯)等。在该实施例中,内部绝缘体20的介电常数是3.0以下。
薄膜层30是设置在内部绝缘体20的外周上,以防止塑化剂的转移的片状部件。具体地,薄膜层30能够由相对于通常使用的塑化剂(DOP:二(2-乙基己基)邻苯二甲酸酯,DINP:邻苯二甲酸二异壬酯,和TOTM:偏苯三酸三辛酯)具有1.8以上的溶解度参数(SP值)的差的物质(例如PET(聚对苯二甲酸乙二酯))形成。利用该薄膜层30,能够防止塑化剂渗透到内部绝缘体20内。作为参考,上述常用塑化剂的SP值是8.9。从强度的角度来看,薄膜层30优选地是在长度方向和宽度方向两个方向上延伸的双轴延伸薄膜。
外部导体40设置在薄膜层30上。作为外部导体40,例如,能够使用通过将诸如铜线这样的导线捆束成多束并且通过编织这些束而形成的编织结构。此外,外部导体40不限于编织结构,并且可以由金属箔的金属薄膜形成。此外,外部导体40可以由两个以上的层构成。另外,在外部导体40由两个以上的层构成的情况下,可以将绝缘体插置在层之间。
护套50设置成覆盖外部导体的外周。例如,护套50可以由诸如聚氯乙烯树脂(PVC)这样的包含塑化剂的树脂形成。
同轴电线1的目的是遮蔽外部的噪音,从而防止噪音叠加在经过内部导体10传输的数据上。
此外,即使在包括同轴电线1的线束WH暴露于高温环境并且包含在护套50中的塑化剂挥发的情况下,挥发的塑化剂被薄膜层30阻挡。由于该原因,塑化剂将不会转移到内部绝缘体20。结果,内部绝缘体20的介电常数将不会由于塑化剂而提高,并且能够防止同轴电线1(因此,线束WH)的屏蔽性能的恶化。
此外,内部绝缘体20与薄膜层30互相熔合。具体地,在内部绝缘体20与薄膜层30之间的边界上,内部绝缘体20和薄膜层30中的至少一者软化,并且与另一者产生紧密接触。
图4是示出当使用同轴电线时的加工过程的视图,其中,图4(a)示出第一过程,并且图4(b)示出第二过程。当使用同轴电线1时,执行下面的过程。
作为第一步骤,如图4(a)所示,通过从内部导体10剥离包括护套50到内部绝缘体20的四个层而使内部导体10露出(第一切割过程)。然后,如图4(b)所示,在与内部绝缘体20的端面T距离预定长度L的位置处切除包括护套50和外部导体40的两个层(第二切割过程)。以这种方式,使内部导体10与外部导体40在同轴电线1的纵向上互相距离长度L,从而能够防止这两个导体之间的接触。
然而,当切除包括护套50和内部导体40的两个层时,在一些情况下,可能由于旋转刀具等而在薄膜层30中产生损坏(间隙G)。在这种情形下,存在这样的可能性:除非将薄膜层30充分固定于内部绝缘体20,否则在间隙G的末端侧处的薄膜部30a可能从内部绝缘体20被剥离。于是,在薄膜部30a覆盖露出的内部导体10的情况下,存在这样的可能性:当内部导体10与端子等互相连接(压接)时,可能产生不良连接。
另一方面,在该实施例中,因为内部绝缘体20与薄膜层30互相熔合,所以即使在第二切割过程中在薄膜层30中偶然形成间隙G,也能够防止由于薄膜部30a被剥离并且被剥离的薄膜部30a覆盖内部导体10的现象而引起的不良连接。这是因为:从间隙G到内部绝缘体20的端面T的薄膜部30与内部绝缘体20紧密接触。
在该情况下,内部绝缘体20与薄膜层30之间的接触力优选地是1N以上。这是因为:根据发明人进行的试验,在接触力是1N以上的情况下,在薄膜部的在电线的纵向上的距离(上述长度L)为大约0.5mm的条件下,在充足数量的样品(样品的数量为50)的全部中均不发生薄膜层的剥除。
具体地,如图5所示地进行该试验。图5是示出接触力的测量方法的视图。图5(a)示出第一视图,图5(b)示出第二视图,并且图5(c)示出第三视图。
作为第一步骤,制造用于测量的试验片(试样)。具体地,如图5(a)和5(b)所示,通过从同轴电线1去除外部导体40和护套50而制造第一部件B1。换句话说,第一部件B1由内部导体10、覆盖内部导体10的内部绝缘体20和覆盖内部绝缘体20的薄膜层30构成。
然后,制造如图5(c)所示的第二部件B2。具体地,去除第一部件B1的一端侧处的薄膜层31,从而留下另一端侧和中心部处的薄膜层32。其后,去除另一端侧处的内部导体12和内部绝缘体22,从而留下一端侧和中心部处的内部导体11和内部绝缘体21。以这种方式,制造作为用于测量的试验片的第二部件B2。
如图5(c)所示,在第二部件B2的中心部,内部绝缘体21与薄膜层32处于互相熔合的状态。在该实施例中,熔合的部分在纵向上具有距离FL,并且内部绝缘体20具有大约5mm的周长。因此,熔合面积是大约50mm2。
其后,将第二部件B2的一端侧处的内部绝缘体21向一端侧(在轴向上)牵拉,并且同时,将另一端侧处的薄膜层32向另一端侧(在轴向上)牵拉。简言之,施加力,使得两个部件能够在第二部件B2的纵向上互相分离。然后,将第二部件B2的中心部的薄膜层32从内部绝缘体21剥离时的力定义为接触力。
作为参考,使用由TOYO SEIKI SEISAKUSHO KK制造的试验机(产品名称:STROGRAPH VGS)作为用于施加使两个部件互相分离的力的牵拉试验机。
然后,将描述根据该实施例的线束WH的制造方法。作为第一步骤,单独制造其它电线2和同轴电线1。通过将绝缘体4挤出在导体部3上而制造其它电线2。另一方面,作为第一步骤,通过将内部绝缘体20挤出在内部导体10上而制造同轴电线1。然后,通过将薄膜缠绕在内部绝缘体20上而形成薄膜层30。其后,将由例如编织体形成的外部导体40缠绕在薄膜层30上。将已经以这种方式形成的部件(仅从同轴电线1去除护套50的部件)称为护套内侧部件。
其后,加热护套内侧部件。以这种方式,将薄膜层30熔合于内部绝缘体20。在该情况下,例如,加热温度高于80℃且低于120℃,并且加热时间长于1秒且短于5秒。结果,在薄膜层30由例如PET树脂形成的情况下,由于PET树脂在大约70℃软化,所以实现熔合。注意,虽然PET树脂的熔点是250℃至260℃,但是不需要将薄膜层30加热至该温度。这是因为,当被加热至该温度时,薄膜树脂塌垮并且形成孔等,并且失去防止塑化剂的转移的功能。具体地,加热温度仅需要比构成薄膜层30的树脂的熔点低,并且比构成薄膜层30的树脂软化的温度(玻璃化温度)高。
然后,将护套50挤出在已经被加热的护套内侧部件上。结果,制造了该实施例中的同轴电线1。在以上描述中,将护套内侧部件加热成至少比构成薄膜层30的树脂的玻璃化温度高。以这种方式,能够平顺地进行挤出。
更具体地描述,在未加热护套内侧部件的情况下,相对于处于冷状态的护套内侧部件进行挤出。在该情况下,在挤出期间,处于冷状态的护套内侧部件降低了用于形成护套50的树脂的温度。具体地,在一些情况下,虽然挤出了树脂,但是用于形成护套50的树脂由于温度的下降而硬化,并且不能适当地进行挤出。
具体地,在用于加热护套内侧部件的过程中,为了使薄膜层30软化并且为了使随后的挤出过程平顺,必须加热护套内侧部件。
作为护套内侧部件的加热方法,能够采用使护套内侧部件自身露出于加热氛围的方法和对护套内侧部件的外部导体40通电的方法这两种方法中的至少一种。
其后,利用带等缠绕已经单独制造的PVC电线和同轴电线1,并从而,制造线束WH。
如上所述,根据该实施例中的线束WH,同轴电线1在内部绝缘体20与护套50之间设置有用于防止塑化剂转移的薄膜层30。因此,在同轴电线1的护套50包含塑化剂的情况下,并且在与同轴电线1相邻地布置的电线2的绝缘体4包含塑化剂的情况下,能够防止塑化剂转移到同轴电线1的内部绝缘体20。结果,能够提供能够抑制同轴电线1的屏蔽功能恶化的线束WH。
此外,内部绝缘体20与薄膜层30互相熔合。因此,即使在薄膜层30中偶然形成间隙G,从间隙G到内部绝缘体20的端面T的薄膜部30a也紧密附着于内部绝缘体20,并且能够降低薄膜部30a被剥离并且覆盖内部导体10的可能性。结果,能够降低发生不良压配合的可能性。
再者,内部绝缘体20与薄膜层30之间的接触力是1N以上。因此,能够更可靠地降低发生不良压配合的可能性。
虽然目前为止已经参考实施例描述了本发明,但是本发明不限于上述实施例,并且能可以在不背离本发明的主旨的范围内增加各种修改。
例如,在该实施例的同轴电线1中,将薄膜层30、外部导体40和护套50顺次层叠在通过利用内部绝缘体20覆盖内部导体10而形成的一根内侧电线上。然而,本发明不限于此,并且同轴电线1可以形成为包括用于覆盖成束的多根内侧电线的薄膜层30、设置在薄膜层30上的外部导体40和覆盖外部导体40的外周的绝缘护套50。
此外,在该实施例中,薄膜层30在内部绝缘体20的360°全周上熔合。然而,内部绝缘体20和薄膜层30可以具有周部的一部分熔合并且其它部分不熔合的结构。
现在,将在下面的条目(1)至(5)中简要描述上述根据本发明的实施例中的线束和同轴电线的特征。
(1)
一种线束(WH),包括:
电线(2),该电线(2)具有导体部(3)和绝缘体(4),所述绝缘体(4)覆盖所述导体部的外周并且包含塑化剂;以及
同轴电线(1),该同轴电线(1)具有内部导体(10)、内部绝缘体(20)、外部导体(40)和护套(50),所述内部绝缘体(20)设置在所述内部导体的外周上,所述外部导体(40)设置在所述内部绝缘体的外周上,并且所述护套(50)覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述同轴电线与所述电线相邻地布置,并且
其中,所述同轴电线包括薄膜层(30),所述薄膜层(30)设置在所述内部绝缘体与所述护套之间,并且防止所述塑化剂的转移。
(2)
如在以上条目(1)中描述的线束,其中,所述薄膜层设置在所述内部绝缘体与所述外部导体之间,并且熔合于所述内部绝缘体。
(3)
如在以上条目(2)中描述的线束,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
(4)
一种同轴电线,包括:
内部导体(10);
内部绝缘体(20),该内部绝缘体设置在所述内部导体的外周上;
薄膜层(30),该薄膜层设置在所述内部绝缘体的外周上,用于防止塑化剂的转移;
外部导体(40),该外部导体设置在所述薄膜层上;和
绝缘护套(50),该绝缘护套覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层互相熔合。
(5)
如在以上条目(4)中描述的线束,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
本申请基于2014年10月10日提交的日本专利申请(日本专利申请No.2014-208783)和2014年10月10日提交的日本专利申请(日本专利申请No.2014-208784),这两个专利申请的内容通过引用并入本文。
工业实用性
根据本发明,能够抑制线束和同轴电线的屏蔽性能的恶化。实现了该优点的本发明有用地应用于线束和同轴电线。
Claims (5)
1.一种线束,包括:
电线,该电线具有导体部和绝缘体,所述绝缘体覆盖所述导体部的外周并且包含塑化剂;以及
同轴电线,该同轴电线具有内部导体、内部绝缘体、外部导体和护套,所述内部绝缘体设置在所述内部导体的外周上,所述外部导体设置在所述内部绝缘体的外周上,并且所述护套覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述同轴电线与所述电线相邻地布置,并且
其中,所述同轴电线包括薄膜层,所述薄膜层设置在所述内部绝缘体与所述护套之间,并且防止所述塑化剂的转移。
2.根据权利要求1所述的线束,其中,所述薄膜层设置在所述内部绝缘体与所述外部导体之间,并且熔合于所述内部绝缘体。
3.根据权利要求2所述的线束,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
4.一种同轴电线,包括:
内部导体;
内部绝缘体,该内部绝缘体设置在所述内部导体的外周上;
薄膜层,该薄膜层设置在所述内部绝缘体的外周上,用于防止塑化剂的转移;
外部导体,该外部导体设置在所述薄膜层上;和
绝缘护套,该绝缘护套覆盖所述外部导体的外周,
其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层互相熔合。
5.根据权利要求4所述的同轴电线,其中,所述内部绝缘体与所述薄膜层之间的接触力是1N以上。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20170524 |