CN106574912B - 用于漏损通量检验的方法和装置 - Google Patents

Abstract

在一种用于检定缺陷的、用于铁磁检验物的漏损通量检验的方法中，检验体积借助于恒磁场被磁化。检验物的表面为了检测漏磁场借助于探头装置来探测，探头装置具有带磁场敏感探头的探头阵列，探头在第一方向上并排布置且保持在至表面的有限检验距离中。探头信号为了鉴别缺陷被评估。探头信号的评估包括映射操作，在其中代表探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系，矩阵成型操作，在其中取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中，和至少一次评估操作，在其中取决于位置的信号数据由基础矩阵的至少两个在评估方向上直接或间接相邻的栏位在使用至少一个评估算法的情形下相联系。

Description

用于漏损通量检验的方法和装置

技术领域

本发明涉及一种根据本发明的用于检定缺陷的用于铁磁检验物的漏损通量检验的方法以及一种根据本发明的对于执行方法合适的装置。

背景技术

漏损磁通量方法在半成品和成品对缺陷的无损检验的情形中是用于不仅在制造过程中而且在成品的周期性重复检验的情形中的质量监控的重要组成部分。漏损磁通量方法相对材料的一些干扰性能例如表面粗糙度或在热轧产品的情形中的氧化皮层而言相比例如涡流法或超声检验较不敏感。由此得出在有用信号与干扰信号之间的更好的比例(N/S比例)，由此使得一种更可靠的瑕疵识别成为可能。

在一种用于借助于漏损通量测量探测缺陷的装置的情形中，检验物的检验体积借助于磁化设备被磁化且借助于至少一个磁场敏感的探头(漏损通量探头)来探测以用于检测由缺陷所引起的漏磁场。在此进行在检验物的表面与探头之间在探测方向上的相对运动。在探测的情形中，探头被保持在相对检验物的表面的相对较小的、然而有限的检验距离中。单个探头掠过其宽度通过探头横行于探测方向的有效宽度来确定的检验轨迹。

由在检验物中的磁化设备所产生的磁通量或者磁场在无缺陷的材料中在空间上大致均匀地分布。在该情况中，在靠近表面的区域中同样未出现实质的磁场梯度。裂纹和其它缺陷(例如缩孔、夹杂物或其它不均匀性例如焊缝等等)充当增加磁阻的区域，从而使得在缺陷附近的栏位部分被导引绕过缺陷且由金属被挤出到靠近表面的区域中。被挤出的栏位部分在用于检定缺陷的漏损通量方法的情形中被检查。在一种漏损通量测量的情形中，当由检验物被挤出的栏位部分达到直至探头的区域且在该处引起栏位的对于检查而言足够的变化时，缺陷可被检查出。

漏损通量检验方法或者检验装置取决于待检验的材料如何来磁化被划分成带有恒磁场磁化(DC漏损通量检验)的方法或者装置和带有交变场磁化(AC漏损通量检验)的方法或者装置。

在检验管子的情形中力求不仅检测外部瑕疵(也就是说在管子外侧处的瑕疵或者缺陷)而且检测内部瑕疵(也就是说在管内侧处的瑕疵以及在管壁中的瑕疵)。为此通常使用带有恒磁场磁化(DC漏损通量检验)的方法。在此利用恒磁场磁化的主要优点，即较大的渗透深度，从而使得内瑕疵和在管壁中的瑕疵同样可被检测。

在此处所考虑的方法和装置的情形中为了执行检验使用一种探头装置，其具有带有多个在第一方向(宽度方向)上并排布置的磁场敏感的探头的探头阵列。探头电信号(也就是说探头的电气信号)或由此推导出的信号借助于用于鉴别缺陷的评估设备被一起评估。通过使用探头阵列，在探测过程的情形中被盖住的检验宽度可明显大于由单个探头被盖住的检验宽度。在宽度方向上的位置分辨率进一步通过各个探头的探头宽度来确定。通过使用探头阵列可以连续式方法实现检验物的高效检验。

在各个探头关于其探头宽度的尺寸定义的情形中通常按照所谓的最小瑕疵长度。最小瑕疵长度是由其达到探头信号的最大幅度(也就是说最高检验灵敏度)以及最大可重复性的那些瑕疵长度(或者缺陷长度)。在相关标准中提及30mm或者最小瑕疵长度或一半的最小瑕疵长度的探头宽度，其中，最小瑕疵长度根据标准可例如为25mm或50mm。通过参考最小瑕疵长度可获得在尽可能长或者宽的探头阵列的情形中尽可能小的数量的探头(成本优化)与对于缺陷识别的良好的可重复性而言被认为必要的最大允许的探头宽度(一般而言最小瑕疵长度的一半)之间的良好的折衷。

发明内容

本发明的目的是说明一种用于铁磁检验物借助于探头阵列的漏损通量检验的方法和装置，其使得对不同瑕疵类型的瑕疵的可靠检验成为可能。

为了实现该目的，本发明提供了一种根据本发明的方法以及一种根据本发明的装置。有利的改进方案根据本发明进行说明。所有权利要求的表述通过参照说明书的内容来进行。

在根据被要求保护的本发明的方法和装置的情形中，探头阵列的各个探头的探头宽度相对常规的方式被显著降低。探头宽度不再按照最小瑕疵长度，而是按照最小预期漏损通量宽度；其主要由探头相对材料表面的距离(检验间距)来确定。提供在宽度方向上局部高分辨率的探头阵列。检验距离的大约五分之一被认为是对于探头宽度而言在技术上有意义的下极限。在若干十分一毫米直至大约2mm的范围中的目前典型的检验距离的情形中，0.1mm的探头宽度的下极限目前被认为是有意义的，从而根据一种备选的表述方案探头宽度应处在0.1mm至10mm的范围中。在各个探头大于10mm的探头宽度的情形中，各个探头的所力求的较高的位置分辨率一般而言不再可完全达到。特别有利地目前出现在0.5mm至3mm的范围中的探头宽度。

探头信号的评估包括多个彼此协调的操作，其被特别地匹配于局部或者空间上高分辨率的探头装置。

在映射操作中，对于每个探头信号而言代表探头信号的信号信息与代表在经探测的面区域中的探头信号的形成位置的位置信息相联系。由此构成取决于位置的信号数据。映射操作创造了在信号信息与位置信息之间的明确关系且可充当用于产生被相应探测的面区域的“地图”。对于位置信息的确定而言可例如利用检验装置的转动传感器(角度位置传感器)和/或行程传感器的信号。在矩阵成型操作中，取决于位置的信号数据(或由此推导出的信号数据)被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位或者元件中。在此，“矩阵”的概念不同于矩阵在数学上的通常定义(元件以行和列的二维矩形布置)表示元件的n维布置，其中，n大于或等于二。在本申请的意义中的矩阵因此可具有多于二个的维度，例如三个或四个。该矩阵在最广泛的意义中建立了在位置信息、信号信息与必要时另外的对于影响该方法和其结果的参数的信息之间的关系。

基础矩阵的第一维度代表信号信息，其包含关于在检验物表面的确定位置处测得的漏损通量的信息。该信号信息可作为标量或作为向量被给定。作为标量例如考虑漏损通量的信号幅度或所选择的分量，其例如可代表测得的漏损通量的法向分量或切向分量。信号信息同样可代表漏损通量的完整的矢量(Bx,By和Bz分量)。

基础矩阵的第二维度代表在第一方向上、即在探头阵列的宽度方向上(横向于探测方向)的位置。当探头阵列的每个探头关联有自己的通道时，在第一方向上的位置同样可通过通道编号来给定。

基础矩阵的第三维度代表在探测方向上的位置。该方向可垂直于第一方向或以对此或多或少的锐角来定向。

另外的维度同样是可能的。例如，在其中磁通密度作为矢量取决于在通过方向上的探头位置和提离距离(检验距离)被存储的元件或者栏位的多维布置的形成是可能的。该矩阵然后构成一种特殊形式的用于探头如所描述的那样布置在其中的阵列的张量。

基础矩阵或者在各个元件或者栏位中所包含的栏位信息充当用于评估的进一步操作的基础。在此实施至少一个评估操作，在其中来自基础矩阵的至少两个在(虚拟)评估方向上直接或间接相邻的栏位的取决于位置的信号数据在使用至少一个评估算法的情形下彼此相联系。

该评估因此以在基础矩阵中所代表的面区域的“地图”工作，以便于根据一个或多个标准评估在基础矩阵或者其栏位或元件中所包含的信息。在此，探头阵列的各个探头中的其中一个的探头信息与探头阵列的至少一个另外的在评估方向上相邻的探头的探头信息和/或相邻的检验轨迹一起被评估。在此可考虑如下，即，在检验物处的两个紧密相邻的位置之间的、由紧密相邻的探头来探测的情况一般不突然变化，从而使得探头信号的相互关系可被考虑。

该评估可在相同探头阵列的探头内实现。当设置有多个其探头探测相同的或彼此相邻的检验轨迹的探头阵列时，该评估同样可跨探头阵列地工作，从而使得不同探头阵列的探头的信号以位置正确的关系被一起评估。

各个探头的探头宽度显著小于一半的最小瑕疵长度，即明显小于目前常见的。由此，带有更高位置分辨率的检验至少在第一方向上变得可能。然而由最小瑕疵长度所代表的标准缺陷可至少如同目前一样地被找到，因为通过相邻探头的探头信息和/或在必要时检验轨迹的共同评估同样可创造或者模拟匹配于最小瑕疵长度的更宽的有效探头宽度。此外，对于常规的检验方法和装置而言“盲的”或“弱视的”另外的缺陷可被可靠地找到和辨别出。

优选地，在构成基础矩阵的情形中使用双极信号信息，即由未经矫正的探头信号构成的“原始”信号信息。由此，对于评估而言同样可利用由矫正失去的信息。

探头阵列的所有探头可在唯一的直排列中在第一方向(宽度方向)上并排布置。由于有限的检验距离，相邻探头的有效宽度可能重叠。如下是同样可能的，即，将探头划分成两个(或多个)彼此平行的排列且在宽度方向上如此地彼此相对偏移地布置，即，探头处在“空隙上”。由此可实现整个检验宽度在宽度方向上无缝隙的盖住。

作为探头尤其考虑霍尔探头或MR探头(充分利用用于磁场检查的磁阻效应的探头，例如GMR(巨磁阻)、AMR(各向异性磁阻)、CMR(超巨磁阻)或TMR(隧道磁阻))或任意其它形式的磁场敏感的探头。

为了在紧接着的信号处理的情形中尽可能仅处理实际对于检验情况而言可能具有相关性的这样的信号，在该方法的一些变体方案的情形中在该装置中设置有探头信号借助于带有可调整的截止频率的带通滤波器的前置于映射操作的预过滤。在此，下截止频率被调整到探头信号的最小预期频率上而上截止频率被调整到探头信号的最大预期频率上。由此可实现粗略的预过滤。截止频率可取决于探头溢出速度、检验距离、最小和最大待检查的瑕疵宽度和瑕疵深度、必要时壁厚(在管子的情形中)和可能其它的边界条件来调整。由此，检验可被协调于特殊的检验条件，一些干扰者被从信号中移除且被进一步处理的信号的相关性提高。通过下截止频率的合适的预选择可例如去除低频的信号部分，其在检验情况的情形中未携带对于检验物而言相关的信息。最高的截止频率可例如如此来调整，即，大于这样的通常源自在检验物的表面处的较小裂纹的频率的频率被过滤出。其根据经验得出最相关的频率部分。

信号的评估可在一些实施形式的情形中特别地对于不同的瑕疵类型进行优化。在一些实施形式的情形中设置有后置于映射操作的、取决于瑕疵类型的借助于一个或多个带有可调整的截止频率的带通滤波器的过滤，其中，对于预先确定的瑕疵类型而言带通滤波器的下截止频率被调整用于探头信号的最小预期频率上而带通滤波器的上截止频率被调整到探头信号的最大预期频率上。因此进行取决于瑕疵类型的带通滤波。这些过滤中的每个开启了特殊的瑕疵类型路径，其中，紧接着的评估步骤在瑕疵类型路径内对于相应的瑕疵类型而言是特别的。在装置的存储器中可存储瑕疵类型数据，通过其使得对于瑕疵类型的瑕疵分类目录可供使用。瑕疵类型分类目录可例如包含下列瑕疵类型：外部瑕疵、内部瑕疵(例如在管子处)、不同直径的钻孔、外壳瑕疵、横向于第一和第二方向的不同定向的倾斜瑕疵、过压轧、缩孔、铸造粉末夹杂物等等。

在检查瑕疵的情形中的特别高的操作方便性和高的特殊性在一些实施形式的情形中由此存在，即，用于取决于瑕疵类型的过滤的带通的数量可配置，从而使得装置或者方法可被最佳地协调于确定的检验情况。优选地，对于取决于瑕疵类型的过滤而言使用带有不同截止频率的三个、四个、五个、六个或更多个带通滤波器。区分能力由此相对大致在管检验的情形中仅可在内部瑕疵(产生较低的频率)与外部瑕疵(产生较高的频率)之间进行区分的常规方法和装置被显著提高。

用于评估的不同瑕疵类型路径的开启同样可在评估过程的其它阶段中实现，尤其地基于取决于位置的被存储在基础矩阵的栏位中的信号数据。

如提及的那样，基础矩阵或者被包含在基础矩阵的各个栏位中的栏位信息充当用于评估的进一步操作的基础。

优选地执行一个或多个评估操作，其设计成关于在规定的评估方向上规定数量的彼此相邻栏位的取决于位置的信号数据的过滤操作。在此，“过滤操作”的概念尤其应包括这样的借助其可从信号中移除确定的组成部分或特征、例如确定的频率部分或噪声的操作。在此如下原则上是可能的，即，利用任意的、然而鉴于其截止频率(一个或多个)对于瑕疵检查而言特别合适的滤波器在基础矩阵的原则上任意的评估方向上执行评估操作。过滤操作尤其包括带有低通特征的操作(低通滤波)、带有高通特征的操作(高通滤波)和带有带通特征的操作(带通滤波)，其中，带通滤波原则上可被看作带有确定的截止频率的低通滤波和高通滤波地组合。在这样的实施形式的情形中作如下设置，即，评估操作包括关于在评估方向(平滑方向)上规定数量的彼此相邻栏位的取决于位置的信号数据的平滑操作。对于每个栏位内含物(Feldinhalt)而言，在此可实现相对任意其它相邻的平滑。在二维的基础矩阵的情形中，对于每个未处在边缘处的栏位而言存在例如八个直接的相邻物。对于平滑操作而言原则上考虑任意带有低通特征的算法，以便于减少动态。平滑操作可例如是滑动平均值形成(加权或未加权)或是低通滤波。总和形成(加权或未加权)同样可被用作平滑操作。

如下是可能的，即，平滑操作的评估方向与第一方向、即在其中探头阵列的探头并排放置的方向相符。以该方式，两个或多个并排放置的探头(必要时同样跨探头阵列)的信号信息可被平滑。该平滑可经由多个通道编号实现。通过此类平滑可改善信噪比，当存在静态噪声时。如下可被规定，经由多少信号或者探头或检验轨迹应实施平滑操作。经由其被集成的检验轨迹或者探头的所选择的数量确定可由此产生的“有效的探头宽度”。该数量可例如为二至十，必要时然而同样可处在大于十的情形中，例如在10与30之间的范围中。由此可实现检验特征对最小瑕疵长度的匹配。

备选地或额外地如下是同样是可能的，即，评估操作的评估方向与垂直于探头在其上处于并排的第一方向延伸的第二方向相符。第二方向可精确地或大约与探测方向相符且与检验的时间轴线一致。在第二方向上可被执行的评估操作尤其包括上面所提及的过滤操作，平滑操作同样属于该过滤操作。

尤其地如下是同样可能的，即，在第二方向上执行取决于瑕疵类型的带通滤波。该带通滤波必要时可替代上面所提及的、在基础矩阵之外进行的取决于瑕疵类型的过滤。在第二方向上的该带通滤波的情形中同样可实现带有可调整的截止频率的一个或多个带通滤波器，其相应地协调于确定的瑕疵类型。

如下是已知的，即，瑕疵与(鉴于检验理想的)正交位置相对磁化主方向越多地偏离，瑕疵的漏损通量信号的高度降低。由此如下是可能的，即，在检验的情形中的倾斜瑕疵不被识别出或鉴于其大小和相关性被错误地估计。根据被要求保护的发明的方法和装置即使在倾斜瑕疵的情形中同样可提供有说服力的检验结果。为此在一些实施形式的情形中作如下设置，即，评估方向在至少一个评估操作的情形中与横向于第一方向且横向于第二方向延伸的倾斜方向相符。在不同倾斜方向上的评估是同样可能的，其代表对于倾斜瑕疵的不同的角度位置。

为了相对磁化主方向考虑瑕疵的倾斜位置的影响，优选设置有倾斜瑕疵补偿操作，在其中在倾斜瑕疵方向与磁化场的场力线方向之间的角度差被确定且倾斜瑕疵的取决于位置的信号数据利用取决于角度位置的补偿因子被修正。在此可依赖于按经验或分析或以平衡过程来确定的关系上，其例如可被存储在装置的存储器的查找表中。

在该装置中的方法的特别的变体方案的特征在于横向于第一和第二方向延伸的倾斜方向上延伸的倾斜瑕疵的角度位置的自动确定。该方法可在不预先知道预期的倾斜位置的情形中使得优化的倾斜瑕疵探测成为可能。

在倾斜瑕疵的角度位置的自动确定的变体方案的情形中，基础矩阵的栏位自动地经由多个倾斜方向在不同的评估方向上在可规定的角度范围内被评估且在考虑倾斜瑕疵的信号幅度的已知的且例如被存储在表格中的角度关系的情形下确定在其上出现最大的平均信号幅度(在考虑角度关系的情形下)的那样的倾斜方向。该倾斜方向于是与倾斜瑕疵的定向或者角度位置相符。在角度位置的自动确定的情形中，确定的可规定的角度范围可以说可以可规定的步幅被扫描，以便于确定倾斜瑕疵在其上定向的那样的倾斜方向。拉长的金属的检验材料可例如具有生产引起的或过程引起的干扰区，其大多数在检验物的纵向上或在相对纵向的较小角度中延伸。例如，焊接管的缝或由拉伸减径轧机引起的壁厚偏差(所谓的内多边形)可以如下方式影响检验，即，由这些干扰区域产生影响缺陷检验的信号部分。此类问题在方法和装置的实施形式的情形中可由此被抑制，即，至少一个评估操作是差值形成操作，在其中基础矩阵的两个在差值形成方向上且彼此处在差值距离中的栏位的取决于位置的信号数据的差值被确定。该用于信号的消除干扰的可行性方案借助实施例之后还将作进一步说明。

在此如下例如是可能的，即，差值形成方向与第一方向相符。由此如下例如是可能的，即，在旋转检验系统的情形中减弱由在管子处的纵缝引起的信号。如下是同样可能的，即，差值形成方向相对第一方向倾斜地延伸。由此，例如由带有一定扭曲的纵缝引起的信号可被减弱。多个差值形成操作可在不同的差值形成方向上且/或经由不同的差值距离来执行，以便于消除不同原因的干扰的信号部分且因此改善期望的缺陷特征。如下是同样可能的，即，一个或多个干扰者的方向被自动识别出且差值形成操作被施加到这些方向上。

在一种变体方案的情形中，差值距离被协调于对于相应的过程而言被规定的最小瑕疵长度，其中，差值距离处在最小瑕疵长度与最小瑕疵长度的五倍之间。由此可获得在最佳的干扰信号抑制(这原则上要求尽可能大的差值距离)与栏位信息的收到(这原则上要求最小瑕疵长度尺寸级别的差值距离且取决于瑕疵类型)之间的折衷。

对于各个方法步骤的执行而言，在用于漏损通量检验的装置处设置有合适的设备。各个方法步骤可在首先模拟存在的探头信号的数字化之后通过评估软件的合适的模块来实现。缺陷的显示、缺陷位置的标记等等可与在常规的检验方法和检验装置的情形中类似地实现。

附图说明

本发明的另外的优点和方面由权利要求和下面借助附图所说明的本发明的优选的实施例的下面的说明得出。其中：

图1显示了带有旋转的子系统(图1A)和静止的子系统(图1B)的用于铁氧检验物的漏损通量检验的装置的实施例的子系统；

图2显示了在穿过管子的截面处的瑕疵类型特定的漏磁场；

图3显示了用于设计根据一个实施例的旋转子系统的探头装置的细节；

图4显示了用于设计根据一个实施例的静止子系统的探头装置的细节；

图5显示了用于设计根据现有技术(SdT)的旋转子系统的探头装置的细节；

图6显示了评估设备的一个实施例；

图7显示了在纵向瑕疵检验(图7A)和横向瑕疵检验(图7B)的情形中通过均值形成的平滑操作中的信号；

图8在图8A中显示了在旋转系统的情形中用于基础矩阵的一个例子，其中，在各个栏位中信号数据由不同向的探头信号被输入，且在图8B中显示了图表，在其中在x轴上绘制纵向位置(通道编号)而在y轴上绘制各个通道的各个信号的信号幅度A；

图9在图9A中显示了在相应五个探头宽度上在滑动平均值形成之后与图8A相同的矩阵而在图9B中显示了相应的经平滑的信号幅度；

图10显示了与用于带有在倾斜方向上的平均值形成的倾斜瑕疵检查的根据图8的图示相符的图示；

图11显示了与用于在倾斜方向上的平均值形成之后的倾斜瑕疵检查的根据图9的图示相符的图示；

图12显示了在不同的评估方向上的倾斜瑕疵的评估；

图13显示了在差值形成操作的情形中的信号曲线，其中，图13A和13B显示了旋转系统的两个彼此处在差值距离中的探头的信号且图13Ｃ显示了差值信号。

具体实施方式

被要求保护的本发明的实施例在下面借助以连续式方法漏损通量检验热轧铁磁管形式的铁磁检验物的装置进行说明。该装置被设计用于检定不同形式的缺陷或者不足或不完整且可例如不仅在管内侧(内部瑕疵)处而且在管外侧(外部瑕疵)处的轧制瑕疵可被可靠地检查。在此，不仅纵向瑕疵(带有平行于管纵轴线的主扩展方向的瑕疵)而且横向瑕疵(带有在周缘方向上或者垂直于管纵轴线的主延伸方向的瑕疵)和倾斜瑕疵(横向于纵向且横向于周缘方向)被可靠地找到且被标明。

在一实施形式中，两个子系统被集成在多检验模块中。对于纵向瑕疵检验而言设置有旋转子系统，其基本原理借助图1A进行说明。对于横向瑕疵检验而言，例如根据在图1B中的布置设置有带有多个绕该布置的周缘分布的传感器阵列的呈环形的布置的静止子系统。这些子系统在管子的通过方向上依次布置，其中，顺序可以是任意的。在其它未进一步示出的实施形式的情形中，唯一的系统可足够，例如唯一的旋转系统。

旋转的子系统具有带有绕检验物PR旋转的环轭RJ的旋转头，其在直径上相对而置的位置处具有径向朝向检验物表面定向的极靴PS，在其处安装有磁化线圈MW。由此，在检验物的内部产生磁通量或者磁场MF(恒磁场)，其场力线在检验物的周缘方向上、即垂直于管子的纵向延伸。在转子处相应地在周缘方向上在极靴之间布置有检验头，其相应地包含一个或多个探头阵列SA，其中，每个探头阵列包括多个单独的探头。环轭与极靴和检验头一起在检验的情形中按照探头的类型以在大约60与大约1200min^-1的转速转动。待检验的管子同时以某一检验速度(例如直至3m/s或更多)在通过方向上被向前运输。在此，检验头在管表面上拖曳且在呈螺旋形的轨道上无缝隙地探测该管表面。探头阵列的探头SO以相对检验物的表面OB的较小的检验距离AB布置在检验头内，该检验距离例如可处在0.2mm至1mm的尺寸级别中(参见图3)。通过使磁场线在周缘方向上延伸，该检验对于在管外侧处的纵向瑕疵LF-A和在管内侧处的纵向瑕疵LF-I特别敏感，这些纵向瑕疵在周缘方向上最大程度地干扰磁通量且由此产生较强的漏磁场(图2)。

在用于横向缺陷检验的静止系统(图1B)的情形中使用未进一步示出的恒磁场磁化设备，其产生在通过的管子的纵向上的磁场MF。带有在周缘方向上布置在缝隙上的探头阵列SA的探头阵列的两个环绕检验物呈环状地布置且在连续检验的情形中在其纵向上探测检验物。因为磁通量在纵向上延伸，所以其特别强地被在周缘方向上延伸的在外侧处的横向瑕疵(QF-A)和在内侧处的横向瑕疵(QF-I)干扰，从而使得该布置对于横向瑕疵检验而言具有较高的检验灵敏度。

探头阵列的探头的电信号SIG(也就是说探头信号)被供应给共同的评估设备，在其中实现缺陷的鉴别。

瑕疵的每种类型引起确定的、特定瑕疵类型的漏磁场，其在信号形式和在信号中所包含的频率处的特性可被识别。图2例如显示了垂直于纵向穿过管子的截面以及磁化场MF的在周缘方向上延伸的磁场线。在纵向上延伸的外瑕疵LF-A产生在外瑕疵附近相对较窄地集中的漏磁场SF-A。与之相反，相同尺寸的在纵向上延伸的内瑕疵LF-I在管外侧上产生带有较小幅度的较强局部分散的或者扩大或散布的漏磁场SF-I。在漏磁场上方相应地显示了探头信号在探头在周缘方向上溢出的情形中的典型的信号形式。在此，y轴线与信号幅度A相符而x轴线与在探头旋转的情形中的时间t或者位置相符。直接显而易见的是，外部瑕疵相比内部瑕疵引起带有更高频率的信号部分的探头信号。由此可信的是，不同瑕疵类型此外在相应产生的探头信号的频谱处可被识别、确定且必要时被区别。

借助图3和4此时说明了用于设计用于旋转系统(图3)和静止系统(图4)的探头装置的细节。用于旋转系统的探头装置SA-R具有多个名义上相同的单个探头SO1,SO2等等，其构成探头阵列SA且以直线的排列沿着平行于管子的纵轴线延伸的第一方向R1布置。探头阵列SA被安装在检验头中。在旋转系统的情形中，探头装置作为整体在检验物的周缘方向上绕检验物在垂直于第一方向R1延伸的第二方向R2上移动。通过检验物PR的同时运行的纵向运动，各个探头SO1,SO2中的每个探测相对较窄的呈螺旋形绕检验物延伸的检验轨迹PS，其中，检验轨迹倾斜于第一和第二方向延伸。探头阵列的所有探头共同探测带有多个彼此平行的检验轨迹的相对较高的检验宽度。

所显示的外部纵向瑕疵LF-A是带有对于该检验而言被定义的在示例情况中为25mm的最小瑕疵长度ML的标准缺陷。各个探头SO1,SO2等等在第一方向上的探头宽度SB仅为最小瑕疵长度的一部分。在示例情况中，在第一方向R1上测得的探头宽度处在0.5mm与3mm之间的范围中，这在此处与在检验距离的50%与大约检验距离的两倍至三倍之间的范围中相符。

在用于横向瑕疵检验(参见图4)的探头装置SA-T的情形中得出一种相应的布置。该探头装置SA-T具有多个单探头SO1,SO2等等，其在第一方向R1上按列并排布置，其中，第一方向此处与检验物PR的周缘方向相符。该探头装置是静止的，而检验物平行于其纵向移动，从而使得探头阵列在与垂直于第一方向R1的第二方向R2相符的探测方向上探测检验物表面。同样地此处，每个单个探头盖住相对较窄的检验轨迹PS，其中，检验轨迹的整体在周缘方向上得出探头装置的大很多倍的检验宽度。在管子的纵向上延伸的磁场MF在横向瑕疵QF-A处被从检验物材料中挤出且借助于探头阵列SA的探头被检查。同样地此处，单个探头的在第一方向R1上测得的探头宽度SB仅为大约0.5mm至3mm，而外部横向瑕疵QF-A具有25mm的设置用于检验的最小瑕疵长度。

相对现有技术(SdT)缩小的探头宽度借助图5图解说明，在其中对于常规的旋转检验系统而言在与图3中相同的检验情况的情形中显示了带有三个单探头SO-C的常规的探头阵列SA-C。各个探头以常规的方式如此来尺寸定义，即，其探头宽度SB-C在第一方向(管子的纵向)上与最小瑕疵长度ML的大约50%、也就是说外部纵向瑕疵LF-A的测试瑕疵长度(25mm)相符。

探头宽度在常规系统的情形中的扩展根据该最小瑕疵长度，而各个探头在本发明的实施例的情形中的探头宽度根据最小预期漏损通量宽度，其此外由探头相对材料表面的检验距离来确定。新型的探头装置可以相比用于类似目的的常规探头装置显著更高的位置分辨率探测检验物表面。通过探头信号的合适的信号处理或者评估可至少以类似的检验灵敏度检查带有最小瑕疵长度的瑕疵，其中，额外地得出很多另外的评估可行性方案和很多其它的检查选项。

为了使得下面的实施方案的理解变得容易，图6显示了用于在一种实施形式中的探头信号的总评估的评估设备AW的框图，其中，各个部分代表信号评估的各个步骤和/或评估设备的部件。示例地显示了两个探头SO1,SO2的探头信号的路径，其中，对于每个探头而言设置有相应的路径。

第一探头SO1的探头信号首先经历放大器匹配VS，在其在预过滤设备VF中被预过滤之前。在此，每个单个探头的信号分量利用带通被过滤，其截止频率取决于探头溢出速度、相对材料表面的检验距离、壁厚以及最小或者最大待检查的瑕疵宽度可被调整到漏损通量信号的最小或者最大的预期频率上。通过粗略的预过滤，不相关的信号部分可被明确地滤出，从而简化下面的评估。

双极的、通过带通滤波被预过滤的信号然后通过模拟-数字过滤单元DIG被转换或者数字化成数字信号信息。

下面的映射单元MAP设计用于对于每个探头信号而言将与该探头信号相联系的信号信息与用于探头信号的形成位置的位置信息相联系。为此，映射单元此处处理行程传感器TRANS和转动传感器ROT的信号。借助于转动传感器，例如关于旋转系统的转动位置的信息被确定，以便于在生成在检验物的周缘处的附属信号的情形中确定探头的位置。行程传感器用于相应的位置在检验物的纵向上的确定。在映射单元的出口处于是存在取决于位置的信号数据SDO，其在下面的评估操作中被进一步处理。

磁场敏感的例如可以线圈、霍尔传感器或类似物构建的探头优选检测漏损通量的法向分量。备选地或额外地同样可检测漏损通量的切向分量或漏损通量的整个矢量(Bx-,By-和Bz分量)。

相对映射单元MAP后置有用于取决于瑕疵类型的带通滤波的取决于瑕疵类型的带通FTYP。其使得每个单独的探头信号或者相应的取决于位置的信号数据根据可规定的截止频率的过滤成为可能，该截止频率根据对于不同瑕疵类型(例如纵向或者横向瑕疵、外部/内部瑕疵、带有不同直径的钻孔、自然瑕疵例如外壳等等)而言的预期信号频率可被调整。在该装置的情形中，带通的数量是可配置的，即在需要时可被最佳地协调于检验情况。虽然在图6中仅显示了两种用于瑕疵类型A(FT-A)和瑕疵类型B(FT-B)的带通，但是可提供带有相应的过滤可行性方案的明显大于两个的取决于瑕疵类型的带通，以便于进行对于多个瑕疵而言特定的过滤。

所有下面的评估操作对于每种瑕疵类型而言可被特别地进行，从而实现特定瑕疵类型的信号评估。

在该示例情况中，在信号流中评估设备跟随有矩阵成型单元MAT，在其中执行矩阵成型操作。在矩阵成型操作的情形中，取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据(其在示例情况中还取决于瑕疵类型被过滤)被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中。为此可设置有评估设备的存储器的特殊的存储区域。

在示例情况中，由预过滤的漏损通量信号对于每个带通而言、也就是说对于每种瑕疵类型而言产生带有漏损通量值(或者相应的数据)和其位置坐标(或者相应的数据)的多维的基础矩阵。在示例情况中，在矩阵成型的情形中被考虑的信息可被分成三个维度(参见图8至12)。

第一维度包含漏损通量信号的幅度形式的信号信息。此处，未矫正的双极信号信息被考虑。例如仅漏损通量的法向分量或仅漏损通量的水平分量或带有Bx-,By-和Bz-分量的完整的磁漏矢量可被存储且被预留用于进一步的评估。

在第二和第三维度中，位置信息被编码。例如，在第二维度中存储有在检验物处的漏损通量值的形成位置的纵向位置LP。在旋转系统的情形中，此处分辨率处在单探头的探头宽度的区域中。在静止系统的情形中，关于纵向位置的分辨率与被匹配于基于矩阵的带通的最大频率的探测频率相符。

第三维度与漏损通量值的形成位置的周缘位置UP相符。此处，在旋转系统的情形中的分辨率与匹配于基于矩阵的带通的最大频率的探测频率相符，而在静止系统的情形中在周缘方向上的分辨率与单探头的探头宽度相符。

在基础矩阵内，不同评估操作可在使用取决于位置的信号数据的情形下被执行。下面说明一些例子。

各个探头的信号根据前置的带通滤波在进一步待处理的频率范围内包含所寻找的有用信息，必要时被例如归因于非功能临界的表面粗糙度的干扰信息叠加。为了改善评估结果的可靠性，可例如执行关于基础矩阵的规定数量的彼此相邻栏位的平滑操作。

借助图7至9说明如何通过滑动平均值形成可改善进一步待处理的信号的质量。为此，在图6中的评估设备具有平均值形成单元MW。图7为此在图7A中显示了经由三个在纵向瑕疵检验的情形中相应地显示了磁漏的法向分量的单探头信号的平均值形成。在图7b中显示了在横向瑕疵检验的情形中的相应的单探头信号。如下是可能的，即，通过平均值形成被平滑的信号SG具有相比初始信号更好的信噪比。

图8A显示了用于旋转系统的基础矩阵BM的例子，在其中在各个栏位中输入由未经矫正的(双极)探头信号的信号数据。这些信号数据通过具有符号的数字来象征表示。在水平方向上绘制有基础矩阵的第二维度，即相应的信号的形成位置的纵向位置LP。在对此垂直的方向上绘制有第三维度，即周缘位置UP。在旋转的检验系统的例子中，纵向位置LP与探头阵列的各个探头的通道编号相符。周缘位置UP与检验的时间轴相关。图8B在x轴上显示了通道编号，即纵向位置LP，而在y轴上绘制有各个通道的各个信号(曲线)的信号幅度A。

图9A显示了与图8A相同的矩阵，然而在经由相应地五个探头宽度的滑动平均值形成之后。图9B显示了相应的经平滑的信号幅度。

平均值形成如此来执行，即，在基础矩阵内经由可设置数量的探头轨迹构成滑动平均值。在旋转系统的所显示的例子中，平均值在管子的纵向上、即平行于管轴线构成。在静止系统的情形中，平滑方向或者评估方向与管子的横向一致。如果在各个探头轨迹中的噪声随机出现，例如由于在检验物处的均匀分布的表面粗糙度，通过该在例如五个探头上的平均改善信噪比(S/N)。这通过图8B和9B的比较直接可见。

相对在其中经检测的单探头的信号幅度的总和除以经检测的单探头的数量的滑动平均值形成备选地或额外地，在其中取消通过经检测的探头的数量的划分的总和形成是同样可能的。带有低通特征的其它评估、例如低通滤波原则上同样适合用于实现探头信号的平滑且进而实现动态减少。通常，过滤、卷积或关联的其它形式同样可被应用到多个探头轨迹上。

对于平均或者过滤而言构成基础的检验轨迹的数量在一些实施形式的情形中可配置。该数量可在需要时对于每个评估通道而言不同地选择。其在示例情况中根据用于确定的瑕疵类型的相应的评估通道的最小瑕疵长度。在此，最小瑕疵长度是自其起达到最大幅度、也就是说最高的检验灵敏度的那样的瑕疵长度。相对于常规的在其中探头宽度通过最小瑕疵长度被固定地规定的检验系统，在所建议的系统的情形中的最小瑕疵长度此时对于每种瑕疵类型而言是可配置的。由此此外得出如下优点，即，由此短于最小瑕疵长度的瑕疵的可重复性改善。该改善不取决于瑕疵的长度且不取决于探头的可能的重叠得出。

该评估不被局限于平行或垂直于检验物的轴线延伸的评估方向。而是如下同样可能，即，在基础矩阵内滑动平均值或总和值或其它通过取决于位置的信号数据的共同评估可被确定的值以横向于纵向和周缘方向的任意角度位置构成。

评估通道的数量和其角度位置在所显示的实施例的情形中是可配置的。备选地或额外地，在检验装置的情形中整个角度范围和在角度范围内的角度增量同样可被规定。评估软件然后确定滑动平均值或总和值或对于所有经配置的角度位置或者对于在规定的角度范围内的每个单步而言的其它值。评估通道用于检测在任意角度位置中的倾斜瑕疵。在组合旋转系统与静止系统的检验装置的情形中，利用该旋转系统可优选调整或者确定与管纵轴线的-45°(所谓的“左手瑕疵”)至+45°(所谓的“右手瑕疵”)的角度位置。静止系统然后可例如确定与理想的横向瑕疵(在周缘方向上的瑕疵)的-45°至+45°的偏差的角度位置。因此可在带有旋转系统和静止系统的组合检验的情形中在所有定向中被可靠地找到。

瑕疵的角度位置的自动确定可例如由此实现，即，在确定滑动平均值(或总和值)之后对于单个角度步骤而言确定在角度范围内的信号最大值。在此，在该实施例的情形中额外考虑如下，即，通过瑕疵相对于磁化场的场力线的走向的逐渐增加的倾斜位置得出独特的且可计算的信号降低。如已知的那样，瑕疵或者瑕疵的定向与相对磁化主方向的理想的正交位置越强地偏差，漏损通量信号的高度于是降低。该信号降低可以如下方式被补偿，即，信号取决于配置或找到的角度位置被增强。备选地或额外地如下是同样可能的，即，在其中信号幅度被认为对于缺陷而言是象征性的，相比在纯纵向瑕疵或横向瑕疵的情况中更低地被调整。该倾斜瑕疵补偿在用于倾斜瑕疵的平均值形成的情形中例如以如下方式被考虑，即，其前置或后置于原有的平均值形成，从而在平均值形成的情形中计算出彼此类似的信号幅度值。

为了说明，图10A显示了倾斜瑕疵(灰色存储)与图8A和9A相符的图示，其处在相对纵向和横向的-45°的情形中(“左手瑕疵”)。图10B显示了在平均值形成之前的相应的信号幅度A。图11A显示了相同的基础矩阵，然后在-45°方向上在相应5个探头宽度上的滑动平均值形成之后。图11B显示了相应的经平滑的信号幅度。

借助图12示例地显示如下，即，平均值形成(或其它的评估)对于倾斜瑕疵而言在多个不同的倾斜方向上、即同样地在与纵向或者周缘方向偏差大于或小于45°的这样的方向上可被执行。通常，信号幅度的取决于角度的评价于是可经由基础矩阵的取决于位置的信号数据来执行。拉长的、金属的检验物可具有产品引起和/或过程引起的干扰区域，其大多数在检验材料的纵向上或以倾斜于纵向的较小的角度延伸。干扰区域可例如在被焊接的管子的情形中是纵向延伸的焊缝。在移动通过拉伸减径轧机的管子的情形中可能出现系统的壁厚偏差、所谓的内部多边形。此类系统的材料不均匀性可能导致影响缺陷检验的干扰信号。该方向指向的干扰区域的信号可在一种实施形式的情形中借助于所谓的差值运行被抑制。为此，在根据图6的装置的情形中设置有差值形成单元DIFF，其在取决于瑕疵类型的过滤和矩阵形成之后进行干扰消除，然而在形成滑动平均值或者总和值之前。

为了说明原理，图13在13A中显示了第一探头SO1的探头信号，包括在0°与360°之间的旋转的情形中焊缝的信号SN。图13B显示了在相同角度范围上的探头阵列的第七探头SO7的信号，其中，焊缝的信号SN在相同角度位置的情形中出现，然而额外地在大约100°的情形中识别出瑕疵的信号SF。图13C显示了差值信号曲线DSV，在其中第一探头SO1的信号与第七探头SO7的信号在差值形成操作中相减。如下是显而易见的，即，通过差值形成失去焊缝的类似在两个信号中出现的信号且同样降低噪声幅度，而维持瑕疵的信号SF。因此可实现通过差值形成的非常高效的干扰抑制。

在使用带有较小探头宽度的探头阵列的情形中，即在高分辨率的漏损通量检验的情形中，如下此时是可能的，即，将差值基准、即在被用于差值形成的探头之间的差值距离以带有探头轨迹宽度的栅格的较小步进调整到对于相应的瑕疵类型最佳的差值距离上。差值形成单元为此包含用于调整差值距离的调整设备。最佳的差值基准当差值距离尽可能小地来选择时被找到，因此在干扰者的纵向定向中的较小偏差不太强地影响干扰信号的抑制。另一方面，差值基准应大于相应的评估通道的典型的瑕疵长度，因为否则差值形成可能降低对于相应的评估通道而言典型的瑕疵长度的最大可能的平均值或总和值。典型的瑕疵长度此处是在计算滑动平均值的情形中的探头轨迹宽度的总和。

不同的评估操作在图6中的装置的情形中跟随有瑕疵探测，其借助于瑕疵探测单元DET例如通过比较详细的信号与可规定的门槛值被执行(门槛值比较)。在下面的判决单元ENT中根据规定的标准决定是否存在相关缺陷，其然后例如在后置的标记单元中可在检验物处借助于颜色来标记。

此外如下在该检验装置的实施例的情形中是可能的，对于差值运行而言额外地配置或自动确定任意的另外的角度位置，从而在相应的评估通道中不仅在纵向上延伸的干扰区域而且倾斜延伸的干扰者的信号可被抑制。

在差值形成的所描述的评估的情形中，在该情况中注意且维护漏损通量信号的迹象。由此形成由其可重建在检验问题上的瑕疵位置的相位信息。如下是同样可能的，即，构成多个差值。在一个例子的情形中，在检验物的运输方向上的信号队列和逆着该运输方向的信号队列被确定。紧接着构成两个差值的平均值。这得出在瑕疵的原有位置处的信号最大值以及带有相应半个信号幅度的右侧和左侧的两个信号。因此在差值运行中同样可实现瑕疵的更精确的位置确定。

大量另外的变体方案是可能的。例如如下是可能的，即，对于瑕疵深度的评价而言不使用矫正的散射信号，而是使用在搜索路径内的峰-峰值。这得出尤其在带有在带通极限附近的频率的瑕疵的情形中的可重复性的改善。

探头信号借助于基础矩阵的评估的此处所描述的可行性方案同样可与无损伤的电磁材料检验的其它探头类型相结合地被利用。例如，涡电流探头或超声波探头的信息可以类似的方式被进一步处理。根据一种更普遍的表述因此如下同样被公开：

用于检定缺陷的用于检验物的电磁检验的方法，在其中检验物的表面为了检测由缺陷引起的电磁场借助于探头装置来探测，该探头装置具有带有多个在第一方向上并排布置且在检验的情形中被保持在相对检验物的表面的有限的检验距离中的探头的探头阵列，且

探头电信号借助于评估设备被评估用于鉴别缺陷，

其特征在于，探头信号的评估包括下列步骤：映射操作，在其中对于每个探头信号而言代表探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系，以便于构成取决于位置的信号数据，

矩阵成型操作，在其中取决于位置的信号数据(或由此推导出的信号数据)被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中，和

至少一次评估操作，在其中由基础矩阵的至少两个在评估方向上(直接或间接)相邻的栏位构成的取决于位置的信号数据在使用至少一个评估算法的情形下彼此相联系。

Claims (23)

1.用于检定缺陷的、用于铁磁检验物的漏损通量检验的方法，在其中所述检验物的检验体积借助于磁场被磁化，所述检验物的表面为了检测由缺陷所引起的漏磁场借助于探头装置来探测，所述探头装置具有带有多个磁场敏感的探头的探头阵列，所述探头在第一方向上并排布置且在所述检验的情形中被保持在相对所述检验物的表面的有限的检验距离中，且电的探头信号为了鉴别所述缺陷被评估，

其特征在于，使用在其中所述探头在第一方向上相应具有处在所述检验距离的20%的范围中的直至10mm的探头宽度的探头装置，

且所述探头信号的评估包括如下步骤：

映射操作，在其中对于每个探头信号而言代表所述探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系，以便于形成取决于位置的信号数据，

矩阵成型操作，在其中所述取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中，和

至少一次评估操作，在其中取决于位置的信号数据由所述基础矩阵的至少两个在评估方向上相邻的栏位在使用至少一个评估算法的情形下彼此相联系。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述铁磁检验物是铁磁管。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在形成所述基础矩阵的情形中使用双极信号信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于所述探头信号借助于带有能调整的截止频率的带通滤波器的前置于所述映射操作的预过滤，其中，下截止频率被调整到所述探头信号的最小预期频率上而上截止频率被调整到所述探头信号的最大预期频率上。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于借助于带有能调整的截止频率的一个或多个带通滤波器的后置于所述映射操作的取决于瑕疵类型的过滤，其中，对于预先确定的瑕疵类型而言带通滤波器的下截止频率被调整到所述探头信号的最小预期频率上而所述带通滤波器的上截止频率被调整到所述探头信号的最大预期频率上。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，用于取决于所述瑕疵类型的过滤的带通的数量是能配置的。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，对于取决于所述瑕疵类型的过滤而言使用两个、三个、四个或更多个带有不同截止频率的带通滤波器。

8.根据权利要求1到7中任一项所述的方法，其特征在于，一个或多个评估操作被执行，其设计成关于在规定的评估方向上规定数量的彼此相邻栏位的取决于位置的信号数据的过滤操作。

9.根据权利要求1到7中任一项所述的方法，其特征在于，评估操作包括关于在平滑方向上规定数量的彼此相邻栏位的取决于位置的信号信息数据的平滑操作。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述平滑操作包括滑动平均值形成或低通滤波。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述平滑操作的评估方向与所述第一方向相符。

12.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，在所述平滑操作的情形中所考虑的探头的数量如此来选择，即，产生被匹配于最小瑕疵长度的有效探头宽度。

13.根据权利要求1到7中任一项所述的方法，其特征在于，所述评估方向与垂直于所述第一方向延伸的第二方向相符。

14.根据权利要求13所述的方法，其特征在于，在所述第二方向上执行取决于瑕疵类型的带通滤波。

15.根据权利要求1到7中任一项所述的方法，其特征在于，所述评估方向与横向于所述第一方向且横向于与所述第一方向垂直的第二方向延伸的倾斜方向相符。

16.根据权利要求15所述的方法，其特征在于一种倾斜瑕疵补偿操作，在其中在倾斜瑕疵方向与磁化场的场力线方向之间的角度差被确定且倾斜瑕疵的信号数据以取决于角度位置的补偿因子来修正。

17.根据权利要求15所述的方法，其特征在于在横向于所述第一和第二方向延伸的倾斜方向上延伸的倾斜瑕疵的角度位置的自动确定。

18.根据权利要求17所述的方法，其特征在于，自动地经由多个倾斜方向在不同的评估方向上在可规定的角度范围内被评估，在考虑信号幅度的角度关系的情形下确定带有最大平均信号幅度的倾斜方向。

19.根据权利要求1到7中任一项所述的方法，其特征在于一种差值形成操作，在其中确定取决于位置的信号信息数据与两个在差值形成方向上且处在彼此的差值距离中的栏位的差值。

20.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，所述差值形成方向与所述第一方向相符且/或所述差值形成方向相对所述第一方向倾斜地延伸且/或多次差值形成操作在不同的差值形成方向上且/或经由不同的差值距离被执行。

21.根据权利要求19所述的方法，其特征在于，评估操作包括关于在平滑方向上规定数量的彼此相邻栏位的取决于位置的信号信息数据的平滑操作，所述平滑操作包括滑动平均值形成或低通滤波，所述平滑操作的评估方向与所述第一方向相符，在所述平滑操作的情形中所考虑的探头的数量如此来选择，即，产生被匹配于最小瑕疵长度的有效探头宽度，所述差值距离被协调于所述最小瑕疵长度，其中，所述差值距离处在所述最小瑕疵长度与所述最小瑕疵长度的五倍之间。

22.用于检定缺陷的、用于铁磁检验物的漏损通量检验的装置，带有：

用于磁化所述检验物的检验体积的磁化设备；

用于探测所述检验物的表面以用于检测由缺陷所引起的漏磁场的探头装置，其中，所述探头装置具有带有多个磁场敏感探头(SO1,SO2)的探头阵列(SA)，所述探头在第一方向(R1)上并排布置且在所述检验的情形中被保持在相对所述检验物的表面的有限的检验距离中，和

用于评估所述探头信号以用于鉴别所述缺陷的评估设备(AW)，

其特征在于，

所述探头阵列(SA)的探头在所述第一方向(R1)上相应具有处在所述检验距离(AB)的20%的范围中的直至10mm的探头宽度(SB)，

且所述评估设备(AW)被配置用于实施下列操作：

映射操作，在其中对于每个探头信号而言代表所述探头信号的信号信息与代表探头信号的形成位置的位置信息相联系，以便于形成取决于位置的信号数据，

矩阵成型操作，在其中所述取决于位置的信号数据或由此推导出的信号数据被存储在基础矩阵的位置正确地相关联的栏位中，且

至少一次评估操作，在其中取决于位置的信号数据由所述基础矩阵的至少两个在评估方向上相邻的栏位在使用至少一个评估算法的情形下彼此相联系。

23.根据权利要求22所述的装置，其特征在于，所述铁磁检验物是铁磁管。

Images