CN106574889B - 粒子检测传感器、尘埃传感器、烟感器、空气清洁器、换气扇以及空调 - Google Patents

粒子检测传感器、尘埃传感器、烟感器、空气清洁器、换气扇以及空调 Download PDF

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Abstract

具备:投光系统(120),以聚光到检测区域(DA)的方式输出光;受光系统(130),接受因检测区域(DA)中的粒子(2)而产生的来自投光系统(120)的光的散射光;以及光阱(50A),被设置在夹着检测区域(DA)与受光系统(130)相对的位置,光阱(50A),包括:封闭空间(51A),设置有朝向检测区域(DA)开口的开口部(52A);以及多个楔形突出部(115),被设置在封闭空间(51A),多个楔形突出部(115),离检测区域(DA)越远,楔形的前端与底边的距离就越短。

Description

粒子检测传感器、尘埃传感器、烟感器、空气清洁器、换气扇以 及空调
技术领域
本发明涉及,粒子检测传感器、以及具备粒子检测传感器的尘埃传感器、烟感器、空气清洁器、换气扇及空调等的设备。
背景技术
以往,检测因大气中浮游的粒子(气溶胶)而散射的光(散射光),从而检测粒子的光散射式粒子检测传感器被周知(例如,参照专利文献1)。
专利文献1所记载的光散射式粒子检测传感器是,在壳体(光学室)内具备投光元件和受光元件的光电式粒子检测传感器。该传感器,将测量对象的气体取入到壳体内,向取入的气体照射来自投光元件的光,根据该散射光检测气体中包含的粒子的有无。例如,能够检测大气中浮游的尘埃、花粉、烟、PM2.5(微小颗粒物质)等的粒子。
(现有技术文献)
(专利文献)
专利文献1:日本特开平11-248629号公报
而且,在光散射式粒子检测传感器中,若基于粒子的散射光以外的光(漫射光)入射到受光元件,则导致误检测。因此,希望不使漫射光入射到受光元件,从而提高粒子的检测精度。
发明内容
于是,本发明的目的在于提供,能够提高粒子的检测精度的粒子检测传感器等。
为了实现所述目的,本发明实施方案之一涉及的粒子检测传感器,具备:投光系统,以聚光到检测区域的方式输出光;受光系统,接受因所述检测区域中的粒子而产生的来自所述投光系统的光的散射光;以及第一光阱,被设置在夹着所述检测区域与所述受光系统相对的位置,所述第一光阱,包括:第一封闭空间,设置有朝向所述检测区域开口的第一开口部;以及多个楔形突出部,被设置在所述第一封闭空间,所述多个楔形突出部,离所述检测区域越远,楔形的前端与底边的距离就越短。
并且,本发明实施方案之一涉及的尘埃传感器具备,所述粒子检测传感器。
并且,本发明实施方案之一涉及的烟感器具备,所述粒子检测传感器。
并且,本发明实施方案之一涉及的空气清洁器具备,所述粒子检测传感器。
并且,本发明实施方案之一涉及的换气扇具备,所述粒子检测传感器。
并且,本发明实施方案之一涉及的空调具备,所述粒子检测传感器。
根据本发明涉及的粒子检测传感器,能够提高粒子的检测精度。
附图说明
图1是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的概观斜视图。
图2是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的分解斜视图。
图3是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的六面图。
图4是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的壳体内部的截面图。
图5是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的背面罩的内部结构的概观斜视图。
图6是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的前面罩的内部结构的概观斜视图。
图7是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的尘埃抑制壁的结构的截面图。
图8是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的尘埃抑制壁以及第二光阱的结构的截面图。
图9是示出本发明的实施例涉及的粒子检测传感器的第一光阱的结构的截面图。
图10是示出本发明的实施例涉及的从粒子检测传感器的投光系统射出的光的路径的图。
图11是示出本发明的实施例涉及的由粒子检测传感器的第二光阱捕获的光的路径的图。
图12是示出本发明的实施例涉及的由粒子检测传感器的第二光阱捕获的其他的光的路径的图。
图13是示出本发明的实施例涉及的由粒子检测传感器的第一光阱捕获的光的路径的图。
图14是示出本发明的实施例的变形例涉及的粒子检测传感器的壳体内部的截面图。
图15是本发明的实施例涉及的具备粒子检测传感器的烟感器的外观图。
图16是本发明的实施例涉及的具备粒子检测传感器的空气清洁器的外观图。
图17是本发明的实施例涉及的具备粒子检测传感器的换气扇的外观图。
图18是本发明的实施例涉及的具备粒子检测传感器的空调的外观图。
具体实施方式
以下,对于本发明的实施例涉及的粒子检测传感器等,利用附图进行详细说明。而且,以下说明的实施例,都示出本发明的优选的一个具体例子。因此,以下的实施例示出的数值、形状、材料、构成要素、构成要素的配置以及连接形态等是一个例子而不是限定本发明的宗旨。因此,对于以下的实施例的构成要素中的、示出本发明的最上位概念的实施方案中没有记载的构成要素,作为任意的构成要素而被说明。
并且,各个图是模式图,并不一定是严密示出的图。并且,在各个图中,对相同的构成部件附上相同的符号。
(实施例)
[粒子检测传感器]
首先,对于本实施例涉及的粒子检测传感器的概要,利用图1至图6进行说明。
图1至图3分别是,示出本实施例涉及的粒子检测传感器1的概观斜视图、分解斜视图、六面图。具体而言,图3的(a)是粒子检测传感器1的正面图,(b)是背面图,(c)是下面图,(d)是上面图,(e)是左侧面图,(f)是右侧面图。
图4是示出本实施例涉及的粒子检测传感器1的壳体10的内部的截面图,具体而言,示出图3的(c)的IV-IV线的截面。图5以及图6分别是,示出本实施例涉及的背面罩110以及前面罩100的内部结构的概观斜视图。
粒子检测传感器1被配置为,流入口101为下方,流出口102为上方。具体而言,粒子检测传感器1被配置为,图2示出的Y轴方向为铅垂朝上。而且,粒子检测传感器1是,扁平的大致长方体状,将沿着彼此正交的两个边的方向分别设为X轴方向以及Y轴方向。并且,将粒子检测传感器1的厚度方向设为Z轴方向。在本实施例中,粒子检测传感器1为,例如,处于X:52mm×Y:45mm×Z:22mm的范围内的大小。
如图1以及图4示出,粒子检测传感器1是,具备壳体10、以及被配置在壳体10的内部的光学系统20的光电式粒子检测传感器。在本实施例中,粒子检测传感器1是,光散射式粒子检测传感器。具体而言,粒子检测传感器1,光学系统20向壳体10内的检测区域DA照射光,接受基于通过检测区域DA的粒子2(气溶胶)的光的散射光,从而检测粒子2的有无。并且,粒子检测传感器1,不仅限于粒子2的有无,也可以检测粒子2的个数以及大小等。而且,成为粒子检测传感器1检测的对象的粒子2是,例如5μm以下的微小的尘埃、花粉、烟、PM2.5等的微粒子。
壳体10是,覆盖光学系统20以及检测区域DA的壳体(外壳)。壳体10,覆盖光学系统20以及检测区域DA,以不使外光照射到光学系统20以及检测区域DA。
壳体10具有,用于向内部流入粒子2的流入口101、以及用于使流入到内部的粒子2向外部流出的流出口102。在本实施例中,如图4的粗虚线的箭头线示出,包含粒子2的气体从流入口101流入,通过壳体10的内部(例如,检测区域DA)从流出口102流出。对于壳体10的详细结构,在后面进行说明。
光学系统20,对经由流入口101流入到壳体10内、且通过由壳体10覆盖的检测区域DA的粒子2进行光学检测。在本实施例中,如图4示出,光学系统20,具有在由壳体10覆盖的检测区域DA以彼此的光轴(光轴P以及光轴Q)交叉的方式配置的投光系统120以及受光系统130,利用投光系统120输出的光检测通过检测区域DA的粒子2。投光系统120具备,投光元件121、以及投光透镜122。受光系统130具备,受光元件131、以及受光透镜132。对于光学系统20的详细结构,在后面进行说明。
而且,检测区域(光散射部)DA是,作为用于检测测量对象的气体中包含的粒子2的区域的气溶胶检测区域(气溶胶测量部)。在本实施例中,检测区域DA是,包含投光系统120的光轴P和受光系统130的光轴Q交叉的交点的区域。检测区域DA是,例如,φ2mm。测量对象的气体,从壳体10的流入口101流入,被引导到检测区域DA后,从流出口102流出。
如图1、图2以及图4示出,粒子检测传感器1还具备,尘埃抑制壁30、光阱(第二光阱)40、光阱(第一光阱)50、加热装置60、电路板70、连接器80、屏蔽罩90、以及屏蔽罩91。
尘埃抑制壁30是,被设置在流入口101与检测区域DA之间的壁,抑制比粒子2大的尘埃向检测区域DA进入。在此,成为要抑制向检测区域DA的进入的对象的尘埃(灰尘)是,例如,2μm以上的粒子。
并且,尘埃抑制壁30是,被设置在流入口101与第一光阱40之间的壁,也是以气体不向光阱40进入的方式引导气体的气体引导壁。对于尘埃抑制壁30的详细结构,在后面进行说明。
光阱40,捕获从投光系统120输出后通过检测区域DA的光。具体而言,光阱40,以一旦入射到内部的光不向外部射出的方式进行吸收。在本实施例中,光阱40具有,作为迷宫结构的楔形的封闭空间。
光阱40是,第二光阱的一个例子,被设置在夹着检测区域DA与投光系统120相对的位置。具体而言,光阱40,具有多个开口部42以及44,将从投光系统120输出后通过检测区域DA的光,以通过多个开口部42以及44的每一个的方式分割后捕获。对于光阱40的详细结构,在后面进行说明。
光阱50,捕获光阱40不捕获的光。例如,光阱50,捕获从投光系统120输出后不通过检测区域DA的有光(漏光)、以及虽然一旦入射到光阱40但是再次从光阱40射出的光等。
光阱50是,第一光阱的一个例子,被设置在夹着检测区域DA与受光系统130相对的位置。光阱50是,例如,设置有多个楔形突出部115的迷宫结构。对于光阱50的详细结构,在后面进行说明。
加热装置60是,以通过检测区域DA的方式使从流入口101流入的包含粒子2的气体流动,从而在壳体10内生成气流的气流生成部的一个例子。在本实施例中,加热装置60是,被配置在壳体10的下部的、加热气体的加热器。具体而言,加热装置60,加热包含粒子2的气体,据此,如图4示出,在壳体10内生成上升气流(向Y轴正方向的气体的流动),向检测区域DA引导包含粒子2的气体。加热装置60是,例如,低成本的加热电阻。而且,在图4中,以粗虚线的箭头线示出气流的一个例子。
电路板70是,形成有粒子检测传感器1的控制电路的印刷布线板。控制电路,例如,对投光系统120的光的输出、基于受光系统130接受的光信号的电信号的处理、加热装置60的气体的加热等的处理进行控制。例如,控制电路,检测粒子2的有无、大小以及个数等,经由连接器80向外部输出检测结果。
电路板70是,例如,矩形的平板,在一方的主面(表面)固定有壳体10。在另一方的主面(背面),安装有构成控制电路的一个或多个电路元件(电路部件)。而且,投光元件121、受光元件131以及加热装置60(加热电阻)各自的电极端子,贯通壳体10的背面罩110以及电路板70,被焊接在电路板70的背面。据此,投光元件121、受光元件131以及加热装置60(加热电阻)的每一个,与控制电路电连接,工作由控制电路控制。
多个电路元件包括,例如,电阻、电容器、线圈、二极管或晶体管等。作为多个电路元件之一的电解电容器71,如图4以及图5示出,被设置在电路板70的表面,被配置在壳体10内。
如此,有效地利用壳体10内的空间,从而能够减少被设置在电路板70的背面侧的电路元件。据此,能够缩小电路板70的背面侧的电路元件用的空间,能够缩小屏蔽罩90。因此,能够使粒子检测传感器1成为小型化。
连接器80是,用于连接粒子检测传感器1的控制电路(电路板70)、与外部的控制电路或电源电路的连接器。连接器80,被安装在电路板70的背面。例如,粒子检测传感器1,因经由连接器80从外部供给的电力而工作。
屏蔽罩90是,为了从外部噪声中保护控制电路而设置的金属制的罩。屏蔽罩90,被安装在电路板70的背面侧。
屏蔽罩91是,为了从外部噪声中保护受光系统130的受光元件131而设置的金属制的罩。如图3的(a)、(d)以及(e)示出,屏蔽罩91,覆盖壳体10的前面、上面以及左侧面的一部分的、在内部配置有受光元件131的部分。
而且,屏蔽罩90以及屏蔽罩91,例如,由通过焊接等容易连接的铁皮等构成。
以下,对于粒子检测传感器1具备的各个构成要素,进行详细说明。
[壳体]
壳体10是,粒子检测传感器1的主体部,在内部,设置有检测区域DA、光学系统20、尘埃抑制壁30、光阱40、光阱50以及加热装置60。在本实施例中,壳体10,由前面罩100、以及背面罩110的两个部件构成。
壳体10具有遮光性。例如,壳体10的至少内表面为黑色,以吸收漫射光。具体而言,壳体10的内表面,光的吸收率高,并且,对光进行镜面反射。而且,壳体10的内表面的反射,也可以不是镜面反射,而是对光的一部分进行散射反射。
在此,漫射光是,基于粒子2的散射光以外的光,具体而言,是投光系统120输出的光之中的在检测区域DA中不由粒子2散乱而在壳体10内行进的光。并且,漫射光,包含没有由粒子2散乱的光,还包含投光系统120的透镜表面的反射光、以及不通过检测区域DA的光(例如,从投光系统120向大致正下方射出的光)等。并且,漫射光也包含,从壳体10的外部经由流入口101或流出口102进入到壳体10的内部的外光。
壳体10,例如,通过利用了ABS树脂等的树脂材料的注射成型而被形成。具体而言,前面罩100以及背面罩110的每一个,通过利用了树脂材料的注射成型而被形成后,彼此组合来构成壳体10。此时,例如,利用添加黑色的颜料或染料的树脂材料,从而能够将壳体10的内表面成为黑色面。或者,注射成型后在内表面涂布黑色涂料,从而能够将壳体10的内表面成为黑色面。并且,也可以在壳体10的内表面进行压纹加工等的表面处理,从而吸收漫射光。
如图1至3示出,壳体10是,扁平的多面体,具有前面部10a、背面部10b、下面部10c、上面部10d、左侧面部10e、以及右侧面部10f。具体而言,如图3的(a)示出,壳体10是,以矩形的四个角部之中的右上以及左上的角部倾斜的大致七角形为底面的方柱形状。
前面部10a、背面部10b、下面部10c、上面部10d、左侧面部10e以及右侧面部10f,分别形成壳体10的前面(正面)、背面、下面、上面、左侧面以及右侧面。前面部10a是,前面罩100的底部,背面部10b是,背面罩110的底部。下面部10c、上面部10d、左侧面部10e以及右侧面部10f,组合前面罩100的侧周部和背面罩110的侧周部而被形成。
前面部10a以及背面部10b为,彼此大致相同的形状,具体而言,如图3的(a)示出,是大致七角形的平板部。下面部10c是,被设置为垂直于前面部10a以及背面部10b的大致矩形的平板部。上面部10d、左侧面部10e以及右侧面部10f是,被设置为垂直于前面部10a以及背面部10b的、如图3的(a)示出俯视时向壳体10的内部弯曲的板状部。
而且,壳体10的形状是一个例子,不仅限于此。例如,壳体10,也可以是底面(前面部10a以及背面部10b)为矩形的长方体,或者,也可以是底面为圆形的圆柱。
在壳体10的侧面,如图1示出,设置有流入口101、以及流出口102。具体而言,在壳体10的前面部10a,设置有流入口101、以及流出口102。
流入口101是,被设置在壳体10的侧面的规定形状的开口,包含粒子2的气体经由该开口向壳体10的内部流入。流入口101是,例如,5.5mm×12mm的大致矩形的开口,但是,流入口101的形状,不仅限于此。例如,流入口101也可以是,圆形或椭圆形等的开口。
在本实施例中,流入口101,如图4示出,没有被设置在检测区域DA的正下方,而被设置在前面罩100的下部的角落。据此,能够使从流入口101进入的外光难以照射到检测区域DA,并且,能够防止作为漫射光向受光元件131入射。
流出口102是,被设置在壳体10的侧面的规定形状的开口,包含粒子2的气体经由该开口向壳体10的外部流出。流出口102是,例如,5mm×12mm的大致矩形的开口,但是,流出口102的形状,不仅限于此。例如,流出口102也可以是,圆形或椭圆形等的开口。流出口102的大小,例如,与流入口101大致相同。
在本实施例中,流出口102,如图4示出,被设置在检测区域DA的正上方的、前面罩100的上部的中央。据此,能够将加热装置60生成的气流从流出口102向外部顺利放出。
而且,流入口101以及流出口102,被设置在壳体10的前面部10a,但是,不仅限于此。例如,流入口101,也可以被设置在壳体10的背面部10b、下面部10c、左侧面部10e或右侧面部10f。并且,流出口102,也可以被设置在壳体10的背面部10b、上面部10d、左侧面部10e或右侧面部10f。
在壳体10,设置有用于构成尘埃抑制壁30、光阱40以及光阱50的每一个的内部结构(例如,规定形状的肋条等)。具体而言,如图6示出,前面罩100具有,从内表面100a竖立设置的壁103。并且,如图5示出,背面罩110具有,从内表面110a竖立设置的壁111。由壁103和壁111,形成尘埃抑制壁30。对于尘埃抑制壁30的详细结构,在后面进行说明。
背面罩110还具有,从内表面110a竖立设置的光反射壁112、光反射壁113、光反射壁114以及多个楔形突出部115。光反射壁112,与壁111一起形成光阱40。由光反射壁113、光反射壁114以及多个楔形突出部115,形成光阱50。对于各个详细内容,在后面进行说明。
并且,前面罩100具有,投光系统保持部104、以及受光系统保持部105。同样,背面罩110具有,投光系统保持部116、以及受光系统保持部117。在组合前面罩100和背面罩110的情况下,投光系统保持部104以及投光系统保持部116,保持投光系统120。在组合前面罩100和背面罩110的情况下,受光系统保持部105以及受光系统保持部117,保持受光系统130。据此,投光系统120以及受光系统130能够,在预先规定的部位形成检测区域DA。
前面罩100,如图6示出,具有卡止部106以及卡止部107。并且,背面罩110,如图4以及图5示出,具有被卡止部118以及被卡止部119。组合前面罩100和背面罩110,从而卡止部106与被卡止部118卡止,卡止部107与被卡止部119卡止。据此,固定前面罩100和背面罩110。而且,对于设置卡止部106及卡止部107以及被卡止部118及被卡止部119的位置、个数以及形状等,也可以是任何位置、个数以及形状等。
在壳体10的前面部10a,还设置有扫除窗108。具体而言,扫除窗108是,被设置在前面罩100的中央部的梯形状的贯通孔。扫除窗108,为了除去付着在投光透镜122、受光透镜132以及壳体10的内部的污垢或尘埃而被设置。例如,将棉花棍等从扫除窗108插入到壳体10的内部,从而能够进行内部的扫除。扫除窗108,在使粒子检测传感器1工作时,由没有图示的罩部件覆盖,以不使外光经由扫除窗108照射到检测区域DA。
在本实施例中,壁103、投光系统保持部104、受光系统保持部105、卡止部106以及卡止部107,与前面罩100被形成为一体。并且,壁111、光反射壁112、光反射壁113、光反射壁114、多个楔形突出部115、投光系统保持部116、受光系统保持部117、被卡止部118以及被卡止部119,与背面罩110被形成为一体。
[光学系统]
光学系统20,如图5示出,被配置在壳体10的背面罩110,由前面罩100夹住,从而收纳在壳体10的内部。如图4示出,投光系统120和受光系统130被配置为,各自的光轴(光轴P以及光轴Q)交叉。
投光系统120,以聚光到检测区域DA的方式输出光。投光系统120具备,投光元件121、以及投光透镜122。
投光元件121是,发出规定的波长的光的光源(发光部),例如,是LED(LightEmitting Diode)或半导体激光器等的固体发光元件。投光元件121的光轴,与投光系统120的光轴P一致,例如,通过检测区域DA。
对于投光元件121,可以利用发出紫外光、蓝光、绿光、红光或红外光的发光元件。在此情况下,投光元件121也可以被构成为,发出两个波长以上的混合波。在本实施例中,鉴于基于粒子2的光的散射强度,作为投光元件121,利用例如输出600nm至800nm的波长的光的炮弹型的LED。
而且,投光元件121的发光波长越短,就越能够容易检测粒径小的粒子。并且,对于投光元件121的发光控制方式,不特别限定,从投光元件121射出的光,也可以是基于DC驱动的连续光或脉冲光等。并且,也可以使投光元件121的输出的大小(光的强度),在时间上发生变化。
投光透镜122,被配置在投光元件121的前方,被构成为使从投光元件121射出的光(投光束)向检测区域DA行进。也就是说,从投光元件121射出的光,经由投光透镜122通过检测区域DA。通过检测区域DA的粒子2使来自投光元件121的光散射。
投光透镜122是,例如,使从投光元件121射出的光聚焦(聚光)到检测区域DA的聚光透镜,例如,是聚碳酸酯(PC)等的透明树脂透镜或玻璃透镜。例如,投光透镜122的焦点,存在于检测区域DA。
而且,在本实施例中,为了实现粒子检测传感器1的小型化,而缩短投光系统120与检测区域DA的距离。因此,对于投光透镜122,利用焦点距离短的透镜。由焦点距离短的透镜强烈地收敛的光,以大的扩散角来扩大。因此,在本实施例中,为了不使扩散的光入射到受光系统130而被吸收,而要求适当地设计光阱(具体而言,用于使光反复多次的封闭空间)。在后面进行详细说明。
受光系统130,接受基于检测区域DA中的粒子2的来自投光系统120的光的散射光。而且,在图4中,以粗实线的箭头线示出光的路径的一个例子。受光系统130具备,受光元件131、以及受光透镜132。
受光元件131,接受基于检测区域DA中的粒子2的来自投光元件121的光的散射光的至少一部分。受光元件131是,具体而言,将接受的光变换为电信号的光电变换元件,例如,光电二极管、光电IC二极管、光电晶体管或光电子倍增管等。受光元件131的光轴,与受光系统130的光轴Q一致,例如,通过检测区域DA。
受光透镜132,被配置在受光元件131与检测区域DA之间,被构成为将从检测区域DA侧入射的光聚光到受光元件131。具体而言,受光透镜132是,使检测区域DA中的基于粒子2的散射光,聚光到受光元件131的聚光透镜,例如,是PC等的透明树脂透镜或玻璃透镜。例如,受光透镜132的焦点,存在于检测区域DA以及受光元件131的表面。
[尘埃抑制壁]
图7是示出本实施例涉及的尘埃抑制壁30的结构的截面图,具体而言,示出图3的(a)所示的VII-VII线的截面。图8是示出本实施例涉及的尘埃抑制壁30以及光阱(第二光阱)40的结构的截面图,具体而言,示出图7所示的VIII-VIII线的截面。
如图4示出,尘埃抑制壁30,在壳体10的内部,被设置在比加热装置60更靠近流入口101的位置。具体而言,尘埃抑制壁30的至少一部分,沿着流入口101的边缘而被设置。在本实施例中,流入口101是大致矩形的开口,尘埃抑制壁30的至少一部分,沿着该开口而被设置。
并且,尘埃抑制壁30的至少一部分被设置为,平行于与加热装置60生成的气流交叉的方向。加热装置60对气体进行加热,从而生成上升气流,因此,尘埃抑制壁30的至少一部分被设置为,平行于与上升气流正交的方向(即,水平方向)。
并且,尘埃抑制壁30,比流入口101的宽度长。在此,流入口101的宽度是,与气体流动的方向交叉的方向的宽度。具体而言,流入口101的宽度是,与由加热装置60生成的上升气流交叉的方向的宽度,例如,是水平方向(X轴方向)的宽度。据此,能够抑制从流入口101进入的外光照射检测区域DA。而且,尘埃抑制壁30具有,遮光性。
并且,尘埃抑制壁30,比光阱40的宽度长。据此,尘埃抑制壁30,能够抑制气体进入到光阱40。光阱40的宽度是,在与尘埃抑制壁30的主面平行的方向上,从光阱40的开口到深处的距离。例如,光阱40的宽度是,左侧面部10e与光反射壁112的前端的距离。
在本实施例中,尘埃抑制壁30具有,从内表面100a竖立设置的壁103、以及从内表面110a竖立设置的壁111。如图7示出,壁103和壁111,彼此重叠。优选的是,壁103和壁111,彼此接触。具体而言,壁103以及壁111,在从正面看时(从Y轴方向看时)重叠。优选的是,壁103和壁111,在XZ面彼此接触。而且,内表面100a以及内表面110a是,壳体10具有的内表面,也是彼此相对的两个内表面。具体而言,内表面100a是,前面部10a的内侧的面,内表面110a是,背面部10b的内侧的面。
如图8示出,壁103,沿着流入口101的边缘而被设置。在本实施例中,流入口101是大致矩形的开口,因此,壁103具有,L字形状。具体而言,壁103具有,平板状的长边部103a、以及平板状的短边部103b。
长边部103a被设置为,与下面部10c平行。并且,长边部103a,从左侧面部10e垂直竖立设置。短边部103b被设置为,与左侧面部10e平行。并且,短边部103b,从下面部10c垂直竖立设置。如图7示出,长边部103a以及短边部103b的高度(Z轴向的长度),比前面罩100的侧周部(下面部10c的一部分)短。
如图8示出,壁111,被设置在流入口101附近。具体而言,壁111,沿着壁103的长边部103a而被设置,具有直线形状。在本实施例中,壁111是,从背面部10b(内表面110a)以及左侧面部10e的每一个垂直竖立设置的平板状的壁。换而言之,壁111,在X轴方向上,一方的端部与左侧面部10e连接,另一方的端部,与壳体10的哪个内表面都不连接。
此时,如图4示出,壁111,比流入口101的宽度长。具体而言,如图8示出,壁111,比长边部103a的宽度长。
尘埃抑制壁30,连接壳体10的彼此相对的两个内表面。如图7示出,壁103和壁111彼此重叠,从而连接内表面100a和内表面110a。具体而言,壁103以及壁111被设置为,在从正面看时(从Y轴方向看时),在与内表面100a之间、以及与内表面110a之间的每一个不形成间隙。
在本实施例中被设计为,在组合前面罩100和背面罩110时,壁111的竖立设置方向(Z轴方向)的前端与前面罩100的内表面100a抵接,而不形成间隙。然而,难以完全丢去间隙。
对此,从前面罩100的内表面100a竖立设置的壁103与从背面罩110的内表面110a竖立设置的壁111重叠,因此,在从正面看壁103以及壁111时没有间隙。据此,尘埃抑制壁30,能够抑制尘埃以及外光向检测区域DA进入。
[光阱(第二光阱)]
如图4示出,光阱40具有,多个封闭空间41及43、多个开口部42及44、光反射壁112、以及尘埃抑制壁30。光阱40,将从投光系统120输出后通过检测区域DA的光,在光反射壁112分割。
在此,多个开口部42以及44是,第二开口部的一个例子,朝向检测区域DA开口,使从投光系统120输出的光直接通过。具体而言,从投光系统120输出并通过检测区域DA之后扩散的光的大致全部,不由壳体10的内表面以及内部结构等反射,而通过开口部42以及44。光轴P通过开口部42。
封闭空间41是,第二封闭空间的一个例子,也是被设置在壳体10的内部的、用于吸收漫射光的封闭的空间。在封闭空间41,设置有用于使漫射光入射的开口部42。而且,如图8示出,光反射壁112(具体而言,反射部112a)的端部与受光系统保持部105以及117之间相当于开口部42。
封闭空间41与检测区域DA,经由开口部42连通。也就是说,通过检测区域DA的光的一部分,经由开口部42进入到封闭空间41。进入的光,在封闭空间41内反射多次,从而由壁面吸收后衰减。
在本实施例中,如图8示出,封闭空间41是,由光反射壁112、左侧面部10e、受光系统保持部105及117、前面部10a(内表面100a)、以及背面部10b(内表面110a)围绕的空间。封闭空间41的深部,具有楔形状。
而且,楔形是,具体而言,V字形的、从规定的方向看时的形状为三角形的形状。楔形的封闭空间(以及后述的楔形突出部)是,例如,三角锥状或三角柱状的空间(以及突出部)。
在本实施例中,封闭空间41的深部是,由前面部10a以及背面部10b形成底面以及上面、由左侧面部10e和受光系统保持部105及117形成两个侧面的三角柱状的空间。也就是说,左侧面部10e与受光系统保持部105以及117的连接部分是,封闭空间41的最深处,相当于楔形的前端。
而且,剩余的侧面是,相当于楔形的底边的表面,位于比楔形的前端更靠近开口部42的位置。通过开口部42的光,通过该剩余的侧面向楔形的前端方向行进。
封闭空间43是,第二封闭空间的一个例子,也是被设置在壳体10的内部的、用于吸收漫射光的封闭的空间。在封闭空间43,设置有用于使漫射光入射的开口部44。而且,如图8示出,光反射壁112(具体而言,反射部112a)的端部与尘埃抑制壁30(壁111)的端部之间相当于开口部44。
封闭空间43与检测区域DA,经由开口部44连通。也就是说,通过检测区域DA的光的一部分,经由开口部44进入到封闭空间43。入射的光,在封闭空间43内反射多次,从而由壁面吸收后衰减。
在本实施例中,如图8示出,封闭空间43是,由光反射壁112、左侧面部10e、尘埃抑制壁30(壁111)、前面部10a(内表面100a)、以及背面部10b(内表面110a)围绕的空间。封闭空间43的深部,具有楔形状。
具体而言,封闭空间43的深部是,由前面部10a以及背面部10b形成底面以及上面、由左侧面部10e以及反射部112b形成两个侧面的三角柱状的空间。也就是说,左侧面部10e与光反射壁112的连接部分是,封闭空间43的最深处,相当于楔形的前端。
而且,剩余的侧面是,相当于楔形的底边的表面,位于比楔形的前端更靠近开口部44的位置。通过开口部42的光,通过该剩余的侧面向楔形的前端方向行进。
光反射壁112是,第一光反射壁的一个例子,使通过开口部42的光反射,从而使该光行进到封闭空间41的深部。进而,光反射壁112,使通过开口部44的光反射,从而使该光行进到封闭空间43。
光反射壁112是,弯曲的壁。具体而言,如图8示出,光反射壁112具有,平板状的反射部112a、以及平板状的反射部112b。
反射部112a是,第一反射部的一个例子,被设置为与投光系统120的光轴P交叉。具体而言,反射部112a被配置为,使从投光系统120输出的光之中的、在光轴P上行进的光反射,进一步使其反射光在反射部112b反射。在本实施例中,反射部112a被配置为,与下面部10c平行。
反射部112b是,第二反射部的一个例子,被设置为相对于反射部112a倾斜。具体而言,反射部112b被配置为,使在光轴P上行进的光的、基于反射部112a的反射光,朝向封闭空间41的楔形的前端方向反射。
在本实施例中,反射部112b被配置为,相对于反射部112a以及左侧面部10e的每一个而成规定的角度。由反射部112b和左侧面部10e而成锐角,该锐角相当于封闭空间43的楔形的前端。
根据以上的结构,从投光系统120输出后通过检测区域DA的光(射出光)的一部分,通过开口部42,由光反射壁112(以及左侧面部10e、受光系统保持部105及117)反射,从而行进到封闭空间41。并且,射出光的另一部分,通过开口部44,由尘埃抑制壁30(以及光反射壁112及左侧面部10e)反射,从而行进到封闭空间43。行进到封闭空间41以及43的光,每当反射时由壁面吸收后衰减。
[光阱(第一光阱)]
图9是示出本实施例涉及的光阱(第一光阱)50的结构的截面图,具体而言,是图4示出截面的放大图。
如图9示出,光阱50是,具有封闭空间51、开口部52、光反射壁113、光反射壁114、以及多个楔形突出部115的迷宫结构。
封闭空间51是,第一封闭空间的一个例子,也是被设置在壳体10的内部的、用于吸收漫射光的封闭的空间。在封闭空间51,设置有朝向检测区域DA开口的开口部52。开口部52是,第一开口部的一个例子,与受光系统130的光轴Q交叉。如图9示出,光反射壁113的端部与光反射壁114(具体而言,反射部114a)的端部之间相当于开口部52。
具体而言,如图9示出,封闭空间51是,由光反射壁113、光反射壁114、下面部10c、右侧面部10f、前面部10a(内表面100a)、以及背面部10b(内表面110a)围绕的空间。
封闭空间51与检测区域DA,经由开口部52连通。也就是说,在从封闭空间51经由开口部52射出光的情况下,存在通过检测区域DA达到受光系统130的可能性。因此,光阱50被形成为,不使经由开口部52进入到封闭空间51的光,再次经由开口部52射出。
光反射壁113是,第二光反射壁的一个例子,与多个楔形突出部115的突出方向交叉、且被配置为与受光系统130的光轴Q大致平行。光反射壁113是,例如平板状的壁,从背面部10b(内表面110a)以及右侧面部10f的每一个竖立设置。光反射壁113,使从投光系统120输出后由壳体10的内表面反射的光,朝向多个楔形突出部115反射。例如,光反射壁113,使通过开口部52的大致水平方向的光,朝向多个楔形突出部115反射。
光反射壁114,使从投光系统120射出后没有由光阱40捕获的光(漫射光)反射。光反射壁114,规定的方向(Y轴方向)的一方的端部与下面部10c连接,另一方的端部与壳体10的哪个内表面都不连接。光反射壁114被设置为,该另一方的端部朝向检测区域DA。在本实施例中,光反射壁114是,弯曲的壁。具体而言,如图9示出,光反射壁114具有,平板状的反射部114a、以及平板状的反射部114b。
反射部114a被配置为,检测区域DA位于该壁面的延长线上。反射部114a,例如,使通过开口部52的漫射光在封闭空间51侧的面反射,被吸收在反射部114a与楔形突出部115a之间的空间。并且,反射部114a,例如,在加热装置60侧的面,使由下面部10c反射的光朝向光阱40反射。
反射部114b,从背面部10b(内表面110a)以及下面部10c的每一个垂直竖立设置。反射部114b,例如,使由下面部10c反射的光朝向光阱40反射。
并且,光反射壁114是,将由尘埃抑制壁30(气体引导壁)引导的气体朝向检测区域DA引导的气体引导壁。并且,光反射壁114是,被设置在流入口101与光阱50之间的壁,以不使由尘埃抑制壁30引导的气体不进入光阱50的方式进行引导。此时,被配置为反射部114a指示检测区域DA,因此,能够高效率地将气体朝向检测区域DA引导。
多个楔形突出部115是,被设置在封闭空间51的、从壳体10的侧面朝向内部突出的楔形的壁。多个楔形突出部115,在封闭空间51内,从背面罩110的内表面110a竖立设置。
在本实施例中,如图9示出,六个楔形突出部115a至115f被设置为,从下面部10c向规定的方向突出。六个楔形突出部115a至115f的每一个的突出方向,与受光系统130的光轴Q交叉。而且,在图9中,以点划线示出楔形突出部的突出方向。突出方向是,例如,从楔形(三角形)的前端向底边(下面部10c)的中线的方向。
六个楔形突出部115a至115f,离检测区域DA越远,就越向离检测区域DA远的方向突出。例如,如图9示出,六个楔形突出部115a至115f被配置为,按照该顺序从检测区域DA(或,开口部52)的距离大。此时,楔形突出部115a和115b的突出方向为,与下面部10c大致垂直的方向,对此,楔形突出部115c至115f,各个突出方向与下面部10c而成的角度θ1至θ6,依次变小。角度θ1至θ6,满足θ1≥θ2≥θ3≥θ4≥θ5≥θ6的关系。
在本实施例中,多个楔形突出部115a至115f的每一个,朝向上方突出。例如,楔形突出部115a以及115b,朝向大致铅垂上方突出。楔形突出部115c至115f,朝向斜上方突出。
并且,六个楔形突出部115a至115f,离检测区域DA越远,楔形的前端与底边的距离h1至h6就越短。在本实施例中,六个楔形突出部115a至115f的每一个的底边,相当于下面部10c。因此,距离h1至h6分别是,楔形突出部115a至115f的每一个的前端与下面部10c的距离。如图9示出,距离h1至h6,满足h1≥h2≥h3≥h4≥h5≥h6的关系。
[效果等]
本实施例涉及的粒子检测传感器1,为了适用于各种各样的设备而成为小型化。以下,首先,对于在将粒子检测传感器1成为小型化时产生的问题,利用图10进行说明。
图10是示出本实施例涉及的从粒子检测传感器1的投光系统120射出的光的路径的图。
若壳体10成为小型化,则投光系统120与检测区域DA的距离变短。因此,投光透镜122,需要焦点距离短的透镜。由焦点距离短的透镜强烈地会聚的光,以大的扩散角来扩大。具体而言,如图10示出,通过检测区域DA时没有由粒子2散乱的光,以大的扩散角来扩大。而且,在图10中,以点的阴影示出从投光系统120射出的光通过的区域。
基于粒子2的散射光以外的光(具体而言,漫射光),成为噪声的主要原因,因此,需要以不入射到受光系统130的方式被吸收在壳体10内。然而,如图10示出,难以吸收通过检测区域DA之后大幅度扩大的漫射光。
对此,本实施例涉及的粒子检测传感器1,具备:投光系统120,以聚光到检测区域DA的方式输出光;受光系统130,接受因检测区域DA中的粒子2而产生的来自投光系统120的光的散射光;以及光阱40,被设置在夹着检测区域DA与投光系统120相对的位置,光阱40,具有多个开口部42以及44,将从投光系统120输出后通过检测区域DA的光,以通过多个开口部42以及44的每一个的方式分割后捕获。
如此,通过检测区域DA后大幅度扩大的漫射光,如图10的白色的箭头线示出,由光反射壁112分割。分割后的光,分别通过开口部42以及44,行进到封闭空间41以及43,反射多次后被吸收。据此,将大幅度扩大的漫射光以通过多个开口部42以及44的每一个的方式分割,从而能够高效率地捕获。
例如,将漫射光分割并捕获,据此,用于捕获漫射光的封闭空间的设计的自由度提高。例如,为了在各种各样的方向上行进的漫射光由一个封闭空间捕获,需要复杂的结构,对此,将漫射光分割后由多个封闭空间捕获,从而能够将多个封闭空间的每一个的结构设计为简单、且适合的形状。据此,能够以简单的结构有效地捕获漫射光。
以下,对于本实施例涉及的粒子检测传感器1能够高效率地捕获漫射光的情况,举出漫射光的例子,利用图11至图13进行说明。
图11以及图12是示出本实施例涉及的由光阱40捕获的光路径的图。具体而言,图11示出,被分割的光之中、通过开口部42的光由封闭空间41捕获的情况。图12示出,被分割的光之中、通过开口部44的光由封闭空间43捕获的情况。
例如,如图11的粗实线的箭头线示出,在投光系统120的光轴P上行进的光,由光反射壁112反射。具体而言,首先,由反射部112a反射后,进一步,由反射部112b反射反射。也就是说,光反射壁112被配置为,能够使在光轴P上行进的光反射至少两次。
由反射部112b反射的光,由左侧面部10e反射,进一步,由受光系统保持部117(以及受光系统保持部105)反射。如此,通过开口部42的光,在封闭空间41内反射多次后,向封闭空间41的深部(楔形的前端方向)行进。光,每次反射时由壁面吸收后衰减,因此,最后,能够由壁面大致完全吸收该光。
此时,在光轴P上行进的光,光能量特别强。因此,使在光轴P上行进的光反射多次,从而能够高效率地吸收光。不使在光轴P上行进的光,再次从封闭空间41向检测区域DA侧射出,从而能够提高粒子的检测精度。
并且,如图12的粗实线的箭头线示出,通过开口部44的光,由壁111反射。以后,按照反射部112a、尘埃抑制壁30、左侧面部10e的顺序反射后,向封闭空间43的深部(楔形的前端方向)行进。
据此,通过开口部44的光,每次反射时,由壁面吸收后衰减,因此,最后,能够由壁面大致完全吸收该光。
如上所述,例如,在本实施例涉及的粒子检测传感器1中,光阱40还具备:封闭空间41,设置有多个开口部之中的一个开口部42;以及弯曲的光反射壁112,使通过开口部42的光反射,从而使该光行进到封闭空间41的深部。并且,例如,光反射壁112具有被设置为于投光系统120的光轴P交叉的平板状的反射部112a、以及被设置为相对于反射部112a倾斜的平板状的反射部112b,从投光系统120输出的光之中的、在投光系统120的光轴P上行进的光,由反射部112a和反射部112b按照该顺序反射后,行进到封闭空间41的深部。
据此,能够由弯曲的光反射壁112使漫射光高效率地行进到封闭空间41。特别是,能够使在轴P上行进的光能量强的光行进到封闭空间41,反复进行反射,从而高效率地衰减。据此,能够减少入射到受光系统130的漫射光,因此,能够提高粒子检测的信噪比。如此,能够提高粒子的检测精度。
并且,例如,封闭空间41的深部具有楔形状。
据此,光,越朝向楔形的深部,就越反射很多次,因此,能够使光高效率地衰减。
并且,例如,光阱40,由光反射壁112,对从投光系统120输出后通过检测区域DA的光进行分割。
据此,由一个壁能够实现分割光的功能、和使分割后的光反射的功能,因此,能够实现壳体10的内部的简单的结构。因此,在壳体10的内部难以产生不必要的光的反射等,能够抑制漫射光照射受光系统130。因此,能够提高粒子的检测精度。
并且,另一方面,如图11的粗虚线的箭头线示出,在从投光系统120射出的光之中,也存在不通过开口部42以及开口部44,而由反射部112a的端部反射的光。该光,如图11示出,由下面部10c以及光反射壁114依次反射,通过开口部42后行进到封闭空间41。
如此,光反射壁114,使没有通过开口部42以及开口部44的光反射,从而能够使该光行进到光阱40。据此,能够减少入射到受光系统130的漫射光,因此,能够提高信噪比。
如上所述,大部分的漫射光由光阱40捕获。然而,一部分的漫射光,一旦入射到光阱40,但是,再次射出。或者,也存在不入射到光阱40的漫射光。光阱50,捕获这些光(漏光)。
图13是示出本实施例涉及的由光阱50捕获的光的路径的图。
如图13的粗实线的箭头线示出,通过投光透镜122的最外侧后从投光系统120射出的光,虽然在大致水平上行进,通过开口部42后入射到光阱40,但是,由左侧面部10e反射后,再次从开口部42射出。该光,通过光阱50的开口部52后,由光反射壁113朝向多个楔形突出部115反射。而且,在相邻的楔形突出部115之间反射多次后被吸收。
并且,如图13的粗虚线的箭头线示出,从投光系统120向大致正下面射出的光,不通过检测区域DA,而直接通过开口部52由光反射壁114反射。该光,在反射部114a与楔形突出部115之间反射多次后被吸收。
如上所述,例如,本实施例涉及的粒子检测传感器1,还具备,被设置在夹着检测区域DA与受光系统130相对的位置的、捕获没有由光阱40捕获的光的光阱50,光阱50具有,设置有朝向检测区域DA开口的口部52的封闭空间51、以及被设置在封闭空间51的多个楔形突出部115。
据此,能够由光阱50捕获,从光阱40射出的光、以及没有入射到光阱40的光等的漏光。因此,能够减少入射到受光系统130的漏光,能够提高信噪比,能够更提高粒子的检测精度。
并且,例如,光阱50,还具有,与多个楔形突出部115的突出方向交叉、且被配置为与受光系统130的光轴Q大致平行的光反射壁113。
据此,能够由光反射壁113朝向多个楔形突出部115反射。例如,光反射壁113,能够使在壳体10内大致水平方向上行进的漏光反射。因此,能够减少入射到受光系统130的漏光,能够提高信噪比,能够更提高粒子的检测精度。
并且,例如,多个楔形突出部115的每一个的突出方向,与受光系统130的光轴Q交叉。
据此,由光反射壁113反射的光,容易在相邻的楔形突出部115之间行进。换而言之,该光,容易在相邻的楔形突出部115之间反射多次。因此,能够减少入射到受光系统130的漏光,能够提高信噪比,能够更提高粒子的检测精度。
并且,例如,多个楔形突出部115,离检测区域DA越远,楔形的前端与底边的距离就越短。
据此,能够抑制由楔形突出部115的前端反射的光朝向受光系统130。例如,在光由最短的楔形突出部115f的前端朝向受光系统130反射的情况下,由相邻的楔形突出部115e再次反射。因此,能够减少入射到受光系统130的漏光,能够提高信噪比,能够更提高粒子的检测精度。
并且,例如,多个楔形突出部115,离检测区域DA越远,就越向离检测区域DA远的方向突出。
据此,由光反射壁113反射的光,容易在相邻的楔形突出部115之间行进。换而言之,该光,容易在相邻的楔形突出部115之间反射多次。因此,能够减少入射到受光系统130的漏光,能够提高信噪比,能够更提高粒子的检测精度。
并且,例如,多个楔形突出部115的每一个,朝向上方突出。
据此,在尘埃侵入到光阱50内的情况下,尘埃堆积在多个楔形突出部115之间。因此,即使在漫射光侵入到光阱50内后由尘埃扩散反射的情况下,该反射光,则容易在相邻的楔形突出部115之间反射多次。因反射多次而反射光衰减,因此,能够抑制反射光从光阱50朝向受光系统130射出。而且,这意味着,相反地应用入射到光阱50的漫射光由多个楔形突出部115捕获的原理。
如此,即使在尘埃堆积在多个楔形突出部115之间的情况下,与没有设置多个楔形突出部115的情况相比,也能够抑制基于尘埃的反射光入射到受光系统130。因此,能够更提高粒子检测传感器1的粒子的检测精度。
(变形例)
接着,对于所述实施例涉及的粒子检测传感器1的变形例,利用图14进行说明。以下,以与所述实施例不同之处为中心进行说明,而省略或简略化说明相同之处。
图14是示出本变形例涉及的粒子检测传感器1A的壳体内部的截面图。图14示出的截面,与图4同样,相当于图3的(c)的IV-IV线的截面。
本变形例涉及的粒子检测传感器1A,与图4示出的粒子检测传感器1相比,不同之处是,不具备光反射壁112、光反射壁113以及光反射壁114。具体而言,粒子检测传感器1A,代替光阱40以及光阱50,而具备光阱40A以及光阱50A。
光阱40A不具备,光反射壁112。具体而言,光阱40A仅具有一个封闭空间41A。在封闭空间41A仅设置有一个开口部42A。封闭空间41A是,由尘埃抑制壁30(壁111)、左侧面部10e、受光系统保持部105及117、前面部10a(内表面100a)以及背面部10b(内表面110a)包围的空间。尘埃抑制壁30的端部与受光系统保持部105及117的端部之间,相当于开口部42A。
封闭空间41A的深部、即左侧面部10e与受光系统保持部105以及117的连接部分具有,楔形状。光,越朝向楔形的深部,就越反射很多次,因此,漫射光效率很好地衰减能。
光阱50A不具备,光反射壁113以及光反射壁114具有没有。具体而言,光阱50A仅具有一个封封闭空间51A。在封闭空间51A仅设置有一个开口部52A。封闭空间51A是,由下面部10c、右侧面部10f、投光系统保持部104及116、以及楔形突出部115a包围的空间。最位于检测区域DA侧的楔形突出部115a的前端与投光系统保持部104以及116的端部之间,相当于开口部52A。
如上所述,根据本变形例涉及的粒子检测传感器1A,利用多个楔形突出部115能够有效地捕获漫射光。而且,所述实施例涉及的粒子检测传感器1的壳体内部的结构比较复杂,因此,漫射光的捕获效果高。对此,本变形例涉及的粒子检测传感器1A,捕获效果比粒子检测传感器1低,但是,能够以充分高的精度检测粒子。
例如,在本变形例涉及的粒子检测传感器1A中,在光阱50A设置有多个楔形突出部115。因此,即使没有设置光反射壁113以及光反射壁114,光在多个楔形突出部115之间也反射多次,因此,能够使漫射光充分衰减。
进而,在本变形例中,多个楔形突出部115被形成为,离检测区域DA越远,就越短。因此,即使没有设置光反射壁113以及114,光也更容易入射到深侧的(即,离检测区域DA更远的)楔形突出部115之间。因此,能够更抑制漫射光从光阱50A向受光系统130漏出。
并且,根据本变形例涉及的粒子检测传感器1A,实现了壳体10的内部的结构的简化,因此,能够容易进行除去积蓄在内部的尘埃等的维护。并且,能够削减用于形成壳体10的材料的量,因此,能够以低成本制造粒子检测传感器1A。
(其他)
以上,对于本发明涉及的粒子检测传感器,基于所述实施例以及其变形例进行了说明,但是,本发明,不仅限于所述实施例。
例如,在所述实施例中,示出了尘埃抑制壁30由壁103和壁111构成的例子,但是,不仅限于此。尘埃抑制壁30也可以,例如,仅由壁103构成,或者,仅由壁111构成。
并且,例如,在所述实施例中,尘埃抑制壁30被设置为沿着流入口101的边缘与下面部10c平行,但是,不仅限于此。尘埃抑制壁30也可以被设置为,相对于下面部10c倾斜。例如,尘埃抑制壁30也可以被设置为,与连结流入口101和检测区域DA的线正交。并且,尘埃抑制壁30也可以,不是平板,而是弯曲的板。
并且,例如,尘埃抑制壁30也可以被设置在加热装置60与检测区域DA之间。
并且,例如,在所述实施例中,说明了由两个开口部42以及44将通过检测区域DA的光分割的例子,但是,不仅限于此。开口部也可以有三个以上。例如,对于光阱40,也可以利用多个平行平板状的光阱结构。也就是说,多个平行平板各自之间,相当于多个开口部。平行平板的前端也可以具有锥形。
并且,例如,在所述实施例中,示出了能够将壳体10分割为前面罩100和背面罩110的例子,但是,不仅限于此。也可以通过树脂材料和模具的注射成型等,来将壳体10被形成为一体。
并且,例如,在所述实施例中,将光反射壁112、光反射壁113、光反射壁114以及多个楔形突出部115与背面罩110形成为一体,但是,不仅限于此。光反射壁112、光反射壁113、光反射壁114以及多个楔形突出部115的至少一个,也可以与前面罩100形成为一体,或者,也可以与前面罩100以及背面罩110都分开形成。并且,光反射壁112、光反射壁113、光反射壁114以及多个楔形突出部115的至少一个也可以,与尘埃抑制壁30同样,组合形成在前面罩100和背面罩110的每一个的壁来形成。
并且,例如,在所述实施例中,示出了壁111是平板状的壁的例子,但是,不仅限于此。例如,壁111也可以是,从左侧面部10e向壳体10的内部突出的楔形的壁(楔形突出部)。换而言之,在壁111的端部的、与壳体10的哪个侧面都没有连接的端部也可以具有锥形。而且,光反射壁112、光反射壁113以及光反射壁114也同样。
并且,例如,被设置在前面罩100以及背面罩110的各个构成要素的配置,不仅限于所述例子。例如,在所述实施例中,投光系统120和受光系统130在水平方向排列配置,但是,也可以在上下方向排列配置。
并且,例如,在所述实施例中,作为对来自投光元件121的光进行聚光的部件以及将光聚光到受光元件131的部件,示出了投光透镜122以及受光透镜132,但是,也可以利用聚光反射镜等的反射部件。
并且,例如,在所述实施例中,说明了粒子检测传感器1是光散射式的粒子检测传感器的例子,但是,不仅限于此。粒子检测传感器1是,光电式的粒子检测传感器即可,例如,在投光系统120和受光系统130被配置为彼此相对的情况下,在粒子2通过检测区域DA时,遮蔽来自投光系统120的光,据此,入射到受光系统130的光量减少。因此,粒子检测传感器,检测光量的变化量(减少量),从而能够检测粒子。
并且,例如,在所述实施例中,示出了包含粒子的介质(流体)为气体(大气)的例子,但是,也可以是水等的液体。
而且,所述实施例涉及的粒子检测传感器1,能够用于各种各样的设备。例如,本发明的实施方案之一,也能够作为具备粒子检测传感器1的尘埃传感器来实现。尘埃传感器能够,例如用于吸尘器等。
并且,例如,本发明的实施方案之一,也能够作为图15示出的烟感器来实现。图15是本变形例涉及的烟感器的外观图。图15示出的烟感器具备,例如,粒子检测传感器1。
并且,例如,本发明的实施方案之一,也能够作为图16示出的空气清洁器来实现。图16是本变形例涉及的空气清洁器的外观图。图16示出的空气清洁器具备,例如,粒子检测传感器1。
并且,例如,本发明的实施方案之一,也能够作为图17示出的换气扇来实现。图17是本变形例涉及的换气扇的外观图。图17示出的换气扇具备,例如,粒子检测传感器1。
并且,例如,本发明的实施方案之一,也能够作为图18示出的空调来实现。图18是本变形例涉及的空调的外观图。图18示出的空调具备,例如,粒子检测传感器1。
如上所述的吸尘器、烟感器、空气清洁器、换气扇或空调,在由内置的粒子检测传感器1检测粒子2的情况下,也可以仅提示检测出粒子2的情况(例如,显示部的显示、或警报声等的输出)。或者,也可以进行风扇的启动、风扇的转速的变更等的风扇的控制。
另外,对各个实施例实施本领域技术人员想到的各种变形而得到的形态,以及在不脱离本发明的宗旨的范围内任意组合各个实施例的构成要素以及功能来实现的形态,也包含在本发明中。
符号说明
1、1A 粒子检测传感器
2 粒子
40、40A 光阱(第二光阱)
41、41A、43 封闭空间(第二封闭空间)
42、42A、44 开口部(第二开口部)
50、50A 光阱(第一光阱)
51、51A 封闭空间(第一封闭空间)
52、52A 开口部(第一开口部)
112 光反射壁(第一光反射壁)
112a 反射部(第一反射部)
112b 反射部(第二反射部)
113 光反射壁(第二光反射壁)
115、115a、115b、115c、115d、115e、115f 楔形突出部
120 投光系统
130 受光系统
DA 检测区域

Claims (14)

1.一种粒子检测传感器,具备:
投光系统,以聚光到检测区域的方式输出光;
受光系统,接受因所述检测区域中的粒子而产生的来自所述投光系统的光的散射光;以及
第一光阱,被设置在夹着所述检测区域与所述受光系统相对的位置,
所述第一光阱,包括:
第一封闭空间,设置有朝向所述检测区域开口的第一开口部;以及
多个楔形突出部,被设置在所述第一封闭空间,
所述多个楔形突出部分别形成为三棱柱状的突出部,离所述检测区域越远,所述楔形突出部的楔形的前端与底边的距离就越短,并且,离所述检测区域越远,所述楔形突出部就越向离所述检测区域远的方向突出。
2.如权利要求1所述的粒子检测传感器,
所述多个楔形突出部各自的突出方向,与所述受光系统的光轴交叉。
3.如权利要求1所述的粒子检测传感器,
所述多个楔形突出部的每一个,朝向上方突出。
4.如权利要求1所述的粒子检测传感器,
所述粒子检测传感器还具备第二光阱,
所述第二光阱,被设置在夹着所述检测区域与所述投光系统相对的位置,
所述第二光阱,具有多个第二开口部,将从所述投光系统输出后通过所述检测区域的光,以通过所述多个第二开口部的每一个的方式分割后捕获。
5.如权利要求4所述的粒子检测传感器,
所述第二光阱,还包括:
第二封闭空间,设置有所述多个第二开口部之中的一个第二开口部;以及
弯曲的第一光反射壁,使通过所述一个第二开口部的光反射,从而使该光向所述第二封闭空间的深部行进。
6.如权利要求5所述的粒子检测传感器,
所述第二封闭空间的深部具有楔形状。
7.如权利要求5所述的粒子检测传感器,
所述第二光阱,将从所述投光系统输出后通过所述检测区域的光,在所述第一光反射壁分割。
8.如权利要求5所述的粒子检测传感器,
所述第一光反射壁,包括:
平板状的第一反射部,被设置为与所述投光系统的光轴交叉;以及
平板状的第二反射部,被设置为相对于所述第一反射部倾斜,
从所述投光系统输出的光之中的、在所述投光系统的光轴上行进的光,按照所述第一反射部和所述第二反射部的顺序,由所述第一反射部和所述第二反射部反射后,向所述第二封闭空间的深部行进。
9.如权利要求1项所述的粒子检测传感器,
所述第一光阱还具有第二光反射壁,
所述第二光反射壁,与所述多个楔形突出部的突出方向交叉、且被配置为与所述受光系统的光轴大致平行。
10.一种尘埃传感器,
具备权利要求1至9的任一项所述的粒子检测传感器。
11.一种烟感器,
具备权利要求1至9的任一项所述的粒子检测传感器。
12.一种空气清洁器,
具备权利要求1至9的任一项所述的粒子检测传感器。
13.一种换气扇,
具备权利要求1至9的任一项所述的粒子检测传感器。
14.一种空调,
具备权利要求1至9的任一项所述的粒子检测传感器。
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Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106168570B (zh) * 2016-07-12 2019-03-22 南京环康电子科技有限公司 颗粒物分离及测量装置
KR102514584B1 (ko) * 2017-11-20 2023-03-24 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 먼지 센서
SG11202007454SA (en) * 2018-02-08 2020-09-29 Agency Science Tech & Res Particulate matter sensor module using compound parabolic/elliptical collector
KR102113389B1 (ko) * 2018-03-27 2020-05-20 재단법인 다차원 스마트 아이티 융합시스템 연구단 광흡수를 이용한 반사광 차폐 효과로 미세먼지센서의 크기를 줄일 수 있는 방법 및 미세먼지센서
KR102490311B1 (ko) * 2018-04-25 2023-01-20 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 먼지 센서
KR20190140344A (ko) * 2018-06-11 2019-12-19 주식회사삼영에스앤씨 광 산란형 먼지 센서
DE112018007919T5 (de) 2018-08-21 2021-05-06 Ams Ag Feinstaub-sensor
CN111199628A (zh) 2018-11-20 2020-05-26 海湾安全技术有限公司 烟雾探测器
US11137340B2 (en) * 2018-11-30 2021-10-05 Sharp Kabushiki Kaisha Particle detection sensor and particle detection apparatus
JP7440390B2 (ja) * 2020-09-30 2024-02-28 シャープセミコンダクターイノベーション株式会社 粒子検出センサおよび粒子検出装置
KR102310367B1 (ko) * 2021-03-12 2021-10-07 한상현 차량용 미세 먼지 감지 센서

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2951459C2 (de) * 1979-12-20 1984-03-29 Heimann Gmbh, 6200 Wiesbaden Optische Anordnung für einen Rauchmelder nach dem Lichtstreuungsprinzip
JPS637348U (zh) * 1986-06-30 1988-01-19
JPH08233736A (ja) * 1995-02-27 1996-09-13 Nohmi Bosai Ltd 微粒子検出センサ
JP3358121B2 (ja) * 1995-07-21 2002-12-16 ダイキン工業株式会社 光電式塵埃センサ
JP3731338B2 (ja) * 1998-02-27 2006-01-05 松下電工株式会社 光散乱式粒子検知センサ
JP4157212B2 (ja) * 1999-02-15 2008-10-01 松下電工株式会社 光散乱式粒子検知センサ
TWI235965B (en) * 2001-04-24 2005-07-11 Matsushita Electric Works Ltd Fire detector unit
JP3747830B2 (ja) * 2001-09-25 2006-02-22 松下電工株式会社 浮遊微粒子検知装置
CN101135627A (zh) * 2003-10-23 2008-03-05 马丁·T·科尔 颗粒监测器的室结构及使流体流过颗粒探测区域的方法
JP4853396B2 (ja) * 2007-06-18 2012-01-11 パナソニック電工株式会社 煙感知器
JP5145162B2 (ja) * 2008-08-08 2013-02-13 パナソニック株式会社 煙感知器
JP6145041B2 (ja) * 2011-06-30 2017-06-07 ホーチキ株式会社 散乱光式煙検出装置
WO2016067484A1 (ja) * 2014-10-31 2016-05-06 パナソニックIpマネジメント株式会社 粒子検出センサ

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