CN106527977A - 一种配置参数的方法及存储设备 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例提供一种配置参数的方法及存储设备,用以简化配置存储设备的参数的流程。所述方法包括:获取第一值,第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;其中,存储设备包括存储器和控制器,控制器用于从存储器中读数据或向存储器写入数据;查询参数配置表,确定参数配置表中记录的环境参数的取值中是否包括第一值;若参数配置表中记录的环境参数的取值中包括第一值,则获取参数配置表中记录的第二值,第二值为在参数配置表中与取值为第一值的环境参数对应的参数的值;将第二值设置为存储设备的参数的值;其中,存储设备的参数包括存储器的参数、控制器的参数、以及在存储器和控制器之间传输的信号的参数中的至少一种。

Description

一种配置参数的方法及存储设备
技术领域
本发明实施例涉及通信技术领域,尤其涉及一种配置存储器的参数的方法及存储设备。
背景技术
目前,双倍速率同步动态随机存储器(Double Data Rate Synchronous DynamicRandom Access Memory,DDR)的应用越来越广泛。传统的配置DDR的参数的方法是:在某环境温度(通常是在常温范围内)下,先按照默认值配置所有参数,然后不断调整其中一个参数的值,同时通过示波器观察DDR接收的信号波形或控制器从DDR接收的信号波形,根据示波器观察到的信号的质量选取一个合适的值作为该参数最终的取值。按照这种方式,直到依次调整完所有的参数的值。目前,在DDR的参数配置完毕后基本不会再调整。
以上配置DDR的参数的方法至少存在以下问题:配置好的参数只能在该环境温度下保证DDR处于较佳工作状态,当环境温度发生变化时,DDR不能始终保持良好的工作状态。
发明内容
本发明实施例提供一种配置参数的方法及存储设备,用于简化配置存储设备的参数的流程。
第一方面,本发明实施例提供一种配置存储器的参数的方法,包括:
获取第一值,所述第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;其中,所述存储设备包括存储器和控制器,所述控制器用于从所述存储器中读数据或向所述存储器写入数据;
查询参数配置表,确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值;
若所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中包括所述第一值,则获取所述参数配置表中记录的第二值,所述第二值为在所述参数配置表中与取值为所述第一值的所述环境参数对应的参数的值;
将所述第二值设置为所述存储设备的参数的值;其中,所述存储设备的参数包括所述存储器的参数、所述控制器的参数、以及在所述存储器和所述控制器之间传输的信号的参数中的至少一种。
可选的,在确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值之后,还包括:
若确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中不包括所述第一值,获取第三值;所述第三值为在所述环境下所述存储设备的参数的值;
建立取值为所述第一值的所述环境参数与取值为所述第三值的所述存储设备的参数之间的对应关系。
可选的,获取第三值,包括:
获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;或,获取在所述环境下使所述控制器从所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;其中,信号的时序裕量用于判断所述信号的质量。
可选的,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述存储器的参数;获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:
通过所述控制器经M根传输线向所述存储器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述存储器的参数的值不同;N为大于1的整数且M为正整数;
获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述存储器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;
获取所述M个集合的交集;
计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
可选的,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述控制器的参数;获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:
通过所述存储器经M根传输线向所述控制器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述控制器的参数的值不同;N为大于1的正整数且M为正整数;
获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述控制器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;
获取M个所述集合的交集;
计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
第二方面,本发明实施例提供一种存储设备,包括控制器和存储器;
其中,所述控制器用于从所述存储器中读数据或向所述存储器写入数据,还用于:获取第一值,所述第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;查询参数配置表,确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值;若所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中包括所述第一值,则获取所述参数配置表中记录的第二值,所述第二值为在所述参数配置表中与取值为所述第一值的所述环境参数对应的参数的值;将所述第二值设置为所述存储设备的参数的值;其中,所述存储设备的参数包括所述存储器的参数、所述控制器的参数、以及在所述存储器和所述控制器之间传输的信号的参数中的至少一种。
可选的,所述控制器还用于:
在确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值之后,若确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中不包括所述第一值,获取第三值;所述第三值为在所述环境下所述存储设备的参数的值;建立取值为所述第一值的所述环境参数与取值为所述第三值的所述存储设备的参数之间的对应关系。
可选的,所述控制器获取第三值,包括:
获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;或,获取在所述环境下使所述控制器从所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;其中,信号的时序裕量用于判断所述信号的质量。
可选的,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述存储器的参数;
所述控制器获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:经M根传输线向所述存储器发送信号;获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述存储器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;获取所述M个集合的交集;计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述存储器的参数的值不同;N为大于1的整数且M为正整数;
所述存储器用于:接收所述控制器经所述M根传输线发送的信号。
可选的,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述控制器的参数;
所述存储器用于:经M根传输线向所述控制器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述控制器的参数的值不同;N为大于1的正整数且M为正整数;
所述控制器获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:接收所述存储器经所述M根传输线发送的信号;获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述控制器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;获取M个所述集合的交集;计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
本发明实施例中,可以直接获取存储设备所处的环境的环境参数的值,然后查询参数配置表中是否包括取值与获取的值相同的环境参数,最后根据获取的环境参数的值设置存储器的参数、控制器的参数和信号的参数中的至少一种参数的值,从而使存储器的参数的值、控制器的参数的值或信号的参数的值能够满足不同环境条件的需要,进而实现了在不同的环境下都能确保存储器和/或控制器工作在较佳状态,并且调整参数的过程简单快捷。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种存储设备的示意图;
图2为本发明实施例提供的配置参数的方法的流程图;
图3为本发明实施例中DQ信号的建立时间和保持时间的示意图;
图4为32位DDR2和控制器之间的部分连线的示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。在不冲突的情况下,本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
另外,本文中的术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。本文中的术语“多个”,表示两个或两个以上。另外,本文中字符“/”,在不做特别说明的情况下,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
请参见图1,本发明一实施例提供一种存储设备,该存储设备可以是独立设备,也可以位于其它设备内。该存储设备包括存储器102和控制器101。本发明实施例中,存储器102可以是DDR、DDR2、DDR3、DDR4或图像双倍速率同步动态随机存储器(Graphics DoubleData Rate Synchronous Dynamic Random Access Memory,GDDR)等,还可以是其它类型的存储器。本发明实施例对于存储器102的类型不作限制。本发明实施例中所述的控制器101用于从存储器102中读数据或向存储器102写入数据。控制器101可以位于存储设备主板芯片组北桥芯片内部,也可以内置在存储设备的中央处理器(Central Processing Unit,CPU)的基板上,本发明实施例对于控制器101的位置和类型不作限制。
为了更好地理解,下面将结合说明书附图介绍本发明实施例提供的技术方案。在下文中,以存储器102是32位的DDR2为例。
请参见图2,本发明实施例提供一种配置参数的方法。该方法可以通过控制器101执行。该方法的流程描述如下。
S201:获取第一值,第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;其中,存储设备包括存储器102和控制器101,控制器101用于从存储器102中读数据或向存储器102写入数据;
S202:查询参数配置表,确定参数配置表中记录的环境参数的取值中是否包括第一值;
S203:若参数配置表中记录的环境参数的取值中包括第一值,则获取参数配置表中记录的第二值,第二值为在参数配置表中与取值为第一值的环境参数对应的参数的值。
S204:将第二值设置为存储设备的参数的值;其中,存储设备的参数包括存储器102的参数、控制器101的参数、以及在存储器102和控制器101之间传输的信号的参数中的至少一种。
本发明实施例的方法可以在存储设备开机初始化的时候执行,这样存储设备开机完成之后,运行过程中不必受到对存储设备的参数的调整过程的影响。
在存储设备开机初始化的时候,控制器101获取第一值,即存储设备所处环境的环境参数的值。环境参数可以包括温度参数,也可以包括湿度参数等其它参数。本发明实施例对于环境参数的类型不作限制。以环境参数包括温度参数为例,则控制器101可以获取存储器102所在的单板上的测温元件、控制器101所在的芯片上的测温元件或是存储设备主板上的测温元件所采集的环境的温度参数的值。在下文中,主要以环境参数包括温度参数为例。
在获取了第一值之后,控制器101查询参数配置表中是否包括取值与第一值相同的温度参数。参数配置表可以存储在存储器102中,也可以存储在控制器101中,本发明实施例对此不做限制。
参数配置表里可以记录温度参数,并且在参数配置表中可以记录温度参数的多个取值。在参数配置表中,温度参数的每个取值可以对应以下三种取值中的至少一种:存储器102和控制器101之间传输的信号的参数的取值、存储器102的参数的取值以及控制器101的参数的取值。与温度参数的取值对应的控制器101的参数的取值用于确保在温度参数的该取值所对应的温度参数条件下,控制器101能够工作在较佳状态。与温度参数的取值对应的存储器102的参数的取值用于确保在温度参数的该取值所对应的温度参数条件下,存储器102能够工作在较佳状态。与温度参数的取值对应的信号的参数的取值用于在温度参数的该取值所对应的温度参数条件下,使得存储器102能够较好地接收信号或使得控制器101能够较好地接收信号。
请参见表1,为参数配置表的一个示例。
表1
在表1中,温度参数的每个取值对应以下三种取值:存储器102和控制器101之间传输的信号的参数的取值、存储器102的参数的取值以及控制器101的参数的取值。
本发明实施例中,存储器102和控制器101之间传输的信号可以包括数据(DataQueue,DQ)信号、数据选通(Data Strobe,DQS)信号、地址(Address,AD)信号、时钟(Clock,CK)信号等信号中的至少一种。
本发明实施例中,信号的参数可以是两个信号在被控制器101发送时的相位差,例如从控制器101发送给存储器102的DQ信号和DQS信号在被控制器101发送时的相位差,或从控制器101发送给存储器102的AD信号和CK信号在被发送时的相位差。或,信号的参数可以是两个信号在被控制器101接收时进行调相后的相位差,例如控制器101从存储器102接收的DQ信号和DQS信号被控制器101调整后的相位差,或控制器101从存储器102接收的AD信号和CK信号被控制器101调整后的相位差。
本发明实施例中,存储器102的参数可以包括存储器102的片内终端电阻(On-DieTermination,ODT)、片上终端电阻(On-Chip Termination,OCT)、终端电压(TrackingTermination Voltage,VTT)等参数中的至少一种。类似地,控制器101的参数也可以包括控制器101的ODT、OCT、VTT等参数中的至少一种。
若参数配置表中记录的温度参数的取值中包括第一值,则控制器101获取参数配置表中的第二值,即与取值为第一值的温度参数对应的参数的值;然后控制器101根据第二值设置存储设备的参数的值。
通过以上方式,控制器101可以根据不同的温度参数的值自动配置信号的参数,如此,在不同的温度环境下都可以使得存储器102能够较好地接收信号或使得控制器101能够较好地接收信号,以及,通过以上方式,控制器101可以根据不同的温度参数的值自动配置存储器102的参数,以保证在不同的温度环境下存储器102都始终工作在较佳状态下,以及,通过以上方式,控制器101可以根据不同的温度参数的值自动配置控制器101的参数,以保证在不同的温度环境下控制器101都始终工作在较佳状态下。并且调整过程非常方便、快速。
以上主要介绍控制器101能够在参数配置表中查询到取值与获取的第一值相同的温度参数的情况下,控制器101如何调整信号的参数、存储器102的参数和控制器101的参数中的至少一种参数。而如果查询结果表示参数配置表中记录的温度参数的取值中不包括第一值,则控制器101可以通过测试的方法获取第三值(第三值包括在当前温度参数条件下信号的参数、存储器102的参数或控制器101的参数中的至少一种参数的较优取值),建立获取的温度参数的值与在当前温度参数条件下至少一种参数的较优取值之间的对应关系,并保存在参数配置表中。通过这种方式,控制器101可以实现自动获取参数的取值并配置参数以满足新的温度参数环境的要求,节省大量的时间和人力,并且下次可以在参数配置表中直接查到该温度参数的取值所对应的至少一种参数的较优取值。
在现有技术中,判断信号的参数的当前取值是否为常温下的较优取值的标准通常是:在常温下,在信号参数的当前取值下,存储器102接收的信号或控制器101接收的信号的质量是否较好。类似的,在现有技术中,判断存储器102的参数的当前取值是否为常温下的较优取值的标准通常是:在常温下,在存储器102的参数的当前取值下,存储器102接收的从控制器101发送的信号的质量是否较好。以及,在现有技术中,判断控制器101的参数的当前取值是否为常温下的较优取值的标准通常是:在常温下,在控制器101的参数的当前取值下,控制器101接收的从存储器102发送的信号的质量是否较好。而现有技术中,一般通过在示波器上观察到的存储器102接收的信号的波形来判断存储器102接收的信号的质量,以及,通过在示波器观察到的控制器101接收的信号的波形来判断控制器101接收的信号的质量。
这导致现有技术中存在以下问题:(1)随着DDR速率的提升,普通的示波器带宽已不能满足测试要求,测试失真严重,测试得到的数据可靠性低;(2)随着单板上安装的DDR芯片数量增多,将DDR芯片对贴在单板的正反面的技术越来越普遍,但由于DDR芯片的信号只能在芯片底部才能测得,导致这种情况下无法测试DDR的信号波形。
鉴于此,本发明实施例采用了一种不同的方式,以判断在当前温度参数条件下,在至少一种参数的当前取值下,存储器102接收的信号或控制器101接收的信号的质量是否较好。以DQ信号为例,在本发明实施例中,判断存储器102接收的DQ信号的质量较好的标准可以是:在当前温度参数条件下,存储器102接收的DQ信号在该至少一种参数的当前取值下的时序裕量较该至少一种参数的其它取值下的时序裕量大。类似地,判断控制器101接收的DQ信号的质量较好的标准可以是:在当前温度参数条件下,控制器101接收的DQ信号在该至少一种参数的当前取值下的时序裕量较该至少一种参数的其它取值下的时序裕量大。
以下以控制器101发送给存储器102的DQ信号为例,简单介绍时序裕量的概念。请参见图3,DQ信号的建立时间是指在DQS信号触发边沿到来以前,DQ信号稳定不变的时间,如果DQ信号的实际建立时间小于需要的建立时间阈值,那么DQ信号将不能在这个DQS信号触发边沿稳定地被存储器102接收。DQ信号的保持时间是指在DQS信号触发边沿到来以后,DQ信号稳定不变的时间,如果DQ信号的实际保持时间小于需要的保持时间阈值,那么DQ信号同样不能在这个DQS信号触发边沿稳定地被存储器102接收。如果DQ信号在DQS信号触发边沿到来之前持续的时间超过建立时间阈值,那么这部分超过的时间称为建立时间裕量。如果DQ信号在DQS信号触发边沿到来之后持续的时间超过保持时间阈值,那么这部分超过的时间称为保持时间裕量。建立时间裕量和保持时间裕量统称为时序裕量。由此可见,DQ信号的时序裕量越大,存储器102接收的DQ信号越稳定,越不容易出错。
在本发明实施例中,如果在一种温度参数条件下,存储器102接收的信号或控制器101从存储器102接收的信号在一种参数的当前取值下的时序裕量较该种参数的其它取值下的时序裕量大,则将该种参数的当前取值称为在该温度参数条件下该种参数的较优取值。
在本发明实施例中,控制器101获取在当前温度参数条件下不同的信号的参数的较优取值的方式可以是类似的,控制器101获取在当前温度参数条件下存储器102的不同参数的较优取值以及控制器101的不同参数的较优取值的方式也可以是类似的。请参见图4,下面以存储器102是32位DDR2为例对这两类方式分别举例介绍。
请注意,在图4中未示出存储器102和控制器101之间所有的连线。在实际应用中,32位DDR2有32根用于传输DQ信号的数据线和4根用于传输DQS信号的数据线,其中每根DQ数据线上一次传输一个DQ信号,每根DQS数据线上一次传输一个DQS信号,每8根DQ数据线为一组DQ数据线,且每组DQ数据线上传输的8个DQ信号对应于一根DQS数据线上传输的一个DQS信号。另外,32位DDR2有16根用于传输地址AD信号的地址线和4根用于传输CK信号的数据线,其中每4根地址线为一组地址线,且每组地址线上传输的4个地址信号对应于一根CK数据线上传输的一个CK信号。
在实际实施过程中,与一个32位DDR2对应的控制器可以只有一个,也可以不止一个,例如一个32位DDR2通过每两组DQ数据线与一个不同的控制器连接。以下以与一个32位DDR2对应的控制器只有一个为例。
以下以信号的参数为控制器101通过一组DQ数据线发送给存储器102的DQ信号和对应的DQS信号在被控制器101发送时的相位差为例,对控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下信号的参数的较优取值的一种方式进行介绍。
控制器101获取至少一个DQ信号,并将该至少一个DQ信号通过该组DQ数据线中的第一根DQ数据线依次发送给存储器102,其中,发送次数为N次,N可以为大于1的正整数,每次发送该至少一个DQ信号中的任意一个信号,且控制器101每次通过第一根DQ数据线发送一个DQ信号的同时还通过对应的一根DQS数据线发送一个DQS信号。每次发送的DQ信号和DQS信号的相位差不同,且相邻两次发送的相位差之间的差值可以等于(2π/N)。
存储器102每次接收DQ信号和DQS信号时,在DQS信号的触发边沿接收DQ信号,对DQ信号进行解码,然后再重新编码,再将重新编码后的DQ信号通过第一根DQ数据线发送给控制器101。控制器101接收该重新编码的DQ信号并解码之后,分析该DQ信号是否与控制器101发送给存储器102的DQ信号一致,如果一致,则控制器101确定DQ信号和DQS信号以该次对应的相位差通过第一根数据线被发送时该DQ信号能够被存储器102正确解码,对于此类对应于正确解码结果的相位差可以称为第一类相位差。如果控制器101确定该DQ信号与控制器101发送给存储器102的DQ信号不一致,则控制器101确定DQ信号和DQS信号以该次对应的相位差的值通过第一根数据线被发送时该DQ信号不能够被存储器102正确解码,对于此类对应于错误解码结果的相位差可以称为第二类相位差。
在本发明实施例中为了便于区分,可以为相位差设置标记,从而区分两类相位差。可以为第一类相位差和第二类相位差分别设置不同的标记,为第一类相位差设置第一标记,为第二类相位差设置第二标记。当然,也可以为第一类相位差和第二类相位差设置相同的标记,通过该标记的不同取值来区分第一类相位差和第二类相位差。下文中,以为第一类相位差设置第一标记,为第二类相位差设置第二标记为例。
特别的,该DQ信号可以是伪随机二进制码(Pseudo Random Binary Sequence,PRBS)。PRBS测试的原理是,由支持PRBS功能的单板发送PRBS信号,并分析从远端环回来的PRBS信号,通过对环回来的PRBS码和发送的PRBS码的比较,可以判断设备或传输线路是否正常。因此PRBS测试正好适用于本发明实施例,且通过使用PRBS测试本发明实施例不再需要专门的调测仪表,测试过程非常简单方便。
请参见表2,在具体的实施过程中,控制器101还可以用数字k代表第k次发送的DQ信号和DQS信号的相位差,其中,k为小于或等于N的正整数。其中,第一次发送时DQ信号和DQS信号之间的相位差可以等于预设相位,第k次发送DQ信号和DQS信号时相位差可以等于(预设相位+2π/N×k),这样的方式可以使得控制器101对不同的初始相位进行标记的过程变得更加简单。其中,预设相位可以任意设置。在表2中,第一标记为“+”,第二标记为“-”。
表2
次数 23 24 25 26 27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42
- + + + + + + + + + + + + + + + + + + -
为N个不同的相位差做完标记之后,控制器101可以获取一个带有第一标记的相位差的集合。
接下来控制器101可以对该组DQ数据线中的其余7根DQ数据线遍历以上步骤,并获取8个带有第一标记的相位差的集合。然后控制器101可以计算该8个集合的交集。该交集中包括的相位差为使通过该组DQ数据线中的每根数据线传输的DQ信号都能被存储器102正确解码的相位差。
进一步地,控制器101可以计算该交集中包括的相位差的平均值。当DQ信号和对应的DQS信号从控制器101通过第一根DQ数据线发送给存储器102时的相位差为该平均值时,DQ信号的时序裕量较大。因此,可以建立该平均值与获取的当前温度参数的值之间的对应关系并存储在参数配置表中。
在实际实施过程中,本发明实施例对于当控制器101通过该组DQ数据线向存储器102发送DQ信号时,控制器101每次通过哪根DQ数据线发送DQ信号并不限制,只要满足控制器101通过该组DQ数据线中的每根DQ数据线向存储器102发送了N次DQ信号,且在该N次中的每次发送时所对应的DQ信号和DQS信号的相位差不同,即可。在实际实施过程中,控制器101通过同一根DQ数据线每次发送的DQ信号可以相同也可以不同,控制器101通过不同DQ数据线发送的DQ信号可以相同也可以不同。
以上控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下控制器101通过一组DQ数据线发送给存储器102的DQ信号和对应的DQS信号在被控制器101发送时的相位差的较优取值的方式同样适用于获取当前温度参数条件下的其它类型的信号参数的较优取值,例如存储器102通过一组地址线发送给控制器101的AD信号和对应的CK信号在被控制器101接收时调相后的相位差的较优取值。
下面以存储器102参数为影响控制器101通过四组DQ数据线发送给存储器102的DQ信号的质量的存储器102的ODT为例,对控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下存储器102参数的较优取值的一种方式进行介绍。
控制器101获取至少一个DQ信号,并将该至少一个DQ信号通过四组DQ数据线中的第一根数据线依次发送给存储器102,其中,发送次数为N次,N可以为大于1的正整数,每次发送该至少一个DQ信号中的任意一个信号,且控制器101每次通过第一根DQ数据线发送一个DQ信号的同时还通过对应的一根DQS数据线发送一个DQS信号。每次发送的时候存储器102的ODT的取值不同。该至少一个DQ信号可以是PRBS。较优地,从控制器101发送给存储器102的DQ信号和对应的DQS信号在被发送时的相位差的取值可以为通过前述方法获取的相位差的较优取值。
存储器102每次接收DQ信号和DQS信号时,在DQS信号的触发边沿接收DQ信号,对DQ信号进行解码,然后再重新编码,再将重新编码后的DQ信号发送给控制器101。控制器101接收该重新编码的DQ信号并解码之后,分析该DQ信号是否与控制器101发送给存储器102的DQ信号一致,如果一致则控制器101确定该次存储器102的ODT的取值不会影响通过第一根数据线传输的DQ信号被存储器102正确解码,对于此类对应于正确解码结果的存储器102的ODT的取值可以称为第一类存储器102的ODT的值。如果不一致则确定该次存储器102的ODT的取值会导致通过第一根数据线传输的DQ信号不能能够被存储器102正确解码,这类对于此类对应于错误解码结果的存储器102的ODT的取值可以称为第二类存储器102的ODT的值。
在本发明实施例中为了便于区分,可以为存储器102的ODT的取值设置标记,从而区分两类存储器102的ODT的取值。可以为第一类存储器102的ODT的值和第二类存储器102的ODT的值分别设置不同的标记,为第一类存储器102的ODT的值设置第一标记,为第二类存储器102的ODT的值设置第二标记。当然,也可以为第一类存储器102的ODT的值和第二类存储器102的ODT的值设置相同的标记,通过该标记的不同取值来区分第一类存储器102的ODT的值和第二类存储器102的ODT的值。下文中,以为第一类存储器102的ODT的值设置第一标记,为第二类存储器102的ODT的值设置第二标记为例。
为N个不同的存储器102的ODT的取值做完标记之后,控制器101可以获取一个带有第一标记的存储器102的ODT的值的集合。
接下来控制器101可以对四组DQ信号中的其余31根DQ数据线遍历以上步骤,并获取32个带有第一标记的存储器102的ODT的值的集合。然后控制器101可以计算该32个集合的交集。该交集中包括的存储器102的ODT的值为,使控制器101通过四组DQ数据线发送给存储器102的DQ信号都能被存储器102正确解码的存储器102的ODT的值。
进一步地,控制器101可以计算该交集中包括的ODT1的值的平均值。当ODT1的值为该平均值时,控制器101通过四组DQ数据线发送给存储器102的DQ信号的时序裕量较大。因此,可以建立该平均值与获取的当前温度参数的值之间的对应关系并存储在参数配置表中。
在实际实施过程中,本发明实施例对于当控制器101通过该组数据线向存储器102发送信号时,控制器101每次通过哪根数据线发送信号并不限制,只要满足控制器101通过该组数据线中的每根数据线向存储器102发送了N次信号,且在该N次中的每次发送时所对应的存储器102的参数的值不同,即可。在实际实施过程中,控制器101通过同一根数据线每次发送的信号可以相同也可以不同,控制器101通过不同数据线发送的信号可以相同也可以不同。
以上控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下存储器102的ODT1的较优取值的方式同样适用于存储器102的其它参数以及控制器101的参数,在此不再赘述。需要注意的是,由于存储器102的参数一般主要对存储器102接收的信号的时序裕量产生影响,而控制器101的参数一般主要对控制器101从存储器102接收的信号的时序裕量产生影响,所以在本发明实施例中,当控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下存储器102的参数时,被测的信号可以是存储器102接收的信号,而当控制器101通过测试的方法获取在当前温度参数条件下控制器101的参数时,被测的信号可以是控制器101从存储器102接收的信号。
本发明实施例采用测试DDR的信号的时序裕量的方法,而非测试DDR的信号质量,避免了当DDR芯片对贴在单板的正反面时无法测得DDR的信号质量的问题。另外,DQ信号的时序裕量无需通过使用示波器观察DDR信号波形获得,避免了现有技术中普通示波器带宽不能满足测试要求的问题。
本发明实施例中,可以直接获取存储设备所处的环境的环境参数的值,然后查询参数配置表中是否包括取值与获取的值相同的环境参数,最后根据获取的环境参数的值设置存储器的参数、控制器的参数和信号的参数中的至少一种参数的值,从而使存储器的参数的值、控制器的参数的值或信号的参数的值能够满足不同环境条件的需要,进而实现了在不同的环境下都能确保存储器和/或控制器工作在较佳状态,并且调整参数的过程简单快捷。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元完成,即将装置的内部结构划分成不同的功能单元,以完成以上描述的全部或者部分功能。上述描述的系统,装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本发明所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统,装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)或处理器(processor)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:通用串行总线闪存盘(Universal Serial Bus flash disk)、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上实施例仅用以对本发明的技术方案进行了详细介绍,但以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想,不应理解为对本发明的限制。本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种配置参数的方法,包括:
获取第一值,所述第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;其中,所述存储设备包括存储器和控制器,所述控制器用于从所述存储器中读数据或向所述存储器写入数据;
查询参数配置表,确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值;
若所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中包括所述第一值,则获取所述参数配置表中记录的第二值,所述第二值为在所述参数配置表中与取值为所述第一值的所述环境参数对应的参数的值;
将所述第二值设置为所述存储设备的参数的值;其中,所述存储设备的参数包括所述存储器的参数、所述控制器的参数、以及在所述存储器和所述控制器之间传输的信号的参数中的至少一种。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,在确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值之后,还包括:
若确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中不包括所述第一值,获取第三值;所述第三值为在所述环境下所述存储设备的参数的值;
建立取值为所述第一值的所述环境参数与取值为所述第三值的所述存储设备的参数之间的对应关系。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,获取第三值,包括:
获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;或,获取在所述环境下使所述控制器从所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;其中,信号的时序裕量用于判断所述信号的质量。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述存储器的参数;获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:
通过所述控制器经M根传输线向所述存储器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述存储器的参数的值不同;N为大于1的整数且M为正整数;
获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述存储器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;
获取所述M个集合的交集;
计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
5.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述控制器的参数;获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:
通过所述存储器经M根传输线向所述控制器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述控制器的参数的值不同;N为大于1的正整数且M为正整数;
获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述控制器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;
获取M个所述集合的交集;
计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
6.一种存储设备,包括控制器和存储器;
其中,所述控制器用于从所述存储器中读数据或向所述存储器写入数据,还用于:获取第一值,所述第一值为存储设备所处的环境的环境参数的值;查询参数配置表,确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值;若所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中包括所述第一值,则获取所述参数配置表中记录的第二值,所述第二值为在所述参数配置表中与取值为所述第一值的所述环境参数对应的参数的值;将所述第二值设置为所述存储设备的参数的值;其中,所述存储设备的参数包括所述存储器的参数、所述控制器的参数、以及在所述存储器和所述控制器之间传输的信号的参数中的至少一种。
7.如权利要求6所述的存储设备,其特征在于,所述控制器还用于:
在确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中是否包括所述第一值之后,若确定所述参数配置表中记录的所述环境参数的取值中不包括所述第一值,获取第三值;所述第三值为在所述环境下所述存储设备的参数的值;建立取值为所述第一值的所述环境参数与取值为所述第三值的所述存储设备的参数之间的对应关系。
8.如权利要求7所述的存储设备,其特征在于,所述控制器获取第三值,包括:
获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;或,获取在所述环境下使所述控制器从所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值;其中,信号的时序裕量用于判断所述信号的质量。
9.如权利要求8所述的存储设备,其特征在于,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述存储器的参数;
所述控制器获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:经M根传输线向所述存储器发送信号;获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述存储器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;获取所述M个集合的交集;计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述存储器的参数的值不同;N为大于1的整数且M为正整数;
所述存储器用于:接收所述控制器经所述M根传输线发送的信号。
10.如权利要求8所述的存储设备,其特征在于,所述存储设备的参数包括所述信号的参数或所述控制器的参数;
所述存储器用于:经M根传输线向所述控制器发送信号;其中,通过其中的每根传输线发送N次信号,在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述信号的参数的值不同,或在所述N次中的每次发送过程中所对应的所述控制器的参数的值不同;N为大于1的正整数且M为正整数;
所述控制器获取在所述环境下使所述存储器接收的信号的时序裕量最大的所述第三值,包括:接收所述存储器经所述M根传输线发送的信号;获取通过所述每根传输线发送的信号能够被所述控制器正确解码时所对应的所述存储设备的参数的值的集合,共获得M个集合;获取M个所述集合的交集;计算所述交集中的所述存储设备的参数的值的平均值,并将所述平均值作为所述第三值。
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