CN1064545A - 荧光图像光密度计 - Google Patents
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Abstract
本发明的荧光图像光密度计在实现按飞点方式
扫描时对位置分布进行修正。
在修正表54中存储着装着加入荧光剂的TLC
片作为测定片时的荧光测定值，运算部56将测定样
品片时的荧光强度除以相同扫描位置的修正数据，而
得到经位置分布修正后的荧光强度。
若用以扫描激励光的范围的中央位置作基准的
相对值作为修正表的数据，则所得的信号有在样品片
扫描中央点的荧光测定值作为单位从而数据处理上
方便。
Description
本发明涉及对二维展开于TLC片（薄膜色谱分析片）上含有经荧光标记了的磷脂质等样品点的样品片进行测定的二维荧光光密度计。
作为测定展开于TLC片上的样品的二维光密度计，有测定光在TLC片上往复扫描，并在与此正交的方向上平移来进行测定的飞点扫描方式的光密度计。
而且这样的光密度计是由经过样品的测定光的反射光和透射光来测定其吸光度的。
作为飞点扫描方式，有如实施例图1所示的，由与中心的距离一致变化的螺旋状光缝Sr，和具有该螺旋状光缝Sr的在光缝圆板24的半径方向上延伸并与螺旋状光缝Sr配合的固定光缝Sfix来限制光束，通过螺旋状光缝Sr的往复旋转运动而使样品面上的光束沿左右方向显示的方式。使光束在样品面上显示的场合，光束根据扫描方向的位置具有强度不同的所谓位置分布。光束之所以有位置分布，可考虑为是螺旋状光缝的槽穴宽的不均匀性，光学系统的属性特别是照射到固定光缝Sfix上光的强度分布或使光束沿左右方向显示的场合由于光路倾斜而使入射到探测器的光通量变化等原因。
这样的位置分布对于从样品发出的反射光和透射光测定吸光度的光密度计例如可由半透半反镜取出照射光的一部分来进行监测。
可考虑将对展开于样品片上的样品成分进行荧光标记的荧光图光密度计用作为光密度计。通过荧光标记样品成品、由激励光激励样品测定其荧光，能比已有的测定吸光度的方法进行高灵敏度的测 定。然而对于荧光图光密度计按已有的方式是无法修正位置分布。
本发明目的在于在按飞点扫描方式实现荧光图光密计时修正位置分布。
在本发明中，作出激励光强度的修正表，通过用修正表的值除从样品发出的荧光，进行位置分布修正，并除掉位置分布成分。除去位置分布成分用的修正表例如通过测定加入荧光剂的TLC片而得到。
为此本发明中包括：对测定片扫描照射激励光束的激励光学系统;检测从测定片的激励光照射位置发出的荧光的荧光检测系统;将至少在激励光扫描范围内一样地加入荧光剂的片装上作为测定片，将测定时的荧光数据与测定片上的扫描方向的位置信息一起存储的修正表;将样品片装上作为测定片将测定时的荧光检测数据由存储于所述修正表中的测定片上扫描方向的同一位置的荧光数据除去的运算部。
图1是示出一实施例的构成图。
图2是示出光束扫描的激励光强度的位置分布的图。
图3是示出测定样品片时的荧光强度的图。
图4是示出位置分布修正功能的框图。
图5是示出飞点方式的扫描的图。
图6是示出作出修正表顺序的流程图。
图7是示出测定样品的流程图。
其中，26为步进电机，24为圆板，Sr为螺旋状光缝，Sfix为固定光缝，34为测定片，40为荧光滤光片，42为荧光用光电倍增管，46为Ⅳ变换器，48为A-D变换器，50为CPU，52为电机驱动电路，54为修正表，56为运算部。
图1表示第一实施例。
10为卤钨灯，12为氘灯，备有2种灯作为光源。14为光源切换 镜，用来将从10或12任一灯发出的光作为激励光。16为切换滤光片，可在光路中插入使激励光成分的光透过的滤光片。18为分光器的入口光缝，20为准直面镜，22为衍射光栅。分光器的出口光缝是螺旋状光缝Sr与固定光缝Sfix。螺旋状光缝Sr形成在圆板24上，螺旋状光缝Sr可设计为从圆板24的中心的距离相对于旋转角单调变化的形状。在圆板24上除了螺旋状光缝Sr以外还图示了孔穴尺寸相异的几个光缝25。这些固定光缝25是在固定照射光束进行测定的情况下停下圆板24而被使用的。圆板24在以飞点扫描方式使用时在激励光透过螺旋状光缝Sr的范围内可在往复方向上旋转驱动。26是驱动圆板24的步进电机。螺旋状光缝Sr在与圆板24的半径方向上延伸的固定光缝Sfix重合。
从分光器发出的激励光经凹面镜30与平面镜32照射到测定片34上。在从面镜32至测定片34的激励光光路上配置了水晶窗板36作为半透明反射镜，由半透明反射镜36取出的一部分激励光可由监测用光电倍增管38监测。激励光入射到测定片34上，为测定从其激励部分发出的荧光经过可透过荧光而遮蔽激励光的滤光片40后配置着荧光用光电倍增管42。为测定测定片34的照射位置的透过光强度，在测定片的里面一侧还配置了透过用光电倍增管44。
测定荧光的光电倍增管42的检测输出由Ⅳ变换器变换为电压值，进一步由AD变换器48变换成数字信号后，可送到CPU50进行数据处理。CPU50还控制着步进电机26的驱动电路52。
照射测定片34的激励光有位置分布。位置分布是照射光束扫描方向的位置x与激励光波长λ的函数f（x，λ）。装上加入荧光剂的TLC片作为测定片34，若以单位强度的光激励出的荧光强度为σ（λ），则按量子化效率式，荧光强度与激励光强度之间有比例关系，因而在由具有如图2所的位置分布强度f（x，λ）的光激励TLC片的埸合，其荧光强度就为σ（λ）f（x，λ）。
因而保持住σ（λ）f（x，λ）作为位置修正，并由此除荧光强度σ（λ）f（x，λ），则射到加入荧光剂的TLC片上的地方为1而获得一样的荧光强度。
接着在装上样品片作为测定片测定的埸合，若单位强度的光激励出的荧光为g（x，λ），g（x，λ）是例如图3中所示的那样。由于激励光的位置分布，由光密度计获得的信号为g（x，λ）f（x，λ）。由预先存储好的位置分布修正表的相同位置的值除这，就会为，
g（x，λ）f（x，λ）/σ（λ）f（x，λ）＝g（x，λ）/σ（λ）
成为如使用了完全一样的光源后的比例系数。
为进行位置分布修正CPU50如图4所示，完成修正表54与运算部56的功能。在修正表54中存储装上加入荧光剂的TLC片作为测定片后的荧光测定值。运算部56将测定出样品片的荧光强度除以相同扫描位置的修正表的值从而得到经位置分布修正后的荧光强度。
用于修正表54与运算部56的扫描方向的位置数据可在CPU50中从用来控制步进电机26的数据获得。
图5中示出了飞点扫描方式的激励光扫描的例子。
在TLC片58固定的状态下对激励光沿x方向扫描。若在1次扫描中在51点上进行荧光测定，则第26点就是扫描的中心点x方向1次扫描结束，接着就使TLC片58在y方向上仅仅平移规定的距离，继续进行一x方向上的扫描，其后再使TLC片58在y方向上仅仅平移规定的距离，重复如上所述的折线状扫描。对TLC片作全面的这类扫描。
在位置分布修正表中，对应于x方向的1次扫描来存储x方向的位置数据与加入荧光剂TLC片的荧光强度作为修正数据。
图6中示出了修正表作成的顺序。
将加入荧光剂的TLC片装到测定片的位置，在x方向上扫描激励光测定数据，存储该值。若对它一分扫描结束前进行时，则使TLC片平移同样地扫描激励光测定数据。在重复该动作设定的次数后，相对x座标对测定数据进行平均处理，在修正表中存储其平均值。
图7表示了测定的顺序。
装上样品TLC片作为测定片，一边扫描一边测定数据，从修正表查询出相同位置的修正值进行除法运算，这在1分扫描结束前重复。1分扫描一结束就使样品TLC片在y方向上移动规定的一步，再在该y位置上一边扫描激励光一边重复测定与除法运算。
当在y方向上1分列的测定一结束，使样品TLC片在x方向上移动，再进行折线扫描并重复测定与除法运算。
对于存储在修正表中的荧光数据是可以用以在x方向上扫描的范围的中央位置作为基准的相对值数据。在x方向扫描的中央位置上的加入荧光剂的TLC片的荧光测定值为σ（λ）f（0，λ），任意点的荧光测定值σ（λ）f（x，λ）除以其中央点的荧光测定值后的值，即
σ（λ）f（x，λ）/σ（λ）f（0，λ）＝f（x，λ）/f（0，λ）
作为修正数据存储在修正表中。该场合相当于假定在中央无位置分布的情况，所得的信号有在样品TLC片的x方向扫描中央点的荧光测定值g（0，λ）f（0，λ）为单位，从而数据处理上方便。
在本发明中是对在光束扫描范围内一样地加上荧光剂的片测定把测出荧光数据作为修正值，除测定实际样品片时的荧光测定值来进行位置分布修正，因而在飞点扫描方式的光密度计中能实现荧光标记样品测定荧光并进行高灵敏度测定的荧光密度计，而使由位置分布产生的数据不随位置改变。
Claims (1)
1、一种飞点扫描方式的荧光图像光密度计，其特征在于包括：对测定片扫描照射激励光束的激励光学系统；检测从测定片的激励光照射位置发出的荧光的荧光检测系统；将至少在激励光扫描范围内一样地加入荧光剂的片装上作为测定片，将测定出的荧光数据与测定片上扫描方向的位置信息一起存储的修正表；将样品片装上作为测定片将测定出的荧光检测数据由存储于所述修正表中的测定片上扫描方向的同一位置的荧光数据除去的运算部。
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C19 | Lapse of patent right due to non-payment of the annual fee | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |