JPH04244947A - フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ - Google Patents
フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータInfo
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- JPH04244947A JPH04244947A JP3032508A JP3250891A JPH04244947A JP H04244947 A JPH04244947 A JP H04244947A JP 3032508 A JP3032508 A JP 3032508A JP 3250891 A JP3250891 A JP 3250891A JP H04244947 A JPH04244947 A JP H04244947A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N30/00—Investigating or analysing materials by separation into components using adsorption, absorption or similar phenomena or using ion-exchange, e.g. chromatography or field flow fractionation
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- G—PHYSICS
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はＴＬＣプレート（薄膜ク
ロマトグラフィープレート）上に二次元的に展開され蛍
光ラベルされた燐脂質などの試料スポットをもつ試料プ
レートを測定する二次元蛍光デンシトメトリーに関する
ものである。
ロマトグラフィープレート）上に二次元的に展開され蛍
光ラベルされた燐脂質などの試料スポットをもつ試料プ
レートを測定する二次元蛍光デンシトメトリーに関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】ＴＬＣプレートに展開された試料を測定
する二次元デンシトメータとしては、測定光をＴＬＣプ
レート上で往復方向に走査し、それと直交する方向にＴ
ＬＣプレートを移動させて測定を行なうフライングスポ
ット方式のデンシトメータがある。また、これまでのデ
ンシトメトリーは試料による測定光の反射光や透過光か
らその吸光度を測定するものである。
する二次元デンシトメータとしては、測定光をＴＬＣプ
レート上で往復方向に走査し、それと直交する方向にＴ
ＬＣプレートを移動させて測定を行なうフライングスポ
ット方式のデンシトメータがある。また、これまでのデ
ンシトメトリーは試料による測定光の反射光や透過光か
らその吸光度を測定するものである。
【０００３】フライングスポット方式としては、実施例
の図１に示されるような、中心からの距離が一様に変化
する螺旋状スリットＳｒと、その螺旋状スリットＳｒを
もつスリット円板２４の半径方向に延びて螺旋状スリッ
トＳｒと組み合わされた固定スリットＳｆｉｘとによっ
て光束を制限し、螺旋状スリットＳｒの往復回転運動に
よって試料面上の光束を左右に振る方式がある。試料面
上で光束を振る場合、光束が走査方向の場所によって強
度が異なる、いわゆるローカリティーをもつ。光束がロ
ーカリティーをもつのは、螺旋状スリットＳｒの溝穴の
幅の不均一さ、光学系の個性、特に固定スリットＳｆｉ
ｘ上に照射される光の強度分布、又は左右に光束を振っ
た場合の光路の傾きによる検出器への入射光量の変化な
どが原因であると考えられる。
の図１に示されるような、中心からの距離が一様に変化
する螺旋状スリットＳｒと、その螺旋状スリットＳｒを
もつスリット円板２４の半径方向に延びて螺旋状スリッ
トＳｒと組み合わされた固定スリットＳｆｉｘとによっ
て光束を制限し、螺旋状スリットＳｒの往復回転運動に
よって試料面上の光束を左右に振る方式がある。試料面
上で光束を振る場合、光束が走査方向の場所によって強
度が異なる、いわゆるローカリティーをもつ。光束がロ
ーカリティーをもつのは、螺旋状スリットＳｒの溝穴の
幅の不均一さ、光学系の個性、特に固定スリットＳｆｉ
ｘ上に照射される光の強度分布、又は左右に光束を振っ
た場合の光路の傾きによる検出器への入射光量の変化な
どが原因であると考えられる。
【０００４】このようなローカリティーは試料からの反
射光や透過光の吸光度を測定するデンシトメトリーにお
いては、例えば照射光の一部をハーフミラーなどで取り
出してモニタすることができる。
射光や透過光の吸光度を測定するデンシトメトリーにお
いては、例えば照射光の一部をハーフミラーなどで取り
出してモニタすることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】デンシトメトリーとし
ては、試料プレートに展開された試料成分を蛍光ラベル
する蛍光マッピングデンシトメータが考えられる。試料
成分を蛍光ラベルし、励起光により試料成分を励起して
その蛍光を測定することにより、従来の吸光度を測定す
る方法に比べて高感度な測定を行なうことができる。し
かし、蛍光マッピングデンシトメトリーにおいては、従
来の方式によりローカリティーを補正することはできな
い。本発明はフライングスポット方式による蛍光マッピ
ングデンシトメトリーを実現するに際してローカリティ
ーを補正することを目的とするものである。
ては、試料プレートに展開された試料成分を蛍光ラベル
する蛍光マッピングデンシトメータが考えられる。試料
成分を蛍光ラベルし、励起光により試料成分を励起して
その蛍光を測定することにより、従来の吸光度を測定す
る方法に比べて高感度な測定を行なうことができる。し
かし、蛍光マッピングデンシトメトリーにおいては、従
来の方式によりローカリティーを補正することはできな
い。本発明はフライングスポット方式による蛍光マッピ
ングデンシトメトリーを実現するに際してローカリティ
ーを補正することを目的とするものである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明では励起光強度の
補正テーブルを作成し、試料からの蛍光を補正テーブル
の値で除算することによってローカリティー補正を行な
い、ローカリティー成分を除去する。ローカリティー除
去のための補正テーブルは、例えば蛍光剤入りのＴＬＣ
プレートを測定することによって作成する。
補正テーブルを作成し、試料からの蛍光を補正テーブル
の値で除算することによってローカリティー補正を行な
い、ローカリティー成分を除去する。ローカリティー除
去のための補正テーブルは、例えば蛍光剤入りのＴＬＣ
プレートを測定することによって作成する。
【０００７】そのため、本発明では測定プレートに対し
て励起光ビームを走査して照射する励起光学系と、測定
プレートの励起光照射位置からの蛍光を検出する蛍光検
出系と、測定プレートとして少なくとも励起光走査範囲
内で蛍光剤が一様に付与されたプレートを装着して測定
したときの蛍光データを測定プレート上の走査方向の位
置の情報とともに記憶する補正テーブルと、測定プレー
トとして試料プレートを装着して測定したときの蛍光検
出データを前記補正テーブルに記憶されている測定プレ
ート上の走査方向の同一位置の蛍光データで除算する演
算部とを備える。
て励起光ビームを走査して照射する励起光学系と、測定
プレートの励起光照射位置からの蛍光を検出する蛍光検
出系と、測定プレートとして少なくとも励起光走査範囲
内で蛍光剤が一様に付与されたプレートを装着して測定
したときの蛍光データを測定プレート上の走査方向の位
置の情報とともに記憶する補正テーブルと、測定プレー
トとして試料プレートを装着して測定したときの蛍光検
出データを前記補正テーブルに記憶されている測定プレ
ート上の走査方向の同一位置の蛍光データで除算する演
算部とを備える。
【０００８】
【実施例】図１は一実施例を表わす。１０はタングステ
ンハロゲンランプ、１２は重水素ランプであり、光源と
して２種類のランプを備えている。１４は光源切換えミ
ラーであり、いずれかのランプ１０又は１２からの光を
励起光として用いるために使用される。１６はカットフ
ィルタであり、励起光成分の光を透過させるフィルタが
光路に挿入される。１８は分光器の入口スリット、２０
は分光器のコリメータミラー、２２は回折格子である。 分光器の出口スリットは螺旋状スリットＳｒと固定スリ
ットＳｆｉｘである。螺旋状スリットＳｒは円板２４に
形成されており、螺旋状スリットＳｒは円板２４の中心
からの距離が回転角に対して単調に変化する形状に設計
されている。円板２４には螺旋状スリットＳｒ以外にも
穴のサイズの異なる幾つかのスリット２５が図示されて
いる。それらの固定スリット２５は照射ビームを固定し
て測定する場合に円板２４を停止させて使用される。円
板２４はフライングスポット方式で使用されるときは励
起光が螺旋状スリットＳｒを透過する範囲で往復方向に
回転駆動される。２６は円板２４を駆動するステッピン
グモータである。螺旋状スリットＳｒには円板２４の半
径方向に延びる固定スリットＳｆｉｘが組み合わされて
いる。
ンハロゲンランプ、１２は重水素ランプであり、光源と
して２種類のランプを備えている。１４は光源切換えミ
ラーであり、いずれかのランプ１０又は１２からの光を
励起光として用いるために使用される。１６はカットフ
ィルタであり、励起光成分の光を透過させるフィルタが
光路に挿入される。１８は分光器の入口スリット、２０
は分光器のコリメータミラー、２２は回折格子である。 分光器の出口スリットは螺旋状スリットＳｒと固定スリ
ットＳｆｉｘである。螺旋状スリットＳｒは円板２４に
形成されており、螺旋状スリットＳｒは円板２４の中心
からの距離が回転角に対して単調に変化する形状に設計
されている。円板２４には螺旋状スリットＳｒ以外にも
穴のサイズの異なる幾つかのスリット２５が図示されて
いる。それらの固定スリット２５は照射ビームを固定し
て測定する場合に円板２４を停止させて使用される。円
板２４はフライングスポット方式で使用されるときは励
起光が螺旋状スリットＳｒを透過する範囲で往復方向に
回転駆動される。２６は円板２４を駆動するステッピン
グモータである。螺旋状スリットＳｒには円板２４の半
径方向に延びる固定スリットＳｆｉｘが組み合わされて
いる。
【０００９】分光器からの励起光は、凹面ミラー３０と
平面ミラー３２を経て測定プレート３４に照射される。 ミラー３２から測定プレート３４に至る励起光光路には
、水晶窓板３６がハーフミラーとして配置されており、
ハーフミラー３６で取り出された一部の励起光はモニタ
用光電子増倍管３８でモニタされる。測定プレート３４
に励起光が入射し、その励起部分からの蛍光を測定する
ために蛍光を透過させ励起光を遮蔽するフィルタ４０を
介して蛍光用光電子増倍管４２が配置されている。 測定プレート３４の照射位置の透過光強度を測定するた
めに、測定プレートの裏面側には透過用光電子増倍管４
４も配置されている。
平面ミラー３２を経て測定プレート３４に照射される。 ミラー３２から測定プレート３４に至る励起光光路には
、水晶窓板３６がハーフミラーとして配置されており、
ハーフミラー３６で取り出された一部の励起光はモニタ
用光電子増倍管３８でモニタされる。測定プレート３４
に励起光が入射し、その励起部分からの蛍光を測定する
ために蛍光を透過させ励起光を遮蔽するフィルタ４０を
介して蛍光用光電子増倍管４２が配置されている。 測定プレート３４の照射位置の透過光強度を測定するた
めに、測定プレートの裏面側には透過用光電子増倍管４
４も配置されている。
【００１０】蛍光を測定する光電子増倍管４２の検出出
力はＩＶ変換器４６で電圧値に変換され、さらにＡＤ変
換器４８によってデジタル信号に変換された後、ＣＰＵ
５０に取り込まれてデータ処理される。ＣＰＵ５０はま
た、ステッピングモータ２６の駆動回路５２も制御して
いる。
力はＩＶ変換器４６で電圧値に変換され、さらにＡＤ変
換器４８によってデジタル信号に変換された後、ＣＰＵ
５０に取り込まれてデータ処理される。ＣＰＵ５０はま
た、ステッピングモータ２６の駆動回路５２も制御して
いる。
【００１１】測定プレート３４を照射する励起光はロー
カリティーをもつ。ローカリティーは照射ビームの走査
方向の位置ｘと励起光波長λの関数ｆ（ｘ，λ）となる
。測定プレート３４として蛍光剤入りＴＬＣプレートを
装着し、単位強度の光で励起したときの蛍光強度をσ（
λ）とすると、量子化効率の式により、蛍光強度と励起
光強度の間には比例関係があるから、図２に示されるよ
うなローカリティーをもった強度ｆ（ｘ，λ）の光でＴ
ＬＣプレートを励起した場合、その蛍光強度はσ（λ）
ｆ（ｘ，λ）となる。したがって、σ（λ）ｆ（ｘ，λ
）をローカリティー補正に保持しておき、これで蛍光強
度σ（λ）ｆ（ｘ，λ）を割ると、蛍光剤入りＴＬＣプ
レート上の至る所で１となって一様な蛍光強度が得られ
る。
カリティーをもつ。ローカリティーは照射ビームの走査
方向の位置ｘと励起光波長λの関数ｆ（ｘ，λ）となる
。測定プレート３４として蛍光剤入りＴＬＣプレートを
装着し、単位強度の光で励起したときの蛍光強度をσ（
λ）とすると、量子化効率の式により、蛍光強度と励起
光強度の間には比例関係があるから、図２に示されるよ
うなローカリティーをもった強度ｆ（ｘ，λ）の光でＴ
ＬＣプレートを励起した場合、その蛍光強度はσ（λ）
ｆ（ｘ，λ）となる。したがって、σ（λ）ｆ（ｘ，λ
）をローカリティー補正に保持しておき、これで蛍光強
度σ（λ）ｆ（ｘ，λ）を割ると、蛍光剤入りＴＬＣプ
レート上の至る所で１となって一様な蛍光強度が得られ
る。
【００１２】次に、測定プレートとして試料プレートを
装着して測定する場合、単位強度の光で励起したときの
蛍光をｇ（ｘ，λ）とすると、ｇ（ｘ，λ）は例えば図
３に示されるようなものになる。励起光のローカリティ
ーにより、デンシトメータで得られる信号はｇ（ｘ，λ
）ｆ（ｘ，λ）になる。これを予め記憶しておいたロー
カリティー補正テーブルの同じ位置の値で割ると、ｇ（
ｘ，λ）ｆ（ｘ，λ）／σ（λ）ｆ（ｘ，λ）＝ｇ（ｘ
，λ）／σ（λ）となり、全面一様な光源を使用したと
きと比例関係となる。
装着して測定する場合、単位強度の光で励起したときの
蛍光をｇ（ｘ，λ）とすると、ｇ（ｘ，λ）は例えば図
３に示されるようなものになる。励起光のローカリティ
ーにより、デンシトメータで得られる信号はｇ（ｘ，λ
）ｆ（ｘ，λ）になる。これを予め記憶しておいたロー
カリティー補正テーブルの同じ位置の値で割ると、ｇ（
ｘ，λ）ｆ（ｘ，λ）／σ（λ）ｆ（ｘ，λ）＝ｇ（ｘ
，λ）／σ（λ）となり、全面一様な光源を使用したと
きと比例関係となる。
【００１３】ローカリティー補正を行なうために、ＣＰ
Ｕ５０は、図４に示されるように、補正テーブル５４と
、演算部５６の機能を果たす。補正テーブル５４には測
定プレートとして蛍光剤入りのＴＬＣプレートを装着し
たときの蛍光測定値が記憶される。演算部５６は試料プ
レートを測定したときの蛍光強度を同じ走査位置の補正
テーブルの値で除算し、ローカリティー補正された蛍光
強度を得る。補正テーブル５４と演算部５６で用いる走
査方向の位置データはステッピングモータ２６を制御す
るためのデータからＣＰＵ５０内で得られる。
Ｕ５０は、図４に示されるように、補正テーブル５４と
、演算部５６の機能を果たす。補正テーブル５４には測
定プレートとして蛍光剤入りのＴＬＣプレートを装着し
たときの蛍光測定値が記憶される。演算部５６は試料プ
レートを測定したときの蛍光強度を同じ走査位置の補正
テーブルの値で除算し、ローカリティー補正された蛍光
強度を得る。補正テーブル５４と演算部５６で用いる走
査方向の位置データはステッピングモータ２６を制御す
るためのデータからＣＰＵ５０内で得られる。
【００１４】フライングスポット方式の励起光の走査の
例を図５に示す。ＴＬＣプレート５８を固定した状態で
励起光をｘ方向に走査する。１回の走査中に５１ポイン
トで蛍光測定を行なうものとすると、２６ポイント目が
走査の中心点となる。ｘ方向の１回の走査が終わると、
次にＴＬＣプレート５８がｙ方向に所定の距離だけ移動
させられ、続いて−ｘ方向への走査が行なわれ、その後
再びＴＬＣプレート５８が所定の距離だけｙ方向に移動
させられるというように、ジクザク状に走査が繰り返さ
れていく。ＴＬＣプレート５８の全面にわたってこのよ
うな走査がなされる。ローカリティー補正テーブル５４
には、ｘ方向の１回の走査に対してｘ方向の位置データ
と蛍光剤入りＴＬＣプレートの蛍光強度とが補正データ
として記憶される。
例を図５に示す。ＴＬＣプレート５８を固定した状態で
励起光をｘ方向に走査する。１回の走査中に５１ポイン
トで蛍光測定を行なうものとすると、２６ポイント目が
走査の中心点となる。ｘ方向の１回の走査が終わると、
次にＴＬＣプレート５８がｙ方向に所定の距離だけ移動
させられ、続いて−ｘ方向への走査が行なわれ、その後
再びＴＬＣプレート５８が所定の距離だけｙ方向に移動
させられるというように、ジクザク状に走査が繰り返さ
れていく。ＴＬＣプレート５８の全面にわたってこのよ
うな走査がなされる。ローカリティー補正テーブル５４
には、ｘ方向の１回の走査に対してｘ方向の位置データ
と蛍光剤入りＴＬＣプレートの蛍光強度とが補正データ
として記憶される。
【００１５】図６に補正テーブルを作成する手順を示す
。蛍光剤入りのＴＬＣプレートを測定プレートの位置に
装着し、ｘ方向に励起光を走査してデータを測定し、そ
の値を記憶していく。これを１走査分終了するまで行な
うと、ＴＬＣプレートを移動させて、同じように励起光
を走査してデータを測定していく。これを設定された回
数繰り返した後に、ｘ座標ごとに測定データを平均化処
理し、その平均値を補正テーブルに記憶する。
。蛍光剤入りのＴＬＣプレートを測定プレートの位置に
装着し、ｘ方向に励起光を走査してデータを測定し、そ
の値を記憶していく。これを１走査分終了するまで行な
うと、ＴＬＣプレートを移動させて、同じように励起光
を走査してデータを測定していく。これを設定された回
数繰り返した後に、ｘ座標ごとに測定データを平均化処
理し、その平均値を補正テーブルに記憶する。
【００１６】図７は測定の手順を表わしている。測定プ
レートとして試料ＴＬＣプレートを装着し、走査しなが
らデータ測定し、同じ位置の補正値を補正テーブルから
呼び出して除算演算し、これを１走査分終了するまで繰
り返す。１走査分が終了すると試料ＴＬＣプレートをｙ
方向に所定の１ステップ移動させ、そのｙ位置で再び励
起光を走査させながら測定と除算演算を繰り返す。ｙ方
向について１ライン分の測定が終了すると、試料ＴＬＣ
プレートをｘ方向に移動させて、再びジグザク走査を行
なって測定と除算演算を繰り返す。
レートとして試料ＴＬＣプレートを装着し、走査しなが
らデータ測定し、同じ位置の補正値を補正テーブルから
呼び出して除算演算し、これを１走査分終了するまで繰
り返す。１走査分が終了すると試料ＴＬＣプレートをｙ
方向に所定の１ステップ移動させ、そのｙ位置で再び励
起光を走査させながら測定と除算演算を繰り返す。ｙ方
向について１ライン分の測定が終了すると、試料ＴＬＣ
プレートをｘ方向に移動させて、再びジグザク走査を行
なって測定と除算演算を繰り返す。
【００１７】補正テーブルに記憶する蛍光データとして
は、ｘ方向に励起光を走査する範囲の中央の位置を基準
とする相対値のデータを用いることができる。ｘ方向の
走査の中央の位置での蛍光剤入りＴＬＣプレートの蛍光
測定値はσ（λ）ｆ（０，λ）であり、任意の点の蛍光
測定値σ（λ）ｆ（ｘ，λ）をその中央の点の蛍光測定
値で割算した値、すなわちσ（λ）ｆ（ｘ，λ）／σ（
λ）ｆ（０，λ）＝ｆ（ｘ，λ）／ｆ（０，λ）を補正
データとして補正テーブルに記憶しておく。この場合は
中央でローカリティーがないと仮定した場合に相当し、
得られる信号は試料ＴＬＣプレートのＸ方向の走査の中
央の点での蛍光測定値ｇ（０，λ）ｆ（０，λ）と単位
があってデータ処理上好都合である。
は、ｘ方向に励起光を走査する範囲の中央の位置を基準
とする相対値のデータを用いることができる。ｘ方向の
走査の中央の位置での蛍光剤入りＴＬＣプレートの蛍光
測定値はσ（λ）ｆ（０，λ）であり、任意の点の蛍光
測定値σ（λ）ｆ（ｘ，λ）をその中央の点の蛍光測定
値で割算した値、すなわちσ（λ）ｆ（ｘ，λ）／σ（
λ）ｆ（０，λ）＝ｆ（ｘ，λ）／ｆ（０，λ）を補正
データとして補正テーブルに記憶しておく。この場合は
中央でローカリティーがないと仮定した場合に相当し、
得られる信号は試料ＴＬＣプレートのＸ方向の走査の中
央の点での蛍光測定値ｇ（０，λ）ｆ（０，λ）と単位
があってデータ処理上好都合である。
【００１８】
【発明の効果】本発明では光束走査範囲内で蛍光剤が一
様に付与されたプレートを測定したときの蛍光データを
補正値とし、実際の試料プレートを測定したときの蛍光
測定値を除算してローカリティー補正を行なうので、フ
ライングスポット方式のデンシトメトリーにおいて試料
を蛍光ラベルし蛍光を測定して高感度な測定を行なう蛍
光デンシトメトリーを、ローカリティーによって生じる
データの位置による変動をなくして実現することができ
る。
様に付与されたプレートを測定したときの蛍光データを
補正値とし、実際の試料プレートを測定したときの蛍光
測定値を除算してローカリティー補正を行なうので、フ
ライングスポット方式のデンシトメトリーにおいて試料
を蛍光ラベルし蛍光を測定して高感度な測定を行なう蛍
光デンシトメトリーを、ローカリティーによって生じる
データの位置による変動をなくして実現することができ
る。
【図１】一実施例を示す構成図である。
【図２】光束の走査における励起光強度のローカリティ
ーを示す図である。
ーを示す図である。
【図３】試料プレートを測定したときの蛍光強度を示す
図である。
図である。
【図４】ローカリティー補正の機能を示すブロック図で
ある。
ある。
【図５】フライングスポット方式の走査を示す図である
。
。
【図６】補正テーブル作成手順を示すフローチャート図
である。
である。
【図７】試料測定を示すフローチャート図である。
２６ ステッピングモータ２４
円板 Ｓｒ 螺旋状スリット Ｓｆｉｘ 固定スリット ３４ 測定プレート ４０ 蛍光フィルタ ４２ 蛍光用光電子増倍管４６
ＩＶ変換器 ４８ ＡＤ変換器 ５０ ＣＰＵ ５２ モータ駆動回路 ５４ 補正テーブル ５６ 演算部
円板 Ｓｒ 螺旋状スリット Ｓｆｉｘ 固定スリット ３４ 測定プレート ４０ 蛍光フィルタ ４２ 蛍光用光電子増倍管４６
ＩＶ変換器 ４８ ＡＤ変換器 ５０ ＣＰＵ ５２ モータ駆動回路 ５４ 補正テーブル ５６ 演算部
Claims (1)
- 【請求項１】 測定プレートに対して励起光ビームを
走査して照射する励起光学系と、測定プレートの励起光
照射位置からの蛍光を検出する蛍光検出系と、測定プレ
ートとして少なくとも励起光走査範囲内で蛍光剤が一様
に付与されたプレートを装着して測定したときの蛍光デ
ータを測定プレート上の走査方向の位置の情報とともに
記憶する補正テーブルと、測定プレートとして試料プレ
ートを装着して測定したときの蛍光検出データを前記補
正テーブルに記憶されている測定プレート上の走査方向
の同一位置の蛍光データで除算する演算部とを備えたフ
ライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメー
タ。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3032508A JPH06100545B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ |
| CN92100398.6A CN1034241C (zh) | 1991-01-31 | 1992-01-20 | 荧光图像光密度计 |
| US07/827,219 US5243401A (en) | 1991-01-31 | 1992-01-30 | Fluorescent image densitometer of flying spot system |
| DE69209860T DE69209860T2 (de) | 1991-01-31 | 1992-01-31 | Fluoreszenzbild-Densitometer mit Lichtpunktsystem |
| EP92101626A EP0497372B1 (en) | 1991-01-31 | 1992-01-31 | Fluorescent image densitometer of flying spot system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3032508A JPH06100545B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04244947A true JPH04244947A (ja) | 1992-09-01 |
| JPH06100545B2 JPH06100545B2 (ja) | 1994-12-12 |
Family
ID=12360930
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3032508A Expired - Lifetime JPH06100545B2 (ja) | 1991-01-31 | 1991-01-31 | フライングスポット方式による蛍光イメージデンシトメータ |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5243401A (ja) |
| EP (1) | EP0497372B1 (ja) |
| JP (1) | JPH06100545B2 (ja) |
| CN (1) | CN1034241C (ja) |
| DE (1) | DE69209860T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN101113959B (zh) * | 2006-07-27 | 2010-12-15 | 上海英迈吉东影图像设备有限公司 | 一种用于射线成像的飞点形成装置及方法 |
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| JPS545988B2 (ja) * | 1973-04-16 | 1979-03-23 | ||
| US3924948A (en) * | 1973-12-17 | 1975-12-09 | Kontes Glass Co | Densitometer for use in quantitative thin layer chromatographic analysis |
| JPS5126595A (en) * | 1974-08-29 | 1976-03-04 | Shimadzu Corp | Denshitomeeta no beesurainhoseisochi |
| US4117338A (en) * | 1977-05-24 | 1978-09-26 | Corning Glass Works | Automatic recording fluorometer/densitometer |
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-
1991
- 1991-01-31 JP JP3032508A patent/JPH06100545B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
1992
- 1992-01-20 CN CN92100398.6A patent/CN1034241C/zh not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-30 US US07/827,219 patent/US5243401A/en not_active Expired - Lifetime
- 1992-01-31 DE DE69209860T patent/DE69209860T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1992-01-31 EP EP92101626A patent/EP0497372B1/en not_active Expired - Lifetime
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| US7053384B2 (en) | 2000-06-07 | 2006-05-30 | Roche Molecular Systems, Inc. | Reference device for evaluating the performance of a confocal laser scanning microscope, and a method and system for performing that evaluation |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN1064545A (zh) | 1992-09-16 |
| US5243401A (en) | 1993-09-07 |
| CN1034241C (zh) | 1997-03-12 |
| EP0497372B1 (en) | 1996-04-17 |
| JPH06100545B2 (ja) | 1994-12-12 |
| EP0497372A1 (en) | 1992-08-05 |
| DE69209860T2 (de) | 1996-11-28 |
| DE69209860D1 (de) | 1996-05-23 |
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