CN105973913B - 一种应用于集成电路检测的筛选装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种应用于集成电路检测的筛选装置，其检测机架包括两根横向的底杆，底杆之间固定连接有若干根纵向的连杆，底杆的两端设有侧支架，侧支架由两根竖直杆和一根水平杆组成，侧支架的水平杆的两端固定在侧支架的竖直杆的顶端，侧支架的竖直杆的底端分别固定在两根底杆上，侧支架之间有翻转支架，翻转支架包括两个内齿圈，内齿圈相对的两侧设有横梁，横梁的两端分别固定在两个内齿圈上，内齿圈上啮合有小齿轮，小齿轮通过连轴铰接在侧支架的水平杆上，所述内齿圈下部两侧的外壁上抵靠有轴承，轴承通过螺栓铰接在侧支架水平杆的两端；它能对集成电路板进行筛选，保证集成电路板正面朝上，以便后续的工业相机进行外观检测。

Description

一种应用于集成电路检测的筛选装置
技术领域：
本发明涉及集成电路检测装置的技术领域，更具体地说涉及一种应用于集成电路检测的筛选装置。
背景技术：
集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。而集成电路在生产过程中均要想进行检测，其检测包括性能检测和外观检测，外观检测的项目包括会造成集成电路性能问题的划痕、凹陷的缺陷，而现有的集成电路的外观检测通过目测完成或工业相机进行检测，而通过工业相机检测时，则需要将集成电路板的正面朝上，即安装有电容元件的一面朝上，从而需要进行筛选。
发明内容：
本发明的目的就是针对现有技术之不足，而提供了一种应用于集成电路检测的筛选装置，能对集成电路板进行筛选，保证集成电路板正面朝上，以便后续的工业相机进行外观检测。
为实现上述目的，本发明的技术方案如下：
一种应用于集成电路检测的筛选装置，包括检测机架，检测机架包括两根横向的底杆，底杆之间固定连接有若干根纵向的连杆，底杆的两端设有侧支架，侧支架由两根竖直杆和一根水平杆组成，侧支架的水平杆的两端固定在侧支架的竖直杆的顶端，侧支架的竖直杆的底端分别固定在两根底杆上，侧支架之间有翻转支架，翻转支架包括两个内齿圈，内齿圈相对的两侧设有横梁，横梁的两端分别固定在两个内齿圈上，内齿圈上啮合有小齿轮，小齿轮通过连轴铰接在侧支架的水平杆上，所述内齿圈下部两侧的外壁上抵靠有轴承，轴承通过螺栓铰接在侧支架水平杆的两端；
所述的横梁上螺接有若干调节螺栓，调节螺栓的末端铰接在横向的槽轨上，槽轨和横梁在同一平面内，所述槽轨之间设有定位传感器，定位传感器包括第一发射器和第一接收器，第一发射器位于检测机架的上方并固定在‘冂’字形的定位支架上，定位支架由水平部和竖直部组成，定位支架竖直部的底端固定在检测机架上，所述的第一接收器固定在第一发射器正下方的连杆上，检测机架的两侧设有检测传感器，检测传感器包括第二发射器和第二接收器，第二发射器和第二接收器分别固定在两个调节支架上，调节支架固定在定位支架上。
所述定位支架的竖直部位于检测机架的两侧，定位支架的水平部位于检测机架的上方。
所述的调节支架包括支柱，支柱插接在定位支架的竖直部上并抵靠有锁紧螺栓，锁紧螺栓螺接在定位支架的竖直部上，支柱上固定连接有支杆，支杆上插套有‘回’字形的定位套，定位套通过螺钉固定在支杆上，所述的检测传感器包括第二发射器和第二接收器分别固定在定位套上。
所述槽轨的两端成型有向外侧弯曲的弧形导向，所述的调节螺栓呈线性均匀分布在弧形导向之间的槽轨上。
所述槽轨的长度小于横梁的长度，槽轨的两端未伸入内齿圈内。
所述侧支架上铰接有小齿轮的连轴的一端伸出侧支架固定连接有带轮。
本发明的有益效果在于：
它提供了一种应用于集成电路检测的筛选装置，能对集成电路板进行筛选，保证集成电路板正面朝上，以便后续的工业相机进行外观检测。
附图说明：
图1为发明立体的结构示意图；
图2为发明侧视的结构示意图；
图3为发明俯视的结构示意图。
图中：1、检测机架；1a、底杆；1b、连杆；1c、侧支架；2、翻转支架；2a、内齿圈；2b、横梁；3、调节螺栓；4、槽轨；4a、弧形导向；5、小齿轮；6、带轮；7、轴承；8、定位传感器；8a、第一发射器；8b、第一接收器；9、定位支架；10、调节支架；10a、柱；10b、支杆；10c、定位套；11、检测传感器；11a、第二发射器；11b、第二接收器；12、锁紧螺栓。
具体实施方式：
实施例：见图1、2、3所示，一种应用于集成电路检测的筛选装置，包括检测机架1，检测机架1包括两根横向的底杆1a，底杆1a之间固定连接有若干根纵向的连杆1b，底杆1a的两端设有侧支架1c，侧支架1c由两根竖直杆和一根水平杆组成，侧支架1c的水平杆的两端固定在侧支架1c的竖直杆的顶端，侧支架1c的竖直杆的底端分别固定在两根底杆1a上，侧支架1c之间有翻转支架2，翻转支架2包括两个内齿圈2a，内齿圈2a相对的两侧设有横梁2b，横梁2b的两端分别固定在两个内齿圈2a上，内齿圈2a上啮合有小齿轮5，小齿轮5通过连轴铰接在侧支架1c的水平杆上，所述内齿圈2a下部两侧的外壁上抵靠有轴承7，轴承7通过螺栓铰接在侧支架1c水平杆的两端；
所述的横梁2b上螺接有若干调节螺栓3，调节螺栓3的末端铰接在横向的槽轨4上，槽轨4和横梁2b在同一平面内，所述槽轨4之间设有定位传感器8，定位传感器8包括第一发射器8a和第一接收器8b，第一发射器8a位于检测机架1的上方并固定在‘冂’字形的定位支架9上，定位支架9由水平部和竖直部组成，定位支架9竖直部的底端固定在检测机架1上，所述的第一接收器8b固定在第一发射器8a正下方的连杆1b上，检测机架1的两侧设有检测传感器11，检测传感器11包括第二发射器11a和第二接收器11b，第二发射器11a和第二接收器11b分别固定在两个调节支架10上，调节支架10固定在定位支架9上。
所述定位支架9的竖直部位于检测机架1的两侧，定位支架9的水平部位于检测机架1的上方。
所述的调节支架10包括支柱10a，支柱10a插接在定位支架9的竖直部上并抵靠有锁紧螺栓12，锁紧螺栓12螺接在定位支架9的竖直部上，支柱10a上固定连接有支杆10b，支杆10b上插套有‘回’字形的定位套10c，定位套10c通过螺钉固定在支杆10b上，所述的检测传感器11包括第二发射器11a和第二接收器11b分别固定在定位套10c上。
所述槽轨4的两端成型有向外侧弯曲的弧形导向4a，所述的调节螺栓3呈线性均匀分布在弧形导向4a之间的槽轨4上。
所述槽轨4的长度小于横梁2b的长度，槽轨4的两端未伸入内齿圈2a内。
所述侧支架1c上铰接有小齿轮5的连轴的一端伸出侧支架1c固定连接有带轮6。
工作原理：本发明为集成电路检测的筛选装置，是工业相机进行外观检测的前一道工序，本筛选装置的主要作用是实现集成电路板的正面朝上，以便外观检测，检测方式为，集成电路板进入槽轨4内，当定位传感器8检测到集成电路板，停止集成电路板的输送，而检测传感器11设置在槽轨4的上方，检测传感器11的第二接收器11b接收到第二发射器11a所发射的光线，则就表明未被集成电路板上的电容等元器件所阻挡，则表示集成电路板是反面的，则驱使翻转支架2翻转集成电路板在输出，反之则直接输出。

Claims (6)

1.一种应用于集成电路检测的筛选装置，包括检测机架(1)，检测机架(1)包括两根横向的底杆(1a)，底杆(1a)之间固定连接有若干根纵向的连杆(1b)，底杆(1a)的两端设有侧支架(1c)，侧支架(1c)由两根竖直杆和一根水平杆组成，侧支架(1c)的水平杆的两端固定在侧支架(1c)的竖直杆的顶端，侧支架(1c)的竖直杆的底端分别固定在两根底杆(1a)上，其特征在于：侧支架(1c)之间有翻转支架(2)，翻转支架(2)包括两个内齿圈(2a)，内齿圈(2a)相对的两侧设有横梁(2b)，横梁(2b)的两端分别固定在两个内齿圈(2a)上，内齿圈(2a)上啮合有小齿轮(5)，小齿轮(5)通过连轴铰接在侧支架(1c)的水平杆上，所述内齿圈(2a)下部两侧的外壁上抵靠有轴承(7)，轴承(7)通过螺栓铰接在侧支架(1c)水平杆的两端；
所述的横梁(2b)上螺接有若干调节螺栓(3)，调节螺栓(3)的末端铰接在横向的槽轨(4)上，槽轨(4)和横梁(2b)在同一平面内，所述槽轨(4)之间设有定位传感器(8)，定位传感器(8)包括第一发射器(8a)和第一接收器(8b)，第一发射器(8a)位于检测机架(1)的上方并固定在‘冂’字形的定位支架(9)上，定位支架(9)由水平部和竖直部组成，定位支架(9)竖直部的底端固定在检测机架(1)上，所述的第一接收器(8b)固定在第一发射器(8a)正下方的连杆(1b)上，检测机架(1)的两侧设有检测传感器(11)，检测传感器(11)包括第二发射器(11a)和第二接收器(11b)，第二发射器(11a)和第二接收器(11b)分别固定在两个调节支架(10)上，调节支架(10)固定在定位支架(9)上。
2.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路检测的筛选装置，其特征在于：所述定位支架(9)的竖直部位于检测机架(1)的两侧，定位支架(9)的水平部位于检测机架(1)的上方。
3.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路检测的筛选装置，其特征在于：所述的调节支架(10)包括支柱(10a)，支柱(10a)插接在定位支架(9)的竖直部上并抵靠有锁紧螺栓(12)，锁紧螺栓(12)螺接在定位支架(9)的竖直部上，支柱(10a)上固定连接有支杆(10b)，支杆(10b)上插套有‘回’字形的定位套(10c)，定位套(10c)通过螺钉固定在支杆(10b)上，所述的检测传感器(11)包括第二发射器(11a)和第二接收器(11b)分别固定在定位套(10c)上。
4.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路检测的筛选装置，其特征在于：所述槽轨(4)的两端成型有向外侧弯曲的弧形导向(4a)，所述的调节螺栓(3)呈线性均匀分布在弧形导向(4a)之间的槽轨(4)上。
5.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路检测的筛选装置，其特征在于：所述槽轨(4)的长度小于横梁(2b)的长度，槽轨(4)的两端未伸入内齿圈(2a)内。
6.根据权利要求1所述的一种应用于集成电路检测的筛选装置，其特征在于：所述侧支架(1c)上铰接有小齿轮(5)的连轴的一端伸出侧支架(1c)固定连接有带轮(6)。
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