CN105797977A - 电子元件检测装置 - Google Patents
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Abstract
一种电子元件检测装置,包含一加热单元、一传输单元、一检测单元,以及一筛选单元。该加热单元用于对电子元件加热。该传输单元包括一个轨道,以及一个能沿一个运作方向往复移动,并用于输送电子元件到该轨道的传输机构。该筛选单元包括一个筛选座,可自动地将检测合格与不合格的电子元件带动到不同的位置,从而可自动进行合格品与不合格品的分类。本发明对加热后的电子元件进行检测,能真实反应电子元件使用时的状况与实际使用需求。而且本发明上述各单元形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业,使作业流程连贯、快速且方便。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测装置,特别是涉及一种用于检测电子元件的结构、电性或其他特性的电子元件检测装置。
背景技术
已知的一种电子元件,其结构包含一盒体、数个设置于该盒体内的线圈,以及数个结合于该盒体上并连接所述线圈的接脚,所述接脚还用于与一电路板连接。依据所述接脚与该电路板间的结合方式,该电子元件可区分为双列直插封装件(dualin-linepackage,简称DIP)与表面接着件(surface-mountdevices,简称SMD)两种形式。无论是哪一种形态的电子元件,于生产制造后都必须进行外观检察、电性特性等检测,而且检测后还必须针对良品与不良品进行筛选分类。一般的检测设备通常仅单纯作检测,而良品与不良品的分类,是由线上的作业人员依检测结果将不良品挑出,此种以人员进行筛选的方式较耗时且麻烦,而且其检测与筛选过程的作业不连贯,较不符合现代讲究自动化、快速且精准的生产检验流程。此外,为了使检测结果更贴近使用需求,需要模拟电子元件实际使用时的环境进行检测,如此一来,也需要在检测设备上进行改良。
发明内容
本发明的目的在于提供一种可自动进行检测与筛选,作业流程连贯、快速、方便的电子元件检测装置。
本发明的电子元件检测装置,用于检测一个电子元件,并包含:一个加热单元、一个传输单元、一个检测单元,以及一个筛选单元。该加热单元包括一个用于对该电子元件加热的加热模组。该传输单元位于该加热单元一侧,并包括一个轨道,以及一个能沿一个运作方向往复移动,并用于将加热后的该电子元件输送到该轨道的传输机构。该检测单元位于该传输单元一侧并位于该加热单元的下游位置,该检测单元能检测自该轨道输送而来的该电子元件。该筛选单元位于该检测单元的下游位置,并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座,该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复移动,当该电子元件检测合格时,该筛选座带动该电子元件移动到该保留位置,当该电子元件检测不合格时,该筛选座带动该电子元件移动到该淘汰位置。
本发明的电子元件检测装置,该轨道沿一个传输方向延伸,该传输机构包括一个位于该加热模组上方的输送座,该输送座包括数个彼此间隔且沿该传输方向延伸的栅板,任两个相邻的栅板间界定出一个能容纳该电子元件的导沟,当该电子元件位于所述导沟的其中一个最靠近该轨道的该导沟,且该输送座自一个初始位置沿该运作方向朝一个靠向该轨道的传输位置移动时,该输送座能将该电子元件推动进入该轨道,使该电子元件能经由该轨道传输到该检测单元。
本发明的电子元件检测装置,该传输机构还包括一个连接该输送座并用于控制该输送座移动的第一动力模组,该输送座位于该传输位置时,能被该第一动力模组控制而往上抬升至一个第一位置,并沿该运作方向移动到该初始位置上方的一个第二位置,再由该第二位置下降回到该初始位置。
本发明的电子元件检测装置,该传输方向垂直该运作方向。
本发明的电子元件检测装置,该轨道自该加热单元的一侧延伸通过该检测单元与该筛选单元,该筛选座包括一个能连通该轨道以容纳该电子元件的容槽。
本发明的电子元件检测装置,该筛选座能沿该运作方向往复移动于该保留位置与该淘汰位置间,当该筛选座位于该淘汰位置时,该容槽的位置对应于该轨道。
本发明的电子元件检测装置,还包含一个载台,该载台包括间隔相对的一个上游侧与一个下游侧,以及一个朝上并自该上游侧往该下游侧逐渐向下倾斜的安装面,该安装面供该加热单元、该传输单元、该检测单元与该筛选单元安装。
本发明的有益效果在于:通过该加热单元加热电子元件,模拟电子元件使用时较高温的状态,再利用该检测单元进行检测,此种检测方式能真实反应电子元件使用时的状况与实际使用需求。而且该加热单元、该检测单元与该筛选单元形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业,使作业流程连贯、快速且方便。
附图说明
本发明的其他的特征及功效,将于参照图式的实施方式中清楚地呈现,其中:
图1是一未完整的俯视示意图,显示本发明电子元件检测装置的一实施例;
图2是该实施例的一未完整的侧视示意图;
图3是一立体分解图,主要显示该实施例的一输送座与一加热单元;
图4是一流程示意图,显示该输送座自一初始位置移动到一传输位置,再移动回到该初始位置的过程,同时显示该输送座带动数个电子元件移动至一轨道;
图5是一未完整的立体图,主要显示一个筛选单元;
图6是一未完整的俯视示意图,主要显示该筛选单元的一个筛选座位于一淘汰位置与一保留位置时的状态。
具体实施方式
参阅图1~4,本发明电子元件检测装置的一实施例,用于检测至少一个电子元件1,本实施例是以检测与输送数个电子元件1为例,每一电子元件1包括一本体11,以及数个位于该本体11上的接脚12。且该检测装置上游处连接一个供该电子元件1传输而来的入料通道21。本实施例的检测装置包含一载台3,以及安装在该载台3上的一加热单元4、一传输单元5、一检测单元6与一筛选单元7。
该载台3包括间隔相对的一个上游侧31与一个下游侧32,以及一个朝上并自该上游侧31往该下游侧32逐渐向下倾斜的安装面33。该加热单元4、该传输单元5、该检测单元6与该筛选单元7位于该安装面33上。
该加热单元4连接该入料通道21,并包括一个用于对该电子元件1加热的加热模组41。该加热模组41中设有数个可通电而升温的加热管(图未示)。该加热模组41包括一个朝上并供该电子元件1摆放的加热面411。
该传输单元5位于该加热单元4一侧,并包括一个沿一传输方向81长向延伸的轨道51,以及一个能沿一个运作方向82往复移动,并用于将加热后的该电子元件1输送到该轨道51的传输机构52。本实施例的该传输方向81是由前往后的方向,该运作方向82垂直该传输方向81,并且为左右方向。
该轨道51顺着该载台3的该安装面33而自该上游侧31往该下游侧32逐渐往下斜伸,并自该加热单元4的旁边延伸通过该检测单元6与该筛选单元7,此种设计使该电子元件1可通过其自身重力而自动顺着该轨道51往下游移动。
该传输机构52包括一个位于该加热模组41上方的输送座521,以及一个用于驱动该输送座521移动的第一动力模组522。该输送座521包括一个约呈四方框形的外框523,以及数个自该外框523朝下延伸并呈直立薄板片状的栅板524。所述栅板524彼此间隔且沿该传输方向81延伸,任两相邻的栅板524间界定出一沿该传输方向81延伸并能容纳该电子元件1的导沟525。所述导沟525中,最左边的该导沟525邻近该轨道51,最右边的该导沟525邻近该入料通道21。
该输送座521可受到该第一动力模组522驱动,进而在一初始位置(图1与图4第一道流程)与一传输位置(图4第二道流程)间移动。该输送座521在该初始位置时,最右边的该导沟525的位置对应于该入料通道21,而能承接来自于该入料通道21的电子元件1。在该传输位置时,最左边的该导沟525的位置对应该轨道51,能将最左边的该导沟525中的电子元件1送入该轨道51。
该第一动力模组522用于驱动该输送座521沿该运作方向82左右移动,也能驱动该输送座521上下移动。本实施例的第一动力模组522包括数个气压缸526、数个分别供所述气压缸526安装的滑轨、一连结所述气压缸526与该输送座521的夹持机构等元件。本发明实施时,不须限定该第一动力模组522的结构,因为在机械设备中,用于控制元件上下移动与左右移动的设计有许多种,而且此非本发明的改良重点。
该检测单元6位于该传输单元5一侧并位于该加热单元4的下游位置。该检测单元6能承接自该轨道51输送而来的该电子元件1,并对该电子元件1进行相关的电性检测。
参阅图1、5、6,该筛选单元7位于该检测单元6的下游位置,并包括一个沿该运作方向82左右向延伸的架杆71、一个可移动地安装在该架杆71上并能承接自该检测单元6输送而来的该电子元件1的筛选座72,以及一个用于驱动该筛选座72移动的第二动力模组73。该筛选座72包括一个沿该传输方向81延伸贯穿的容槽721。该筛选座72能被驱动而自动地沿该运作方向82往复移动,进而在一个保留位置(如图6假想线)与一个淘汰位置(如图1与图6实线)间转换。在该淘汰位置时,该筛选座72的位置对应于该轨道51。在该保留位置时,该筛选座72远离该轨道51,并移动到对应于一个出料通道22的位置。当该电子元件1检测合格时,该筛选座72带动该电子元件1移动到该保留位置,当该电子元件1检测不合格时,该筛选座72带动该电子元件1移动到该淘汰位置。该第二动力模组73可通过气压缸驱动运作的方式,控制该筛选座72移动。
参阅图1、3、4、6,本发明使用时,该入料通道21中可持续投入电子元件1,所述电子元件1能通过该输送座521带动而排列成数排电子元件组10(带动排列方式后续会有说明)。本实施例的每一排电子元件组10包括数个沿该传输方向81排列的所述电子元件1,该数排电子元件组10彼此间沿该运作方向82左右间隔排列,每一排电子元件组10可对应于该输送座521的其中一导沟525位置。本发明检测使用时,先利用该加热单元4加热所述电子元件1,使电子元件1温度升高,以模拟电子元件1使用时的温度。
当该输送座521自该初始位置(图4第一道流程)靠向该轨道51并移动到该传输位置(图4第二道流程)时,该输送座521可通过其栅板524将各个电子元件组10往左推动一格的距离。此时位于最左边的该导沟525移动到该轨道51上方,最左边的该导沟525中的电子元件1就可被该输送座521推动进入该轨道51,并顺着该轨道51传输到该检测单元6。接着,该输送座521受到该第一动力模组522控制而往上抬升至一个第一位置(图4第三道流程),并沿该运作方向82移动回到该初始位置上方的一个第二位置(图4第四道流程),再由该第二位置下降回到该初始位置(图4第五道流程),该输送座521的所述栅板524再度位于所述电子元件组10间,后续该输送座521可再被驱动而重复同样的移动,以陆续将每一排电子元件组10带动至该轨道51中。当然,本发明实施时,该输送座521一次也可以仅带动一个电子元件1进入该轨道51,不以一次带动数个为必要限制。
接着,所述电子元件1进入该检测单元6进行电性检测,各个电子元件1检测完毕后,再继续沿着该轨道51朝该筛选单元7移动。该筛选座72位于该淘汰位置(如图1与图6实线)时,该容槽721的位置对应于该轨道51而能承接自该轨道51输送而来的该电子元件1,此时不合格的电子元件1会通过该容槽721而顺着该轨道51继续往下游处移动。若该电子元件1检测合格,该筛选座72会沿该运作方向82往右移动到该保留位置(如图6假想线位置),合格的电子元件1就进入该出料通道22,以进行后续的流程或被收集起来。
补充说明所述电子元件1如何呈现多排排列于该加热单元4上。一开始该输送座521位于该初始位置,数个所述电子元件1经由入料通道21进入该输送座521位于最右边的该导沟525中,所述电子元件1排列于该加热单元4的该加热面411上,并且顺着导沟525自动排列成一排。接着该输送座521朝左移动一格至该传输位置,以将位于右边第一排的该电子元件组10往左推动一格,成为右边第二排,此时右边第一排的位置变空,该输送座521再自该传输位置往上升、右移、下降,回到该初始位置。接着入料通道21再传输数个电子元件1进入最右边的该导沟525,所述电子元件1成为右边第一排的电子元件组10,接着该输送座521再往左移动,以将最右边的该两排电子元件组10皆往左推动一格,成为右边第二排与第三排的电子元件组10。依此流程持续进行下去,最后就可使该加热单元4上布满数排所述电子元件组10。
综上所述,通过该加热单元4加热所述电子元件1,模拟电子元件1使用时较高温的状态,接着再利用该检测单元6进行检测,此种检测方式能真实反应电子元件1使用时的状况与实际使用需求。而且该加热单元4、该检测单元6与该筛选单元7间相互搭配,形成连贯且自动化的加热、检测与筛选作业,使作业流程连贯、快速且方便。
Claims (7)
1.一种电子元件检测装置,用于检测一个电子元件,其特征在于:该电子元件检测装置包含:一个加热单元、一个传输单元、一个检测单元,以及一个筛选单元,该加热单元包括一个用于对该电子元件加热的加热模组;该传输单元位于该加热单元一侧,并包括一个轨道,以及一个能沿一个运作方向往复移动,并用于将加热后的该电子元件输送到该轨道的传输机构;该检测单元位于该传输单元一侧并位于该加热单元的下游位置,该检测单元能检测自该轨道输送而来的该电子元件;该筛选单元位于该检测单元的下游位置,并包括一个能承接自该检测单元输送而来的该电子元件的筛选座,该筛选座能被驱动而自动地在一个保留位置与一个淘汰位置间往复移动,当该电子元件检测合格时,该筛选座带动该电子元件移动到该保留位置,当该电子元件检测不合格时,该筛选座带动该电子元件移动到该淘汰位置。
2.如权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于:该轨道沿一个传输方向延伸,该传输机构包括一个位于该加热模组上方的输送座,该输送座包括数个彼此间隔且沿该传输方向延伸的栅板,任两个相邻的栅板间界定出一个能容纳该电子元件的导沟,当该电子元件位于所述导沟的其中一个最靠近该轨道的该导沟,且该输送座自一个初始位置沿该运作方向朝一个靠向该轨道的传输位置移动时,该输送座能将该电子元件推动进入该轨道,使该电子元件能经由该轨道传输到该检测单元。
3.如权利要求2所述的电子元件检测装置,其特征在于:该传输机构还包括一个连接该输送座并用于控制该输送座移动的第一动力模组,该输送座位于该传输位置时,能被该第一动力模组控制而往上抬升至一个第一位置,并沿该运作方向移动到该初始位置上方的一个第二位置,再由该第二位置下降回到该初始位置。
4.如权利要求3所述的电子元件检测装置,其特征在于:该传输方向垂直该运作方向。
5.如权利要求1所述的电子元件检测装置,其特征在于:该轨道自该加热单元的一侧延伸通过该检测单元与该筛选单元,该筛选座包括一个能连通该轨道以容纳该电子元件的容槽。
6.如权利要求5所述的电子元件检测装置,其特征在于:该筛选座能沿该运作方向往复移动于该保留位置与该淘汰位置间,当该筛选座位于该淘汰位置时,该容槽的位置对应于该轨道。
7.如权利要求1至6中任一权利要求所述的电子元件检测装置,其特征在于:该电子元件检测装置还包含一个载台,该载台包括间隔相对的一个上游侧与一个下游侧,以及一个朝上并自该上游侧往该下游侧逐渐向下倾斜的安装面,该安装面供该加热单元、该传输单元、该检测单元与该筛选单元安装。
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Granted publication date: 20180629 Termination date: 20210401 |
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