CN105785239B - Esd测试装置及esd测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种ESD测试装置及ESD测试方法，该装置包括测试模块(1)、与所述测试模块(1)电性连接的选通模块(2)、以及与所述测试模块(1)和选通模块(2)均电性连接的显示模块(3)；所述测试模块(1)包括多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))、以及多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))，所述多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))与所述多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))串联，其能够通过选通模块(2)自动选通对应的输出通道，对测试点完成规定次数的ESD测试，简化测试过程，提升测试效率，并通过显示模块(3)实时记录并显示选通的输出通道位置，在ESD测试中断时，通过显示模块(3)快速准确的找到中断位置继续测试，实现中继功能。
Description
技术领域
本发明涉及静电放电测试技术领域，尤其涉及一种ESD测试装置及ESD测试方法。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。
薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)是当前平板显示的主要品种之一，所述薄膜晶体管液晶显示器通过一薄膜晶体管开关来控制数据信号的输入，进而控制画面显示。
具体地，请参阅图1，TFT-LCD主要驱动原理为，系统主板通过线材与印刷电路板200(Printed Circuit Board，PCB)上的连接器(connector)100相连接，R/G/B压缩信号、控制信号及驱动信号等数据经由印刷电路板200上的时序控制器(Timing Controller，TCON)处理后，通过源极端子(Source-Chip on Film，S-COF)300和栅极端子(Gate-Chip onFilm，G-COF)400与显示区500连接，从而使得LCD获得所需的信号，完成画面显示。
静电放电(Electro-Static Discharge，ESD)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移，TFT-LCD中的连接器100在插拔时不可避免的会产生静电，引起静电放电，产生的上千伏的瞬时电压，造成静电击伤，使得TFT-LCD无法正常工作。
为了避免静电击伤，在TFT-LCD的生产过程中需要进行ESD测试，随着用户对于产品可靠性要求的不断提高，以及系统客户对产品品质要求的不断严苛，ESD测试的标准也变得越来越严格。过去只需要针对几个点进行ESD测试，而现在则需要针对连接器的每一针(Pin)均进行ESD测试。而测试方法却还停留在利用转接板上的测试点，或者直接利用输入端柔性扁平线缆(Flexible Flat Cable，FFC)上面的焊盘(Pad)进行ESD测试。随着测试点数的增加，漏测和多测的风险也随之增加，且在测试过程中被外界干扰造成中断时，极易造成无法找到中断点，使得测试效率低下。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ESD测试装置及ESD测试方法，能够简化测试过程，提升测试效率，实时记录测试位置，实现中继功能。
为实现上述目的，本发明提供了一种ESD测试装置，包括：测试模块、与所述测试模块电性连接的选通模块、以及与所述测试模块和选通模块均电性连接的显示模块；
设M和N均为正整数，所述测试模块包括多条并联的输出通道、以及多条并联的测试通道，所述多条并联的输出通道与所述多条并联的测试通道串联；
所述显示模块与选通模块均与第M条测试通道电性连接。
所述每一测试通道均包括：一测试焊盘、以及一二极管，所述二极管的正极与所述测试焊盘电性连接，负极与所述输出通道电性连接。
所述每一输出通道上均设有与所述选通模块电性连接的选通开关，所述选通模块控制选通开关打开与关闭。
所述输出通道的数量大于等于待进行ESD测试的测试点的数量。
所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
本发明还提供一种ESD测试方法，包括如下步骤：
步骤1、提供一ESD测试装置，包括：测试模块、与所述测试模块电性连接的选通模块、以及与所述测试模块和选通模块均电性连接的显示模块；
设M和N均为正整数，所述测试模块包括多条并联的输出通道、以及多条并联的测试通道，所述多条并联的输出通道与所述多条并联的测试通道串联；
所述显示模块与选通模块均与第M条测试通道电性连接；
步骤2、将待进行ESD测试样品的多个测试点从第一条输出通道起分别电性连接至所述多条并联的输出通道，选通模块选通第一条输出通道，显示模块显示数为1；
步骤3、从第一条测试通道向第M条测试通道逐一接入放电信号对被选通的输出通道连接的测试点进行M次测试；
第M条测试通道接入放电信号时，所述选通模块接收到放电信号，选通下一条输出通道，所述显示模块接收到放电信号时，显示数加1；
步骤4、判断是否完成所有测试点的测试，完成则结束ESD测试，未完成则返回步骤3。
所述每一测试通道均包括：一测试焊盘、以及一二极管，所述二极管的正极与所述测试焊盘电性连接，负极与所述输出通道电性连接。
所述每一输出通道上均设有与所述选通模块电性连接的选通开关，所述选通模块通过提供对应的选通信号控制选通开关打开与关闭来完成输出通道的选通。
所述输出通道的数量大于等于待测试的测试点的数量，所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
ESD测试中断时，所述选通模块将保持中断时的选通的输出通道，显示模块将保持中断时的显示数。
本发明的有益效果：本发明提供了一种ESD测试装置，该装置包括测试模块、与所述测试模块电性连接的选通模块、以及与所述测试模块和选通模块均电性连接的显示模块；所述测试模块包括多条并联的输出通道、以及多条并联的测试通道，所述多条并联的输出通道与所述多条并联的测试通道串联，所述显示模块与选通模块均与最后一条测试通道电性连接，从而能够通过选通模块自动选通对应的输出通道，对测试点完成规定次数的ESD测试，简化测试过程，提升测试效率，并通过显示模块实时记录并显示选通的输出通道位置，在ESD测试中断时，通过显示模块快速准确的找到中断位置继续测试，实现中继功能。本发明提供的ESD测试方法，能够简化测试过程，提升测试效率，实时记录测试位置，实现中继功能。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为现有的TFT-LCD驱动结构示意图；
图2为本发明的ESD测试装置的电路示意图；
图3为本发明的ESD测试方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图2，本发明首先提供一种ESD测试装置，包括：测试模块1、与所述测试模块1电性连接的选通模块2、以及与所述测试模块1和选通模块2均电性连接的显示模块3；
设M和N均为正整数，所述测试模块1包括多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)、以及多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)，所述多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)与所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)串联；
其中，多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)用于分别与待进行ESD测试测样品的多个测试点电性连接，每一个输出通道对应连接一个测试点；所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)用于依次对被选通的输出通道所连接的测试点进行测试。
具体地，所述每一测试通道均包括：一测试焊盘P、以及一二极管D，所述二极管D的正极与所述测试焊盘P电性连接，负极与所述输出通道电性连接。所述每一输出通道上均设有与所述选通模块2电性连接的选通开关SW，所述选通模块2通过提供对应的选通信号控制选通开关SW打开与关闭来完成输出通道的选通。所述输出通道的数量大于等于待进行ESD测试的测试点的数量。所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
所述显示模块1与选通模块2均与第M条测试通道TP(M)电性连接，从而使得所述显示模块3与选通模块2能够对当前接入的测试点的测试情况进行反应并记录。
具体地，进行ESD测试时，所述多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)分别电性连接至多个测试点，一条输出通道电性连接一个测试点，所述选通模块2选通第一条输出通道OUT(1)，显示模块3的显示数为1，所述选通模块2每次接收到放电信号时，选通下一条输出通道，所述显示模块3每次接收到放电信号时，显示数加1，也即上一条输出通道测试结束时，选通模块2将自动切换到下一条测试通道，显示模块3同时记录下当前测试位置。
具体地，所述选通开关SW由N型TFT、P型TFT的一种或多种组合而成，选通模块2提供选通信号给选通开关SW控制其导通与关闭，各条输出通道上的选通开关SW的选通信号各不相同。如图2所示，所述选通模块2包括第一选通信号输入通道A和第二选通信号输入通道B，第一条输出通道OUT(1)的选通开关SW为两个串联的P型TFT，第一个P型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接第二个P型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，第二个P型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第二条输出通道OUT(2)的选通开关SW为串联的一P型TFT和一N型TFT，其中，P型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接N型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，N型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第三条输出通道OUT(3)的选通开关SW为串联的一N型TFT和一P型TFT，其中，N型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接P型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，P型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第N条输出通道OUT(N)的选通开关SW为两个串联的N型TFT，第一个N型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接第二个N型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，第二个N型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)。第一条输出通道OUT(1)、第二条输出通道OUT(2)、第三条输出通道OUT(3)、及第N条输出通道OUT(N)对应的选通信号分别为00、01、10、11，即第一选通信号输入通道A和第二选通信号输入通道B提供的电位分别为低低、低高、高低、高高。ESD测试开始时，所述选通模块2提供00信号选通第一条输出通道OUT(1)，显示模块3显示数字“1”，随后，所述选通模块2接收到放电信号，所述选通模块2提供01信号选通第二条输出通道OUT(2)，所述显示模块3接收到放电信号时，显示模块3显示数字“2”，再然后，所述选通模块2又一次接收到放电信号，所述选通模块2提供10信号选通第三条输出通道OUT(3)，所述显示模块3又一次接收到放电信号，显示模块3显示数字“3”；依次类推直至第N条输出通道OUT(N)。上述选通开关及其选通信号仅为示例，通过增加N型TFT、P型TFT、及选通信号输入通道可实现不同数目的选通开关及其选通信号的组合。
此外，每选通一条输出通道，所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)就从第一条测试通道TP(1)向第M条测试通道TP(M)逐一接入放电信号对该条被选通的输出通道连接的测试点进行M次测试。
具体地，如图2所示，首先，向第一条测试通道TP(1)的测试焊盘P提供放电信号，该放电信号经由二极管D和被选通的输出通道传送至测试点，对测试点进行第一次ESD测试，随后，向第二条测试通道TP(2)的测试焊盘P提供放电信号，该放电信号经由二极管D和被选通的输出通道传送至测试点，对测试点进行第二次ESD测试，依次类推直至完成对M次ESD测试，其中，提供给第M条测试通道TP(M)的放电信号还会传输至选通模块2和显示模块3，从而实现输出通道和显示数的自动切换。
特别地，该ESD测试装置还具有中继功能，当ESD测试因外界影响而中断时，所述选通模块2将保持中断时选通的输出通道，显示模块3将保持中断时的显示数，从而当需要恢复测试时能够及时准确的找到中断时选通的输出通道，继续未完成的测试，有效避免漏测或多测，提升测试效率和可靠性。
请参阅图3，本发明还提供一种ESD测试方法，包括如下步骤：
步骤1、提供一ESD测试装置，包括：测试模块1、与所述测试模块1电性连接的选通模块2、以及与所述测试模块1和选通模块2均电性连接的显示模块3；
设M和N均为正整数，所述测试模块1包括多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)、以及多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)，所述多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)与所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)串联；
所述显示模块1与选通模块2均与第M条测试通道TP(M)电性连接。
具体地，所述每一测试通道均包括：一测试焊盘P、以及一二极管D，所述二极管D的正极与所述测试焊盘P电性连接，负极与所述输出通道电性连接。所述每一输出通道上均设有与所述选通模块2电性连接的选通开关SW，所述选通模块2通过提供对应的选通信号控制选通开关SW打开与关闭来完成输出通道的选通。所述输出通道的数量大于等于待进行ESD测试的测试点的数量。所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
步骤2、将待进行ESD测试样品的多个测试点从第一条输出通道OUT(1)起分别电性连接至所述多条并联的输出通道OUT(1)～OUT(N)，选通模块2选通第一条输出通道OUT(1)，显示模块3显示数为1。
步骤3、从第一条测试通道TP(1)向第M条测试通道TP(M)逐一接入放电信号对被选通的输出通道连接的测试点进行M次测试；
第M条测试通道TP(M)接入放电信号时，所述选通模块2接收到放电信号，选通下一条输出通道，所述显示模块3接收到放电信号，显示数加1。
具体地，如图2所示，首先，向第一条测试通道TP(1)的测试焊盘P提供放电信号，该放电信号经由二极管D和被选通的输出通道传送至测试点，对测试点进行第一次ESD测试，随后，向第二条测试通道TP(2)的测试焊盘P提供放电信号，该放电信号经由二极管D和被选通的输出通道传送至测试点，对测试点进行第二次ESD测试，依次类推直至完成对M次ESD测试，其中，提供给第M条测试通道TP(M)的放电信号还会传输至选通模块2和显示模块3，实现输出通道和显示数的自动切换。
具体地，如图2所示，所述选通模块包括第一选通信号输入通道A和第二选通信号输入通道B，第一条输出通道OUT(1)的选通开关SW为两个串联的P型TFT，第一个P型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接第二个P型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，第二个P型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第二条输出通道OUT(2)的选通开关SW为串联的一P型TFT和一N型TFT，其中，P型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接N型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，N型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第三条输出通道OUT(3)的选通开关SW为串联的一N型TFT和一P型TFT，其中，N型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接P型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，P型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)；第N条输出通道OUT(N)的选通开关SW为两个串联的N型TFT，第一个N型TFT的栅极电性连接第一选通信号输入通道A，源极电性连接第二个N型TFT的漏极，漏极电性连接测试点，第二个N型TFT的栅极电性连接第二选通信号输入通道B，源极电性连接所述多条并联的测试通道TP(1)～TP(M)。第一条输出通道OUT(1)、第二条输出通道OUT(2)、第三条输出通道OUT(3)、及第N条输出通道OUT(N)对应的选通信号分别为00、01、10、11，即第一选通信号输入通道A和第二选通信号输入通道B提供的电位分别为低低、低高、高低、高高。ESD测试开始时，所述选通模块2提供00信号选通第一条输出通道OUT(1)，显示模块3显示数字“1”，随后，所述选通模块2接收到放电信号，所述选通模块2提供01信号选通第二条输出通道OUT(2)，所述显示模块3接收到放电信号时，显示模块3显示数字“2”，再然后，所述选通模块2又一次接收到放电信号，所述选通模块2提供10信号选通第三条输出通道OUT(3)，所述显示模块3又一次接收到放电信号，显示模块3显示数字“3”；依次类推直至第N条输出通道OUT(N)。上述选通开关及其选通信号仅为示例，通过增加N型TFT、P型TFT、及选通信号输入通道可实现不同数目的选通开关及其选通信号的组合。
此外，当ESD测试因外界影响而中断时，所述选通模块2将保持中断时的选通的输出通道，显示模块3将保持中断时的显示数，从而需要恢复测试时及时准确的找到中断时选通的输出通道，继续未完成的测试，有效避免漏测或多测，提升测试效率和可靠性。
步骤4、判断是否完成所有测试点的测试，完成则结束ESD测试，未完成则返回步骤3。
综上所述，本发明提供了一种ESD测试装置，该装置包括测试模块、与所述测试模块电性连接的选通模块、以及与所述测试模块和选通模块均电性连接的显示模块；所述测试模块包括多条并联的输出通道、以及多条并联的测试通道，所述多条并联的输出通道与所述多条并联的测试通道串联，所述显示模块与选通模块均与最后一条测试通道电性连接，从而能够通过选通模块自动选通对应的输出通道，对测试点完成规定次数的ESD测试，简化测试过程，提升测试效率，并通过显示模块实时记录并显示选通的输出通道位置，在ESD测试中断时，通过显示模块快速准确的找到中断位置继续测试，实现中继功能。本发明提供的ESD测试方法，能够简化测试过程，提升测试效率，实时记录测试位置，实现中继功能。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种ESD测试装置，其特征在于，包括：测试模块(1)、与所述测试模块(1)电性连接的选通模块(2)、以及与所述测试模块(1)和选通模块(2)均电性连接的显示模块(3)；
设M和N均为正整数，所述测试模块(1)包括多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))、以及多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))，所述多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))与所述多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))串联；
所述显示模块(3)与选通模块(2)均与第M条测试通道(TP(M))电性连接。
2.如权利要求1所述的ESD测试装置，其特征在于，每一测试通道均包括：一测试焊盘(P)、以及一二极管(D)，所述二极管(D)的正极与所述测试焊盘(P)电性连接，负极与所述输出通道电性连接。
3.如权利要求1所述的ESD测试装置，其特征在于，每一输出通道上均设有与所述选通模块(2)电性连接的选通开关(SW)，所述选通模块(2)控制选通开关(SW)打开与关闭。
4.如权利要求1所述的ESD测试装置，其特征在于，所述输出通道的数量大于等于待进行ESD测试的测试点的数量。
5.如权利要求4所述的ESD测试装置，其特征在于，所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
6.一种ESD测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、提供一ESD测试装置，包括：测试模块(1)、与所述测试模块(1)电性连接的选通模块(2)、以及与所述测试模块(1)和选通模块(2)均电性连接的显示模块(3)；
设M和N均为正整数，所述测试模块(1)包括多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))、以及多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))，所述多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))与所述多条并联的测试通道(TP(1)～TP(M))串联；
所述显示模块(1)与选通模块(2)均与第M条测试通道(TP(M))电性连接；
步骤2、将待进行ESD测试样品的多个测试点从第一条输出通道(OUT(1))起分别电性连接至所述多条并联的输出通道(OUT(1)～OUT(N))，选通模块(2)选通第一条输出通道(OUT(1))，显示模块(3)显示数为1；
步骤3、从第一条测试通道(TP(1))向第M条测试通道(TP(M))逐一接入放电信号对被选通的输出通道连接的测试点进行M次测试；
第M条测试通道(TP(M))接入放电信号时，所述选通模块(2)接收到放电信号，选通下一条输出通道，所述显示模块(3)接收到放电信号，显示数加1；
步骤4、判断是否完成所有测试点的测试，完成则结束ESD测试，未完成则返回步骤3。
7.如权利要求6所述的ESD测试方法，其特征在于，每一测试通道均包括：一测试焊盘(P)、以及一二极管(D)，所述二极管(D)的正极与所述测试焊盘(P)电性连接，负极与所述输出通道电性连接。
8.如权利要求6所述的ESD测试方法，其特征在于，每一输出通道上均设有与所述选通模块(2)电性连接的选通开关(SW)，所述选通模块(2)通过提供对应的选通信号控制选通开关(SW)打开与关闭来完成输出通道的选通。
9.如权利要求6所述的ESD测试方法，其特征在于，所述输出通道的数量大于等于待进行ESD测试的测试点的数量，所述测试通道的数量大于等于每一测试点需要重复测试的次数。
10.如权利要求6所述的ESD测试方法，其特征在于，ESD测试中断时，所述选通模块(2)将保持中断时的选通的输出通道，显示模块(3)将保持中断时的显示数。
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2016
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