CN101556383A - 液晶显示装置的测试电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了液晶显示装置的测试电路，其中一种测试电路包括分别与每条数据线连接的测试引线，测试引线密集排布形成多个区域，每个区域并联后与至少一条测试总线连接。另一种测试电路包括分别与每条栅极线连接的测试引线，测试引线密集排布形成多个区域，每个区域并联后与至少一条测试总线连接。本发明通过改变测试电路中数据线或栅极线一端的输入信号布局，使得测试信号并联双向输入，改善了测试输入信号的衰减，本发明无需改变设备软硬件结构和工艺过程，结构简单，易于实现。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示器的制造领域，特别是对面板测试中测试输入信号衰减进行改善的一种液晶显示装置的测试电路。
背景技术
目前，薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid CrystalDisplay，简称TFT LCD)基于其性能优良、大规模生产特性好、自动化程度高等优点，已迅速超过阴极射线管(Cathode Ray Tube，CRT)的显示器件而成为21世纪的主流产品。
阵列(Array)面板测试是TFT LCD制造过程中一项基本的工艺，阵列面板测试通过在玻璃基板上进行5层掩膜板(5Mask)或4层掩膜板(4Mask)工艺，在玻璃基板上形成TFT结构，在阵列阶段结束后会对基板上所成的每个TFT开关进行电学测试。如图1a所示，为现有技术液晶显示装置的测试电路的连接示意图。电学测试的方法是在像素区10外围引出若干条测试引线20，测试引线20分别连通像素区10的每条数据线30(DATA)和栅极线40(GATE)，测试时通过焊盘(Pad)将管脚(Pin)与测试引线20连接，达到发送信号的作用。测试过程是先通过栅极线的时钟脉冲打开TFT，然后通过数据线向像素充电，通过设备测试部件(Modulator)在像素上方感应电荷，达到测试的目的。
图1b为现有技术液晶显示装置的测试电路的连接放大图，如图1b所示，在现有技术的面板测试过程中，测试信号是从输入端串联单方向输入的，当导线较长，电阻较大时，测试输入信号由一端到另一端的过程中有较大的阻容延迟(RC delay)，从而影响了远端TFT的充电，导致了电压均匀性差，进而给准确测试TFT电学特性是否完好造成了干扰。而且一旦测试信号线受阻，如图1a中A点所示，测试信号将无法输入到余下的栅极引线，使得测试无法继续进行。图1c为现有技术液晶显示装置的测试电路的简略电路图，如图1c所示，以19英寸液晶显示器为例，数据线一共有4320根，与每条数据线连接的测试引线密集排布形成多个区域，每720根测试引线为一个区域，则该液晶显示器一共包含6个区域。其中，R为每个区域上的线电阻，r为区域之间的线电阻。6个区域之间采用串联连接，测试信号从输入端60单向输入，从图1c中可以看出，测试信号最先到达第一数据线70，最后达到第二数据线80，测试信号从输入端60到第二数据线80的过程中经过的线电阻为(6R+5r)，造成的阻容延迟为(6R+5r)*C。由于区域间的线电阻近似为区域上的线电阻的1/3，即R＝3r，因此，现有技术中测试信号从最先达到的数据线到最后到达的数据线经过了(23*r*C)的阻容延迟。现有技术中栅极线一端产生的信号衰减与数据线类似，在此不再赘述。
发明内容
本发明的第一目的是针对上述现有技术的缺陷，而提供一种液晶显示装置的测试电路，实现在阵列面板测试过程中，减小与数据线连接的测试引线的电阻，降低阻容延迟，减小测试信号到达数据线的衰减，提高数据线一端测试电压的均匀性。
本发明的第二目的是提供另外一种液晶显示装置的测试电路，实现在阵列面板测试过程中，减小与栅极线连接的测试引线的电阻，降低阻容延迟，减小测试信号到达栅极线的衰减，提高栅极线一端测试电压的均匀性。
为实现上述第一目的，本发明提供了一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条数据线连接的测试引线，所述测试引线密集排布形成多个区域，每个区域并联后与至少一条测试总线连接。
其中，所述数据线包括奇数据线和偶数据线，所述测试引线包括奇测试引线和偶测试引线，所述奇数据线与所述奇测试引线相连，所述偶数据线与所述偶测试引线相连。
本方案通过改变数据线一端测试引线的布局，实现了测试信号在测试电路中的并联输入，减小了与数据线连接的测试引线的电阻，减小了测试信号的衰减。
为实现上述第二目的，本发明还提供了另外一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条栅极线连接的测试引线，所述测试引线密集排布形成多个区域，每个区域并联后与至少一条测试总线连接。
其中，所述栅极线包括奇栅极线和偶栅极线，所述测试引线包括奇测试引线和偶测试引线，所述奇栅极线与所述奇测试引线相连，所述偶栅极线与所述偶测试引线相连。
本方案通过改变栅极线一端测试引线的布局，实现了测试信号在测试电路中的并联输入，减小了与栅极线连接的测试引线的电阻，减小了测试信号的衰减。
下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。
附图说明
图1a为现有技术液晶显示装置的测试电路的连接示意图；
图1b为现有技术液晶显示装置的测试电路的连接放大图；
图1c为现有技术液晶显示装置的测试电路的简略电路图；
图2a为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的连接示意图；
图2b为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的连接放大图；
图2c为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的简略电路图；
图3a为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的连接示意图；
图3b为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的连接放大图；
图3c为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的简略电路图。
具体实施方式
实施例一
如图2a所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的连接示意图。本实施例提供一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条数据线103连接的测试引线102，测试引线102密集排布形成多个区域105，每个区域105并联后与至少一条测试总线连接。具体地，以19英寸液晶显示器为例，一共有4320根数据线103，编号依次为0～4319，一条数据线103连接一条测试引线102，测试引线102密集排布形成多个区域105，其中每720根测试引线102为一个区域105。与现有技术中串联连接的方式不同，本发明实施例中各个区域105之间采用并联的方式连接到测试总线上。在每个区域105中，数据线103按照编号的奇偶不同分为奇数据线和偶数据线，相应地，与奇数据线连接的测试引线102为奇测试引线203，与偶数据线连接的测试引线102为偶测试引线202。因此，测试总线可分为奇测试总线205和偶测试总线204，其中奇测试总线205和奇测试引线203相连接，偶测试总线204和偶测试引线202相连接，每个区域内部的奇测试引线203之间也采用并联的方式连接，每个区域内部的偶测试引线202之间也采用并联的方式连接。测试信号分别从奇数据线输入端207和偶数据线输入端206输入，分别到达奇测试总线205和偶测试总线204后，双向输入到各区域105中的数据线103中。
如图2b所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的连接放大图，图2b只显示了测试电路中的两个区域105，从图2b可以看出，每个区域105上均存在各导线带来的电阻，测试信号可以对每个区域105直接加信号，将区域105之间的电阻转移在测试总线上，而测试总线上的电阻不会降低测试信号的均匀性。因此，当测试信号从输入端输入，在到达各区域105中的数据线103的过程中只经过各区域105上的线电阻。再如图1b所示，现有技术的测试电路中测试信号从输入端到各区域105数据线103的过程中除了经过各区域105上的线电阻外，还必须经过区域105之间的线电阻。
如图2c所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例一的简略电路图，本图也是对上述19英寸液晶显示器所作的简化，图中将6个区域包含的测试引线分为并联连接的两组，每组包含3个区域。测试输入信号从输入端106双向输入，双向分别输入到左右两组数据线中，以左边一组为例，测试信号经过一个线电阻R首先到达第一数据线107，此时测试信号已造成R*C的衰减，到达第二数据线108所经过的线电阻为(r+R/2)，又造成了阻容延迟为(R/2+r)*C的信号衰减。其中，R为每个区域上的线电阻，r为区域之间的线电阻，由于区域间的线电阻近似为区域上的线电阻的1/3，即R＝3r，因此，本发明实施例中测试信号从最先达到的数据线到最后到达的数据线经过了阻容延迟为(5/2*r*C)的衰减，右边一组测试信号的衰减同左边类似，在此不再赘述。
再如图1c所示，现有技术的测试电路中测试信号从输入端60到第二数据线80的过程中造成的阻容延迟为23*r*C，因此，改进后的测试电路的信号衰减比现有技术中测试电路的信号衰减明显减少了，只为现有技术的17.4％。
本发明实施例通过改变测试电路中数据线一端的输入信号布局，由串联改为并联，并且双向输入测试信号，明显改善了信号衰减现象，从而使得对像素的充电更加均匀，测试效果更好。同时，由于线路之间均采用并联连接，即使一路测试信号线受损，其他并联的信号线仍然能对相对应的数据线加信号，可以最小程度上减小不能测试的区域，保证良好的测试效果。
本发明实施例还可以采用多路相同的测试输入信号输入，为每个测试总线各提供一个测试输入信号，可以达到与上述实施例相同的效果。
实施例二
如图3a所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的连接示意图。本发明实施例提供另外一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条栅极线104连接的测试引线102，测试引线102密集排布形成多个区域105，每个区域105并联后与至少一条测试总线连接。具体地，仍以19英寸液晶显示器为例，一条栅极线104连接一条测试引线102，测试引线102密集排布形成多个区域105，其中每720根测试引线102为一个区域105。本发明实施例中各个区域105之间采用并联的方式连接到测试总线上。在每个区域105中，栅极线104按照编号的奇偶不同分为奇栅极线和偶栅极线，相应地，与栅极线连接的测试引线102分为奇测试引线203和偶测试引线202，与测试引线连接的测试总线也分为奇测试总线205和偶测试总线204，每个区域内部的奇测试引线203之间以及偶测试引线202之间也采用并联的方式连接。测试信号分别从奇栅极线输入端301和偶栅极线输入端302输入，分别到达奇测试总线205和偶测试总线204后，双向输入到各区域105中的栅极线104中。
如图3b所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的连接放大图，图中只显示了测试电路中的两个区域105，从图3b可以看出，每个区域105上均存在各导线带来的电阻，测试信号可以对每个区域105直接加信号，将区域105之间的电阻转移在测试总线上。因此，当测试信号从输入端输入，在到达各区域105中的栅极线104的过程中只经过各区域105上的线电阻。
如图3c所示，为本发明液晶显示装置的测试电路实施例二的简略电路图，本图也是对上述19英寸液晶显示器所作的简化，同图2c类似。根据实施例一中对简化测试电路的分析，本实施例中测试信号从最先达到的栅极线到最后到达的栅极线也经过了阻容延迟为(5/2*r*C)的衰减。再如图1c所示，现有技术的测试电路中测试信号从输入端60到第二数据线80的过程中造成的阻容延迟为23*r*C，因此，改进后的测试电路的信号衰减比现有技术中测试电路的信号衰减明显减少了，只为现有技术的17.4％。
本发明实施例通过改变测试电路中栅极线一端的输入信号布局，由串联改为并联，并且双向输入测试信号，明显改善了信号衰减现象，从而使得对像素的充电更加均匀，测试效果更好。同时，由于线路之间均采用并联连接，即使一路测试信号线受损，其他并联的信号线仍然能对相对应的栅极线加信号，可以最大程度上减小不能测试的区域，保证良好的测试效果。
本发明实施例还可以采用多路相同的测试输入信号输入，为每个测试总线各提供一个测试输入信号，可以达到与上述实施例相同的效果。
本发明实施例也可以将数据线一端和栅极线一端的测试电路均作以上改进，通过改变两端测试信号的输入布局，可以进一步提高区域内和区域相互间的电压均匀性，进一步改善测试效果。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其进行限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替换亦不能使修改后的技术方案脱离本发明技术方案的精神和范围。
Claims (4)
1.一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条数据线连接的测试引线，所述测试引线密集排布形成多个区域，其特征在于每个区域并联后与至少一条测试总线连接。
2.根据权利要求1所述的液晶显示装置的测试电路，其特征在于所述数据线包括奇数据线和偶数据线，所述测试引线包括奇测试引线和偶测试引线，所述奇数据线与所述奇测试引线相连，所述偶数据线与所述偶测试引线相连。
3.一种液晶显示装置的测试电路，包括分别与每条栅极线连接的测试引线，所述测试引线密集排布形成多个区域，其特征在于每个区域并联后与至少一条测试总线连接。
4.根据权利要求3所述的液晶显示装置的测试电路，其特征在于所述栅极线包括奇栅极线和偶栅极线，所述测试引线包括奇测试引线和偶测试引线，所述奇栅极线与所述奇测试引线相连，所述偶栅极线与所述偶测试引线相连。
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| CN (1) | CN101556383A (zh) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105206232A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-12-30 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置及其信号传输方法 |
| CN105785239A (zh) * | 2016-03-09 | 2016-07-20 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Esd测试装置及esd测试方法 |
| CN105929575A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法 |
| CN108735249A (zh) * | 2017-04-21 | 2018-11-02 | 瞻诚科技股份有限公司 | 内存装置及其制作方法 |
| WO2020134861A1 (zh) * | 2018-12-25 | 2020-07-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、显示装置和显示基板的测试方法 |
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Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105206232A (zh) * | 2015-09-07 | 2015-12-30 | 昆山龙腾光电有限公司 | 液晶显示装置及其信号传输方法 |
| CN105785239A (zh) * | 2016-03-09 | 2016-07-20 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Esd测试装置及esd测试方法 |
| CN105785239B (zh) * | 2016-03-09 | 2018-10-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Esd测试装置及esd测试方法 |
| CN105929575A (zh) * | 2016-07-13 | 2016-09-07 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示面板测试电路、显示面板及其测试方法 |
| CN108735249A (zh) * | 2017-04-21 | 2018-11-02 | 瞻诚科技股份有限公司 | 内存装置及其制作方法 |
| WO2020134861A1 (zh) * | 2018-12-25 | 2020-07-02 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示基板、显示装置和显示基板的测试方法 |
| EP3904951A4 (en) * | 2018-12-25 | 2022-09-28 | Boe Technology Group Co., Ltd. | DISPLAY SUBSTRATE, DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING A DISPLAY SUBSTRATE |
| US11640076B2 (en) | 2018-12-25 | 2023-05-02 | Hefei Xinsheng Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Display substrate, display device and test method of display substrate |
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