CN105612402A - 被覆厚度检查方法和被覆厚度检查装置 - Google Patents

Abstract

被覆厚度检查装置(20)具备位移计(25)、位置算出部(28a)和判定部(28b)。位移计(25)遍及平角电线(30)的长度方向对该平角电线(30)的外形进行计测(外形计测工序)。位置算出部(28a)遍及平角电线(30)的长度方向求出平角电线(30)内的平角导体(31)的位置(位置算出工序)。判定部(28b)判定基于由位移计(25)和位置算出部(28a)得出的结果算出的被覆部(32)的遍及周方向的厚度是否遍及平角电线(30)的长度方向满足基准厚度(判定工序)。

Description

被覆厚度检查方法和被覆厚度检查装置

技术领域

本发明主要涉及遍及长度方向和周方向检查平角电线的被覆部的厚度的方法。

背景技术

近年来，在例如汽车用的发动机等电气设备中，使用平角电线。平角电线是在截面为矩形状的平角导体的周围形成有被覆部的电线。平角电线与截面为圆状的电线相比较，叠层系数较高，因此能够实现装置的小型化或者高输出化。专利文献1和2公开了一种关于平角电线的技术。

专利文献1公开了一种平角电线的制造方法。具体而言，公开了一种在用绝缘清漆填充的槽内通入平角导体，其后通过加热使绝缘清漆硬化而形成被覆部的方法。进一步，在专利文献1中，还公开了一种喷雾出绝缘清漆，其后通过加热使绝缘清漆硬化而形成被覆部的方法。

专利文献2公开了一种为了叠层系数的提高等而形成均匀的被覆部的方法。具体而言，形成被覆部的涂装模具具备以面对平角导体的四边的方式配置的四个模具部件。各个模具部件从形成于该模具部件的槽中对平角导体涂布绝缘清漆。此处，各模具部件的在平角导体的角部区域(形成狗骨(dog-bone)的区域)的对面形成的槽较小。通过该构成，能够防止在平角导体的角部区域过多地涂布绝缘清漆，能够形成均匀的被覆部。

[现有技术文献]

[专利文献]

专利文献1：日本特开2013-45624号公报

专利文献2：日本特开2013-20742号公报

发明内容

发明要解决的课题

但是，由于平角导体为长条状所以容易产生位置错位，因此被覆部容易局部变厚或者变薄。因此，即使在例如使用专利文献2的方法的情况下，也难以可靠地控制被覆部的厚度。

因此，检查平角电线的被覆部的厚度从以往开始就有进行。作为该检查，以往有进行如下方法：例如，切割平角电线的端部计测被覆部的厚度的方法、或者、利用膜厚计等遍及长度方向计测平角导体的1点的被覆部的厚度的方法。

但是，前者的计测仅为平角电线的长度方向的一部分的计测，后者的计测仅为平角电线的周方向的一部分的计测。也就是说，现有的计测说到底只是局部，不能可靠地保证平角电线的品质。

本发明鉴于以上的事情而研发，其主要目的为提供一种遍及平角电线的长度方向和周方向检查被覆部的厚度的方法。

用于解决课题的手段及效果

本发明所要解决的课题如以上所述，接着对用于解决该课题的手段及其效果进行说明。

根据本发明的第一观点，提供以下的被覆厚度检查方法。即，该被覆厚度检查方法包括外形计测工序、位置算出工序和判定工序。在上述外形计测工序中，遍及上述平角电线的长度方向求出该平角电线的外形。在上述位置算出工序中，遍及上述平角电线的上述长度方向求出上述平角电线内的上述平角导体的位置。在上述判定工序中，判定基于在上述外形计测工序和上述位置算出工序中得到的结果算出的上述被覆部的遍及周方向的厚度是否遍及上述长度方向满足基准厚度。

由此，能够检查被覆部的厚度是否遍及平角电线的长度方向和周方向满足基准厚度。从而，能够提供一种可充分确保绝缘性的可靠性高的平角电线。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选如以下所述进行设置。即，包括对在上述长度方向观察上述平角电线时的该平角电线的四边，至少各在1点计测上述被覆部的厚度的厚度计测工序。在上述位置算出工序中，利用在上述厚度计测工序中计测到的结果。

由此，使用能够计测规定点的被覆部的厚度的膜厚计等，能够正确地求出平角导体的位置。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述厚度计测工序中，在避开在上述平角电线的上述被覆部的四角形成的鼓起部的位置上计测上述被覆部的厚度。

由此，能够精度良好地计测被覆部的厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述厚度计测工序中，对上述平角电线的四边中的一边在至少两点计测上述被覆部的厚度。

由此，即使在平角导体相对于平角电线倾斜的情况下，也能够检测到该倾斜。因此，能够更正确地计测平角导体的位置，因此能够进一步正确地判定被覆部的厚度是否满足基准厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述厚度计测工序中，对上述平角电线呈点状地照射激光以计测上述被覆部的厚度。

由此，能够快速且正确地计测规定点的被覆部的厚度，求出平角导体的位置。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述厚度计测工序中，在使上述平角电线沿上述长度方向移动的同时通过厚度计测部进行上述被覆部的厚度的计测。

由此，能够不使计测部移动地遍及平角电线的长度方向计测被覆部的厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选上述厚度计测部中的至少1个厚度计测部在上述长度方向上的位置与其他任一个上述厚度计测部不同。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选上述厚度计测部中的至少1个厚度计测部照射激光的定时与其他任一个上述厚度计测部不同。

由此，能够防止某个厚度计测部所照射的激光被其他的厚度计测部检测到，所以能够提高上述被覆部的厚度的检测精度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述长度方向观察时，上述厚度计测部对上述平角电线的长边照射的激光的激光照射方向相互平行，上述厚度计测部对上述平角电线的短边照射的激光的激光照射方向相互平行，对长边照射的激光与对短边照射的激光相互垂直。

在检查圆形电线的被覆部的厚度的情况下，只要向中心照射激光，则无论从哪个方向照射都不会有问题。这一点，在检查平角电线的情况下，根据照射激光的方向的不同，不能够正确地求出被覆部的厚度。因此，通过如上所述照射激光，能够精度良好地计测被覆部的厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述外形计测工序中，在使上述平角电线沿上述长度方向移动的同时，外形计测部对上述平角电线的四边分别呈线状地照射激光，由此对上述平角电线的外形进行计测。

由此，能够快速且正确地计测平角电线的外形的形状。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选上述外形计测部中的至少1个外形计测部在上述长度方向上的位置与其他任一个上述外形计测部不同。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选上述外形计测部中的至少1个外形计测部照射激光的定时与其他任一个上述外形计测部不同。

由此，能够防止某个外形计测部所照射的激光被其他的外形计测部检测到，所以能够提高上述被覆部的厚度的检测精度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选在上述长度方向观察时，上述外形计测部对上述平角电线的长边照射的激光的激光照射方向相互平行，上述外形计测部对上述平角电线的短边照射的激光的激光照射方向相互平行，对长边照射的激光与对短边照射的激光相互垂直。

由此，考虑到平角电线为矩形状，如上所述，通过对各面垂直地照射激光，能够精度良好地求出各面的形状。因此，能够精度良好地计测遍及长度方向和周方向的被覆部的厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选以上述平角电线的相同边作为计测对象的4组上述厚度计测部和上述外形计测部中的至少1组以上述厚度计测部和上述外形计测部不能够相对移动的方式被固定。

由此，能够将厚度计测部与外形计测部的位置关系固定，所以能够降低将两者的检测结果叠加时的误差，精度良好地计测被覆部的厚度。

在上述的被覆厚度检查方法中，优选上述外形计测工序、上述位置算出工序和上述判定工序与上述平角电线的制造工序以一系列的流程进行。

由此，由于在本申请中遍及长度方向计测平角电线，因此能够连同制造工序以一系列的流程进行检查，从而有效地进行检查。

根据本发明的第二的观点，提供以下的结构的被覆厚度检查装置。即，该被覆厚度检查装置具备外形计测部、位置算出部和判定部。上述外形计测部遍及上述平角电线的长度方向对该平角电线的外形进行计测。上述位置算出部遍及上述平角电线的上述长度方向求出上述平角电线内的上述平角导体的位置。上述判定部判定基于由上述外形计测部和上述位置算出部得出的结果以及上述平角导体的尺寸算出的上述被覆部的遍及周方向的厚度是否遍及上述长度方向满足基准厚度。

由此，能够检查被覆部的厚度是否遍及平角电线的长度方向和周方向满足基准厚度。从而，能够提供一种可充分确保绝缘性的可靠性高的平角电线。

附图说明

图1为对本发明的一实施方式涉及的平角电线制造装置和被覆厚度检查装置概略性地进行说明的侧面图。

图2为对被覆厚度检查装置的具体结构进行说明的立体图及框图。

图3为表示平角电线的截面形状以及膜厚计和位移计照射的激光的图。

图4为对根据计测结果等算出被覆部的厚度的处理进行说明的图。

图5为对平角导体的厚度不均的类型进行说明的图。

图6为表示变形例涉及的被覆厚度检查装置的结构的俯视图。

图7为说明为了计测平角电线的外形而进一步照射激光的方向的图。

具体实施方式

接着，参照附图对本发明的实施方式进行说明。

首先，参照图1，对平角电线制造装置10进行说明。平角电线制造装置10为由平角导体31制造平角电线30的装置，具备输送辊11和被覆成形部12。

平角导体31如图2等所示，是截面构成为矩形状的细长状的导体。本实施方式的平角导体31由铜构成，但只要是导体也能够使用其他素材。而且，在本说明书中“矩形”除了长方形以外还包括正方形和四角为圆弧状的形状。

输送辊11由相对配置的两个圆柱状的部件构成。输送辊11通过将平角导体31夹入并进行旋转能够将平角导体31沿图1的粗线所示的方向输送。而且，在图1中，仅示出了一对输送辊11，但是实际上配置有很多输送辊11。

被覆成形部12在平角导体31的周围形成被覆部32。被覆成形部12具备模具13和螺纹气缸(screwcylinder)14。模具13中形成有供平角导体31插通的贯通部。另外，模具13将从螺纹气缸14供给的树脂涂布在平角导体31的周围。

如以上所述，在平角导体31的周围形成被覆部32，能够制造平角电线30。而且，本实施方式的被覆部32由PPS(聚苯硫醚)构成，但也能够使用PEEK(聚醚醚酮)等其他树脂。另外，在像这样形成的被覆部32，如图3(a)所示，存在形成有被称之为狗骨的鼓起部32a的情况。

接着，主要参照图2，对被覆厚度检查装置20进行说明。而且，在以下的说明中，为了便于说明，如图2所示定义上下左右方向。

被覆厚度检查装置20对由平角电线制造装置10制造的平角电线30通过一系列的流程检查被覆部32的厚度是否满足基准厚度。基准厚度是指在本实施方式中，能够确保平角电线30的绝缘性的厚度。被覆厚度检查装置20如图1和图2所示，具备输送辊21、膜厚计22、位移计25和运算部28。

输送辊21与输送辊11同样地，由相对配置的两个圆柱状的部件构成。输送辊21通过将平角电线30夹入并进行旋转，能够将平角电线30沿图1的粗线所示的方向输送。而且，在图1中，仅示出了一对输送辊21，但是实际上配置有很多输送辊21。

膜厚计22是通过光学设备呈点状地照射光并分析其反射光从而计测膜厚(在本实施方式中为被覆部32的厚度)的装置。膜厚计22具备多个膜厚检测部(厚度计测部)23和膜厚处理部24。在本实施方式中，使用激光装置作为光学设备，由此，能够快速且正确地计测膜厚。

膜厚计22具备5个膜厚检测部23。5个膜厚检测部23分别为相同的结构。膜厚检测部23为细长状的部件，在一端侧的面上配置有能够呈点状地照射激光的照射部和能够接受反射波的受光部。本实施方式的膜厚检测部23，在截面为矩形状的平角电线30的四边(四面)以照射部和受光部面对平角电线30的各面的方式分别各配置有一个，并且还在四边中的一边(具体而言，上边)进一步配置有多一个。像这样通过在一边对两点进行计测，能够精度良好地检测被覆部32的厚度(详细情况在后叙述)。另外，对于在一边对一点进行计测的下边、左边、右边，向各边的大致中央照射激光。

而且，膜厚检测部23的激光的照射位置不限于大致中央，优选位于被覆部32中内部的平角导体31呈直线状的部分，避开如图3(a)所示的鼓起部32a的位置。具体而言，考虑到一般的平角电线30和鼓起部32a的尺寸，优选对平角电线30的一边的从中央向一侧以及向另一侧分别位于边长的35％以内(更优选为30％以内)的位置进行计测。例如在平角电线30的与长度方向垂直的截面中的长边(包括鼓起部32a)为4mm的情况下，优选在中央的2.8mm或者2.4mm的区域中进行计测。尤其，在本实施方式中，平角电线30的上边对两点进行计测，由于各个计测点需要分开一定程度，因此优选考虑上述所示的范围来决定计测点。由此，能够更高精度地检测被覆部32的厚度。例如，可以在平角电线30的一边的从中央向一侧以及向另一侧分别位于1.2mm的位置进行计测。

另外，如图2和图3所示，5个膜厚检测部23分别构成为对平角电线30的表面垂直地照射激光。因此，如图3所示，在平角电线30的长度方向观察时，上下配置的膜厚检测部23所照射的激光相互平行。另外，左右配置的膜厚检测部23所照射的激光相互平行。进一步，上下配置的膜厚检测部23所照射的激光与左右配置的膜厚检测部23所照射的激光相互垂直。而且，此处所叙述的平行或者垂直，在例如存在2、3度左右的误差的情况下也相当于平行或者垂直。另外，该相互平行或者垂直配置的多个膜厚检测部23，以与输送的平角电线的外周面分别相对的方式，以某一面为基准面，基于相对于该面的相对位置关系来设定位置。怎样设定该基准面是任意的，例如可以在支承或者输送平角电线30的部件(输送辊21、省略图示的输送辊等)上放置与平角电线30相同尺寸的样品，以该样品的表面作为基准面。像这样，通过以与输送的平角电线30的表面相当的面作为基准面来设定膜厚检测部23的位置，能够提高膜厚检测部23相对于平角电线30的位置、以及膜厚检测部23彼此的位置关系的精度。而且，也可以不放置样品而是放置平角电线30，以该平角电线30的表面作为基准面。

膜厚检测部23对输送的平角电线30呈点状地照射激光，并接受所照射激光的反射波转换为电信号，并将该电信号向膜厚处理部24输出。而且，该反射波包括在平角电线30(被覆部32)的表面反射的反射波和在平角导体31的表面反射的反射波。

膜厚处理部24通过对该反射波进行解析，算出到2处反射位置的距离。基于其距离之差，膜厚处理部24能够求出被覆部32的厚度。而且，此处得到的被覆部32的厚度是膜厚检测部23所照射的5个点各自的厚度，并不能得到作为本发明的目的的遍及周方向的被覆部32的厚度。

膜厚检测部23以规定的采样周期进行激光的照射和受光。由此，膜厚计22能够遍及平角电线30的长度方向的全长(严格来说除去采样周期之间的部分，以下相同)，以非损坏的方式计测被覆部32的5个点的厚度。而且，此处计测的被覆部32的厚度的利用方法在后叙述。膜厚计22的检测结果向运算部28输出。

位移计25是通过呈线状地照射激光并对其反射波(扩散反射光)进行分析从而计测物体的外形的形状(在本实施方式中为平角电线30的外形)的装置。位移计25具备位移检测部(外形计测部)26和位移处理部27。

位移计25具备四个位移检测部26。位移检测部26在平角电线30的四边(四面)分别各配置一个。在各个位移检测部26的规定的面上配置有能够呈线状地照射激光的照射部和能够接受反射波的受光部。四个位移检测部26中在平角电线30的上下设置的位移检测部由透镜得到的激光的光斑直径设定为比平角电线30的左右方向的边的长度大。另外，四个位移检测部26中在平角电线30的左右设置的位移检测部由透镜得到的激光的光斑直径设定为比平角电线30的厚度方向(上下方向)的边的长度大。而且，各个位移检测部26除激光的光斑直径以外为相同的结构。另外，代替如本实施方式这样在上下方向和左右方向设定不同的光斑直径的结构，也可以将上下方向和左右方向中较长一方的光斑直径设定到四个激光来进行测定。

另外，如图2和图3所示，4个位移检测部26分别构成为对平角电线30的表面垂直地照射激光。因此，如图3所示，在平角电线30的长度方向观察时，上下配置的位移检测部26所照射的激光相互平行。另外，左右配置的位移检测部26所照射的激光相互平行。进一步，上下配置的位移检测部26所照射的激光与左右配置的位移检测部26所照射的激光相互垂直。更具体而言，以某一面作为基准面，基于相对于该面的相对位置关系来设定位移检测部26的位置。而且，该基准面能够如上所述使用平角电线30的样品等来决定。

位移检测部26对输送的平角电线30呈线状地照射激光，并接受所照射激光的反射波转换为电信号，并将该电信号向位移处理部27输出。而且，在例如平角电线30的一部分鼓起的情况下，向该部分照射的激光的反射波比其他部分更早受光。

位移处理部27基于从照射激光后到受光反射波为止的时间，算出平角电线30的四边的各自的外形。由此，能够计测平角电线30的周围的外形。

位移检测部26以规定的采样周期进行激光的照射和受光。由此，位移计25能够遍及平角电线30的全长，以非损坏的方式计测平角电线30的周围的外形。位移计25的检测结果向运算部28输出。

运算部28为信息处理装置，基于膜厚计22和位移计25的计测结果进行运算。而且，由于膜厚检测部23和位移检测部26在平角电线30的长度方向的位置不同，所以运算部28进行以下处理。即，运算部28基于平角电线30的输送速度和从膜厚检测部23到位移检测部26的距离，求出通过了膜厚检测部23的部分到达通过位移检测部26为止所需花费的时间。运算部28通过考虑该时间，能够使用在相同位置的膜厚计22的计测结果和位移计25的计测结果。

另外，运算部28具备位置算出部28a和判定部28b。

位置算出部28a算出平角导体31的位置。以下，参照图4具体地进行说明。图4的图表的实线表示配置在平角电线30的上侧的位移检测部26所检测到的平角电线30的外形。另外，由配置在平角电线30的上侧的膜厚检测部23计测出在计测点的被覆部32的厚度。从而，可知平角导体31位于从平角电线30的外形起向下方偏移计测出的被覆部32的厚度的位置。通过对四边进行同样的处理，能够求出平角导体31的位置。而且，在本实施方式中，关于进行1点的计测的下边、左边、右边，计测各边的大致中央的被覆部32的厚度。

另外，通过求出平角导体31的位置，能够检测出被覆部32的厚度不均。以下，参照图5进行说明。图5(a)表示未产生厚度不均时的平角电线30的截面图。

图5(b)表示在左右方向产生厚度不均时的平角电线30的截面图。左右方向的厚度不均能够通过左右配置的膜厚检测部23检测得出。图5(c)表示上下方向产生厚度不均时的平角电线30的截面图。上下方向的厚度不均能够通过上下配置的膜厚检测部23检测得出。

图5(d)表示在旋转方向产生厚度不均时的平角电线30的截面图。旋转方向的厚度不均考虑配置在上侧的两个膜厚检测部23的计测结果能够检测得出。像这样，通过对被覆部32的厚度在一边进行两点计测，能够精度良好地检测出厚度不均的状况。而且，在平角导体31为长方形的情况下，优选检测长边侧的两点的厚度。

判定部28b基于位移计25计测出的平角电线30的外形、位置算出部28a算出的平角导体31的位置、以及平角导体31的尺寸，算出遍及平角电线30的长度方向的全长和周方向的整个周面的被覆部32的厚度，判定是否满足基准厚度。以下，具体地进行说明。

关于图4的图表，从平角电线30的外形中减去平角导体31的外形的值，相当于被覆部32的厚度。这样一来，判定部28b能够求出在上侧形成的被覆部32的全部位置的厚度。判定部28b通过对平角电线30的其他三边也进行同样的处理，能够算出遍及平角电线30的周方向的整个周面的被覆部32。另外，由于膜厚计22和位移计25遍及平角电线30的长度方向的全长进行计测，所以判定部28b能够算出遍及平角电线30的全长和整个周面的被覆部32的厚度。而且，平角导体31的四边能够看成互为直角，所以通过以四边成为直角的方式将5个膜厚计检测出平角导体31的位置(5点)连接起来，还能够不使用平角导体31的尺寸地进行遍及全长和整个周面的被覆部32的厚度的算出。

而且，在具备4个膜厚检测部23，对平角导体31的位置测定4点(四边各1点)的情况下，遍及全长和整个周面的被覆部32的厚度受到平角导体31的尺寸的精度的影响。从而，该情况下，通过测定平角导体31的外形的尺寸，并对平角导体31的加工进行反馈处理，能够提高平角导体31的外形的尺寸的精度，精度良好地求出遍及全长和整个周面的被覆部32的厚度。

判定部28b判定遍及全长和整个周面的被覆部32的厚度是否满足上述的基准厚度。然后，将判定结果显示在省略图示的显示器等上告知操作者。

被覆厚度检查装置20通过以上的结构能够检查遍及全长和整个周面的被覆部32的厚度。

接着，参照图6的俯视图(从上面观察的图)，对上述实施方式的变形例进行说明。而且，在以下的说明中，对于与上述的实施方式相同或者类似的结构，存在在附图中标注同一符号并省略说明的情况。

在上述的实施方式中，5个膜厚检测部23在平角电线30的长度方向上位置全部相同。与之相对，在本变形例中，计测左右的膜厚检测部23与计测上下的膜厚检测部23在平角电线30的长度方向上的位置不同。像这样，通过使平角电线30的长度方向上的位置不同，能够降低某膜厚检测部23所照射的激光的散射光、泄漏光和反射光等到达其他的膜厚检测部23的受光部的可能性。而且，检测左右的两个膜厚检测部23在平角电线30的长度方向上的位置相同，但是通过使照射激光的定时分别不同，降低了一个的激光被另一个受光的可能性。上下配置的膜厚检测部23也同样如此。

与膜厚检测部23同样地，计测左右的位移检测部26与计测上下的膜厚检测部23在平角电线30的长度方向上的位置不同。另外，与膜厚检测部23同样地，左右配置的两个位移检测部26照射激光的定时分别不同，上下配置的两个位移检测部26照射激光的定时也分别不同。

而且，本变形例的布局为一个示例，关于左右或者上下配置的膜厚检测部23，平角电线30的长度方向上的位置也可以分别不同。关于位移检测部26的布局也同样如此。

接着，对安装有膜厚检测部23和位移检测部26的安装部件40进行说明。安装部件40由第一安装部41和第二安装部42构成。第一安装部41和第二安装部42为同一部件或者为不能够相对移动的被固定的分别独立的部件。在第一安装部41安装有位移检测部26。在第二安装部42形成有安装孔，通过将膜厚检测部23插入该安装孔后使用螺栓等进行紧固，能够将膜厚检测部23安装于第二安装部42。而且，在上侧配置的安装部件40具备一个第一安装部41和两个第二安装部42，在下侧、左侧和右侧配置的安装部件40具备一个第一安装部41和一个第二安装部42。

如上所述，在本实施方式中，由于将膜厚检测部23的检测结果与位移检测部26的检测结果叠加(在相同坐标进行处理)，因此通过如本变形例这样将膜厚检测部23和位移检测部26固定为不能够相对移动，能够降低将两者的检测结果叠加时的偏移。而且，优选计测平角电线30的四面中任意一面(例如上面)的膜厚检测部23和位移检测部26至少在安装部件40等被固定为不能够相对移动，但进一步优选如图6所示，全部组的膜厚检测部23和位移检测部26被固定为不能够相对移动。

另外，由于被覆厚度检查装置20具备位移计25，因此通过将四个位移检测部26的计测结果叠加，能够计测平角电线30(被覆部32)的外形的形状。而且，由于在平角电线30形成有鼓起部32a，所以为了详细地计测平角电线30的外形的形状，优选为还追加有位移检测部26的结构。例如，如图7所示，除了与平角电线30的四边垂直的方向以外，以与平角电线30的四边成角度θ的方式照射激光，由此能够计测包含鼓起部32a的形状的平角电线30的外形。优选像这样进一步追加4个位移检测部26(合计8个)。另外，角度θ优选为45度。

如以上所说明的那样，被覆厚度检查装置20具备位移计25、位置算出部28a和判定部28b。位移计25遍及平角电线30的长度方向对该平角电线30的外形进行计测(外形计测工序)。位置算出部28a遍及平角电线30的长度方向求出平角电线30内的平角导体31的位置(位置算出工序)。判定部28b判定基于由位移计25和位置算出部28a得到的结果以及平角导体31的尺寸算出的被覆部32的遍及周方向的厚度是否遍及平角电线30的长度方向满足基准厚度(判定工序)。

由此，能够检查被覆部32的厚度是否遍及平角电线30的长度方向和周方向满足基准厚度。从而，能够提供一种可充分确保绝缘性的可靠性高的平角电线30。

另外，本实施方式的被覆厚度检查装置20具备膜厚计22。膜厚计22对平角电线30的四边至少各在一点计测上述被覆部32的厚度(膜厚算出工序)。位置算出部28a利用膜厚计22计测出的被覆部32的厚度。

由此，使用能够对计测点的被覆部32的厚度进行计测的膜厚计22，能够正确地求出平角导体31的位置。

以上对本发明的优选实施方式进行了说明，但上述的结构能够例如以下所示进行变更。

取代上述实施方式的膜厚计22，也可以用利用光学设备(例如激光装置)的其他方式的计测装置计测被覆部32的厚度。另外，也可以用其他方式(超音波、电磁感应等)的计测装置计测被覆部32的厚度。关于位移计25，也可以通过利用激光的其他方式、或者、利用激光以外的方式的计测装置计测平角电线30的外形。而且，在利用激光的测定中使用的电磁波的波长为任意，例如能够使用可见光、红外线和X线等。

在上述实施方式中，通过膜厚计22计测被覆部32的厚度而求出平角导体31的位置，但也可以通过其他方法(例如照射可贯通被覆部32但不贯通平角导体31的光的方法等)直接求出平角导体31的位置。

在上述实施方式中，在遍及全长和整个周面求出被覆部32的具体厚度的基础上判定是否满足基准厚度，但也可以不求出被覆部32的具体厚度而仅求出是否满足基准厚度。

在上述实施方式中，关于平角电线30的四边确定了千篇一律的基准厚度，但也可以对平角电线30的四边分别确定不同的基准厚度。另外，基准厚度可以是确定被覆部32的厚度的上限值、下限值、或者这两者的值。例如，在想要防止被覆部32过厚而导致叠层系数降低的情况下，优选设定作为下限值的基准厚度。

符号的说明

10平角电线制造装置

20被覆厚度检查装置

21输送辊

22膜厚计

23膜厚检测部(厚度计测部)

24膜厚处理部

25位移计

26位移检测部(外形计测部)

27位移处理部

28运算部

28a位置算出部

28b判定部

30平角电线

31平角导体

32被覆部

Claims (16)

1.一种被覆厚度检查方法，所述被覆厚度检查方法为平角电线的检查方法，所述平角电线包括细长状且截面为矩形状的平角导体和包覆该平角导体的被覆部，所述平角电线的检查方法的特征在于，包括：

遍及所述平角电线的长度方向对该平角电线的外形进行计测的外形计测工序；

遍及所述平角电线的所述长度方向求出所述平角电线内的所述平角导体的位置的位置算出工序；和

判定基于在所述外形计测工序和所述位置算出工序中得到的结果算出的所述被覆部的遍及周方向的厚度是否遍及所述长度方向满足基准厚度的判定工序。

2.根据权利要求1所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

包括：关于在所述长度方向观察所述平角电线时的该平角电线的四边，至少各在1点计测所述被覆部的厚度的厚度计测工序，

在所述位置算出工序中，利用在所述厚度计测工序中计测到的结果。

3.根据权利要求2所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述厚度计测工序中，在避开在所述平角电线的所述被覆部的四角形成的鼓起部的位置上计测所述被覆部的厚度。

4.根据权利要求2所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述厚度计测工序中，对所述平角电线的四边中的一边在至少两点计测所述被覆部的厚度。

5.根据权利要求2所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述厚度计测工序中，对所述平角电线呈点状地照射激光以计测所述被覆部的厚度。

6.根据权利要求2所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述厚度计测工序中，在使所述平角电线沿所述长度方向移动的同时通过厚度计测部进行所述被覆部的厚度的计测。

7.根据权利要求6所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

所述厚度计测部中的至少1个厚度计测部在所述长度方向上的位置与其他任一个所述厚度计测部不同。

8.根据权利要求6所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

所述厚度计测部中的至少1个厚度计测部照射激光的定时与其他任一个所述厚度计测部不同。

9.根据权利要求8所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述长度方向观察时，所述厚度计测部对所述平角电线的长边照射的激光的激光照射方向相互平行，所述厚度计测部对所述平角电线的短边照射的激光的激光照射方向相互平行，对长边照射的激光与对短边照射的激光相互垂直。

10.根据权利要求2所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述外形计测工序中，在使所述平角电线沿所述长度方向移动的同时，外形计测部对所述平角电线的四边分别呈线状地照射激光，由此对所述平角电线的外形进行计测。

11.根据权利要求10所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

所述外形计测部中的至少1个外形计测部在所述长度方向上的位置与其他任一个所述外形计测部不同。

12.根据权利要求10所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

所述外形计测部中的至少1个外形计测部照射激光的定时与其他任一个所述外形计测部不同。

13.根据权利要求10所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

在所述长度方向观察时，所述外形计测部对所述平角电线的长边照射的激光的激光照射方向相互平行，所述外形计测部对所述平角电线的短边照射的激光的激光照射方向相互平行，对长边照射的激光与对短边照射的激光相互垂直。

14.根据权利要求11所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

以所述平角电线的相同边作为计测对象的4组所述厚度计测部和所述外形计测部中的至少1组以所述厚度计测部和所述外形计测部不能够相对移动的方式被固定。

15.根据权利要求1所述的被覆厚度检查方法，其特征在于：

所述外形计测工序、所述位置算出工序和所述判定工序与所述平角电线的制造工序以一系列的流程进行。

16.一种被覆厚度检查装置，所述被覆厚度检查装置检查平角电线的被覆部的厚度，所述平角电线包括细长状且截面为矩形状的平角导体和包覆该平角导体的被覆部，所述被覆厚度检查装置的特征在于，包括：

遍及所述平角电线的长度方向对该平角电线的外形进行计测的外形计测部；

遍及所述平角电线的所述长度方向求出所述平角电线内的所述平角导体的位置的位置算出部；和

判定基于由所述外形计测部和所述位置算出部得出的结果以及所述平角导体的尺寸算出的所述被覆部的遍及周方向的厚度是否遍及所述长度方向满足基准厚度的判定部。