CN105530002B - 一种高精度时钟产生装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种时钟产生装置,时钟产生装置包括:基准电压产生模块和振荡电路模块;基准电压产生模块,由晶体管MP3、自动校验电路控制模块和电阻R1组成;自动校验电路控制模块由晶体管MN3、MN4、MN5、Switch1、Switch2组成;振荡电路模块由晶体管MN1、MN2、MP1、MP2;电容C1、C2;比较器COMP1、COMP2;D触发器FF组成。
Description
技术领域
本发明涉及芯片系统的内部时钟实现技术,尤其涉及一种集成电路设计领域的时钟产生装置
背景技术
芯片系统的内部时钟实现方式,主要包括以下三类:一、外部晶体振荡器提供;二、内部振荡器提供;三、从数据恢复时钟提供。智能卡芯片是对成本要求很高的一类芯片,而上面提到的三类时钟实现方式对于这类产品不是都能适用,其中,方式一成本太高,方式三电路实现代价大、功耗高。所以方式二是智能卡芯片中常采用的时钟产生方式。但方式二的缺点是随工艺角、电压、温度变化太大,使有的芯片能工作在很高频率,有些芯片工作频率又很低,使芯片的一致性很差,影响用户体验。所以高精度、低功耗的内部振荡器成为研究的一个重要课题。
发明内容
为解决现有存在的技术问题,本发明实施例期望提供一种时钟产生装置和自动校验电路控制模块。
为实现上述发明目的,本发明实施例采用以下方式来实现:
本发明实施例提供了一种时钟产生装置,所述装置包括:基准电压产生模块和振荡电路模块,
基准电压产生模块,由晶体管MP3、自动校验电路控制模块和电阻R1组成;晶体管MP3的漏极接电源VDD,源极接电阻R1,栅极接地;电阻R1的另一端接自动校验电路控制模块的VRFE端口;自动校验电路控制模块输出VREF给振荡电路模块提供比较电压;
自动校验电路控制模块由晶体管MN3、MN4、MN5、Switch1、Switch2组成;晶体管MN3的漏极接地VSS,源极和栅极一起接到VREF;晶体管MN4的漏极接Switch1,源极和栅极一起接到VREF;晶体管MN5的漏极接Switch2,源极和栅极一起接到VREF;
振荡电路模块由晶体管MN1、MN2、MP1、MP2;电容C1、C2;比较器COMP1、COMP2;D触发器FF组成;晶体管MP1的漏极接电源VDD,晶体管MP1源极与晶体管MN1的源极相接结点名称为VC1,晶体管MP1栅极与晶体管MN1的栅极相接接到D触发器FF的输出Q非端,晶体管MN1的漏极接晶体管MN4的源极,晶体管MN4的漏极接地VSS,晶体管MN4的栅极接VREF;晶体管MP2的漏极接电源VDD,晶体管MP2源极与晶体管MN2的源极相接结点名称为VC2,晶体管MP2栅极与晶体管MN2的栅极相接接到D触发器FF的输出Q端,晶体管MN2的漏极接晶体管MN5的源极,晶体管MN5的漏极接地VSS,晶体管MN5的栅极接VREF。
上述方案中,晶体管MP3管与电阻R1串联,二者温度系数相反。
上述方案中,振荡电路模块中电容C1和C2的放电前后电压差与VDD相关,电容C1和C2放电电流也与VDD相关。
本发明实施例还提供了一种自动校验电路控制模块,由晶体管MN3、MN4、MN5、Switch1、Switch2组成;
晶体管MN3的漏极接地VSS,源极和栅极一起接到自动校验电路控制模块的VRFE端口;晶体管MN4的漏极接Switch1,源极和栅极一起接到自动校验电路控制模块的VRFE端口;晶体管MN5的漏极接Switch2,源极和栅极一起接到自动校验电路控制模块的VRFE端口。
上述方案中,通过开关Switch1和Switch2导通和断开,改变偏置电流大小,从而改变电流镜像比,来调节输出频率,校准工艺偏差引起的频率偏差。
本发明实施例所提供的一种时钟产生装置和自动校验电路控制模块,可以消除电源电压、温度和工艺对时钟频率的影响,提高时钟的精度。
附图说明
图1为本发明实施例的一种时钟产生装置的结构示意图;
图2为本发明实施例的一种自动校验电路控制模块的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明的技术方案进一步详细阐述。
针对常用内部振荡器的输出频率随工艺角、电压、温度变化太大的问题,本发明实施例提供一种精度高的内部振荡器装置,可以消除工艺角、电压、温度对输出频率的影响。本发明实施例适用于低成本的内部时钟产生装置设计。
根据本发明实施例的时钟产生装置如图1所示,包括:基准电压产生模块11和振荡电路模块13。
基准电压产生模块11,由晶体管MP3、自动校验电路控制模块12和电阻R1组成。其中,晶体管MP3的漏极接电源VDD,源极接电阻R1,栅极接地;POLY电阻R1的另一端接自动校验电路控制模块12的VRFE端口;自动校验电路控制模块12输出VREF给振荡电路模块13提供比较电压。基准电压产生模块11有两个作用,第一是产生振荡电路模块13的基准电压VREF;第二是消除电阻温度系数。
自动校验电路控制模块12如图2中所示,由晶体管MN3、MN4、MN5、Switch1(图2中21所示)、Switch2(图2中22所示)组成。其中,晶体管MN3的漏极接地VSS,源极和栅极一起接到VREF;晶体管MN4的漏极接Switch1,源极和栅极一起接到VREF;晶体管MN5的漏极接Switch2,源极和栅极一起接到VREF;自动校验电路控制模块12的作用是通过程序控制开关校准输出频率,消除生产工艺偏差对输出频率的影响。
振荡电路模块13,由晶体管MN1、MN2、MP1、MP2;电容C1、C2;比较器COMP1(图1中14所示)、COMP2(图1中15所示);D触发器FF(图1中16所示)组成。其中,晶体管MP1的漏极接电源VDD,MP1源极与晶体管MN1的源极相接结点名称为VC1,MP1栅极与MN1的栅极相接接到D触发器FF(图1中16所示)的输出Q非端,MN1的漏极接MN4的源极,MN4的漏极接地VSS,MN4的栅极接VREF;晶体管MP2的漏极接电源VDD,MP2源极与晶体管MN2的源极相接结点名称为VC2,MP2栅极与MN2的栅极相接接到D触发器FF(图1中16所示)的输出Q端,MN2的漏极接MN5的源极,MN5的漏极接地VSS,MN5的栅极接VREF。振荡电路模块的作用产生需要的时钟频率。
本发明实施例的时钟产生装置的工作原理如下:
如图1所示,当VC2低于VREF时,比较器输出使D触发器FF(图1中16所示)的S端为0,R端为1,Q端输出为0,Q非端输出为1。此时mp2管导通,mn2管关闭。VDD对电容C2充电,将VC2点的电压快速充电到VDD,D触发器FF(图1中16所示)的S端变为1;同时mp1管关闭,mn1管打开,VC1点的C2缓慢放电,R端仍为1,D触发器FF(图1中16所示)处于保持阶段,直至VC1点低于VREF;比较器输出使D触发器FF(图1中16所示)的S端为1,R端为0,Q端输出为1,Q非端输出为0。此时mp1管导通,mn1管关闭。VDD对电容C1充电,将VC1点的电压快速充电到VDD,R端变为1;同时mp1管关闭,mn1管打开,VC1点的C2缓慢放电,S端仍为1,D触发器FF(图1中16所示)处于保持阶段,直至VC2点放电低于VREF为一个完整周期,所以振荡周期是放电时间的2倍。
本发明实施例装置中电容C1等于电容C2,mn4、mn5管尺寸相同。根据电荷充放电公式:
I*Δt=C*ΔV (1)
其中,公式(1)中I为放电电流等于:
Ich2=Ich1=K*Ich=K(VDD-VREF)/(R1+Rmp3) (2)
公式(2)中的K为电流镜像比:晶体管mn4宽长比与校准电路中各支路晶体管的宽长比之和的比值。Δt为其中一个电容的放电时间;C为电容大小:
C=C1=C2 (3)
ΔV为电容冲放电前后的电压差:
ΔV=VDD-VREF (4)
所以时钟输出周期为两路C1和C2的放电时间相加。
T=Δt1+Δt2=2Δt1=2*C*ΔV/I (5)
将公式(2)(3)(4)带入公式(5)中得输出频率:
f=1/T=K/(2*C1*(R1+Rmp3)) (6)
本发明实施例的时钟产生装置中,由(6)可知输出频率f只与电流镜像比K、充电电容C、电阻R1和mp3管等效电阻Rmp3相关。其中电流镜像比和充电电容的温度系数很小。所以为了消除温度变化对输出频率影响,在基准电压产生模块11中将MP3管与POLY电阻R1串联,因为晶体管MP3的等效电阻Rmp3为正温度系数;电阻R1为负温度系数,两类电阻叠加可降低整体电阻的温度系数,从而消除温度对输出频率的影响,从而提高输出频率精度。
本发明实施例的时钟产生装置中,为消除电源电压变化对输出频率的影响,在基准电压产生模块11中用MP3充当MOS电阻Rmp3,流过电阻R1电流Ich=(VDD-VREF)/(R1+Rmp3),在振荡电路模块中再将VDD-VREF消除掉,使输出频率与电源电压VDD和比较电压VREF无关,从而提高输出频率精度。
本发明实施例的时钟产生装置中,为了消除工艺参数偏差对频率的影响,在自动校验电路控制模块12中通过控制开关调节镜像电流,如图2所示。当输出频率发生偏差时,通过开关Switch1(图2中21所示)和Switch2(图2中22所示)改变公式(6)中电流镜像比K,来自动调节输出频率。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (4)
1.一种高精度时钟产生装置,其特征在于,所述装置包括:基准电压产生模块和振荡电路模块,
基准电压产生模块,由晶体管MP3、自动校验电路控制模块和电阻R1组成;晶体管MP3的漏极接电源VDD,源极接电阻R1,栅极接地;电阻R1的另一端接自动校验电路控制模块的VRFE端口;自动校验电路控制模块输出VREF给振荡电路模块提供比较电压;
自动校验电路控制模块由晶体管MN3、MN4、MN5、Switch1、Switch2组成;晶体管MN3的漏极接地VSS,源极和栅极一起接到VREF;晶体管MN4的漏极接Switch1,源极和栅极一起接到电阻R1的另一端;振荡电路模块由晶体管MN1、MN2、MP1、MP2;电容C1、C2;比较器COMP1、COMP2;D触发器FF组成;晶体管MP1的漏极接电源VDD,晶体管MP1源极与晶体管MN1的源极相接结点名称为VC1,晶体管MP1栅极与晶体管MN1的栅极相接接到D触发器FF的输出Q非端,晶体管MN1的漏极接晶体管MN4的源极,晶体管MN4的漏极接地VSS,晶体管MN4的栅极接VREF;晶体管MP2的漏极接电源VDD,晶体管MP2源极与晶体管MN2的源极相接结点名称为VC2,晶体管MP2栅极与晶体管MN2的栅极相接接到D触发器FF的输出Q端,晶体管MN2的漏极接晶体管MN5的源极,晶体管MN5的漏极接地VSS,晶体管MN5的栅极接VREF。
2.根据权利要求1所述的一种高精度时钟产生装置,其特征在于,晶体管MP3管与电阻R1串联,二者温度系数相反,减小了输出时钟受温度影响因素,提高输出时钟的精度。
3.根据权利要求1所述时钟产生装置,其特征在于,振荡电路模块中电容C1和C2的放电电流的产生电压VDD-VREF和电容冲放电前后的电压变化VDD-VREF相等,这样放电时间与电源电压VDD和比较电压VREF无关,减小了输出时钟受电源电压影响因素,提高了输出时钟精度。
4.根据权利要求1所述一种高精度时钟产生装置,其特征在于,所述自动校验电路控制模块通过开关Switch1和Switch2导通和断开,改变偏置电流大小,从而改变电流镜像比,来调节输出频率,校准工艺偏差引起的频率偏差。
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