CN105425982B - 电子设备及其控制方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电子设备及其控制方法。所述电子设备包括：第一检测电极组；第二检测电极组；第三检测电极组；转动构件，用于在转动构件与第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组相面对的位置之间移动；检测单元，用于检测第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组的静电电容；确定单元，用于根据第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组的静电电容和针对第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组的阈值来确定转动构件的转动方向、转动量或转动角度；更新单元，用于使用所选择的最小静电电容来更新第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组中与所选择的最小静电电容相对应的一个检测电极组的基准值。
Description
技术领域
本发明涉及包括使用静电电容检测方法的操作构件的电子设备及其控制方法。
背景技术
近年，在各种设备中将用于检测由用户进行的触摸操作的触摸面板作为检测装置来实现。在这些触摸面板中，广泛使用采用了用于容易地进行多点同时检测的静电电容检测方法的触摸面板。
日本特开2013-30121公开了使用静电电容检测方法的检测设备。在日本特开2013-30121中公开的检测设备中，通过检测检测电极中静电电容的增大或减小可以检测出操作点的运动方向。
这种使用静电电容检测方法的检测设备在组成部件的咔哒声(rattle)和由与时间有关的劣化引起的检测电极之间的静电电容的变化中存在问题。为了解决这些问题，在日本特开2010-287351中提出了通过控制增益来吸收静电电容的变化的技术。
然而，在日本特开2010-287351公开的技术中，使用各电极的静电电容的比来计算转动相位。因此，在操作期间检测到组成部件的咔哒声的情况下，可能检测不出适当的静电电容比，从而可能也不能适当地检测出转动方向、转动量或转动角度。
发明内容
根据本发明的一个方面，提供了一种能够适当地检测出转动方向、转动量或转动角度的电子设备和一种能够适当地检测出转动方向、转动量或转动角度的方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种能够检测出转动方向或转动量的电子设备和一种能够适当地检测出转动方向或转动量的方法。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，包括：第一检测电极组；第二检测电极组，其包括与所述第一检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极；第三检测电极组，其包括与所述第二检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极；转动构件，其被配置为在该转动构件与所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组相面对的位置之间移动；检测单元，用于检测所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容；确定单元，用于根据所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容以及针对所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的阈值来确定所述转动构件的转动方向、转动量或转动角度；选择单元，用于选择所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的最小静电电容；以及更新单元，用于使用静电电容中的所选择的最小静电电容来更新所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组中与静电电容中的所选择的最小静电电容相对应的一个检测电极组的基准值。
根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备的控制方法，包括：检测第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组的静电电容；根据所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容以及针对所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的阈值，来确定转动构件的转动方向、转动量或转动角度；选择所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的最小静电电容；以及使用静电电容中的所选择的最小静电电容来更新所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组中与静电电容中的所选择的最小静电电容相对应的一个检测电极组的基准值，其中，所述第二检测电极组包括与所述第一检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极，所述第三检测电极组包括与所述第二检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极，以及所述转动构件被配置为在所述转动构件与所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组相面对的位置之间移动。
通过以下对典型实施例的说明，本发明的进一步特征和方面将变得明显。
附图说明
包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图示出了本发明的典型实施例、特征和方面。
图1是示出包括在根据第一实施例的电子设备100中的组件的框图。
图2A和图2B是示出根据第一实施例的电子设备100的外观的图。
图3是作为转动拨盘来实现的操作单元140的分解立体图。
图4A是示出包括在检测电极单元中的检测电极在基板上的配置的图，图4B是示出转动导电板330的形状的平面图，图4C是示出相互重叠的转动导电板330和检测电极单元130之间的配置关系的平面图。
图5是示出静电电容检测处理和基准值更新处理的流程图。
图6是示出检测电极组的静电电容的变化的图。
图7是示出基准值更新处理的图。
图8A是示出根据第二实施例的电子设备800的外观的背面图，图8B是示出非转动构件801的横截面的结构的图，图8C是示出非转动构件801的平面图，图8D是示出检测电极的配置的平面图。
具体实施方式
以下将通过参考附图来说明本发明的典型实施例、特征和方面。
第一实施例
图1是示出包括在根据第一实施例的电子设备100中的组件的框图。图2A和图2B是示出根据第一实施例的电子设备100的外观的图。根据第一实施例的电子设备100例如是摄像设备。摄像设备能够作为照相机工作。摄像装置的示例包括数字照相机和具有照相机的移动电话。包括在电子设备100中的至少一个组件作为电子设备100中的硬件结构来实现。
电子设备100包括例如是非易失性存储器的第一存储器101。中央处理单元(CPU)150可以访问存储有要被CPU 150执行的程序的第一存储器101。另外，将在静电电容检测单元120中使用的至少一个基准值和至少一个阈值(预定值)存储在第一存储器101中。尽管在第一实施例中第一存储器101例如包括闪速存储器，但是可以使用其它存储装置。
第二存储器102例如是随机存取存储器(RAM)。CPU 150可以访问用作为CPU 150的工作存储器的第二存储器102。由包括在电子设备100中的摄像单元160生成的图像数据(包括静止图像或运动图像)也存储在第二存储器102中。已经受过由CPU 150进行的图像处理的图像数据也存储在第二存储器102中。
显示单元103作为能够显示静止图像、运动图像和菜单等的显示装置来工作。显示单元103还用作为用于显示由摄像单元160拍摄的实时取景图像的取景器。从CPU 150供给在显示单元103中显示的静止图像、运动图像和菜单等。
保持检测单元104可以检测到用户保持电子设备100并将检测结果通知CPU 150。根据图2A，保持检测单元104设置在电子设备100的把持部中。然而，上述设置位置并不限于此，保持检测单元104可以设置在电子设备100的任意位置中。电子设备100可以包括保持检测单元104。保持检测单元104包括诸如静电电容传感器或光遮断器等的传感器集成电路(IC)。
电源单元105可以连接至电池和AC适配器，并经由DC-DC转换器等向包括在电子设备100中的组件供给电力。电池和AC适配器从电源部105可拆卸。
电源开关(电源SW)106用于进行电子设备100的电源单元105的通电或断电。电源SW 106连接至CPU 150。在图2B中，示出了电源SW 106是具有接通位置和断开位置的机械开关的情况。然而，电源SW 106可以是按压开关或者电子开关等。在电源SW 106在断开状态时，即使在电池或AC适配器连接至电源单元105的情况下，电子设备100也在低功耗状态或断电状态。在电池或AC适配器连接至电源单元105的状态中电源SW 106变为接通状态的情况下，将电力供给至包括在电子设备100中的组件。结果，电子设备100进入正常状态或通电状态，并准备进行正常工作。注意，可以在电源SW 106的通电状态和断电状态这两者中操作操作单元140。
温度测量单元107测量静电电容检测单元120的周围温度并将测量结果通知CPU150。温度测量单元107例如包括温度传感器IC。
CPU 150包括用于统一控制电子设备100的组件的微处理器。包括在CPU150中的微处理器具有硬件结构。CPU 150可以控制包括在电子设备100中的组件以使电子设备100作为摄像设备来工作。尽管后面详细说明，CPU 150能够根据在操作单元140上进行的操作的检测结果来切换电子设备100的操作模式并更新显示单元103中的显示。
计时器151连续工作并在预定间隔使得CPU 150中断。尽管图1中计时器151并入在CPU 150中，但是可以将计时器151设置在CPU 150外部。
计数器152统计操作单元140操作的次数，并将计数值通知CPU 150。尽管图1中计数器152并入在CPU 150中，但是可以将计数器152设置在CPU 150外部。计数器152可以统计与操作单元140不同的操作单元的操作的次数。
静电电容检测单元120检测接地电位(GND电位)的导电构件320(参见图3)与检测电极组130a之间的静电电容。类似地，静电电容检测单元120检测GND电位的导电构件320与检测电极组130b之间的静电电容、以及GND电位的导电构件320与检测电极组130c之间的静电电容。以下，将导电构件320与检测电极组130a之间的静电电容称作为检测电极组130a的静电电容，将导电构件320与检测电极组130b之间的静电电容称作为检测电极组130b的静电电容，将导电构件320与检测电极组130c之间的静电电容称作为检测电极组130c的静电电容。将静电电容检测单元120所检测到的检测电极组130a的静电电容、检测电极组130b的静电电容和检测电极组130c的静电电容发送至CPU 150。尽管在图1中静电电容检测单元120连接至CPU 150，但是静电电容检测单元120可以并入在CPU 150中。可选地，通过由CPU150执行的程序可以在CPU150中实现静电电容检测单元120。CPU 150根据由静电电容检测单元120所检测的检测电极组130a至130c的静电电容来检测用户在操作单元140上进行的操作。检测电极组130a至130c例如包括在检测电极单元130中。检测电极单元130设置在具有与具有GND电位的导电构件320相同的轴的圆的圆周上，以使检测电极单元130与导电构件320相面对。
CPU 150能够在静电电容检测单元120中设置任意的基准值和任意的阈值(或预定值)。任意的基准值包括针对检测电极组130a的基准值、针对检测电极组130b的基准值、以及针对检测电极组130c的基准值。任意的阈值(或预定值)包括针对检测电极组130a的阈值(或预定值)、针对检测电极组130b的阈值(或预定值)、以及针对检测电极组130c的阈值(或预定值)。在检测电极组130a的静电电容大于比针对检测电极组130a的基准值大的阈值(或预定值)的情况下，静电电容检测单元120向CPU 150生成中断。在检测电极组130b的静电电容大于比针对检测电极组130b的基准值大的阈值(或预定值)的情况下，静电电容检测单元120向CPU 150生成中断。在检测电极组130c的静电电容大于比针对检测电极组130c的基准值大的阈值(或预定值)的情况下，静电电容检测单元120向CPU 150生成中断。CPU 150可以使得静电电容检测单元120在任意定时输出检测电极组130a至130c的静电电容。
包括在检测电极单元130中的检测电极各自包括在检测电极组130a至130c中的一个检测电极组中。如在图4A至图4C中示出的，检测电极组130a至130c依次交替配置在圆周上。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件320与包括在检测电极组130a的检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组130a的静电电容发送至CPU150。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件320与包括在检测电极组130b的检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组130b的静电电容发送至CPU150。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件320与包括在检测电极组130c的检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组130c的静电电容发送至CPU150。
操作单元140包括在电子设备100中。如图2B中所示出的，操作单元140在电子设备100上作为转动拨盘来实现。然而，操作单元140不限于转动拨盘，并且可以是滑块或其它拨盘。操作单元140用于由用户进行的诸如改变电子设备100的模式的操作、选择测距点的操作、选择要再现的图像的操作和在菜单上进行的操作等的各种操作。
接着，将参考图3说明检测电极单元130和操作单元140之间的位置关系。图3是作为转动拨盘来实现的操作单元140的分解立体图。操作单元140至少包括转动构件300、环310、导电构件320、三个接触部321和转动导电板330。
转动构件300是由用户操作的操作构件。环310安装在电子设备100的壳体上并在其内圆周面上具有凹凸形状。要与环310的内周面中的凹凸形状相接触的球形体以该球形体偏向环310的内周面的状态配置在转动构件300上。在用户进行转动该转动构件300的操作的情况下，转动构件300的球形体在与环310的内周面中的凹凸形状相接触的同时移动，并且周期性地改变转动操作的阻抗。通过这样，用户具有在特定角度点击每个操作的感知。
导电构件320是具有GND电位的金属构件。导电构件320通过螺丝钉等安装至电子设备100的金属壳体部，并具有在电学上与静电电容检测单元120的GND电位相同的电位。三个接触部321从导电构件320延伸以使得转动导电板330具有GND电位。在第一实施例中，导电构件320通过三个接触部321在三个点处电学地和物理地与转动导电板330相接触。然而，接触部321的数目以及接触部321的结构不限于图3中示出的那些。转动导电板330与转动构件300一起转动，并且是响应于用户的操作而沿检测电极单元130中包括的检测电极的配置方向移动的可移动构件的示例。
包括在检测电极单元130中的检测电极基本上以特定节距设置在基板340的内周面上。
尽管在图3中转动导电板330与GND电位的导电构件320相接触，但是这个结构可以任意改变。例如，可以在基板340上形成GND图案，并且转动导电板330可以与GND图案相接触，从而GND图案用作为GND电位的导电构件320。另外，可以设置具有与转动导电板330的形状相同的形状的转动电介质构件来替换转动导电板330，并且可以省略三个接触部321。
将参考图4A至图4C来说明转动导电板330的形状的示例和包括在检测电极单元130中的检测电极的配置的示例。图4A是示出包括在检测电极单元130中的检测电极在基板340上的配置的图，图4B是示出转动导电板330的形状的平面图，图4C是示出相互重叠的转动导电板330和检测电极单元130之间的配置关系的平面图。
在图4A中，参考数字1被分配给包括在检测电极组130a中的检测电极，参考数字2被分配给包括在检测电极组130b中的检测电极，参考数字3被分配给包括在检测电极组130c中的检测电极。检测电极组130a至130c具有相同数目的检测电极。包括在检测电极组130a中的检测电极在基板340上通过线彼此连接，并连接至静电电容检测单元120的端口。包括在检测电极组130b中的检测电极也在基板340上通过线彼此连接，并连接至静电电容检测单元120的端口。包括在检测电极组130c中的检测电极也在基板340上通过线彼此连接，并连接至静电电容检测单元120的端口。在图4A的配置示例中，包括在检测电极单元130中的检测电极以沿内周面方向大致相同的角度配置在基板340上，以使得包含包括在检测电极组130a中的检测电极中的一个、包括在检测电极组130b中检测电极中的一个、以及包括在检测电极组130c中的检测电极中的一个的组以这种顺序重复配置。尽管在图4中检测电极单元130包括24个检测电极，但是这仅是示例。包括在检测电极组130a中的检测电极的总数目、包括在检测电极组130b中的检测电极的总数目、以及包括在检测电极组130c中的检测电极的总数目不限于8个。例如，包括在检测电极组130a中的检测电极的总数目、包括在检测电极组130b中的检测电极的总数目、以及包括在检测电极组130c中的检测电极的总数目可以为至少两个。
如图4B中所示，空槽位331形成在转动导电板330上(在图3、4B和4C中，例如8个空槽位)。在转动导电板330和检测电极单元130相互重叠的情况下，各空槽位331同时面对三个不同的检测电极中相邻的两个检测电极。在这种情况下，空槽位331之间的各空间面对三个不同的检测电极中剩余的一个检测电极。因此，如图4C中所示，可能的是，在各空槽位331面对包括在检测电极组130b中的检测电极和包括在检测电极组130c中的与检测电极组130B相邻的检测电极的情况下，空槽位331之间的各空间面对包括在检测电极组130a中的检测电极。还有可能的是，在各空槽位331面对包括在检测电极组130a中的检测电极以及包括在检测电极组130b中的与检测电极组130a相邻的检测电极的情况下，空槽位331之间的各空间面对包括在检测电极组130c中的检测电极。另外，还有可能的是，在各空槽位331面对包括在检测电极组130a中的检测电极和包括在检测电极组130c中的与检测电极组130a相邻的检测电极的情况下，空槽位331之间的各空间面对包括在检测电极组130b中的检测电极。转动导电板330与转动构件300相啮合，以使得转动导电板330在上述状态中稳定或停止。
在第一实施例中，在电池连接至电子设备100的情况下或者在连接至电子设备100的电池改变的情况下，更新针对检测电极组130a至130c的基准值中的至少一个基准值。由于CPU 150根据基准值来确定阈值，所以CPU 150还更新与更新后的基准值相对应的阈值。图5是示出静电电容检测处理即检测检测电极组130a至130c的静电电容的处理的流程图。图5还示出基准值更新处理即更新检测电极组130a至130c的至少一个基准值的处理的流程图。可以通过CPU 150在包括通电的情况下的定时的任意定时来执行图5中示出的静电电容检测处理和基准值更新处理。例如，可以设置用于检测电池盖的打开/关闭的开关，并且可以在开关检测到电池盖关闭的情况下的定时执行基准值更新处理。另外，可以在通过CPU150的电源管理使电子设备100从睡眠状态恢复的情况下的定时执行图5中示出的静电电容检测处理和基准值更新处理。
在步骤S501中，CPU 150对静电电容检测单元120进行初始设置。例如，设置包括在检测电极组130a中的检测电极的总数目、包括在检测电极组130b中的检测电极的总数目、以及包括在检测电极组130c中的检测电极的总数目。
在步骤S502中，通过CPU 150从第一存储器101读取并在静电电容检测单元120中设置针对检测电极组130a至130c的基准值和针对检测电极组130a至130c的阈值。通过这样，静电电容检测单元120判断检测电极组130a至130c的静电电容中大于比相对应的基准值大的相对应的阈值的一个静电电容。
在步骤S503中，CPU 150检查静电电容检测单元120的状态。静电电容检测单元120的状态包括表示检测电极组130a至130c的静电电容中大于比相对应的基准值大的相对应的阈值的一个静电电容的信息。通过这样，CPU 150确定操作单元140的转动位置(初始相位)。操作单元140的转动位置(初始相位)表示所选择的检测电极组130a至130c中的一个检测电极组。之后，CPU 150使用所确定的位置作为基准根据由转动操作而引起的检测电极组130a至130c的静电电容变化来确定转动操作的转动方向、转动量和转动角度。
在步骤S504中，CPU 150判断电源SW 106的状态是改变至接通状态还是断开状态。在判断为电源SW 106的状态改变至接通状态的情况下(在步骤S504中为是)，CPU 150进入步骤S505以检测转动构件300的转动操作。在判断为电源SW 106的状态改变至断开状态的情况下(在步骤S504中为否)，CPU150进入步骤S508以更新针对检测电极组130a至130c的基准值中的至少一个基准值。为了便于理解，在图5的流程图中，在步骤S504中进行电源SW106的状态改变至接通状态还是断开状态的判断。然而，可以与电源SW 106的状态至接通状态或断开状态的变化相关联地向CPU 150生成中断。
在步骤S505中，CPU 150判断是否通过静电电容检测单元120的输出生成中断。静电电容检测单元120周期地测量检测电极组130a至130c的静电电容。在检测电极组130a至130c的静电电容中一个静电电容大于比相对应的基准值大的相对应的阈值的情况下(在步骤S505中为是)，静电电容检测单元120将中断发送给CPU 150。
在步骤S506中，CPU 150响应于静电电容检测单元120的中断，来检查静电电容检测单元120的状态。静电电容检测单元120的状态包括表示检测电极组130a至130c的静电电容中大于比相对应的基准值大的相对应的阈值的一个静电电容的信息。
在步骤S507中，CPU 150根据在步骤S506中检查到的状态确定转动构件300的转动方向和转动量。另外，CPU 150可以根据所确定的转动方向和所确定的转动量来确定转动角度。CPU 150根据所确定的转动方向和所确定的转动量来确定由用户通过使用转动构件300的操作所指定的模式，并更新显示单元103的显示。
在步骤S508中，CPU 150通过静电电容检测单元120来读取检测电极组130a至130c的静电电容。
在步骤S509中，CPU 150将在步骤S508中读取的检测电极组130a的静电电容与针对检测电极组130a的基准值相比较，以获得两者的差。CPU 150将在步骤S508中读取的检测电极组130b的静电电容与针对检测电极组130b的基准值相比较，以获得两者的差。CPU 150将在步骤S508中读取的检测电极组130c的静电电容与针对检测电极组130c的基准值相比较，以获得两者的差。然后，CPU 150通过在步骤S508中读取的相对应的静电电容来替换存储在第一存储器101中的、检测电极组130a至130c中的与所计算出的差中的最小差相对应的一个基准值。假设用于存储针对所述替换的基准值的第一存储器101的存储元件为非易失性存储器(例如，EEPROM)。部件第二存储器102可以用作为非易失性存储器，并且可以将更新后的基准值存储在非易失性存储器中。通过这样，CPU 150可以更新针对检测电极组130a至130c的基准值中的至少一个基准值。在更新了针对检测电极组130a至130c的基准值中的至少一个基准值的情况下，CPU 150可以更新与更新后的基准值相对应的阈值。
尽管在图5中示出的流程图中在电源SW 106进入断开状态的情况下开始基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)，但是可以在不同的预定定时开始基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)。例如，可以在通过CPU 150的电源管理而进入睡眠状态的情况下开始基准值更新处理，以更新检测电极组130a至130c的基准值中的一个基准值。
图6是示出在操作转动构件300转动的情况下检测电极组130a至130c的静电电容的变化的图。如上所述，静电电容检测单元120检测检测电极组130a至130c的静电电容。在图6中，(a)是示出检测电极组130a的静电电容的变化的图，(b)是示出检测电极组130b的静电电容的变化的图，(c)是示出检测电极组130c的静电电容的变化的图。在图6的(a)至(c)中，横轴表示时间，纵轴表示静电电容。
图7是示出在转动构件300停止的位置处检测电极组130a至130c的静电电容的变化的图。在图7中，(a)是示出检测电极组130a的静电电容的变化的图，(b)是示出检测电极组130b的静电电容的变化的图，(c)是示出检测电极组130c的静电电容的变化的图。在图7的(a)至(c)中，横轴表示时间，纵轴表示静电电容。如在图7中通过垂直点划线示出的，在转动构件300的各转动位置中，检测电极组130a至130c的静电电容中的至少一个静电电容具有最小值。由于在第一实施例中例如通过将预定值增加至基准值来获得阈值，所以通过适当地确定基准值可以适当地确定阈值。
另外，在转动构件300的球形体与环310的内周面中的凹部相啮合的转动构件300的各停止位置中，检测电极组130a至130c的静电电容中的一个静电电容大而另外两个静电电容小。在这种状态中，可以确定检测电极组130a至130c中具有小的静电电容的两个检测电极组的基准值，并相应地，可以确定检测电极组130a至130c中两个检测电极组的阈值。
根据在图5中示出的基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)，在第一实施例中，通过所检测的静电电容来更新具有所检测的静电电容与基准值之间最小差的一个检测电极组的基准值。通过这样，与检测电极组130a至130c相对应的至少一个基准值与最小静电电容相匹配。因此，静电电容检测单元120不需要考虑所测量的静电电容小于基准值的情况。通过上述的处理，无论静电电容的暂时变化如何，即使在由于在转动构件300的一个转动期间发生操作单元140的部件的咔哒声而使得静电电容改变的情况下，仍可以适当地检测出转动角度、转动方向或者转动量。
可以在设计阶段计算或者在针对各设备的装运中测量初始存储在第一存储器101中的检测电极组130a至130c的基准值。
在用户放下电子设备100的情况下，可以不操作操作单元140。因此，可以根据保持检测单元104的输出，在用户放下电子设备100的情况下启动基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)。
可以使用计时器151在预定间隔启动基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)。在这种情况下，在检测到由用户在操作单元140上进行的操作的情况下，重置计时器151。通过这样，防止了在用户在操作操作单元140的同时进行的基准值的更新。
可以在温度测量单元107检测到预定程度以上的温度的变化的情况下，执行基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)。优选地，在用户操作操作单元140之后进行基准值的更新。这是因为如果在用户操作操作单元140的情况下更新基准值，则转动方向或转动量的检测可能会失败。
可以通过计数器152来统计操作单元140的转动数目(移动量)，并且可以每到达预定转动数目(预定量)的时间执行基准值更新处理(步骤S508和步骤S509)。在这种情况下，也优选在用户操作操作单元140之后进行基准值的更新。这是因为如果在用户操作操作单元140的情况下更新基准值，则转动方向或转动量的检测可能会失败。
可以在转动导电板330中减小各空槽位331沿圆周方向的尺寸，以使得一个检测电极面对导电构件320。由于空槽位331之间的部分的尺寸与针对两个检测电极的尺寸相对应，所以静电检测单元120可以检测包括在相同检测电极组中的检测电极的静电电容。具体地，与图4中示出的示例相反，在转动导电板330的停止位置中，一个检测电极组的检测电极面对导电构件320，并且另外两个检测电极组的检测电极面对转动导电板330。通过这种结构，也可以根据图5中示出的流程图来检测转动构件300的转动操作。
根据上述结构，即使产生包括检测电极单元130和转动导电板330的操作单元140的咔哒声或变形，CPU 150仍可以适当地检测出转动操作的转动方向和转动量，并且另外，可以适当地检测出转动角度。
第二实施例
尽管在第一实施例中说明了使用转动构件的情况，但是可以通过非转动构件(例如，用于直线地往复运动的操作构件)来替换转动构件。在沿一个运动方向与任意检测电极相邻的检测电极、以及沿另一运动方向与该任意检测电极相邻的另一检测电极包括在不同的检测电极组中的情况下，可以检测出操作方向和运动量。
在第二实施例中，将说明采用非转动构件801的电子设备800。图8A是示出根据第二实施例的电子设备800的外观的背面图，图8B是示出非转动构件801的横截面的结构的图，图8C是示出非转动构件801的平面图，图8D是示出检测电极的配置的平面图。以下，将非转动构件称为“滑块”。
在图8B中示出的电子设备800的内部结构与图1中示出的结构的不同之处在于，非转动构件801被设置作为操作单元140以及由检测电极单元821替换检测电极单元130。包括在检测电极单元821中的检测电极各自包括在检测电极组821a至821c中的一个检测电极组中。检测电极组821a至821c交替配置在直线上。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件803与包括在检测电极组821a中的检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组821a的静电电容发送至CPU 150。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件803与包括在检测电极组821b中的检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组821b的静电电容发送至CPU 150。静电电容检测单元120检测具有GND电位的导电构件803与包括在检测电极组821c中的多个检测电极之间的静电电容的和，并将所检测的和作为检测电极组821c的静电电容发送至CPU 150。
滑块801沿轨道802可直线地移动。GND电位的金属导电构件803附着在滑块801的底面，并随着滑块801的移动以特定间隙遍及包括在检测电极单元821中的检测电极而移动。通过此移动，包括在检测电极单元821中的检测电极与金属导电构件803之间的静电电容根据滑块801的移动而改变。确定金属导电构件803的尺寸和形状，以使得金属导电构件803面对单个检测电极。
在轨道802的较低面上配置用于在特定位置以特定周期锁定滑块801的锁定机构810。锁定机构810包括球形体811、弹簧812和周期凹凸面813。沿与滑块801移动方向平行的方向形成用于使得球形体811被弹簧812弹出、然后沿与滑块801相对的横向啮合的周期凹凸面813。在周期凹凸面813的突起和凹部之间的高度差减小的情况下实现弱的点击感，而在高度差增大的情况下，实现强的点击感。
包括在检测电极单元821中的检测电极沿滑块801的滑动方向以预定间隔配置在基板820上。基板820以预定间隔配置在滑块801的金属导电构件803下方。在滑块801的任意位置中，金属导电构件803都不与包括在检测电极单元821中的检测电极中的任一个相接触。以检测电极组821a、检测电极组821b、检测电极组821c的顺序沿滑块801的滑动方向直线地配置包括在检测电极单元821中的检测电极。
检测电极组821a至821c的静电电容的检测和基准值更新处理与第一实施例中的相同，并且因此，省略了它们的详细说明。
尽管在第一和第二实施例中本发明应用于诸如摄像设备等的电子设备，但是只要电子设备包括能够通过静电电容检测操作方向或者操作方向和操作量或者操作量的操作构件，本发明可以应用于除摄像设备之外的电子设置。
以上已经说明了本发明的示例性实施例。但是本发明不局限于上述的示例性实施例，并且在本发明的范围内可作出各种修改和替换。
第三实施例
在第一和第二实施例中说明的各种功能、处理和方法中的至少一个可以使用程序来实现。以下，在第三实施例中，用于实现在第一和第二实施例中说明的各种功能、处理和方法中的至少一个的程序将被称为“程序X”。另外，在第三实施例中，用于执行程序X的计算机将被称为“计算机Y”。计算机Y的示例包括个人计算机、微计算机和中央处理单元(CPU)。
在第一和第二实施例中说明的各种功能、处理和方法中的至少一个可以通过计算机Y执行程序X来实现。在这种情况下，经由计算机可读存储介质将程序X供给至计算机Y。根据第三实施例的计算机可读存储介质包括硬盘装置、磁存储装置、光存储装置、磁光存储装置、存储卡、只读存储器(ROM)和随机存取存储器(RAM)中的至少一个。另外，根据第三实施例的计算机可读存储介质是非瞬态存储介质。
尽管参考典型实施例描述了本发明，但是应该理解，本发明不局限于所述典型实施例。所附权利要求书的范围符合最宽泛的解释，以包含所有的修改和等同结构。
Claims (10)
1.一种电子设备，包括：
第一检测电极组；
第二检测电极组，其包括与所述第一检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极；
第三检测电极组，其包括与所述第二检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极；
转动构件，其被配置为在该转动构件与所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组相面对的位置之间移动；
检测单元，用于检测所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容；以及
确定单元，用于使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容以及针对所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的阈值，来确定所述转动构件的转动方向、转动量或转动角度，
所述电子设备的特征在于，还包括：
选择单元，用于获得表示第一基准值和所述第一检测电极组的静电电容之间的差的第一差、表示第二基准值和所述第二检测电极组的静电电容之间的差的第二差、以及表示第三基准值和所述第三检测电极组的静电电容之间的差的第三差，并且从所述第一差、所述第二差和所述第三差中选择最小差；以及
更新单元，用于使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中与所选择的最小差相对应的一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中与所选择的最小差相对应的一个基准值，并且更新与更新后的基准值相对应的阈值。
2.根据权利要求1所述的电子设备，其中，
在电源开关断开的情况下，所述更新单元使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的所述一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中的所述一个基准值。
3.根据权利要求1所述的电子设备，其中，
在进入预定状态的情况下，所述更新单元使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的所述一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中的所述一个基准值。
4.根据权利要求1所述的电子设备，其中，
所述电子设备包括摄像设备。
5.根据权利要求1所述的电子设备，其中，
所述电子设备包括数字照相机或移动电话。
6.一种电子设备的控制方法，包括：
检测第一检测电极组、第二检测电极组和第三检测电极组的静电电容；以及
使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容以及针对所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的阈值，来确定转动构件的转动方向、转动量或转动角度，
所述控制方法的特征在于，还包括：
获得表示第一基准值和所述第一检测电极组的静电电容之间的差的第一差、表示第二基准值和所述第二检测电极组的静电电容之间的差的第二差、以及表示第三基准值和所述第三检测电极组的静电电容之间的差的第三差；
从所述第一差、所述第二差和所述第三差中选择最小差；
使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中与所选择的最小差相对应的一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中与所选择的最小差相对应的一个基准值；以及
更新与更新后的基准值相对应的阈值，
其中，所述第二检测电极组包括与所述第一检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极，
其中，所述第三检测电极组包括与所述第二检测电极组中所包括的电极相邻配置的电极，以及
其中，所述转动构件被配置为在所述转动构件与所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组相面对的位置之间移动。
7.根据权利要求6所述的控制方法，其中，
在电源开关断开的情况下，使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的所述一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中的所述一个基准值。
8.根据权利要求6所述的控制方法，其中，
在进入预定状态的情况下，使用所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的静电电容中的所述一个静电电容，来更新所述第一基准值、所述第二基准值和所述第三基准值中的所述一个基准值。
9.根据权利要求6所述的控制方法，其中，
包括所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的所述电子设备包括摄像设备。
10.根据权利要求6所述的控制方法，其中，
包括所述第一检测电极组、所述第二检测电极组和所述第三检测电极组的所述电子设备包括数字照相机或移动电话。
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