CN105161037A - 位置校准方法、测试电路板、样本面板和位置校准装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种位置校准方法、测试电路板、样本面板和位置校准装置。所述位置校准方法用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述校准方法包括：S1、提供测试电路板，并形成至少一个第一样本金手指；S2、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指；S3、将所述测试电路板与所述样本面板相接触；S4、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置。本发明能够快速准确地校准测试电路板和待测试显示面板的位置。
Description
技术领域
[0001] 本发明涉及显示技术领域，具体涉及一种位置校准方法、一种测试电路板、一种样本面板和一种位置校准装置。
背景技术
[0002] 在制作完显示面板之后，需要对显示面板进行测试，即将测试电路板(即显示装置中与显示面板相匹配的柔性电路板FPC)与待测试显示面板导通，通过显示面板的显示情况判断显示面板是否为良品。通常在检测时，将待测试显示面板固定在测试机的固定台上，将测试电路板固定在测试机的压头上，将压头下压，同时操作者肉眼校准测试电路板的位置，使得测试电路板上10的多个第一金手指11与待测试显示面板20上的多个第二金手指21—一对应接触(如图1所示)，从而使得测试电路板10与显示面板20导通。但是，操作者肉眼校准的方法效率较慢，且精度不够，容易导致测试电路板与显示面板之间发生短路。
发明内容
[0003] 本发明的目的在于提供一种位置校准方法、一种测试电路板、一种样本面板和一种位置校准装置，从而在对待测试显示面板进行测试前，快速准确地校准测试电路板和待测试显示面板的位置。
[0004] 为了实现上述目的，本发明提供一种位置校准方法，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述校准方法包括:
[0005] S1、提供测试电路板，并在所述测试电路板的第一金手指设置区外侧形成至少一个第一样本金手指；
[0006] S2、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置对齐；
[0007] S3、将所述测试电路板与所述样本面板相接触；
[0008] S4、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接，此时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。
[0009] 优选地，步骤SI包括在所述第一金手指设置区的两侧各形成一个第一样本金手指，并使得两个第一样本金手指电连接；
[0010] 步骤S4包括:
[0011] S4a、当两个第二样本金手指电连接时，检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路；
[0012] S4b、当两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
[0013] 优选地，步骤S4a包括:
[0014] 检测两个第二样本金手指之间的电阻，当测得的电阻为无限大时，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路；否则，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
[0015] 优选地，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离。
[0016] 优选地，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指，步骤S4包括:
[0017] 当任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，检测该第一样本金手指与哪个旁置金手指电连接；
[0018]当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第一侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第二侧与样本面板发生相对移动；当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第二侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第一侧与样本面板发生相对移动。
[0019] 优选地，步骤S2包括:
[0020] S2a、提供与所述待检测显示面板相对应的衬底基板；
[0021] S2b、在所述衬底基板上形成与每个第一样本金手指相对应的第二样本金手指；
[0022] S2c、在每个第二样本金手指的两侧分别形成至少一个旁置金手指。
[0023] 优选地，每个第二样本金手指与其相邻的旁置金手指之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。
[0024] 优选地，步骤S2还包括:形成与每个第二样本金手指电连接的样本测试部以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
[0025] 相应地，本发明还提供一种测试电路板，用于对待测试显示面板进行测试，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，所述测试电路板还包括位于所述第一金手指设置区外侧的至少一个第一样本金手指。
[0026] 优选地，所述测试电路板包括电连接的两个第一样本金手指，该两个第一样本金手指分别设置在所述第一金手指设置区的两侧。
[0027] 优选地，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离。
[0028] 相应地，本发明还提供一种样本面板，用于在测试电路板对待测试显示面板进行测试之前确定待测试显示面板的位置，其中，所述测试电路板为本发明提供的上述测试电路板，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与所述测试电路板上的每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐。
[0029] 优选地，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指。
[0030] 优选地，每个第二样本金手指与其相邻的旁置金手指之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。
[0031] 优选地，所述样本面板还包括与每个第二样本金手指电连接的样本测试部以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
[0032] 相应地，本发明还提供一种位置校准装置，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述位置校准装置包括本发明提供的上述测试电路板和上述样本面板，所述待测试显示面板包括与测试电路板上的多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述位置校准装置还包括:
[0033] 检测模块，用于在测试电路板和所述样本面板接触时，检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。
[0034] 优选地，所述测试电路板包括电连接的两个第一样本金手指，该两个第一样本金手指分别设置在所述第一金手指设置区的两侧，所述检测模块包括两个连接端，该两个连接端能够分别与两个第二样本金手指相连，以使得所述检测模块检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路。
[0035] 优选地，所述检测模块包括万用表，用于检测两个第二样本金手指之间的电阻，所述万用表的两个表笔形成为所述检测模块的两个连接端。
[0036] 优选地，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指，当任意一个第一样本金手指与相应的第二样本金手指断开时，所述检测模块能够检测与该第一样本金手指电连接的旁置金手指的位置。
[0037] 优选地，所述样本面板还包括与每个第二样本金手指电连接的样本测试部，以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
[0038] 优选地，所述位置校准装置还包括固定台、压头、第一固定件和第二固定件，所述第一固定件用于将所述测试电路板固定在所述压头上，所述第二固定件用于将所述样本面板或所述待测试显示面板固定在所述固定台上，所述压头能够朝向靠近或远离所述固定台的方向移动。
[0039] 优选地，所述第一固定件包括多个第一固定柱，所述第一固定柱包括直立部和设置在直立部顶端的压持部，所述压头上设置有固定孔，所述测试电路板上设置有通孔，所述直立部的底端能够穿过所述通孔并固定在所述固定孔中，所述通孔的直径大于所述固定孔的直径并小于所述压持部的直径。
[0040] 优选地，所述第二固定件包括设置在所述固定台上的多个第二固定柱，所述样本面板和所述待测试显示面板均能够固定在所述多个第二固定柱所限定的区域内。
[0041] 在本发明中，当测试电路板与样本面板接触时，只要保证每个第一样本金手指和相应的第二样本金手指电连接即可确定待测试显示面板的位置，当任意一个样本金手指与相应的第二样本金手指断开时，需要调节测试电路板和/或样本面板的位置，直至每个第一样本金手指均与相应的第二样本金手指导通，在后序测试时，只要将待测试显示面板放置在样本面板的位置，即可保证测试电路板上的金手指与待测试显示面板上的金手指一一对齐，从而快速准确地校准测试电路板和待测试显示面板的位置，防止在测试过程中测试电路板和待测试显示面板上的金手指出现错位等情况，进而提高检测的效率和检测效果。
附图说明
[0042] 附图是用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明，但并不构成对本发明的限制。在附图中:
[0043] 图1是现有技术中对待测试显示面板进行检测时，测试电路板与待测试显示面板的标准位置关系示意图；
[0044]图2是本发明的实施例中测试电路板的结构示意图；
[0045] 图3是本发明的实施例中样本面板的结构示意图；
[0046] 图4是本发明的实施例中测试电路板和样本面板接触时的示意图；
[0047] 图5是本发明的实施例中压头和固定台的侧视图；
[0048] 图6是测试电路板设置在压头上的仰视图；
[0049] 图7是样本面板设置在固定台上的俯视图。
[0050] 其中，附图标记为:10、现有技术中的测试电路板；11、第一金手指；20、待测试显示面板；21、第二金手指；30、本发明中的测试电路板;A1、第一金手指设置区；31、第一样本金手指；34、导电图形；40、样本面板;A2、第二金手指设置区；41、第二样本金手指；42、旁置金手指；43、样本测试部；44、旁置测试部；51、固定台；52、压头；61、第一固定柱；62、第二固定柱。
具体实施方式
[0051] 以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明，并不用于限制本发明。
[0052] 作为本发明的一方面，提供一种位置校准方法，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，如图1所示，测试电路板10包括第一金手指设置区(图1中的虚线框Al)，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指11，待测试显示面板20包括与多个第一金手指11 一一对应的多个第二金手指21，所述校准方法包括:
[0053] S1、提供测试电路板，并在所述测试电路板的第一金手指设置区外侧形成至少一个第一样本金手指，如图2所示；
[0054] S2、制作样本面板40，如图3所示，样本面板40包括第二金手指设置区A2，所述样本面板还包括与每个第一样本金手指31对应的第二样本金手指41，并使得当每个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41对齐时，多个第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐；
[0055] S3、将测试电路板30与样本面板40相接触，如图4所示；
[0056] S4、检测每个第一样本金手指31与其相应的第二样本金手指41之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指31与其相应的第二样本金手指41之间断开(没有点连接)时，调节测试电路板30和/或所述样本面板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接，此时，样本面板40的位置即为待测试显示面板的位置。
[0057] 应当理解的是，所述样本面板和所述待测试显示面板是相对应的，S卩，二者的大小、形状均相同，第二金手指设置区A2内具有多个设置位置(如图3中所示的虚线块)，多个第二金手指在待测试显示面板上的位置与所述多个设置位置是一一对应的。但是，样本面板只用于确定待测试显示面板的位置，在所述第二金手指设置区内，可以不设置第二金手指。只要每个第一样本金手指31和相应的第二样本金手指41相接触时，多个第一金手指11和样本面板40上对应于第二金手指的位置一一对齐即可。
[0058] 由于测试电路板30上设置有第一样本金手指31，样本面板40上设置有第二样本金手指41，并且第一样本金手指31和相应的第二样本金手指41相接触时，所述测试电路板上的第一金手指11和样本面板上对应于第一金手指的位置一一对齐。因此，在所述位置校正方法中，当测试电路板与样本面板接触时，只要保证每个第一样本金手指和相应的第二样本金手指电连接即可确定待测试显示面板的位置。当任意一个样本金手指与相应的第二样本金手指断开时，需要调节测试电路板和/或样本面板的位置，直至每个第一样本金手指均与相应的第二样本金手指导通，在后序测试时，只要将待测试显示面板放置在样本面板的位置，即可保证测试电路板上的金手指与待测试显示面板上的金手指一一对齐，从而快速准确地校准测试电路板和待测试显示面板的位置，防止在测试过程中测试电路板和待测试显示面板上的金手指出现错位等情况，进而提高检测的效率和检测效果。
[0059] 在实际生产中，同一生产批次中的多个显示面板的规格相同，可以利用同一个测试电路板对多个待测试显示面板进行测试，每个待测试显示面板的位置与所述样本面板的位置相同。
[0060] 作为本发明的一种具体实施方式，如图2所示，步骤SI包括在第一金手指设置区Al的两侧各形成一个第一样本金手指31，并使得两个第一样本金手指31电连接，具体地，可以在形成两个第一样本金手指31的同时，形成连接两个第一样本金手指的导电图形34。
[0061] 步骤S4包括:
[0062] S4a、当两个第二样本金手指电连接时，检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路；
[0063] S4b、当两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
[0064] 当测试电路板和样本面板接触并且两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路时，表明测试电路板上对应于第一金手指的位置与样本面板上对应于第二金手指的位置也是一一对齐的，不需要设置过多的第一样本金手指或第二样本金手指。
[0065] 两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路是指，两个第二样本金手指和两个第一样本金手指依次电连接。也就是说，当两个第二样本金手指分别接在电源的两端时，两个第二样本金手指之间会有电流通过。
[0066] 本发明对步骤S4a的具体过程不作具体限定，例如，在两个第二样本金手指之间加上电源、电阻和电流表(或指示灯)，当电流表检测到有电流通过时(或指示灯发亮时)，表明第一样本金手指和第二样本金手指形成导电通路。作为本发明的一种优选实施方式，可以通过检测电阻的方法来判断两个第二样本金手指和两个第一样本金手指之间是否形成导电通路，具体地，步骤S4a包括:
[0067] 检测两个第二样本金手指之间的电阻，当测得的电阻为无限大时，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路；否则，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
[0068] 本领域技术人员可以理解的是，可以通过万用表来检测电阻，万用表的量程为零至无限大(⑴)，当两个第二样本金手指和两个样本金手指之间为断路时，两个第二样本金手指之间的电阻为无限大，当两个第二样本金手指和两个样本金手指之间形成导电通路时，两个第二样本金手指之间的电阻很小(不是无限大)。通过检测电阻的方法简单，方便，不需要单独设置电源和电阻等，直接使用万用表检测电阻就可以判断两个第二样本金手指和两个样本金手指之间是否形成导电通路，即每个第一样本金手指是否与相应的第二样本金手指对齐。
[0069] 具体地，如图2所示，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离，以使得第一样本金手指和第一金手指可以统一制作。
[0070] 在本发明中，每个第二样本金手指41的两侧分别设置有至少一个旁置金手指42 (如图3所示)，步骤S4包括:
[0071] 当任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，检测该第一样本金手指与哪个旁置金手指电连接；
[0072]当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第一侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第二侧与样本面板发生相对移动；当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第二侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第一侧与样本面板发生相对移动。
[0073] 因此，根据第一样本金手指和哪个旁置金手指导通，就可以确定测试电路板相对于样本面板的偏移位置，从而便于确定测试电路板和/或样本面板的调节方向。
[0074] 如上文所述，所述测试电路板上设置有两个第一样本金手指，所述样本面板上设置有两个第二样本金手指。这种情况下，第一个第二样本金手指两侧的多个旁置金手指与第二个第二样本金手指两侧的多个旁置金手指是一一对应的。相对应的一对旁置金手指之间的距离应当与两个第二样本金手指之间的距离一致。如图3所示，每个第二样本金手指41的左右两侧各设置有一个旁置金手指42，位于两个第二样本金手指41左侧的两个旁置金手指42之间的距离应当等于两个第二样本金手指41之间的距离，位于两个第二样本金手指41右侧的两个旁置金手指42之间的距离也应当等于两个第二样本金手指41之间的距离。当任意一个第一样本金手指31与其相应的第二样本金手指41之间断开时，可以检测哪两个旁置金手指42与两个第一样本金手指31之间可以形成导电通路。如果位于两个第二样本金手指41左侧的两个旁置金手指42与两个第一样本金手指31形成导电通路时，将测试电路板向右侧移动；如果位于两个第二样本金手指41右侧的两个旁置金手指42与两个第一样本金手指形成导电通路时，将测试电路板向左侧移动。
[0075] 具体地，步骤S2包括:
[0076] S2a、提供与所述待检测显示面板相对应的衬底基板，该衬底基板与所述待检测显示面板的大小、形状均一致；
[0077] S2b、在所述衬底基板上形成与每个第一样本金手指相对应的第二样本金手指；
[0078] S2c、在每个第二样本金手指的两侧分别形成至少一个旁置金手指。
[0079] 进一步地，每个第二样本金手指41与其相邻的旁置金手指42之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离，如图3和图4中，每个第二样本金手指41与其相邻的旁置金手指42之间的距离等于两个虚线框之间的距离。
[0080] 进一步地，步骤S2还包括:形成与每个第二样本金手指41电连接的样本测试部43以及与每个旁置金手指42电连接的旁置测试部44。由于第二样本金手指的面积较小，因此，可以设置面积较大的样本测试部43和旁置测试部44，从而便于检测两个第二样本金手指、或两个旁置金手指之间的电阻。
[0081] 作为本发明的第二个方面，提供一种测试电路板，用于对待测试显示面板进行测试，如图2所示，所述测试电路板包括第一金手指设置区Al，该第一金手指设置区Al内设置有多个第一金手指11，所述测试电路板还包括位于第一金手指设置区Al外侧的至少一个第一样本金手指31。
[0082] 在对待测试显示面板进行测试前，可以调整所述测试电路板和/或样本面板的位置，以使得测试电路板上的第一样本金手指和样本面板上的第二样本金手指对齐，从而使得在后续测试时，测试电路板上的第一金手指和待测试显示面板上的第二金手指对齐，保证测试的准确性。
[0083] 具体地，如图2所示，测试电路板30包括电连接的两个第一样本金手指31，该两个第一样本金手指31分别设置在所述第一金手指设置区Al的两侧，两个第一样本金手指31可以通过导电图形34电连接。
[0084] 进一步地，每个第一样本金手指31与其相邻的第一金手指11之间的距离等于相邻两个第一金手指11之间的距离。
[0085] 作为本发明的第三个方面，提供一种样本面板，用于在测试电路板对待测试显示面板进行测试之前确定待测试显示面板的位置，其中，所述测试电路板为本发明提供的上述测试电路板，待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，如图3所示，所述样本面板40包括第二金手指设置区A2，样本面板40还包括与所述测试电路板上的每个第一样本金手指对应的第二样本金手指41，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置(如图3中的虚线框)一一对齐。
[0086] 因此，在对待测试显示面板进行测试前，调节测试电路板和样本面板的位置，直至每个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41对齐，此时，如图4所示，多个第一金手指11与样本面板中对应于多个第二金手指的位置是一一对齐的，从而使得在测试时，将待测试显示面板放置在样本面板的位置即可保证多个第一金手指与待测试显示面板中的第二金手指对齐。
[0087] 进一步地，如图3所示，每个第二样本金手指41的两侧分别设置有至少一个旁置金手指42。当任意一个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41没有对齐时，检测与第一样本金手指31电连接的旁置金手指42的位置，当位于第二样本金手指41第一侧的旁置金手指42与第一样本金手指31电连接时，将测试电路板向样本面板的第二侧移动；当与位于第二样本金手指41第二侧的旁置金手指42与第一样本金手指31电连接时，将测试电路板向样本面板的第一侧移动。
[0088] 具体地，如图3所示，每个第二样本金手指41与其相邻的旁置金手指42之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。
[0089] 进一步地，如图3所示，样本面板40还包括与每个第二样本金手指41电连接的样本测试部43以及与每个旁置金手指42电连接的旁置测试部44。样本测试部44的面积大于第二样本金手指41的面积，旁置测试部44的面积大于旁置金手指42的面积。如上文所述，当利用万用表等器件来检测两个第二样本金手指41或两个旁置金手指42之间的电阻时，面积较大的样本测试部43或旁置测试部44便于电阻的检测。
[0090] 作为本发明的第四个方面，提供一种位置校准装置，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述位置校准装置包括本发明提供的上述测试电路板和上述样本面板，所述待测试显示面板包括与测试电路板上的多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述位置校准装置还包括:
[0091] 检测模块，用于在测试电路板和所述样本面板接触时，检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。
[0092] 利用所述位置校准装置进行校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置时，检测模块检测第一样本金手指与相应的第二样本金手指是否导通，当存在第一样本金手指和第二样本金手指断开的情况时，可以调节样本面板和/或测试电路板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指导通，此时，测试电路板上的多个第一金手指和样本面板上对应于多个第二金手指的位置是一一对齐的。测试开始时，将待测试显示面板放置在样本面板的位置，那么测试电路板上的第一金手指和待测试显示面板的第二金手指也是一一对齐的，从而可以快速准确地确定测试电路板和待测试显示面板的位置，进而提高测试效率，改善测试效果。
[0093] 具体地，如图2所示，测试电路板30包括电连接的两个第一样本金手指31，该两个第一样本金手指31分别设置在第一金手指设置区Al的两侧，所述检测模块包括两个连接端，该两个连接端能够分别与两个第二样本金手指41相连，以使得所述检测模块检测两个第二样本金手指41和两个第一样本金手指31是否形成导电通路。当两个第二样本金手指41和两个第一样本金手指31形成导电通路时，表明每个第一样本金手指31与其相应的第二样本金手指41电连接。
[0094] 具体地，所述检测模块包括万用表，用于检测两个第二样本金手指之间的电阻，万用表的两个表笔形成为所述检测模块的两个连接端。通过电阻检测的方式可以快速地判断两个第一样本金手指和两个第二样本金手指是否形成导电通路，并且不需要另外接电源，防止出现短路情况。可以理解的是，当两个第二样本金手指之间的电阻为无限大时，表示两个第一样本金手指和两个第二样本金手指形成断路，当两个第二样本金手指之间的电阻很小时，表示两个第一样本金手指和两个第二样本金手指形成导电通路。
[0095] 如图3和图4所示，每个第二样本金手指41的两侧分别设置有至少一个旁置金手指42，当任意一个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41断开时，所述检测模块能够检测与该第一样本金手指电连接的旁置金手指的位置。
[0096] 如图4所示，测试电路板30上设置有两个第一样本金手指31，样本面板40上设置有两个第二样本金手指41，每个第二样本金手指41的两侧分别设置一个旁置金手指42，当第一样本金手指31与相对应的第二样本金手指41断开时，可以利用检测模块检测哪两个旁置金手指42与两个第一样本金手指形成导电通路。当检测到分别位于两个第二样本金手指左侧的两个旁置金手指42与两个第一样本金手指形成导电通路时，表明测试电路板30相对于样本面板40偏左，可以将测试电路板30朝向样本面板40右侧与样本面板发生相对移动；当检测到分别位于两个第二样本金手指右侧的两个旁置金手指42与两个第一样本金手指31形成导电通路时，表明测试电路板30相对于样本面板40偏右，可以将测试电路板30朝向样本面板40左侧与样本面板40发生相对移动。
[0097] 当检测模块包括万用表时，可用万用表分别检测任意两个旁置金手指之间的电阻，当两个旁置金手指之间电阻很小(如，零或接近于零的值，并没有达到无限大)时，表示该两个旁置金手指和两个第一样本金手指能够形成导电通路，即该两个旁置金手指和两个第一样本金手指是对应的。
[0098] 可以理解的是，当测试电路板30包括两个第一样本金手指31、样本面板40包括两个第二样本金手指41时，两个第一样本金手指31之间的距离与两个第二样本金手指41之间的距离相同，当一个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41没有对齐时，另一个第一样本金手指31与相应的第二样本金手指41也是没有对齐的。
[0099] 如图3所示，每个第二样本金手指41两侧各设置有一个旁置金手指42，那么分别位于两个第二样本金手指41左侧的两个旁置金手指42是对应的，分别位于两个第二样本金手指右侧的两个旁置金手指也是对应的，相对应的一对旁置金手指之间的距离与两个第二样本金手指之间的距离相同。当然，每个第二样本金手指两侧的旁置金手指的数量也可以为其他值。
[0100] 进一步地，如图3所示，样本面板40还包括与每个第二样本金手指41电连接的样本测试部43，以及与每个旁置金手指42电连接的旁置测试部44。由于通常金手指的区域较小，检测电路是否导通时，如利用万用表检测电阻时，不容易与两个金手指准确地接触，因此可以设置面积较大的样本测试部43和旁置测试部44，检测模块的两端通过接触样本测试部而与第二样本金手指电连接，通过接触旁置测试部来与旁置金手指电连接。
[0101] 进一步地，如图5所示，所述位置校准装置还包括固定台51、压头52、第一固定件和第二固定件，所述第一固定件用于将测试电路板30固定在压头52上，所述第二固定件用于将所述样本面板或所述待测试显示面板固定在固定台51上，所述压头能够朝向靠近或远离所述固定台的方向移动，以将测试电路板30与样本面板40接触。
[0102] 具体地，如图6所示，所述第一固定件包括多个第一固定柱61，第一固定柱61包括直立部和设置在直立部顶端的压持部，所述压头上设置有固定孔，测试电路板30上设置有通孔，所述直立部的底端能够穿过所述通孔并固定在所述固定孔中，所述通孔的直径大于所述固定孔的直径并小于所述压持部的直径。
[0103] 所述直立部的底端固定在所述固定孔中时，压持部的压持作用可以将测试电路板固定在压头上，当测试电路板上的第一样本金手指没有与样本面板上的第二样本金手指电连接时，就可以将第一固定柱61从固定孔中抽出一部分以使得压持部松开所述测试电路板，并移动测试电路板，调节测试电路板的位置即可。
[0104] 可以理解的是，由于通孔的直径大于固定孔的直径，且通常当测试电路板和样本面板没有对位精确时，需要调节的幅度是很小的，因此，调节前和调节后，第一固定柱均可以穿过所述通孔固定至所述固定孔中。调节完测试电路板的位置并固定好后，只需要将样本面板从固定台上取下更换为待测试显示面板即可。
[0105] 具体地，如图7所示，所述第二固定件包括设置在固定台51上的多个第二固定柱62，所述样本面板和所述待测试显示面板均能够固定在所述多个第二固定柱62所限定的区域内。
[0106] 由于测试电路板上的第一样本金手指和样本面板上的第二样本金手指是对齐的，因此，将待测试显示面板放置在所述样本面板的位置时，测试电路板上的第一金手指和待测试显示面板上的第二金手指也是一一对齐的，从而使得测试准确性提高。
[0107] 可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。
Claims (23)
1.一种位置校准方法，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，其特征在于，所述校准方法包括: 51、提供测试电路板，并在所述测试电路板的第一金手指设置区外侧形成至少一个第一样本金手指； 52、制作样本面板，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置 对齐； 53、将所述测试电路板与所述样本面板相接触； 54、检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当检测到任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接，此时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。
2.根据权利要求1所述的位置校准方法，其特征在于，步骤SI包括在所述第一金手指设置区的两侧各形成一个第一样本金手指，并使得两个第一样本金手指电连接； 步骤S4包括: S4a、当两个第二样本金手指电连接时，检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路； S4b、当两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路时，调节测试电路板和/或所述样本面板的位置，直至两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
3.根据权利要求2所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S4a包括: 检测两个第二样本金手指之间的电阻，当测得的电阻为无限大时，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指没有形成导电通路；否则，判定两个第二样本金手指和两个第一样本金手指形成导电通路。
4.根据权利要求3所述的位置校准方法，其特征在于，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离。
5.根据权利要求1至4中任意一项所述的位置校准方法，其特征在于，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指，步骤S4包括: 当任意一个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间断开时，检测该第一样本金手指与哪个旁置金手指电连接； 当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第一侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第二侧与样本面板发生相对移动；当该第一样本金手指与其相应的第二样本金手指的第二侧的旁置金手指电连接时，将测试电路板朝向样本面板的第一侧与样本面板发生相对移动。
6.根据权利要求5所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S2包括: S2a、提供与所述待检测显示面板相对应的衬底基板； S2b、在所述衬底基板上形成与每个第一样本金手指相对应的第二样本金手指； S2c、在每个第二样本金手指的两侧分别形成至少一个旁置金手指。
7.根据权利要求6所述的位置校准方法，其特征在于，每个第二样本金手指与其相邻的旁置金手指之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。
8.根据权利要求6所述的位置校准方法，其特征在于，步骤S2还包括:形成与每个第二样本金手指电连接的样本测试部以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
9.一种测试电路板，用于对待测试显示面板进行测试，所述测试电路板包括第一金手指设置区，该第一金手指设置区内设置有多个第一金手指，其特征在于，所述测试电路板还包括位于所述第一金手指设置区外侧的至少一个第一样本金手指。
10.根据权利要求9所述的测试电路板，其特征在于，所述测试电路板包括电连接的两个第一样本金手指，该两个第一样本金手指分别设置在所述第一金手指设置区的两侧。
11.根据权利要求10所述的测试电路板，其特征在于，每个第一样本金手指与其相邻的第一金手指之间的距离等于相邻两个第一金手指之间的距离。
12.—种样本面板，用于在测试电路板对待测试显示面板进行测试之前确定待测试显示面板的位置，其特征在于，所述测试电路板为权利要求9至11中任意一项所述的测试电路板，所述待测试显示面板包括与多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述样本面板包括第二金手指设置区，所述样本面板还包括与所述测试电路板上的每个第一样本金手指对应的第二样本金手指，并使得当每个第一样本金手指与相应的第二样本金手指对齐时，多个所述第一金手指与所述第二金手指设置区内对应于多个第二金手指的位置一一对齐。
13.根据权利要求12所述的样本面板，其特征在于，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指。
14.根据权利要求13所述的样本面板，其特征在于，每个第二样本金手指与其相邻的旁置金手指之间的距离等于所述待测试显示面板中相邻两个第二金手指之间的距离。
15.根据权利要求13所述的样本面板，其特征在于，所述样本面板还包括与每个第二样本金手指电连接的样本测试部以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
16.一种位置校准装置，用于在对待测试显示面板进行测试之前校准测试电路板和/或待测试显示面板的位置，其特征在于，所述位置校准装置包括权利要求9至11中任意一项所述的测试电路板和权利要求12至15中任意一项所述的样本面板，所述待测试显示面板包括与测试电路板上的多个第一金手指一一对应的多个第二金手指，所述位置校准装置还包括: 检测模块，用于在测试电路板和所述样本面板接触时，检测每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指之间是否电连接，当每个第一样本金手指与其相应的第二样本金手指均电连接时，样本面板的位置即为待测试显示面板的位置。
17.根据权利要求16所述的位置校准装置，其特征在于，所述测试电路板包括电连接的两个第一样本金手指，该两个第一样本金手指分别设置在所述第一金手指设置区的两侧，所述检测模块包括两个连接端，该两个连接端能够分别与两个第二样本金手指相连，以使得所述检测模块检测两个第二样本金手指和两个第一样本金手指是否形成导电通路。
18.根据权利要求17所述的位置校准装置，其特征在于，所述检测模块包括万用表，用于检测两个第二样本金手指之间的电阻，所述万用表的两个表笔形成为所述检测模块的两个连接端。
19.根据权利要求16至18中任意一项所述的位置校准装置，其特征在于，每个第二样本金手指的两侧分别设置有至少一个旁置金手指，当任意一个第一样本金手指与相应的第二样本金手指断开时，所述检测模块能够检测与该第一样本金手指电连接的旁置金手指的位置。
20.根据权利要求19所述的位置校准装置，其特征在于，所述样本面板还包括与每个第二样本金手指电连接的样本测试部，以及与每个旁置金手指电连接的旁置测试部。
21.根据权利要求16至18中任意一项所述的位置校准装置，其特征在于，所述位置校准装置还包括固定台、压头、第一固定件和第二固定件，所述第一固定件用于将所述测试电路板固定在所述压头上，所述第二固定件用于将所述样本面板或所述待测试显示面板固定在所述固定台上，所述压头能够朝向靠近或远离所述固定台的方向移动。
22.根据权利要求16至18中任意一项所述的位置校准装置，其特征在于，所述第一固定件包括多个第一固定柱，所述第一固定柱包括直立部和设置在直立部顶端的压持部，所述压头上设置有固定孔，所述测试电路板上设置有通孔，所述直立部的底端能够穿过所述通孔并固定在所述固定孔中，所述通孔的直径大于所述固定孔的直径并小于所述压持部的直径。
23.根据权利要求22所述的位置校准装置，其特征在于，所述第二固定件包括设置在所述固定台上的多个第二固定柱，所述样本面板和所述待测试显示面板均能够固定在所述多个第二固定柱所限定的区域内。
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