CN104765173A - 一种检测装置及其检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种检测装置及其检测方法。该检测装置用于检测显示基板上的不良，包括检测单元和控制单元，检测单元用于查找显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至控制单元；控制单元用于辅助检测单元查找显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。该检测装置通过设置检测单元和控制单元，使该检测装置能够实现对显示基板上不良的自动查找和分析，从而缩短了显示基板上不良的分析时间，提高了不良的分析效率；同时，与现有技术相比，该检测装置对不良的查找设备和分析设备进行了优化整合，从而使该检测装置的各部分维护起来更加方便快捷，进而提高了不良检测的效率和质量。

Description

一种检测装置及其检测方法

技术领域

本发明涉及显示技术领域，具体地，涉及一种检测装置及其检测方法。

背景技术

液晶显示器(LCD：Liquid Crystal Display)因其体积小、功耗低、无辐射等特点已成为目前平板显示器中的主流产品。

显示面板是液晶显示器的关键组件，在显示面板的制备过程中，通常需要对显示面板制备过程中的一些显示基板(如对盒后的阵列基板和彩膜基板形成的液晶盒，或者阵列基板或彩膜基板)进行不良检测分析，以确保最终制备完成后的显示面板的品质。

液晶盒的不良分析是液晶显示器产业当中的重要一环，如何更快速地分析不良并反馈工厂，是适应快速发展的液晶显示器产业的关键。传统的方式是在点屏(即给液晶盒提供显示信号)之后发现不良品，然后安排技术人员利用高倍光学显微镜进行解析。但这一过程对某些特定不良(如异显、点不良或线不良等)的解析需要耗费大量时间。以点不良为例，要分析该不良首先要先有点屏的设备点亮液晶盒，再人工进行不良的识别和标记工作，最后把做好标记的液晶盒放置到高倍率显微镜下进行不良确认。这一过程中标记位置的准确性直接影响到分析该不良的速度。

在液晶盒不良的检测当中，我们投入了大量的人力和财力去解析，并且点屏设备、标记设备以及不良分析设备的分散造成设备维护的困难，大大降低了不良解析的进程和速度。

发明内容

本发明针对现有技术中存在的上述技术问题，提供一种检测装置及其检测方法。该检测装置能够实现对显示基板上不良的自动查找和分析，从而缩短了显示基板上不良的分析时间，提高了不良的分析效率。

本发明提供一种检测装置，用于检测显示基板上的不良，包括检测单元和控制单元，所述检测单元用于查找所述显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至所述控制单元；所述控制单元用于辅助所述检测单元查找所述显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

优选地，所述检测单元包括相正对设置的第一显微摄像部和第二显微摄像部，所述显示基板用于设置在所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部之间；

所述第一显微摄像部包括第一显微镜和第一摄像头，所述第一摄像头位于所述第一显微镜的远离所述显示基板的一侧；所述第二显微摄像部包括第二显微镜和第二摄像头，所述第二摄像头位于所述第二显微镜的远离所述显示基板的一侧；所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜用于面向所述显示基板，且所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜相面对；

所述第一显微镜和所述第二显微镜用于察看所述显示基板上的各个区域的图像，所述第一摄像头和所述第二摄像头用于拍摄所述显示基板上不良区域的图片。

优选地，所述显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板，或者，所述显示基板为阵列基板或彩膜基板；

所述第一显微镜和所述第一摄像头之间能插入第一偏光片，所述第二显微镜和所述第二摄像头之间能插入第二偏光片，所述第一偏光片的偏振方向和所述第二偏光片的偏振方向相互垂直。

优选地，所述第一显微摄像部还包括第一光源，所述第一光源设置在所述第一偏光片和所述第一摄像头之间，用于照射所述显示基板上所述第一显微镜的物镜所观察到的区域；

所述第二显微摄像部还包括第二光源，所述第二光源设置在所述第二偏光片和所述第二摄像头之间，用于照射所述显示基板上所述第二显微镜的物镜所观察到的区域。

优选地，所述检测单元还包括第一联动部，所述第一联动部与所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部分别连接，用于带动所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部进行同步移动，以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能对应移动至所述显示基板的任意区域。

优选地，所述控制单元包括点屏模块、存储模块、比较模块、分类统计模块和控制模块；

所述点屏模块连接所述显示基板，用于向所述显示基板提供显示信号，使所述显示基板显示用于检测其不良的图像；

所述存储模块包括第一存储子模块和第二存储子模块，所述第一存储子模块用于存储标准图片，所述标准图片用于鉴别所述显示基板上是否存在不良；所述第二存储子模块连接所述第一摄像头和所述第二摄像头，用于存储所述显示基板上不良区域的图片；

所述比较模块连接所述第一显微镜、所述第二显微镜和所述第一存储子模块，用于将所述第一显微镜和所述第二显微镜察看到的所述显示基板上不同区域的图像与所述标准图片进行比较，并根据比较结果判断所述显示基板上的不同区域是否为不良区域，且将判断结果发送至所述控制模块；

所述分类统计模块连接所述第二存储子模块，用于将所述显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计；

所述控制模块连接所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部，用于控制所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部的工作。

优选地，所述标准图片为所述显示基板正常显示的图片或者所述显示基板不良显示的图片；

或者，所述标准图片为所述显示基板不显示时的正常图片或不良图片。

优选地，还包括透明载板和第二联动部，所述透明载板与所述第二联动部连接，所述透明载板用于承载所述显示基板；所述第二联动部用于带动所述透明载板移动，以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能察看到所述显示基板上的任意区域。

优选地，所述第一联动部和所述第二联动部分别与所述控制模块连接，所述控制模块还用于控制所述第一联动部和所述第二联动部的工作。

本发明还提供一种上述检测装置的检测方法，包括：检测单元查找显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至控制单元；所述控制单元辅助所述检测单元查找所述显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

优选地，当所述显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板时，所述检测方法具体包括：

步骤S1：将所述显示基板置于透明载板上，使所述阵列基板面向第二显微摄像部，所述彩膜基板面向第一显微摄像部；所述第一显微摄像部中插入第一偏光片，所述第二显微摄像部中插入第二偏光片；

所述控制单元中的控制模块控制点屏模块向所述显示基板提供显示信号，使所述显示基板显示图像；

步骤S2：所述控制模块控制第一联动部和/或第二联动部动作，使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部相对所述显示基板同步移动，以使所述第一显微摄像部中的第一显微镜对应察看所述显示基板上的不同区域的图像，同时，所述第二显微摄像部中的第二光源为所述第一显微镜的察看提供光源；

步骤S3：所述控制模块控制比较模块将所述第一显微镜察看到的所述显示基板上不同区域的图像与存储在第一存储子模块中的标准图片进行比较，判断所述显示基板上的不同区域是否为不良区域，若不是不良区域，则执行所述步骤S2；若是不良区域，则执行步骤S4：所述控制模块控制所述第一显微摄像部中的第一摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中；

然后，执行步骤S5：所述控制模块控制所述点屏模块不再向所述显示基板提供显示信号，所述控制模块控制将所述第一偏光片从所述第一显微摄像部中抽出和将所述第二偏光片从所述第二显微摄像部中抽出；所述第二光源为所述第一摄像头提供光源，所述控制模块控制所述第一摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至所述第二存储子模块中；

接着，执行步骤S6：所述第二光源为所述第二显微摄像部中的第二摄像头提供光源，所述控制模块控制所述第二摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至所述第二存储子模块中；

步骤S7：所述控制模块控制分类统计模块将所述显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计。

本发明的有益效果：本发明所提供的检测装置，通过设置检测单元和控制单元，使该检测装置能够实现对显示基板上不良的自动查找和分析，从而缩短了显示基板上不良的分析时间，提高了不良的分析效率；同时，与现有技术相比，该检测装置对不良的查找设备和分析设备进行了优化整合，从而使该检测装置的各部分维护起来更加方便快捷，进而提高了不良检测的效率和质量。

附图说明

图1为本发明实施例1中检测装置的结构示意图；

图2为图1中检测装置的控制单元的结构框图。

其中的附图标记说明：

1.检测单元；11.第一显微摄像部；111.第一显微镜；112.第一摄像头；113.第一偏光片；114.第一光源；12.第二显微摄像部；121.第二显微镜；122.第二摄像头；123.第二偏光片；124.第二光源；13.第一联动部；2.控制单元；21.点屏模块；22.存储模块；221.第一存储子模块；222.第二存储子模块；23.比较模块；24.分类统计模块；25.控制模块；3.显示基板；4.透明载板；5.第二联动部。

具体实施方式

为使本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明所提供的一种检测装置及其检测方法作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种检测装置，如图1所示，用于检测显示基板3上的不良，包括检测单元1和控制单元2，检测单元1用于查找显示基板3上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至控制单元2；控制单元2用于辅助检测单元1查找显示基板3上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

通过设置检测单元1和控制单元2，使该检测装置能够实现对显示基板3上不良的自动查找和分析，从而缩短了显示基板3上不良的分析时间，提高了不良的分析效率；同时，与现有技术相比，该检测装置对不良的查找设备和分析设备进行了优化整合，从而使该检测装置的各部分维护起来更加方便快捷，进而提高了不良检测的效率和质量。

本实施例中，检测单元1包括相正对设置的第一显微摄像部11和第二显微摄像部12，显示基板3用于设置在第一显微摄像部11和第二显微摄像部12之间。如图1中所示，显示基板3平置于第一显微摄像部11和第二显微摄像部12之间，第一显微摄像部11面对显示基板3的上表面，第二显微摄像部12面对显示基板3的下表面。

第一显微摄像部11包括第一显微镜111和第一摄像头112，第一摄像头112位于第一显微镜111的远离显示基板3的一侧；第二显微摄像部12包括第二显微镜121和第二摄像头122，第二摄像头122位于第二显微镜121的远离显示基板3的一侧；第一显微镜111和第二显微镜121的物镜用于面向显示基板3，且第一显微镜111和第二显微镜121的物镜相面对。即第一显微镜111面对显示基板3的上表面，第二显微镜121面对显示基板3的下表面，且第一显微镜111和第二显微镜121的物镜正相对，如此设置，便于后续对显示基板3不良区域的上表面和下表面分别进行显微镜观察和拍照，以便更好地分析显示基板3上的不良。其中，第一显微镜111和第二显微镜121能对显示基板3上的不良进行放大，从而使第一摄像头112和第二摄像头122能够拍摄到显示基板3上不良的清晰照片。

第一显微镜111和第二显微镜121用于察看显示基板3上的各个区域的图像，第一摄像头112和第二摄像头122用于拍摄显示基板3上不良区域的图片。即通过第一显微镜111和第二显微镜121对显示基板3上各个区域图像的察看，以便找到显示基板3上可能存在的不良。当第一显微镜111和第二显微镜121在察看过程中发现显示基板3上存在不良时，通过第一摄像头112和第二摄像头122将不良区域的图片进行拍照，以便控制单元2对不良进行统计分析。

本实施例中，显示基板3为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板。第一显微镜111和第一摄像头112之间能插入第一偏光片113，第二显微镜121和第二摄像头122之间能插入第二偏光片123，第一偏光片113的偏振方向和第二偏光片123的偏振方向相互垂直。其中，第一偏光片113和第二偏光片123为原本要设置在显示基板3上、下两板面上的偏光片，现将二者分别灵活设置于第一显微摄像部11和第二显微摄像部12之上(即两偏光片能够设置到显微摄像部上，也能从显微摄像部上取下)，便于后续对显示基板3在设置上述偏光片的情况下和未设置上述偏光片的情况下分别进行拍照，从而使不良能够更加清晰地被拍摄到，也更加有利于显示基板3上不良的分析。

需要说明的是，本实施例中的显示基板3也可以是阵列基板或彩膜基板，当检测阵列基板或彩膜基板上的不良时，第一偏光片113和第二偏光片123无需设置到第一显微摄像部11和第二显微摄像部12上。

本实施例中，第一显微摄像部11还包括第一光源114，第一光源114设置在第一偏光片113和第一摄像头112之间，用于照射显示基板3上第一显微镜111的物镜所观察到的区域。第二显微摄像部12还包括第二光源124，第二光源124设置在第二偏光片123和第二摄像头122之间，用于照射显示基板3上第二显微镜121的物镜所观察到的区域。第一光源114和第二光源124的设置能够分别为第一显微镜111和第二显微镜121所察看的区域提供光源，以使第一显微镜111和第二显微镜121能够更加清晰地察看显示基板3。

本实施例中，由于显示基板3为对盒的阵列基板和彩膜基板，没有设置背光源，所以显示基板3无论在显示时或不显示时都是不亮的，第一光源114和第二光源124在不良检测过程中一方面是为了给显微镜的察看提供光源，另一方面还为显示基板3的显示提供背光，使显示基板3显示的图像能够被人眼观察到，从而使显示基板3在显示时的不良能够通过显微镜观察到，进而被摄像头拍摄到。

本实施例中，第一光源114设置在第一显微摄像部11内壁上对应第一显微镜111物镜四周边缘的位置，第二光源124设置在第二显微摄像部12内壁上对应第二显微镜121物镜四周边缘的位置。第一光源114发出的光线能够均匀地照射到第一显微镜111观察到的显示基板3上的区域，第二光源124发出的光线能够均匀地照射到第二显微镜121观察到的显示基板3上的区域。

本实施例中，检测单元1还包括第一联动部13，第一联动部13与第一显微摄像部11和第二显微摄像部12分别连接，用于带动第一显微摄像部11和第二显微摄像部12进行同步移动，以使第一显微摄像部11和第二显微摄像部12能对应移动至显示基板3的任意区域。第一联动部13的设置，能使第一显微摄像部11和第二显微摄像部12对显示基板3的所有区域都进行查找，从而使显示基板3上的不良不会被漏查。

其中，使第一显微摄像部11和第二显微摄像部12同步移动的原因是：一.如显示基板3中的阵列基板与第二显微摄像部12相面对，彩膜基板与第一显微摄像部11相面对；在显示基板3的不良查找过程中，需要第一显微镜111察看显示基板3上的不同区域，同时，正对设置于第一显微镜111下方的第二光源124为第一显微镜111的察看提供光源；此时，第二光源124同时还作为显示基板3显示时的背光源，从而使显示基板3在显示时的不良区域能够被很快找到。二.当第一显微镜111查找到显示基板3上的不良区域时，处于不良区域相对两侧的第一摄像头112和第二摄像头122要分别对不良区域的上、下两侧进行对位拍照。具体地，第一摄像头112要对从第一显微镜111中观察到的显示基板3的彩膜基板侧进行拍照，此时仍然需要第二光源124为第一显微镜111的观察区域提供光照。同时，与第一显微摄像部11处于相正对位置的第二显微摄像部12中的第二摄像头122也要对显示基板3的阵列基板侧进行拍照。所以，第一显微摄像部11和第二显微摄像部12在不良检测过程中始终要保持移动同步，这样才能使二者的位置始终保持正相对，从而确保整个不良检测的高效和高质量。

需要说明的是，第一联动部13采用联动机械臂，即机械臂能在动力机构(如电机等)的带动下带动第一显微摄像部11和第二显微摄像部12进行同步移动。

本实施例中，如图2所示，控制单元2包括点屏模块21、存储模块22、比较模块23、分类统计模块24和控制模块25。点屏模块21连接显示基板3，用于向显示基板3提供显示信号，使显示基板3显示用于检测其不良的图像。存储模块22包括第一存储子模块221和第二存储子模块222，第一存储子模块221用于存储标准图片，该标准图片用于鉴别显示基板3上是否存在不良；第二存储子模块222连接第一摄像头和第二摄像头，用于存储显示基板3上不良区域的图片。

比较模块23连接第一显微镜、第二显微镜和第一存储子模块221，用于将第一显微镜和第二显微镜察看到的显示基板3上不同区域的图像与标准图片进行比较，并根据比较结果判断显示基板3上的不同区域是否为不良区域，且将判断结果发送至控制模块25。分类统计模块24连接第二存储子模块222，用于将显示基板3上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计。控制模块25连接点屏模块21、存储模块22、比较模块23、分类统计模块24以及第一显微摄像部和第二显微摄像部，用于控制点屏模块21、存储模块22、比较模块23、分类统计模块24以及第一显微摄像部和第二显微摄像部的工作。通过对不同类型和不同位置的不良的图片和数量统计的查看，工作人员能够获知整个批次的显示基板3的不良情况，从而对整个批次的显示基板3的质量进行把关。

上述模块的设置能使控制单元2实现自动辅助检测单元1对显示基板3上的不良进行查找，同时还能自动对不良所在区域的照片进行分类统计，从而缩短了显示基板3上不良的分析时间，提高了不良的分析效率。同时，与现有技术相比，该检测装置对不良的查找设备和分析设备进行了优化整合，从而使该检测装置的各部分维护起来更加方便快捷，进而提高了不良检测的效率和质量。

本实施例中，标准图片为显示基板3正常显示的图片。若显示基板3上某个区域的图像与标准图片相同，则显示基板3上的该区域不是不良区域；若显示基板3上某个区域的图像与标准图片不同，则显示基板3上的该区域是不良区域。

需要说明的是，标准图片也可以是显示基板3不良显示的图片。若显示基板3上某个区域的图像与标准图片相同，则显示基板3上的该区域是不良区域；若显示基板3上某个区域的图像与标准图片不同，则显示基板3上的该区域不是不良区域。只是需要将显示基板3的所有不良显示的图片(如点不良、线不良或分屏异显等)都分别与显示基板3上某个区域的图像进行比较，才能最终确定显示基板3上的该区域是否为不良区域。

本实施例中，如图1所示，检测装置还包括透明载板4和第二联动部5，透明载板4与第二联动部5连接，透明载板4用于承载显示基板3；第二联动部5用于带动透明载板4移动，以使第一显微摄像部11和第二显微摄像部12能察看到显示基板3上的任意区域。其中，第二联动部5采用联动机械臂，即机械臂能在动力机构(如电机)的带动下带动透明载板4移动。

本实施例中，如图2所示，第一联动部13和第二联动部5分别与控制模块25连接，控制模块25还用于控制第一联动部13和第二联动部5的工作。即控制模块25控制第一联动部13和第二联动部5中的动力机构工作，动力机构再带动机械臂动作。

需要说明的是，控制模块25能够控制第一联动部13和第二联动部5同时动作，也可以仅控制第一联动部13和第二联动部5中的其中一个动作，只要使第一显微摄像部11和第二显微摄像部12能察看到显示基板3上的任意区域即可。

基于检测装置的上述结构，本实施例还提供一种该检测装置的检测方法，包括：检测单元查找显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至控制单元；控制单元辅助检测单元查找显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

本实施例中，当显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板时，上述检测方法具体包括：

步骤S1：将显示基板置于透明载板上，使阵列基板面向第二显微摄像部，彩膜基板面向第一显微摄像部；第一显微摄像部中插入第一偏光片，第二显微摄像部中插入第二偏光片；控制单元中的控制模块控制点屏模块向显示基板提供显示信号，使显示基板显示图像。

步骤S2：控制模块控制第一联动部和第二联动部动作，使第一显微摄像部和第二显微摄像部相对显示基板同步移动，以使第一显微摄像部中的第一显微镜对应察看显示基板上的不同区域的图像，同时，第二显微摄像部中的第二光源为第一显微镜的察看提供光源。

该步骤中，控制模块控制第一显微摄像部和第二显微摄像部同步沿显示基板上像素所在列或行的方向移动，在移动经过一列或一行(该一列或一行能覆盖到多列或多行像素)后，从就近的端部移动至第二列或第二行进行察看，即第一显微摄像部和第二显微摄像部沿蛇形路线察看显示基板上的所有区域。如此不会导致显示基板上某个区域的漏查。

步骤S3：控制模块控制比较模块将第一显微镜察看到的显示基板上不同区域的图像与存储在第一存储子模块中的标准图片进行比较，判断显示基板上的不同区域是否为不良区域，若不是不良区域，则执行步骤S2，直至显示基板上的所有区域被查找完毕；若是不良区域，则执行步骤S4：控制模块控制第一显微摄像部中的第一摄像头拍摄显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中。

该步骤中，标准图片为显示基板正常显示的图片(当然，标准图片也可以为显示基板不良显示的图片)。第一摄像头拍摄得显示基板上不良区域的图片为显示基板显示时的不良图片，该不良图片能整体反映该不良在显示时的整体现象。

然后，执行步骤S5：控制模块控制点屏模块不再向显示基板提供显示信号，控制模块控制将第一偏光片从第一显微摄像部中抽出和将第二偏光片从第二显微摄像部中抽出；第二光源为第一摄像头提供光源，控制模块控制第一摄像头拍摄显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中。

该步骤中，第一摄像头拍摄得显示基板上不良区域的图片为显示基板不显示时的不良图片，该不良图片能够反映彩膜基板上可能导致该不良的故障。

接着，执行步骤S6：第二光源为第二显微摄像部中的第二摄像头提供光源，控制模块控制第二摄像头拍摄显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中。

该步骤中，第二摄像头拍摄得显示基板上不良区域的图片为显示基板不显示时的不良图片，该不良图片能够反映阵列基板上可能导致该不良的故障。

步骤S7：控制模块控制分类统计模块将显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计。

该步骤中，上述步骤S4、S5和S6中针对显示基板上的同一不良拍摄得反映该不良的整体现象和不同故障原因的三张不良图片会被分类统计模块统计为显示基板上某个位置的一种类型的不良，每个不良都能通过三张不良图片被精准地反映出来。通过对不同类型和不同位置的不良的图片和数量统计的查看，工作人员能够获知整个批次的显示基板的不良情况，从而对整个批次的显示基板的质量进行把关。

实施例2：

本实施例提供一种实施例1中检测装置的检测方法，与实施例1中的检测方法不同的是，本实施例中的显示基板为阵列基板。当然，本实施例中的显示基板也可以为彩膜基板。

本实施例中，上述检测方法具体包括：

步骤S1：将显示基板置于透明载板上，使阵列基板的用于与彩膜基板对盒的上表面面向第一显微摄像部，阵列基板的下表面面向第二显微摄像部。

步骤S2：控制模块控制第一联动部和第二联动部动作，使第一显微摄像部和第二显微摄像部相对显示基板同步移动，以使第一显微摄像部中的第一显微镜对应察看显示基板上的不同区域的图像，同时，第二显微摄像部中的第二光源为第一显微镜的察看提供光源。

该步骤中，控制模块控制第一显微摄像部和第二显微摄像部同步沿显示基板上像素所在列或行的方向移动，在移动经过一列或一行(该一列或一行能覆盖到多列或多行像素)后，从就近的端部移动至第二列或第二行进行察看，即第一显微摄像部和第二显微摄像部沿蛇形路线察看显示基板上的所有区域。如此不会导致显示基板上某个区域的漏查。

步骤S3：控制模块控制比较模块将第一显微镜察看到的显示基板上不同区域的图像与存储在第一存储子模块中的标准图片进行比较，判断显示基板上的不同区域是否为不良区域，若不是不良区域，则执行步骤S2，直至显示基板上的所有区域被查找完毕；若是不良区域，则执行步骤S4：控制模块控制第一显微摄像部中的第一摄像头拍摄显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中。

该步骤中，标准图片为显示基板不显示时的正常图片(当然，标准图片也可以为显示基板不显示时的不良图片)。第一摄像头拍摄得显示基板上不良区域的图片为显示基板不显示时的不良图片，该不良图片能反映阵列基板的上表面可能导致该不良的故障。

然后，执行步骤S5：第二光源为第二显微摄像部中的第二摄像头提供光源，控制模块控制第二摄像头拍摄显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中。

该步骤中，第二摄像头拍摄得显示基板上不良区域的图片为显示基板不显示时的不良图片，该不良图片能够反映阵列基板的下表面可能导致该不良的故障。

步骤S6：控制模块控制分类统计模块将显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计。

该步骤中，上述步骤S4和S5中针对显示基板上的同一不良拍摄得反映该不良的不同故障原因的两张不良图片会被分类统计模块统计为显示基板上某个位置的一种类型的不良，每个不良都能通过两张不良图片被精准地反映出来。通过对不同类型和不同位置的不良的图片和数量统计的查看，工作人员能够获知整个批次的显示基板的不良情况，从而对整个批次的显示基板的质量进行把关。

实施例1-2的有益效果：实施例1-2中所提供的检测装置，通过设置检测单元和控制单元，使该检测装置能够实现对显示基板上不良的自动查找和分析，从而缩短了显示基板上不良的分析时间，提高了不良的分析效率；同时，与现有技术相比，该检测装置对不良的查找设备和分析设备进行了优化整合，从而使该检测装置的各部分维护起来更加方便快捷，进而提高了不良检测的效率和质量。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种检测装置，用于检测显示基板上的不良，其特征在于，包括检测单元和控制单元，所述检测单元用于查找所述显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至所述控制单元；所述控制单元用于辅助所述检测单元查找所述显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述检测单元包括相正对设置的第一显微摄像部和第二显微摄像部，所述显示基板用于设置在所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部之间；

所述第一显微摄像部包括第一显微镜和第一摄像头，所述第一摄像头位于所述第一显微镜的远离所述显示基板的一侧；所述第二显微摄像部包括第二显微镜和第二摄像头，所述第二摄像头位于所述第二显微镜的远离所述显示基板的一侧；所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜用于面向所述显示基板，且所述第一显微镜和所述第二显微镜的物镜相面对；

所述第一显微镜和所述第二显微镜用于察看所述显示基板上的各个区域的图像，所述第一摄像头和所述第二摄像头用于拍摄所述显示基板上不良区域的图片。

3.根据权利要求2所述的检测装置，其特征在于，所述显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板，或者，所述显示基板为阵列基板或彩膜基板；

所述第一显微镜和所述第一摄像头之间能插入第一偏光片，所述第二显微镜和所述第二摄像头之间能插入第二偏光片，所述第一偏光片的偏振方向和所述第二偏光片的偏振方向相互垂直。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第一显微摄像部还包括第一光源，所述第一光源设置在所述第一偏光片和所述第一摄像头之间，用于照射所述显示基板上所述第一显微镜的物镜所观察到的区域；

所述第二显微摄像部还包括第二光源，所述第二光源设置在所述第二偏光片和所述第二摄像头之间，用于照射所述显示基板上所述第二显微镜的物镜所观察到的区域。

5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述检测单元还包括第一联动部，所述第一联动部与所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部分别连接，用于带动所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部进行同步移动，以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能对应移动至所述显示基板的任意区域。

6.根据权利要求5所述的检测装置，其特征在于，所述控制单元包括点屏模块、存储模块、比较模块、分类统计模块和控制模块；

所述点屏模块连接所述显示基板，用于向所述显示基板提供显示信号，使所述显示基板显示用于检测其不良的图像；

所述存储模块包括第一存储子模块和第二存储子模块，所述第一存储子模块用于存储标准图片，所述标准图片用于鉴别所述显示基板上是否存在不良；所述第二存储子模块连接所述第一摄像头和所述第二摄像头，用于存储所述显示基板上不良区域的图片；

所述比较模块连接所述第一显微镜、所述第二显微镜和所述第一存储子模块，用于将所述第一显微镜和所述第二显微镜察看到的所述显示基板上不同区域的图像与所述标准图片进行比较，并根据比较结果判断所述显示基板上的不同区域是否为不良区域，且将判断结果发送至所述控制模块；

所述分类统计模块连接所述第二存储子模块，用于将所述显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计；

所述控制模块连接所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部，用于控制所述点屏模块、所述存储模块、所述比较模块、所述分类统计模块以及所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部的工作。

7.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，所述标准图片为所述显示基板正常显示的图片或者所述显示基板不良显示的图片；

或者，所述标准图片为所述显示基板不显示时的正常图片或不良图片。

8.根据权利要求6所述的检测装置，其特征在于，还包括透明载板和第二联动部，所述透明载板与所述第二联动部连接，所述透明载板用于承载所述显示基板；所述第二联动部用于带动所述透明载板移动，以使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部能察看到所述显示基板上的任意区域。

9.根据权利要求8所述的检测装置，其特征在于，所述第一联动部和所述第二联动部分别与所述控制模块连接，所述控制模块还用于控制所述第一联动部和所述第二联动部的工作。

10.一种如权利要求1-9任意一项所述的检测装置的检测方法，其特征在于，包括：检测单元查找显示基板上的不良，对不良所在区域进行拍照，并将照片发送至控制单元；所述控制单元辅助所述检测单元查找所述显示基板上的不良，并对不良所在区域的照片进行分类统计。

11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，当所述显示基板为未设置偏光片的对盒的阵列基板和彩膜基板时，所述检测方法具体包括：

步骤S1：将所述显示基板置于透明载板上，使所述阵列基板面向第二显微摄像部，所述彩膜基板面向第一显微摄像部；所述第一显微摄像部中插入第一偏光片，所述第二显微摄像部中插入第二偏光片；

所述控制单元中的控制模块控制点屏模块向所述显示基板提供显示信号，使所述显示基板显示图像；

步骤S2：所述控制模块控制第一联动部和/或第二联动部动作，使所述第一显微摄像部和所述第二显微摄像部相对所述显示基板同步移动，以使所述第一显微摄像部中的第一显微镜对应察看所述显示基板上的不同区域的图像，同时，所述第二显微摄像部中的第二光源为所述第一显微镜的察看提供光源；

步骤S3：所述控制模块控制比较模块将所述第一显微镜察看到的所述显示基板上不同区域的图像与存储在第一存储子模块中的标准图片进行比较，判断所述显示基板上的不同区域是否为不良区域，若不是不良区域，则执行所述步骤S2；若是不良区域，则执行步骤S4：所述控制模块控制所述第一显微摄像部中的第一摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至第二存储子模块中；

然后，执行步骤S5：所述控制模块控制所述点屏模块不再向所述显示基板提供显示信号，所述控制模块控制将所述第一偏光片从所述第一显微摄像部中抽出和将所述第二偏光片从所述第二显微摄像部中抽出；所述第二光源为所述第一摄像头提供光源，所述控制模块控制所述第一摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至所述第二存储子模块中；

接着，执行步骤S6：所述第二光源为所述第二显微摄像部中的第二摄像头提供光源，所述控制模块控制所述第二摄像头拍摄所述显示基板上不良区域的图片，并将该图片存储至所述第二存储子模块中；

步骤S7：所述控制模块控制分类统计模块将所述显示基板上不良区域的图片按照其不良类型和不良位置进行分类，并对不同类型和位置的不良分别进行数量统计。