CN104508440B - 分光光度计 - Google Patents
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Abstract
本发明的目的在于，通过有效地使用分光光度计的光源的光，延长光源的使用期间，降低装置的消耗功率。一种分光光度计，具有能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖、以及检测所述试样室盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元，并且能够对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制，所述分光光度计的特征在于，在试样设置指示状态下通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态后，将光源点亮，测定吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值，并将测定结果显示在数据显示部中。
Description
技术领域
本发明涉及分光光度计，特别涉及搭载了试样室盖开闭检测单元的分光光度计。
背景技术
目前，关于在分光光度计的试样室或试样室盖上搭载并利用试样室盖开闭检测单元的技术，已知专利文献1、专利文献2、专利文献3。
在专利文献1中公开的分光光度计中，是在试样室的盖上设置盖开闭检测单元，配合盖的开闭，将光束向试样室入射、遮断的方法。在该方法中，以使用氘灯、钨灯作为光源的分光光度计为对象。氘灯和钨灯发热量高，在将光源一度熄灭的情况下，直到光源稳定之前需要时间。因此，在该专利中，光源本身不熄灭，而利用狭缝板或者光源反射镜来遮断光源的光束。因此，在专利文献1公开的方法中，不会有助于延长光源的使用期间，降低装置的消耗功率。
在专利文献2公开的核酸检测装置中，具备：在结束了试剂和试样的分注之后关闭检测容器的盖的关盖单元、以及对关闭的检测容器内的目标核酸进行扩增检测的单元。在该专利文献2公开的技术中，在关闭盖后，通过基因扩增反应来进行扩增目标基因的预处理，并非通过关闭盖来开始测定。这是由于，关闭盖的行为是以防止试样污染为目的。因此，在该专利文献2公开的方法中，未考虑延长光源的使用期间、降低装置的消耗功率。
在专利文献3公开的分光测定装置中，特征在于设置有能够检测有无在试样室的试样设置处设置试样的检测单元以及能够针对试样室的开闭进行检测的检测单元，在未设置试样的状态下，在关闭试样室的状态时自动取得背景数据。然而，在专利文献3公开的技术中不包含本发明这样对试样室盖的开闭和光源的点亮熄灭进行控制的技术，因此，不会有助于延长光源的使用期间、降低装置的消耗功率。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特开2005-201680号公报
专利文献2：日本特开2005-95134号公报
专利文献3：日本特开2006-162259号公报
发明内容
发明要解决的课题
在上述现有技术中，前提是以氘灯和钨灯作为光源的分光光度计，在这样的分光光度计中，光源的发热量高，在一度熄灭的情况下，直到光源稳定之前需要时间，因此，在试样的设置时等测定过程中以外的使用时间中，光源始终为点亮状态。因此，存在难以有效使用光源的光，并且消耗功率变高的课题。
本发明的目的在于，通过有效地使用分光光度计的光源的光，延长光源的使用期间、降低装置的消耗功率。
用于解决课题的手段
一种分光光度计，具有：能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖以及检测所述试样室盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元，对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制，所述分光光度计的特征在于，在试样设置指示状态下通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态后，将光源点亮，测定吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值，并将测定结果显示在数据显示部中。
发明效果
根据本发明，通过与试样室盖连动地控制光源的点亮熄灭，获得了延长光源的使用期间、降低装置的消耗功率的效果。
附图说明
图1是表示分光光度计的结构和信号处理的流程的图。
图2是本发明实施例1的处理器/存储装置所执行的控制处理的流程图。
图3是本发明实施例2的处理器/存储装置所执行的控制处理的流程图。
图4是本发明实施例3的处理器/存储装置所执行的控制处理的流程图。
图5是在关闭试样室盖之后进行了吸光度的时间变化测定的结果的图。
图6是使用根据关闭试样室盖之后得到的过去5点的吸光度所计算出的标准偏差，进行了稳定度判定的图。
图7是在关闭试样室盖之后进行参照侧能量值的时间变化测定所得的结果的图。
图8是使用关闭试样室盖之后得到的参照侧能量值的过去5点的标准偏差，进行了稳定度判定的图。
图9是在关闭试样室盖之后进行参照侧能量值的时间变化测定所得的结果的图。
图10是使用关闭试样室盖之后得到的参照侧能量值的过去5点的标准偏差，进行了稳定度判定的图。
图11是本发明实施例4的处理器/存储装置所执行的控制处理的流程图。
具体实施方式
以下，参照附图说明本发明的实施例。
图1是表示本发明实施例1的分光光度计的结构和信号处理的流程的图。从光源1发射出的以实线箭头表示的白光在分光器2中进行分光，取出特定波长，并在光束分离器3中分离为试样侧光束4和参照侧光束9。两光束分别被反射镜5、6、7反射，导入到试样室11。在试样室11内，试样侧光束4经过设置在试样设置部9中的试样，由试样侧检测器14检测试样的透过光。
另一方面，参照侧光束8经过设置在参照试样设置部10中的参照试样，由参照侧检测器15进行检测。这时，将由分光器2任意选择出的波长的光照射到试样，其透过光量以由参照侧检测器15检测出的光量为基准，由试样侧检测器14测定，由此能够得知试样的吸收、透过或者反射光量。例如，在溶液测定的吸收测定的情况下，将根据以已知浓度包含某成分的溶液试样而得到的吸光度与浓度未知的试样的吸光度进行比较，由此，测定者能够得知未知的试样的浓度。
图1是将光束分为试样侧、参照侧的所谓双光束的结构，但是在不具有参照侧光束的单光束结构以及不具有参照试样设置部的比率光束结构中也能够实施本发明。
以虚线箭头表示本发明的信号处理的流程。在试样侧检测器14和参照侧检测器15中检测的光束被转换为电信号之后，分别在试样侧AMP/AD变换器16与参照侧AMP/AD变换器17中被放大，模拟信号被转换为数字信号。针对该数字信号，在处理器/存储装置18中计算吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值以及参照侧能量值。通过指示输入单元23，测定者能够指示输入使分光光度计动作的条件等。处理器/存储装置18按照由指示输入单元23所输入的指示输入，通过装置控制信号20来进行光源1、分光器2、光束分离器3的控制。此外，能够将由试样室盖开闭检测单元13检测试样室盖12的开闭所得的信号，通过试样室盖开闭检测信号19输入到处理器/存储装置18，将试样室盖12的开闭状态用于装置的控制。作为在试样室盖开闭检测单元13中使用的传感器，能够使用光遮断器、微动开关、霍尔传感器等。在处理器/存储装置18中处理过的信息通过显示信号21在显示部22中进行显示。由此，测定者能够得知测定结果、装置状态的信息。
在一般的分光光度计中，光源1中使用氘灯和钨碘灯。然而，这些灯发热量高，在灯到达热平衡之前光量不稳定，发生基线(base line)变动的现象(漂移)。因此，无法在装置启动时等将灯点亮之后立即用于测定，需要一定的等待时间。因此，在装置启动时点亮的灯，直到最后的测定结束为止无法熄灭。因此，阻碍了装置的消耗功率的降低和灯的长寿命化。
但是，近年来，在分光光度计的灯中使用了氙闪光灯。氙闪关灯能够进行脉冲点亮(间歇点亮)，具有低发热的优点。根据该优点，通过使用氙闪光灯，能够在测定中在必要时将等点亮、熄灭，并能够根据状况细致地对灯进行点亮熄灭控制。此外，将通过试样室盖开闭检测单元13检测出的试样室盖12的开闭信息用于灯的熄灭、点亮的控制。例如在以往的光源中，从装置启动时开始到测定结束为止连续地点亮，但是在本发明中，在对设置了试样的试样室盖打开的情况下，光源的点亮中断。由此，实现了灯的长寿命化和消耗功率的降低。
图2是本发明实施例1的处理器/存储装置所执行的测定控制处理的流程图。以下说明该图。
(步骤S1)接通电源开关(省略图示)。
(步骤S2)启动分光光度计，光源1、分光器2、光束分离器3、试样侧检测器14、参照侧检测器15、试样侧AMP/AD变换器16、参照侧AMP/AD变换器17、处理器/存储装置18、显示部22成为动作状态，由此开始装置控制处理。
(步骤S3)测定者与测定试样相匹配地，通过指示输入单元23输入波长、测定数等用于使分光光度计动作的测定条件并进行确定。由此，将光源1、分光器2、光束分离器3设定为目标条件。
(步骤S4)这里，根据由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，在试样室盖关闭的情况下前进到步骤S5，在试样室盖敞开的情况下前进到步骤S7。
(步骤S5)为了促使测定者打开试样室盖并设置测定试样，显示打开试样室盖的意思的指导。测定者按照该指导来设置用于将测定值修正为透光度零或透过率、反射率100％的试样或实际试样。
(步骤S6)根据由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，在试样室盖关闭的情况下成为步骤S5的状态，在试样室盖敞开的情况下前进到步骤S7。
(步骤S7)向测定者显示对试样进行设置以及在设置后将试样室盖关闭的意思的指导。
(步骤S8)通过测定者在试样室中设置试样并关闭试样室盖，由试样室盖开闭检测单元13检测出的开闭信息为关闭，由此前进到步骤S10。在试样室盖为敞开状态的情况下，前进到步骤S9。
(步骤S9)使用试样室盖开闭检测单元13监视试样室盖被关闭的状况。
(步骤S10)点亮光源，开始数据取得。
(步骤S11)测定者使用试样室盖开闭检测单元13来监视在测定中是否打开了试样室盖。在打开了试样室盖的情况下前进到步骤S12。在直到测定结束为止试样室盖为关闭状态的情况下，前进到步骤S13。
(步骤S12)在测定中打开了试样室盖的情况下，装置外部的照明光通过试样室而入射到试样侧检测器14和参照侧检测器15，由此对检测量赋予变动，未准确地得到试样的测光值，因此中断测定。然后，返回到步骤S8，监视试样室盖关闭的状况。在已关闭的情况下，进行再测定。
(步骤S13)在预定的数据取得结束后，将光源熄灭。
(步骤S14)在根据步骤S3中设定的测定条件存在下一次测定的情况下，返回到步骤S7。在没有下一次测定的情况下，前进到步骤S15。
(步骤S15)结束测定。
如上所述，通过组合使用能够自由设计点亮熄灭的氙闪光灯和试样室盖开闭检测单元13，能够通过在试样室盖敞开的状态下将灯熄灭来减少灯的点亮时间，并能够实现消耗功率的降低。该图2表示的顺序能够用于对单一或多个固定波长的测光值进行测定的定量测定；对吸收光谱、透过光谱、反射光谱等的波长进行扫描的测定；对测光值的经时变化进行监测的时间变化测定。
图3是本发明实施例2的处理器/存储装置所执行的测定控制处理的流程图。以下说明该图。
(步骤S21)接通电源开关(省略图示)。
(步骤S22)启动分光光度计，光源1、分光器2、光束分离器3、试样侧检测器14、参照侧检测器15、试样侧AMP/AD变换器16、参照侧AMP/AD变换器17、处理器/存储装置18、显示部22成为动作状态，由此开始装置控制处理。
(步骤S23)测定者与测定试样相匹配地，通过指示输入单元23输入波长、测定数等用于使分光光度计动作的测定条件并进行确定。由此，将光源1、分光器2、光束分离器3设定为目标条件。
(步骤S24)这里，根据由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，在试样室盖关闭的情况下前进到步骤S26的处理，在试样室盖敞开的情况下前进到步骤S25的处理。
(步骤S25)在试样室盖敞开的情况下，使用由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，监视试样室盖被关闭的状况。这里，为了促使测定者关闭试样室盖，可以显示用于关闭试样室盖的指导。
(步骤S26)将光源点亮，取得数据。
(步骤S27)在光源点亮期间监视试样室盖关闭。在光源点亮期间试样室盖敞开的情况下，前进到步骤S28的处理。在试样室盖关闭状态的情况下，前进到步骤S29的处理。
(步骤S28)在试样室盖敞开状态的情况下，由于受到外部照明光的影响，因此将光源熄灭并结束数据取得。然后，监视试样室盖被关闭的状况，在再次关闭试样室盖的情况下，将光源点亮，取得数据。
(步骤S29)在测定过程中测定者按压了测定结束按钮的情况下，前进到步骤S30并结束测定。此外，在经过了步骤S23的测定条件中设定的光源的熄灭时间的情况下，前进到步骤S30并结束测定。该功能用于防止当测定者忘记测定结束的指示时的灯的消耗。在测定结束指示和经过光源的熄灭时间之外的情况下，前进到步骤S26的处理，继续光源的点亮，并继续取得数据。
(步骤S30)结束测定。
该图3所示的顺序能够用于监测值的读取测定。监测值的读取测定，将得到的测光值随时显示在显示部22中，以测定者的定时在试样室中设置试样并读取测光值。该测定即使不知晓装置的详细使用方法也能够容易地取得测定值，因此用于装置的初学者。图3所示的顺序，通过试样室盖开闭检测单元13和氙闪光灯的点亮熄灭控制，在试样更换时的敞开试样室的状态下将灯熄灭并中断测定，由此能够防止灯的浪费并降低消耗功率。
例如，在进行了100件试样的吸光度测定的情况下，模拟了将全部的从测定开始到测定结束的50％的时间花费在试样的准备和设置上，在灯点亮时为35W、灯不点亮时为30W的消耗功率的分光光度计中进行测定的情况下的灯点亮时间和消耗功率。结果，将进行了点亮熄灭的情况与始终点亮的情况相比较，成为一半的点亮时间，能够使灯的寿命加倍。此外，可知消耗功率在点亮熄灭控制的情况下比始终点亮的情况减少了7.1％。由此，通过进行点亮熄灭控制，能够防止灯的浪费，延长寿命，并且能够将消耗功率减少7.1％。
图4是本发明实施例3的处理器/存储装置所执行的测定控制处理的流程图。以下说明该图。
(步骤S41)接通电源开关(省略图示)。
(步骤S42)启动分光光度计，光源1、分光器2、光束分离器3、试样侧检测器14、参照侧检测器15、试样侧AMP/AD变换器16、参照侧AMP/AD变换器17、处理器/存储装置18、显示部22成为动作状态，由此开始装置控制处理。
(步骤S43)测定者与测定试样相匹配地，通过指示输入单元23输入波长、测定数等用于使分光光度计动作的测定条件并进行确定。由此，将光源1、分光器2、光束分离器3设定为目标条件。在实施例1的步骤S8中在由试样室盖开闭检测单元13检测到关闭了试样室盖之后立即测定吸光度、透过率、反射率等的情况下，存在测定值不稳定的问题。为了解决这一问题，通过指示输入单元23输入稳定度判定条件的上限值和下限值，由此来确定稳定度判定条件，并在得到了该稳定度判定条件内的值时开始数据取得。
(步骤S44)这里，根据由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，在试样室盖关闭的情况下前进到步骤S45，在试样室盖敞开的情况下前进到步骤S47。
(步骤S45)为了促使测定者打开试样室盖并设置测定试样，显示打开试样室盖的意思的指导。测定者按照该指导来设置用于将测定值修正为吸光度零或透过率、反射率100％的试样或实际试样。
(步骤S46)根据由试样室盖开闭检测单元13得到的试样室盖的开闭信息，在试样室盖关闭的情况下成为步骤S45的状态，在试样室盖敞开的情况下前进到步骤S47。
(步骤S47)向测定者显示对试样进行设置以及设置后将试样室盖关闭的意思的指导。
(步骤S48)通过测定者在试样室中设置试样并关闭试样室盖，由试样室盖开闭检测单元13检测出的开闭信息为关闭，由此前进到步骤S50。在试样室盖为敞开状态的情况下，前进到步骤S49。
(步骤S49)使用试样室盖开闭检测单元13监视试样室盖被关闭的状况。
(步骤S50)在由试样室盖开闭检测单元13检测出关闭了试样室盖12的情况下，将灯点亮，并开始稳定度监测的数据取得。
(步骤S51)在根据得到的稳定度监测的值判定为满足指示输入的稳定度判定条件并稳定的情况下，前进到步骤S52，在不满足的情况下继续进行稳定度监测。
(步骤S52)结束稳定度监测的数据取得。步骤S53以后的步骤与其他实施例相同。
这里，以下表示从步骤S50到步骤S52所示的稳定度监测的实施例。在稳定度监测中，开始能够利用分光光度计在固定波长中以一定间隔来对测定值的经时变化进行测定的时间变化测定。此时，优选数据取得间隔为1s以内的小值。在时间变化测定中使用的波长与此后在试样测定中使用的波长相一致。得到的测定值能够使用：使用由试样侧检测器14和参照侧检测器15得到的能量值而计算出的吸光度、透过率、反射率以及由试样侧检测器14得到的试样侧能量值(光量)、由参照侧检测器15得到的参照侧能量值(光量)。在单光束方式、比率光束方式的情况下，能够使用吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值；在双光束方式的情况下，除了吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值之外，由于试样对光容易分解等原因，在试样的吸光度、透过率、反射率发生经时变化的情况下，能够使用参照侧能量值。
图5中表示了在双光束方式中，在关闭试样室盖之后进行吸光度的时间变化测定所得的数据。可知开始时间变化测定的0s至0.2s是刚关闭试样室盖之后，因此检测器不稳定。可知此后从0.2s至1.0s得到吸光度-0.0004～0.0014，稍大地发生了变化。可知1.0s以后，吸光度的变动落入一定的范围。对于关闭试样室盖后得到的吸光度的时间变化测定数据，看到了这样的倾向，作为稳定度的判定考虑了以下方法，例如，在符合测定者所要求的测定精密度地得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限和下限的范围内的测定值时，判断为满足了稳定度判定条件的方法；以及求取与时间变化测定之前的数据取得点的差，与测定者要求的测定精密度相符合地得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限与下限的范围内的差时，判断为满足了稳定度判定条件的方法。
此外，使用图6表示计算标准偏差来进行判断的情况。图6使用图5中得到的值，将使用指示输入的过去n点(这里设为5点)的测定值计算出标准偏差的值连同关闭试样室盖后的经过时间一起进行图表化。可知，随着关闭试样室盖后的经过时间得到的标准偏差的值变小。在符合测定者预先要求的测定精密度地，得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限和下限的范围内的标准偏差时，能够判断为满足了稳定度判定条件。在图6的例中，在作为稳定度判定条件而指示输入了上限0.0005、下限0的标准偏差的情况下，在最初得到该范围内的标准偏差的1.2s，能够判定为满足了稳定度判定条件。除此之外，在落入稳定度判定条件范围内的测定点以指定次数落入的情况下，或在落入稳定度判定条件范围内的测定点连续地以测定者所指定的次数落入的情况下，能够判定为满足了稳定度判定条件。对于透过率、反射率的情况，能够使用与吸光度同样的判定方法。
图7中表示了在双光束方式中，在关闭试样室盖之后进行参照侧能量值的时间变化测定所得的数据。该方法通过测定光使试样发生化学、物理变化，吸光度、透过率、反射率发生变化，由此，用于无法判定测定值稳定度的情况。图7中可知，开始时间变化测定的0s至0.9s是刚关闭了试样室盖后，因此参照侧的检测器不稳定。可知之后，1.0s以后落入一定范围。在参照侧能量中得到了这样的倾向，因此，作为稳定度的判定考虑了以下方法：与吸光度的情况同样地，例如在符合测定者所要求的测定精密度，得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限和下限的范围内的测定值时，判断为满足了稳定度判定条件的方法；以及求取与时间变化测定之前的数据取得点的差，与测定者要求的测定精密度相符合地，得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限与下限的范围内的差时，判断为满足了稳定度判定条件的方法。
此外，使用图8表示计算标准偏差来进行判断的情况。图8使用图7中得到的值，将使用指示输入的过去n点(这里设为5点)的测定值计算出标准偏差所得的值连同关闭试样室盖后的经过时间进行图表化。可知，随着关闭试样室盖后的经过时间而得到的标准偏差的值变小。在符合测定者预先要求的测定精密度地，得到作为稳定度判定条件而指示输入的上限和下限的范围内的标准偏差时，能够判断为满足了稳定度判定条件。在图8的例中，在作为稳定度判定条件而设定了上限0.05、下限0的标准偏差的情况下，在最初得到该范围内的标准偏差的1.3s，能够判定为满足了稳定度判定条件。除此之外，在落入稳定度判定条件范围内的测定点以指定次数落入的情况下，或在落入稳定度判定条件范围内的测定点连续地以测定者指定的次数落入的情况下，能够判定为满足了稳定度判定条件。在使用了试样侧能量值的情况下，也能够使用同样的判定方法。该实施例3中表示的稳定度判定，对实施例2也能够适用。
图9是本发明实施例4的处理器/存储装置所执行的测定控制处理的流程图。图9是代替图4的步骤S50到步骤S52的稳定度监测而使用步骤S60的方法。以下说明步骤S60。
(步骤S60)在步骤S48中由试样室盖开闭检测单元13检测到关闭了试样室盖12的情况下，等待通过步骤S43由指示输入单元所输入的等待时间、或者作为固定值而预先指示输入并存储在存储装置中的等待时间，在经过了等待时间时前进到步骤S53。这时，等待时间的决定方法，使用从步骤S50到步骤S52所示出的方法，设为根据实际测定数据进行判断并确认为足够稳定的时间。关于该等待时间，考虑了以下2种情况，即，通过预先进行研究而由一个条件进行固定的等待时间，以及由测定者任意自由地改变的等待时间。该实施例4中表示的稳定度判定，对实施例2也能够适用。
如上所述，根据本实施方式，在分光光度计的光源部搭载低发热的氙闪光灯，通过将试样室开闭检测单元与光源的点亮熄灭连动，在试样室盖敞开的状态下使光源熄灭并设为不可测定，在试样室盖关闭的状态下能够将光源点亮，由此能够延长光源的使用期间，获得降低装置的消耗功率的效果。此外，测定者能够通过关闭试样室盖来开始测定，而不指示测定开始，并且由分光光度计得到的测定值稳定，能够求取准确的测定值。本专利若是例如LED光源这样的低发热灯，则能够实施。
符号说明
1 光源
2 分光器
3 光束分离器
4 试样侧光束
5、6、7 反射镜
8 参照侧光束
9 试样设置部
10 参照试样设置部
11 试样室
12 试样室盖
13 试样室盖开闭检测单元
14 试样侧检测器
15 参照侧检测器
16 试样侧AMP/AD变换器
17 参照侧AMP/AD变换器
18 处理器/存储装置
19 试样室盖开闭检测信号
20 装置控制信号
21 显示信号
22 显示部
23 指示输入单元
Claims (13)
1.一种分光光度计，具有能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖以及检测所述试样室盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元，能够对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制，
所述分光光度计的特征在于，
通过将所述试样室盖开闭检测单元检测出的所述盖的开闭信息用于灯的熄灭、点亮的控制，将所述试样室盖开闭检测单元与光源的点亮熄灭连动，在试样设置指示状态下通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖为从敞开状态关闭的状态后，将光源亮灯，测定吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值，并将测定结果显示在数据显示部中。
2.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
在检测到所述盖从关闭状态敞开的状态后，中断测定。
3.根据权利要求1所述的分光光度计，其特征在于，
在通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态后，针对从分光光度计得到的吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值，以一定间隔开始取得数据，持续取得数据直到满足稳定度判定条件为止，在满足了稳定度判定条件的时刻中止取得数据，并测定实际试样，将测定结果显示在数据显示部中。
4.根据权利要求3所述的分光光度计，其特征在于，
在测定值为吸光度的情况下修正为零，在测定值为透过率或反射率的情况下修正为100％，并存储到存储装置。
5.在根据权利要求3所述的分光光度计，其特征在于，
能够指示输入稳定度判定条件的上限和下限。
6.根据权利要求5所述的分光光度计，其特征在于，
将从分光光度计得到的吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值得到稳定度判定条件的上限和下限的范围内的值的时刻，判断为满足稳定度判定条件。
7.根据权利要求6所述的分光光度计，其特征在于，
将从分光光度计得到的吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值的当前测定点与前一测定点的差得到稳定度判定条件的上限和下限的范围内的值的时刻，判断为满足稳定度判定条件。
8.根据权利要求6所述的分光光度计，其特征在于，
将从分光光度计得到的吸光度、透过率、反射率、试样侧能量值或参照侧能量值的从多个点前到当前测定点的标准偏差得到稳定度判定条件的上限和下限的范围内的值的时刻，判断为满足稳定度判定条件。
9.一种分光光度计，具有能够开闭用于设置试样和参照用试样的试样室的开口部的试样室盖以及检测所述盖的开闭状态的试样室盖开闭检测单元，能够对作为光源的氙闪光灯以及分光器、检测器、放大器、AD转换器、处理器、存储装置、数据显示部进行测定控制，
所述分光光度计的特征在于，
通过将所述试样室盖开闭检测单元检测出的所述盖的开闭信息用于灯的熄灭、点亮的控制，将所述试样室盖开闭检测单元与光源的点亮熄灭连动，通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态，并经过了被指示输入为等待时间的时间后，测定实际试样，并将测定结果显示在数据显示部中。
10.根据权利要求9所述的分光光度计，其特征在于，
在通过所述试样室开闭检测单元检测到所述盖从敞开状态关闭的状态，并经过了被指示输入为等待时间的时间后，在测定值为吸光度的情况下修正为零，在测定值为透过率或反射率的情况下修正为100％，并存储到存储装置。
11.根据权利要求9所述的分光光度计，其特征在于，
能够指示输入等待时间。
12.根据权利要求11所述的分光光度计，其特征在于，
将等待时间预先指示输入为固定值，并存储到存储装置。
13.根据权利要求1或9所述的分光光度计，其特征在于，
在光源中使用LED。
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3721824A (en) * | 1967-04-10 | 1973-03-20 | Packard Instrument Co Inc | Apparatus and method for adjusting gain of photomultiplier type scintillation detectors |
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| JPS63145925A (ja) * | 1986-12-09 | 1988-06-18 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
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| US6262798B1 (en) * | 1992-09-29 | 2001-07-17 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method and apparatus for direct spectrophotometric measurements in unaltered whole blood |
| JPH0772012A (ja) * | 1993-09-06 | 1995-03-17 | Minolta Co Ltd | 測色装置 |
| US5785960A (en) * | 1997-03-19 | 1998-07-28 | Elizabeth Arden Co., Division Of Conopco, Inc. | Method and system for customizing dermatological foundation products |
| JPH10267706A (ja) * | 1997-03-25 | 1998-10-09 | Akashi:Kk | 試験機 |
| JPH1137940A (ja) * | 1997-07-22 | 1999-02-12 | Yakult Honsha Co Ltd | 水質測定器 |
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| JP2000275168A (ja) * | 1999-03-24 | 2000-10-06 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 劣化度測定システム |
| JP3997698B2 (ja) * | 2000-07-14 | 2007-10-24 | 横河電機株式会社 | 信号減衰補正装置 |
| JP2002039973A (ja) * | 2000-07-27 | 2002-02-06 | Seiko Instruments Inc | 蛍光ｘ線分析計 |
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| JP2005147811A (ja) * | 2003-11-14 | 2005-06-09 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2005201680A (ja) * | 2004-01-13 | 2005-07-28 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| EP1744151B1 (en) * | 2004-04-28 | 2012-02-22 | Panasonic Corporation | Fluorescent x-ray analysis method and equipment |
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| US7262844B2 (en) * | 2005-01-13 | 2007-08-28 | The Curators Of The University Of Missouri | Ultrasensitive spectrophotometer |
| EP3505052A1 (en) * | 2005-04-25 | 2019-07-03 | University of Massachusetts | Systems and methods for correcting optical reflectance measurements |
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| CN201352151Y (zh) * | 2008-12-22 | 2009-11-25 | 杭州数威软件技术有限公司 | 一种分布光度计吸光装置 |
| CN201689050U (zh) * | 2009-09-04 | 2010-12-29 | 中国环境科学研究院 | 能检测光吸收或光透射的荧光光度计 |
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