CN104362605B - 一种瞬态触发静电放电保护电路 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种瞬态触发静电放电保护电路,包括瞬态触发模块、钳位晶体管开启模块、以及钳位晶体管。本发明提供的一种瞬态触发静电放电保护电路,在不使用电流镜的前提下,大大缩小了瞬态触发静电放电保护电路的面积,同时比之于电流镜的应用,能够在ESD事件结束后快速下拉相应NMOS管的栅压到0电位,以减少漏电;由于电阻R用PMOS晶体管MR的替换,使得等效的RC时间常数在ESD冲击来临瞬间较小,而后变大,因此可以有效防止快速上电等情况带来的误触发。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域,更具体涉及一种瞬态触发静电放电保护电路。
背景技术
在CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor),互补金属氧化物半导体集成电路设计中,为了保证芯片正常工作,需要加入静电放电(Electronic StaticDischarge,ESD)保护电路。随着CMOS制造工艺的提高,器件特征尺寸不断减小,器件栅氧化成层不断变薄,因而其击穿电压也越来越低,这就对ESD保护电路的鲁棒性提出了更高的要求。同时,器件工作电压也不断减小,导致ESD设计窗口随之变窄,有效的ESD保护设计变得更加困难。有效的ESD保护电路结构,能够快速响应ESD事件,在ESD来临时迅速开启,为静电电荷泄放提供一个低阻通道,以此在短时间内大量泄放静电电荷,同时要将电源管脚电压VDD钳位在栅击穿电压以下,从而保护内部电路不受ESD冲击损伤。
ESD保护电路一般至少包括触发模块和泄放器件。对于栅控泄放器件,基本触发方式包括瞬态(RC)触发和直流(DC)触发。其中,直流(DC)触发响应时间慢,但是抗误触发能力强;瞬态(RC)触发响应时间快,但是抗误触发能力弱。尤其在快速热插拔应用下,RC触发形式极易导致误触发,造成极大的漏电现象,通过减小RC时间常数,可以有效避免误触发,但是同时造成了泄放器件开启时间小,不能有效保护内部电路。因此,如何在有效延长器件开启时间的同时减小误触发现象发生的几率,是我们面临的挑战。
图1所示是传统的瞬态触发电源钳位ESD保护电路,也叫做RC触发电源钳位ESD保护电路。其中,电阻R1和做电容用的PMOS晶体管MC构成了RC瞬态触发模块,通过调整二者的大小,可以调整RC时间常数,以得到不同的ESD保护电路开启时间。大尺寸的NMOS晶体管Mbig作为泄放器件,在ESD事件中提供低阻通道,在正常工作时保持严格关闭以防漏电流。三级串联反相器INV0,INV1,INV2作为泄放晶体管Mbig的开启模块,在RC时间常数逐渐过去的过程中,保持泄放晶体管栅压能够跟随VDD。其工作原理如下:当一个ESD冲击事件发生在电源管脚VDD上时,因为电荷的积累,其上的电压VDD被迅速上拉,此时,MC的上端电压不能及时跟随电压VDD,保持为低电平,通过三级反相器后,使得泄放晶体管Mbig的栅压VG被拉高到电压VDD,从而及时打开Mbig,提供了一个低阻通道,使静电电荷能够迅速泄放。随着RC时间常数过去,MC的上端电压被逐渐充电到高电位,从而将VG下拉倒低电位,从而关闭Mbig。适当的RC时间常数设置,能够使此保护电路在整个ESD事件过程中都保持开启,以达到保护芯片内部电路的目的。在正常上电的过程中,MC上端的电位能够跟随电源电压VDD的变化,从而使VG一直保持为低电平,Mbig在整个上电过程中保持关闭。在传统的RC触发结构中,RC时间常数是个需要仔细设计的参数,大了容易误触发,小了不能保证整个ESD冲击事件中保护电路的开启。
另外,传统的RC触发结构,所用电容MC面积较大,因此很多设计通过引入电流镜,从而使得RC瞬态触发模块面积大大减小,如图2所示。其中,图1中的第一级反相器INV0的NMOS晶体管用电阻R代替,同时不改变其反相器的实质。NMOS晶体管MN2和MN1构成一个反相器,并且与电容MC并联,以较小的MC电容值,获得等效的大电容值,从而达到减小面积的作用。其工作原理和图1所示传统RC触发电源钳位ESD保护电路相同。理论上,总的电容值C可以表示为MC*[1+MN1长宽比/MN2长宽比],在实际中,[MN1长宽比/MN2长宽比] 的值要比理论中设置得稍大。但电流镜的引入导致的问题是,MN1的栅压值VX,在正常上电过程中,被拉高后下降为0的时间特别长,极易导致大的漏电,尤其是在正常工作中遭遇ESD事件的话,这个现象更加明显。另外,在更先进的CMOS工艺中,晶体管栅漏电存在,MC的两端电压差越大,漏电越大。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明要解决的技术问题是如何在防ESD冲击的同时,有效防止误触发、减少漏电流,减小电路烦人版图面积。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种瞬态触发静电放电保护电路,包括瞬态触发模块、钳位晶体管开启模块、以及钳位晶体管;所述瞬态触发模块包括电阻R1、PMOS晶体管MC;
所述瞬态触发模块还包括二极管D1、二极管DC、NMOS晶体管MN1、MN2,PMOS晶体管MR,并且所述瞬态触发模块的PMOS晶体管MC用所述二极管DC代替,所述电阻R用所述PMOS晶体管MR,代替;
所述PMOS晶体管MR的源极与电源管脚VDD相连,所述PMOS晶体管MR的漏极与所述二极管DC的阴极相连,所述二极管DC的阳极与所述二极管D1的阳极相连,所述二极管D1的阴极接地,所述NMOS晶体管MN1的漏极与所述二极管DC的阳极相连,所述NMOS晶体管MN1的源极接地,所述NMOS晶体管MN1的栅极接所述二极管D1的阳极,所述NMOS晶体管MN2的漏极与所述二极管D1的阳极相连,所述NMOS晶体管MN2的源极接地,所述NMOS晶体管MN2的栅极与所述二极管DC的阴极相连,所述PMOS晶体管MR的栅极与所述钳位晶体管开启模块的一级反相器的输出端连接。
优选地,所述PMOS晶体管MR等效为电阻,所述二极管DC等效 为电容。
优选地,所述钳位晶体管开启模块包括由电阻R、PMOS晶体管MP构成的一级反相器、由PMOS晶体管MP01、NMOS管MNO1构成的二级反相器以及由PMOS晶体管MP02、NMOS管MNO3构成的二级反相器;
所述钳位晶体管开启模块的连接关系具体为:
所述电阻R的一端接地,另一端与所述PMOS晶体管MR的栅极、所述PMOS晶体管MP的漏极相连以及所述PMOS晶体管MP的漏记连接,所述PMOS晶体管MP的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP的栅极与所述二极管DC的阴极相连;所述NMOS晶体管MN01的源极接地,其栅极与所述PMOS晶体管MP的漏极相连,所述NMOS晶体管MN01的漏极与所述NMOS晶体管MN02的栅极以及所述PMOS晶体管MP01的漏极相连,所述NMOS晶体管MN02的源极接地,所其漏极与所述PMOS晶体管MP02的漏极相连,所述PMOS晶体管MP02的栅极与所述NMOS晶体管MN01的漏极相连,所述PMOS晶体管MP01的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP01的栅极与所述电阻R的另一端相连。
优选地,钳位晶体管为NMOS晶体管Mbig,所述NMOS晶体管Mbig的栅极与所述NMOS晶体管MN02的漏极相连,所述NMOS晶体管Mbig的源极接地,所述NMOS晶体管Mbig的漏极接所述电源管脚VDD。
优选地,所述瞬态触发模块,通过电流脉冲上升时间识别是否为静电放电冲击,若是,则发送第一响应信号至所述钳位晶体管开启模块;
所述钳位晶体管开启模块,根据所述第一响应信号开启所述钳位晶体管;
所述钳位晶体管,用于泄放静电放电脉冲带来的静电电荷。
(三)有益效果
本发明提供了一种瞬态触发静电放电保护电路,在不使用电流镜的前提下,大大缩小了瞬态触发静电放电保护电路的面积,同时比之于电流镜的应用,能够在ESD事件结束后快速下拉相应NMOS管的栅压到0电位,以减少漏电;由于电阻R用PMOS晶体管MR的替换,使得等效的RC时间常数在ESD冲击来临瞬间较小,而后变大,因此可以有效防止快速上电等情况带来的误触发。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为传统的瞬态触发电源钳位ESD保护电路图;
图2为引入电流镜的瞬态触发电源钳位ESD保护电路结构示意图;
图3为本发明的一种瞬态触发静电放电保护电路图;
图4为图3所示电路在ESD冲击下,钳位电压VDD和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图;
图5为图3所示电路在正常上电过程中,总的漏电流Leakage和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图;
图6为图3所示电路在快速上电过程中,总的漏电流Leakage和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图;
图7为图3和图2所示电路,在正常上电过程中,节点电压VB和VX随时间变化的示意图;
图8为图3和图2所示电路,在正常上电过程中,总的漏电流IB和IX随时间变化的示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明,但不能用来限制本发明的范围。
本发明公开了一种瞬态触发静电放电保护电路,包括瞬态触发模块、钳位晶体管开启模块、以及钳位晶体管;所述瞬态触发模块包括电阻R1、PMOS晶体管MC;
所述瞬态触发模块还包括二极管D1、二极管DC、NMOS晶体管MN1、MN2,PMOS晶体管MR,并且所述瞬态触发模块的PMOS晶体管MC用所述二极管DC代替,所述电阻R用所述PMOS晶体管MR,代替;
所述PMOS晶体管MR的源极与电源管脚VDD相连,所述PMOS晶体管MR的漏极与所述二极管DC的阴极相连,所述二极管DC的阳极与所述二极管D1的阳极相连,所述二极管D1的阴极接地,所述NMOS晶体管MN1的漏极与所述二极管DC的阳极相连,所述NMOS晶体管MN1的源极接地,所述NMOS晶体管MN1的栅极接所述二极管D1的阳极,所述NMOS晶体管MN2的漏极与所述二极管D1的阳极相连,所述NMOS晶体管MN2的源极接地,所述NMOS晶体管MN2的栅极与所述二极管DC的阴极相连,所述PMOS晶体管MR的栅极与所述钳位晶体管开启模块的一级反相器的输出端连接。
所述PMOS晶体管MR等效为电阻,所述二极管DC等效为电容。
所述瞬态触发模块,通过电流脉冲上升时间识别是否为静电放电冲击,若是,则发送第一响应信号至所述钳位晶体管开启模块;所述钳位晶体管开启模块,根据所述第一响应信号开启所述钳位晶体管;所述钳位晶体管,用于泄放静电放电脉冲带来的静电电荷 。
所述钳位晶体管开启模块包括由电阻R、PMOS晶体管MP构成的一级反相器、由PMOS晶体管MP01、NMOS管MNO1构成的二级反相器以及由PMOS晶体管MP02、NMOS管MNO3构成的二级反相器;所述钳位晶体管开启模块的连接关系具体为:所述电阻R的一端接地,另一端与所述PMOS晶体管MR的栅极、所述PMOS晶体管MP的漏极 相连以及所述PMOS晶体管MP的漏记连接,所述PMOS晶体管MP的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP的栅极与所述二极管DC的阴极相连;所述NMOS晶体管MN01的源极接地,其栅极与所述PMOS晶体管MP的漏极相连,所述NMOS晶体管MN01的漏极与所述NMOS晶体管MN02的栅极以及所述PMOS晶体管MP01的漏极相连,所述NMOS晶体管MN02的源极接地,所其漏极与所述PMOS晶体管MP02的漏极相连,所述PMOS晶体管MP02的栅极与所述NMOS晶体管MN01的漏极相连,所述PMOS晶体管MP01的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP01的栅极与所述电阻R的另一端相连。
钳位晶体管为NMOS晶体管Mbig,所述NMOS晶体管Mbig的栅极与所述NMOS晶体管MN02的漏极相连,所述NMOS晶体管Mbig的源极接地,所述NMOS晶体管Mbig的漏极接所述电源管脚VDD。
本发明通过引入做电阻作用的PMOS晶体管MR,能够在较小尺寸下获得大的等效电阻值,减小版图面积;另一方面,ESD脉冲刚刚来临是,其栅压为0,此时等效RC时间常数较小,而之后,随着其栅压的升高,等效RC时间常数变大,从而可以有效避免误触发;另外通过引入新的电路结构,代替原有的电流镜结构,不仅可以同样减小面积,而且相应下拉NMOS管的栅压能够被更快下拉到0电位,从而减小芯片在正常上电以及工作过程中遭受ESD冲击时的漏电流。
本发明电路工作原理为:当ESD脉冲打到电源管脚VDD时,电容DC两端的电压差不能瞬变,都为低电平0,一旦电压VDD超过Vthp,则电阻R的上端电压值不再是0,靠电阻R和PMOS晶体管MP分压决定,一旦其值超过二级反相器INV1的逻辑阈值电平,则二级反相器INV1的输出为低电平,三级反相器INV2的输出为高电平,从而开启钳位晶体管Mbig。注意的是,当R的上端为0,VDD高于Vthp时,PMOS晶体管MR开启,此时相应的RC时间常数较小,能有效避免误触发。接下来,随着电容DC的充电,其阳极和阴极电压都将升高,阳极电压 VB上升到二极管D1的导通电压后不再升高,此时NMOS晶体管MN1导通,下拉DC的阴极电压,NMOS晶体管MN1对VB值起下拉作用。因为MN1对DC的阴极电压下拉作用的存在,我们可以用较小的RC触发模块面积实现较大的等效RC时间常数。同时,反向偏置的二极管DC用作电容,避免了PMOS电容栅漏电的问题。在等效RC时间常数内,DC的阴极电压相对VDD为低电平,通过三级反相器的作用,使Mbig的栅压紧跟VDD电压,从而保证Mbig的成功开启,为ESD静电电荷提供一个低阻泄流通道。RC时间常数一旦过去,DC的阴极电压恢复高电平,PMOS晶体管MP截止,R的上端电压恢复为0,从而VG被下拉到0电位,严格关闭Mbig;此时,NMOS晶体管MN2完全导通,将VB下拉到严格的0电位,从而MN1也严格关闭,避免出现漏电。
正常上电时,DC的阴极电压始终能够跟随电源电压VDD变化,VB也保持为0电位,从而VG始终保持为低电平不能开启Mbig,同时,VB电压能够被NMOS晶体管MN2快速下拉到0,较之电流镜的设计下拉速度快得多。
图4为图3所示电路在ESD冲击下,钳位电压VDD和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图,所用ESD仿真电流Ipulse的上升时间为10ns,峰值电流为1.33A,对应于2KVHBM值。从图中可以看出,在ESD电流来临的瞬间,Mbig栅压VG能够快速被拉高到VDD,使Mbig快速开启,及时泄放ESD静电电荷,并且VG在ESD事件结束后被下拉到0,严格关闭Mbig。值得注意的是,钳位电压VDD始终不曾超过晶体管的栅击穿电压,从而有效保护了芯片内部电路。
图5为图3所示电路在正常上电过程中,总的漏电流Leakage和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图,VDD上升时间为100μs,幅度为2.5V工作电压。从图中可以看出,VG只在前20个μs内有所波动,峰值在0.1334V,Mbig处于关闭状态,保护电路不干扰正常的上电过程。与此同时,漏电流峰值大约为89.1nA,出现在16μs附近,这说明VDD上电过程中,漏电流十分小,并且在上电结束后,漏 电流Leakage迅速下降到大约5nA并保持稳定,这说明正常工作中,整个保护电路的漏电超级小,设计非常成功。
图6为图3所示电路在快速上电过程中,总的漏电流Leakage和钳位晶体管Mbig栅压VG随时间变化的示意图,VDD上升时间为150ns,幅度为2.5V工作电压。从图中可以看出,快速上电过程中,漏电流Leakage的峰值在232μA,大约出现在93ns。VG峰值在0.267V,大约出现在51ns。可见,在快速上电过程中,至少小到150ns的上升时间,Mbig依然保持关闭,最大的漏电流值也只有232μA。这说明,本发明的电路在快速上电中,能够有效避免误触发现象的发生,能用于热插拔等应用之中。
图7为图3和图2所示电路,在正常上电过程中,节点电压VB和VX随时间变化的示意图,VDD上升时间为100μs,幅度为2.5V工作电压,观察时间长达5ms。从图中可以看到,本发明提出的电路的节点电压VB能够快速被下拉到0,并且峰值不超过0.3V;而用作对比的图2电流镜结构,VX峰值大约在0.37V,并且在5ms的时候还大约有0.1V,因而,本发明所示电路不仅拥有电流镜省面积的优点,而且相应下拉NMOS管的栅压能够更快被下拉倒0。
图8为图3和图2所示电路,在正常上电过程中,总的漏电流IB和IX随时间变化的示意图,IB被下拉到稳定漏电值所用时间比IX少,且IB峰值大约在50nA,而IX高达350nA。
图4-图8证明了本发明的电路的正确性和有效性。首先,通过引入做电阻作用的PMOS晶体管MR,能够在较小尺寸下获得大的等效电阻值,减小版图面积;另一方面,ESD脉冲刚刚来临是,其栅压为0,此时等效RC时间常数较小,而之后,随着其栅压的升高,等效RC时间常数变大,从而可以有效避免误触发;另外通过引入新的电路结构,代替原有的电流镜结构,不仅可以同样减小面积,而且相应下拉NMOS管的栅压能够被更快下拉到0电位,从而减小芯片在正常上电以及工作过程中遭受ESD冲击时的漏电流。本发明的电路在正常上电、150ns的快速上电以及ESD冲击事件中,表现优异,稳定工作时的漏电流只有5nA,实现了超低漏电。
上述PMOS晶体管是指N型衬底,P型沟道的金属氧化物半导体场效应晶体管;上述NMOS晶体管是指P型衬底,N型沟道的金属氧化物半导体场效应晶体管。
以上实施方式仅用于说明本发明,而非对本发明的限制。尽管参照实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,对本发明的技术方案进行各种组合、修改或者等同替换,都不脱离本发明技术方案的精神和范围,均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。
Claims (5)
1.一种瞬态触发静电放电保护电路,包括瞬态触发模块、钳位晶体管开启模块、以及钳位晶体管;
其特征在于,所述瞬态触发模块还包括二极管D1、二极管DC、NMOS晶体管MN1、MN2,PMOS晶体管MR;
所述PMOS晶体管MR的源极与电源管脚VDD相连,所述PMOS晶体管MR的漏极与所述二极管DC的阴极相连,所述二极管DC的阳极与所述二极管D1的阳极相连,所述二极管D1的阴极接地,所述NMOS晶体管MN1的漏极与所述二极管DC的阳极相连,所述NMOS晶体管MN1的源极接地,所述NMOS晶体管MN1的栅极接所述二极管D1的阳极,所述NMOS晶体管MN2的漏极与所述二极管D1的阴极相连,所述NMOS晶体管MN2的源极接地,所述NMOS晶体管MN2的栅极与所述二极管DC的阴极相连,所述PMOS晶体管MR的栅极与所述钳位晶体管开启模块的一级反相器的输出端连接。
2.根据权利要求1所述的一种瞬态触发静电放电保护电路,其特征在于,所述PMOS晶体管MR等效为电阻,所述二极管DC等效为电容。
3.根据权利要求1或2所述的一种瞬态触发静电放电保护电路,其特征在于,所述钳位晶体管开启模块包括由电阻R、PMOS晶体管MP构成的一级反相器、由PMOS晶体管MP01、NMOS管MN01构成的二级反相器以及由PMOS晶体管MP02、NMOS管MN02构成的三级反相器;
所述钳位晶体管开启模块的连接关系具体为:
所述电阻R的一端接地,另一端与所述PMOS晶体管MR的栅极、所述PMOS晶体管MP的漏极相连,所述PMOS晶体管MP的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP的栅极与所述二极管DC的阴极相连;所述NMOS晶体管MN01的源极接地,其栅极与所述PMOS晶体管MP的漏极相连,所述NMOS晶体管MN01的漏极与所述NMOS晶体管MN02的栅极以及所述PMOS晶体管MP01的漏极相连,所述NMOS晶体管MN02的源极接地,所其漏极与所述PMOS晶体管MP02的漏极相连,所述PMOS晶体管MP02的栅极与所述NMOS晶体管MN01的漏极相连,所述PMOS晶体管MP01的源极接所述电源管脚VDD,所述PMOS晶体管MP01的栅极与所述电阻R的另一端相连。
4.根据权利要求3所述的一种瞬态触发静电放电保护电路,其特征在于,所述钳位晶体管为NMOS晶体管Mbig,所述NMOS晶体管Mbig的栅极与所述NMOS晶体管MN02的漏极相连,所述NMOS晶体管Mbig的源极接地,所述NMOS晶体管Mbig的漏极接所述电源管脚VDD。
5.根据权利要求4所述的一种瞬态触发静电放电保护电路,其特征在于,所述瞬态触发模块,通过电流脉冲上升时间识别是否为静电放电冲击,若是,则发送第一响应信号至所述钳位晶体管开启模块;
所述钳位晶体管开启模块,根据所述第一响应信号开启所述钳位晶体管;
所述钳位晶体管,用于泄放静电放电脉冲带来的静电电荷。
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