CN103985780A - 太阳能电池的制作方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 36
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 60
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 60
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 24
- 238000002161 passivation Methods 0.000 claims abstract description 16
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000000137 annealing Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 17
- 238000005530 etching Methods 0.000 claims description 13
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 9
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 claims description 7
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 7
- 239000010936 titanium Substances 0.000 claims description 7
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 claims description 7
- NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N Phosphoric acid Chemical compound OP(O)(O)=O NBIIXXVUZAFLBC-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000002513 implantation Methods 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 6
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 claims description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 4
- 238000000608 laser ablation Methods 0.000 claims description 4
- 238000000623 plasma-assisted chemical vapour deposition Methods 0.000 claims description 4
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 claims description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910000147 aluminium phosphate Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 claims description 3
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 3
- 235000008216 herbs Nutrition 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 210000002268 wool Anatomy 0.000 claims description 3
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 claims description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 5
- 238000005468 ion implantation Methods 0.000 abstract 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 62
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 20
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 20
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 238000003475 lamination Methods 0.000 description 2
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 1
- 230000002378 acidificating effect Effects 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011017 operating method Methods 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 238000012536 packaging technology Methods 0.000 description 1
- 238000000053 physical method Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 150000003376 silicon Chemical class 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/18—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
- H01L31/1804—Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/02—Details
- H01L31/0224—Electrodes
- H01L31/022408—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
- H01L31/022425—Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
- H01L31/022441—Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/547—Monocrystalline silicon PV cells
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/50—Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Sustainable Energy (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
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- Power Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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Abstract
本发明公开了一种太阳能电池的制作方法,包括:在衬底的背面中形成第一导电类型掺杂层;在该衬底的背面中形成凹槽和第一导电类型掺杂区域;通过离子注入的方式形成第二导电类型掺杂区域;对该衬底进行退火处理以在该第一导电类型区域、该第二导电类型掺杂区域和该凹槽的侧壁上形成一第一钝化层;在该第一钝化层上形成一第一金属层;对该第一金属层进行化学刻蚀以去除该凹槽的侧壁上的该第一金属层以在该第一导电类型区域上形成第一电极,在该第二导电类型掺杂区域上形成第二电极。本发明提供了一种自对准的太阳能电池制作方法,彻底解决了太阳能电池制作过程中的对准问题,极大简化了工艺步骤。
Description
技术领域
本发明涉及一种太阳能电池的制作方法。
背景技术
PN结(PN junction)为采用不同的掺杂工艺,通过扩散作用,将P型半导体与N型半导体制作在同一块半导体(通常是硅或锗)基片上,在它们的交界面就形成空间电荷区称PN结,PN结具有单向导电性。PN结是太阳能电池的一个重要组成部分。
IBC(interdigitated back contact)太阳能电池是最早研究的背接触电池,由于IBC电池的电极全部设置于背面,而正面确不含任何电极,由此可以增加太阳光的接受面积,从而提高太阳能电池的转化效率。
然而,正是由于IBC电池的电极均设置于背面,该背面中包括了两种不同掺杂类型的掺杂区域。一般来说,形成两种不同掺杂类型的掺杂区域需要用到两张掩膜,这就产生了一个对准(alignment)的问题。为了形成高质量的PN结就必须在形成掺杂区域的过程中实现精确对准。
PCT/CN2011/080101的国际申请中公开了多种仅采用一张掩膜即可形成两种不同掺杂类型的掺杂区域的方法,由于整个掺杂过程仅仅用到一张掩膜,因而不存在掺杂过程的对准问题。然而在后续电极的制作过程中,需要在不同掺杂区域上形成不同类型的电极,否则会造成短路等严重影响太阳能电池性能的后果,因此电极的制作中仍然需要通过对准操作以在不同掺杂区域上形成对应电极。
也就是说,对于IBC电池而言,掺杂过程和电极的制作过程中均存在对准问题,而对准的操作将会增加操作步骤、增加工艺的复杂程度,有时还需要引入较为昂贵的设备方能实现精确对准,这无疑也提高了制作成本。
发明内容
本发明要解决的技术问题是为了克服现有技术中在太阳能电池的制作过程中需要多次对准、工艺复杂度较高、工艺步骤繁复、需要较为昂贵的设备、操作成本高的缺陷,提供一种能够实现“自对准(self-alignment)”的太阳能电池的制作方法,其无论是在掺杂区域的形成过程中,还是在电极的制作过程中均不产生对准问题,简化了工艺步骤,也无需引入昂贵的设备,大大降低了制作成本。
本发明是通过下述技术方案来解决上述技术问题的:
一种太阳能电池的制作方法,其特点在于,包括以下步骤:
步骤S1、在一衬底的背面中形成一第一导电类型掺杂层,其中该衬底为用于制作太阳能电池的常用硅片;
步骤S2、在该第一导电类型掺杂层上形成一掩膜,未被该掩膜覆盖的区域为开放区域,刻蚀该开放区域的该第一导电类型掺杂层直至暴露出该衬底由此在该衬底的背面中形成凹槽和第一导电类型掺杂区域,该第一导电类型掺杂区域为未经刻蚀的该第一导电类型掺杂层;
步骤S3、通过离子注入的方式将第二导电类型离子注入至该凹槽中以形成第二导电类型掺杂区域,并且去除该掩膜;
步骤S4、对该衬底进行退火处理以在该第一导电类型区域、该第二导电类型掺杂区域和该凹槽的侧壁上形成一第一钝化层;
步骤S5、在该第一钝化层上形成一第一金属层;
步骤S6、对该第一金属层进行化学刻蚀以去除该凹槽的侧壁上较薄的该第一金属层以在该第一导电类型区域上形成第一电极,在该第二导电类型掺杂区域上形成第二电极。
在形成凹槽并去除该掩膜之后,该衬底的背面中实际形成了高低不平的台阶结构,即类似方波的台阶结构。在第一金属层的形成过程中,该凹槽中形成的第一金属层(即对应于该第二导电类型掺杂区域的第一金属层)和台阶顶部上形成的第一金属层(即对应于该第一导电类型掺杂区域的第一金属层)的厚度较厚且厚度分布较为均匀,而形成于该侧壁上的第一金属层的厚度会相对较薄。正因为如此,该侧壁上的第一金属层很容易就被酸性物质所腐蚀,因此位于不同区域上的第一金属层就能被分隔以形成第一电极和第二电极,即在去除侧壁上较薄的第一金属层的同时保留凹槽中和台阶顶部的第一金属层以作为最终的电极。
根据本发明,在掺杂过程中,仅仅需要一张掩膜,由此掺杂过程中不存在对准的问题。而在电极的制作过程中,由于位于不同区域的第一金属层的厚度不同,可以容易地将该第一金属层分隔,即去除该侧壁上的厚度较薄的第一金属层,而保留厚度相对较厚且厚度均匀的第一金属层作为电极,并且所形成的电极的位置对应于两个掺杂区域,整个过程完全无需使用任何对准设备即可实现。
优选地,步骤S5中还包括:在该第一金属层上形成一第二金属层;
步骤S6中还包括:对该第一金属层和该第二金属层进行化学刻蚀以去除该凹槽的侧壁上的该第一金属层和该第二金属层以在该第一导电类型区域上形成第一电极,在该第二导电类型掺杂区域上形成第二电极。
优选地,该第一金属层的材料为铝。
优选地,该第二金属层的材料为钛。
优选地,该第二金属层的厚度为小于
优选地,步骤S4之前还包括:在该衬底的正面中形成一第一导电类型掺杂层或者一第二导电类型掺杂层;
步骤S4中还包括:在该衬底的正面的该第一导电类型掺杂层或者该第二导电类型掺杂层上形成一减反射膜。也就是说,假设步骤中S1在衬底背面形成的是P型的掺杂层,刻蚀形成凹槽后,通过离子注入的方式在凹槽中形成的是N型的掺杂区域,那么步骤S4之前在该衬底正面形成的可以P型的掺杂层,亦可以是N型的掺杂层。
优选地,步骤S4中还包括:在该第一钝化层上形成一第二钝化层;
则步骤S5为:在该第二钝化层上形成该第一金属层。该第二钝化层为例如采用PECVD(等离子体增强化学气相沉积)方法形成的氮化硅层。
优选地,步骤S4中形成的该减反射膜是一氮化硅层。
优选地,该氮化硅层通过PECVD方法形成。
优选地,该氮化硅层的厚度为30-200nm。
优选地,步骤S2中通过化学刻蚀或者物理刻蚀形成该凹槽。
优选地,该化学刻蚀采用磷酸、醋酸、硝酸和水的混合物实现。
优选地,该物理刻蚀为等离子刻蚀或激光消融(laser ablation)刻蚀。
优选地,该凹槽的深度为1-20μm。
优选地,该第一金属层的厚度为2-10μm。
优选地,通过蒸镀或者溅镀形成该第一金属层。
优选地,步骤S1中还包括:在该衬底的正面制绒以增加太阳光的利用率。
优选地,步骤S6之后还包括:将步骤S6获得结构在小于450℃的温度下退火。
在符合本领域常识的基础上,上述各优选条件,可任意组合,即得本发明各较佳实例。
本发明所用试剂和原料均市售可得。
本发明的积极进步效果在于:本发明提供了一种自对准的太阳能电池制作方法,彻底解决了太阳能电池制作过程中的对准问题,无论是在掺杂过程中,还是在电极的制作过程中,均不存在对准的问题,极大简化了工艺步骤。另外,由于无需执行对准操作,因此也不需引入任何对准设备,降低了制作成本。
附图说明
图1-5为本发明的实施例1-3的工艺流程图。
具体实施方式
下面通过实施例的方式进一步说明本发明,但并不因此将本发明限制在所述的实施例范围之中。下列实施例中未注明具体条件的实验方法,按照常规方法和条件,或按照商品说明书选择。
实施例1
参考图1-5,本实施例所述的太阳能电池的制作方法如下:
如图1所示,提供一衬底,该衬底为市售的用于制作太阳能电池的硅片,在硅片1的正面制绒后,在硅片1的整个背面形成P型重掺杂层2。IBC电池在使用时正面受光,背面设置电极,而出于本领域的习惯,在图中以上方为背面、下方为正面来描述,这是本领域技术人员所熟知的。
如图2所示,在硅片1的整个背面形成一掩膜3,未被该掩膜3覆盖的区域为开放区域。具体来说,掩膜3的具体形成方式可以为先在该背面上施加一掩膜层,之后在该掩膜层上形成正极和负极所对应的图形保护层,随后化学刻蚀该图形保护层所没有保护到的区域由此来形成该掩膜3。
之后,化学刻蚀掉开放区域的P型重掺杂层2以及10μm的硅层(即没有被掩膜3保护到的硅片的背面),得到如图2所示的结构,被刻蚀的硅片背面中形成凹槽,凹槽深度即为被刻蚀掉的硅层的厚度。其中,将未被刻蚀的该P型重掺杂层即P型重掺杂区域重新标记成21。
参考图3,通过离子注入的方式将N型离子注入至该凹槽中以形成N型掺杂区域4,该N型掺杂区域4的形成区域对应了硅片背面硅层的刻蚀区域。之后去除硅片背面的该掩膜。然后在该硅片正面形成N型掺杂层5。
之后参考图4,对硅片进行离子注入后的退火操作,在退火的同时通入氧气可以在硅片的正面和背面形成100nm的氧化硅钝化层6(这样硅片的背面形成如图所示的高低结构,类似台阶),图中仅示出了背面的氧化硅钝化层6。
依然参考图4,通过蒸镀或溅镀的方法在硅片背面上形成一5μm的金属层,该金属层的材料为铝。该金属层包括了三个部分,形成于该P型重掺杂区域21上的部分7a、形成于该N型掺杂区域4上的部分7b以及形成于该凹槽侧壁上的部分7c。其中,部分7c的厚度较之部分7a和7b而言非常薄。
参考图5,对金属进行微弱的化学刻蚀以去除该侧壁上的部分7c从而使得金属层被分隔,例如采用磷酸、醋酸、硝酸和水的混合物来分割该金属层,由此形成位于该P型重掺杂区域21上的部分7a作为正极,而形成于该N型掺杂区域4上的部分7b作为负极。之后在小于450℃的条件下将图5所示的结构退火。
至此,太阳能电池制作完成,后续的工艺例如封装工艺等与现有技术相同。很明显,在整个制作过程中,无需采用专用的对准设备、也不需对准操作即可在硅片背面形成两种不同的掺杂区域并且在对应的掺杂区域上形成电极,从而真正实现了自对准的太阳能电池的制作。
实施例2
实施例2的原理和实施例1相同,不同之处在于:
采用物理方法例如激光消融的方法刻蚀未被该掩膜覆盖的部分以形成该凹槽,之后再采用化学方法(例如湿法化学刻蚀)去除物理法留下的损伤层。
其余未提及的步骤和实施例1相同。
实施例3
实施例3的原理和实施例1相同,不同之处在于:
在太阳能电池的制作过程中,还包括在该硅片的正面形成一减反射层的步骤。
其余未提及的步骤和实施例1相同。
实施例4
实施例4的原理和实施例1相同,不同之处在于:
在太阳能电池的制作过程中,除了在氧化硅钝化层6上形成一铝金属层之外,还在铝金属层上形成一厚度为的钛金属层。同样的,对应于该P型重掺杂区域21的钛金属层的厚度和对应于该N型掺杂区域4的钛金属层的厚度都较为均匀,且厚度也较厚;而对应于该凹槽侧壁上的钛金属层的厚度则相对较薄。
采用酸性的溶液对铝金属层和钛金属层的叠层实施刻蚀以去除该侧壁上的所有金属层,使得金属层叠层分隔以形成正极和负极。
其余未提及的步骤和实施例1相同。
在凹槽表面形成金属层时,由于凹槽的类似方波的台阶形状,形成于凹槽侧壁上的金属层是相对较薄的,对该侧壁上的金属层略加化学刻蚀,即可去除侧壁上的金属层,从而使得整个金属层被分隔开。本发明应用了这一特点,免去了在掺杂过程和电极制作过程中的对准操作,提供了一种自对准的太阳能电池制作方法,无需使用专用的对准设备、无需对准操作,简化了工艺步骤,降低了制作成本。
虽然以上描述了本发明的具体实施方式,但是本领域的技术人员应当理解,这些仅是举例说明,本发明的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本发明的原理和实质的前提下,可以对这些实施方式做出多种变更或修改,但这些变更和修改均落入本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种太阳能电池的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤S1、在一衬底的背面中形成一第一导电类型掺杂层;
步骤S2、在该第一导电类型掺杂层上形成一掩膜,未被该掩膜覆盖的区域为开放区域,刻蚀该开放区域的该第一导电类型掺杂层直至暴露出该衬底由此在该衬底的背面中形成凹槽和第一导电类型掺杂区域,该第一导电类型掺杂区域为未经刻蚀的该第一导电类型掺杂层;
步骤S3、通过离子注入的方式将第二导电类型离子注入至该凹槽中以形成第二导电类型掺杂区域,并且去除该掩膜;
步骤S4、对该衬底进行退火处理以在该第一导电类型区域、该第二导电类型掺杂区域和该凹槽的侧壁上形成一第一钝化层;
步骤S5、在该第一钝化层上形成一第一金属层;
步骤S6、对该第一金属层进行化学刻蚀以去除该凹槽的侧壁上的该第一金属层以在该第一导电类型区域上形成第一电极,在该第二导电类型掺杂区域上形成第二电极。
2.如权利要求1所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,步骤S5中还包括:在该第一金属层上形成一第二金属层;
步骤S6中还包括:对该第一金属层和该第二金属层进行化学刻蚀以去除该凹槽的侧壁上的该第一金属层和该第二金属层以在该第一导电类型区域上形成第一电极,在该第二导电类型掺杂区域上形成第二电极。
3.如权利要求2所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,该第一金属层的材料为铝,或者,
该第二金属层的材料为钛,和/或,该第二金属层的厚度为小于
4.如权利要求1所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,步骤S4之前还包括:在该衬底的正面中形成一第一导电类型掺杂层或者一第二导电类型掺杂层;
步骤S4中还包括:在该衬底的正面的该第一导电类型掺杂层或者该第二导电类型掺杂层上形成一减反射膜,和/或,
步骤S4中还包括:在该第一钝化层上形成一第二钝化层;
则步骤S5为:在该第二钝化层上形成该第一金属层。
5.如权利要求4所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,步骤S4中形成的该减反射膜是一氮化硅层。
6.如权利要求5所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,该氮化硅层通过PECVD方法形成,和/或,该氮化硅层的厚度为30-200nm。
7.如权利要求1-6中任意一项所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,步骤S2中通过化学刻蚀或者物理刻蚀形成该凹槽。
8.如权利要求7所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,该化学刻蚀采用磷酸、醋酸、硝酸和水的混合物实现,或者,该物理刻蚀为等离子刻蚀或激光消融刻蚀。
9.如权利要求1-6中任意一项所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,该凹槽的深度为1-20μm,和/或,该第一金属层的厚度为2-10μm,和/或,通过蒸镀或者溅镀形成该第一金属层。
10.如权利要求1-6中任意一项所述的太阳能电池的制作方法,其特征在于,步骤S1中还包括:在该衬底的正面制绒,和/或,
步骤S6之后还包括:将步骤S6获得结构在小于450℃的温度下退火。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310050859.9A CN103985780B (zh) | 2013-02-08 | 2013-02-08 | 太阳能电池的制作方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201310050859.9A CN103985780B (zh) | 2013-02-08 | 2013-02-08 | 太阳能电池的制作方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103985780A true CN103985780A (zh) | 2014-08-13 |
CN103985780B CN103985780B (zh) | 2016-08-31 |
Family
ID=51277679
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310050859.9A Active CN103985780B (zh) | 2013-02-08 | 2013-02-08 | 太阳能电池的制作方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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CN (1) | CN103985780B (zh) |
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